專利名稱：磁環(huán)不合格品自動檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種磁環(huán)不合格品自動檢測裝置。
背景技術(shù)：
磁環(huán)在生產(chǎn)和噴涂過程中，少量磁環(huán)外表面會產(chǎn)生壓坑、劃傷等缺陷，且表面上的壓坑、劃傷其大小、深度與分布位置都是隨機(jī)的。磁環(huán)企業(yè)目前普遍采用人工目測方法對磁環(huán)進(jìn)行逐一檢查，不僅工作量大、效率低，而且漏檢率高，影響產(chǎn)品出廠質(zhì)量。磁環(huán)在自動輸送線上到達(dá)檢測位置時，其中心位置是固定的，但圓周方向的位置是隨機(jī)的，而且缺陷的位置也是隨機(jī)的，因此必須研究適當(dāng)?shù)乃惴ㄟM(jìn)行識別。
發(fā)明內(nèi)容為了克服現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本實(shí)用新型的目的在于提供一種識別精度高、效率高、節(jié)約人力的磁環(huán)不合格品自動檢測裝置。為達(dá)到以上目的，本實(shí)用新型提供了一種磁環(huán)不合格品自動檢測裝置，它包括CXD攝像機(jī)、用于拍攝磁環(huán)圖像；照明系統(tǒng)，用于給磁環(huán)提供拍照成像所需的光源；圖像采集卡，與所述的CCD攝像機(jī)相連接，用于將拍攝到的磁環(huán)圖像轉(zhuǎn)成數(shù)字化信號存入計(jì)算機(jī)；計(jì)算機(jī)，與所述的圖像采集卡相連接，用于對磁環(huán)圖像進(jìn)行分析，并判定磁環(huán)是否存在缺陷。本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)在于，還包括光電觸發(fā)器，用于判定磁環(huán)是否運(yùn)行至CCD 攝像機(jī)范圍內(nèi)的檢測工位。本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)在于，還包括設(shè)置在所述的CXD攝像機(jī)與磁環(huán)之間的光學(xué)系統(tǒng)，用于給CCD攝像機(jī)提供放大的磁環(huán)圖像。本實(shí)用新型的有益效果是(1)綜合運(yùn)用計(jì)算機(jī)技術(shù)、傳感器技術(shù)、通信技術(shù)及數(shù)字圖像處理分析技術(shù)等實(shí)現(xiàn)信息的獲取、傳輸、處理和控制，實(shí)現(xiàn)了磁環(huán)表面缺陷的在線檢測；(2)該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)非接觸檢測，自動剔除表面有缺陷磁環(huán)，識別精度和效率高。

附圖1為本實(shí)用新型一種磁環(huán)不合格品自動檢測裝置實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面對本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)闡述，以使本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，從而對本實(shí)用新型的保護(hù)范圍做出更為清楚明確的界定。參見附圖1，一種磁環(huán)不合格品自動檢測裝置，它包括[0017]光電觸發(fā)器，用于判定磁環(huán)是否運(yùn)行至CXD攝像機(jī)范圍內(nèi)的檢測工位。CXD攝像機(jī)、用于拍攝磁環(huán)圖像；照明系統(tǒng)，用于給磁環(huán)提供拍照成像所需的光源；光學(xué)系統(tǒng)，設(shè)置在CXD攝像機(jī)與磁環(huán)之間，用于給CXD攝像機(jī)提供放大的磁環(huán)圖像；圖像采集卡，與CCD攝像機(jī)相連接，用于將拍攝到的磁環(huán)圖像轉(zhuǎn)成數(shù)字化信號存入計(jì)算機(jī)；計(jì)算機(jī)，與圖像采集卡相連接，用于對磁環(huán)圖像進(jìn)行分析，并判定磁環(huán)是否存在缺陷。以下根據(jù)本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例詳述本實(shí)用新型的工作原理。1)當(dāng)光電觸發(fā)器檢測到工位上有待檢測的磁環(huán)通過時，觸發(fā)照明系統(tǒng)內(nèi)的光源打開，CXD攝像機(jī)開啟。2)照明系統(tǒng)打開，CXD攝像機(jī)拍攝磁環(huán)的圖像，磁環(huán)經(jīng)光學(xué)系統(tǒng)放大后成像于CXD 攝像機(jī)。由于磁環(huán)表面壓坑、劃傷的缺陷十分微小，難以檢測，且表面往往有一層油膜，所以照明系統(tǒng)的入射強(qiáng)度和方向，甚至是光源的種類都會對CCD攝像機(jī)的拍攝效果造成影響。 而且需要特別提及的是，在CCD攝像機(jī)拍攝圖像時還需要屏蔽環(huán)境光的干擾以及保證光學(xué)系統(tǒng)擺放位置、角度等正確，才可以恰當(dāng)?shù)貙D形放大不發(fā)生畸變，并且得到清晰的磁環(huán)圖像。3)圖像采集卡將CCD攝像機(jī)拍攝的圖像轉(zhuǎn)成數(shù)字化信號存入計(jì)算機(jī)中。4)計(jì)算機(jī)將磁環(huán)圖像轉(zhuǎn)換為灰度圖像；需要特別提及的是，在轉(zhuǎn)成灰度圖像的時候，灰度圖像的轉(zhuǎn)化算法也會對磁環(huán)的檢測造成影響?？梢酝ㄟ^閾值設(shè)定的方法對圖像進(jìn)行處理，還可以通過設(shè)定一個灰度計(jì)算公式進(jìn)行灰度的轉(zhuǎn)換?；叶葓D像的轉(zhuǎn)換方式不限定本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。5為了加快計(jì)算機(jī)的處理效率，本實(shí)施例中計(jì)算機(jī)運(yùn)用圖形分割算法對灰度圖像進(jìn)行分割，為了避免產(chǎn)品標(biāo)識和凹坑型缺陷、劃傷型缺陷混淆，可以將有產(chǎn)品標(biāo)識的區(qū)域進(jìn)行單獨(dú)分割，減小產(chǎn)品識別的難度。6計(jì)算機(jī)運(yùn)用圖像邊緣檢測算法對分割后的每一個圖像中的邊緣信息進(jìn)行提取。 需要特別提及的是，圖像邊緣檢測算法可以采取形態(tài)學(xué)邊緣提取算法，小波變換邊緣提取算法等，采取哪種類型的圖像邊緣提取算法可以根據(jù)采用的燈光強(qiáng)度、CCD攝像機(jī)的分辨率、光學(xué)系統(tǒng)的放大倍數(shù)、灰度計(jì)算公式等因素綜合進(jìn)行考慮。7)計(jì)算機(jī)運(yùn)用缺陷分析識別算法對提取的邊緣信息進(jìn)行判定，判定是凹坑型缺陷、劃傷型缺陷還是產(chǎn)品的標(biāo)示信息，最終確定產(chǎn)品是否為不合格品。凹坑型缺陷的邊緣大致為圓形或橢圓形，劃傷型缺陷的邊緣形狀大致為長條形，產(chǎn)品標(biāo)識一般為字母以及數(shù)字的組合，通過判定邊緣的形狀可以判定出檢測到的部位為凹坑、劃傷還是產(chǎn)品標(biāo)識。如果是凹坑和劃傷，還可以計(jì)算凹坑和劃傷區(qū)域的面積大小，當(dāng)大于規(guī)定的面積時，判定為不合格品；當(dāng)小于或等于規(guī)定的面積時，判定為合格品。通過以上實(shí)施例可以看出，本實(shí)用新型是一種識別精度高、效率高、節(jié)約人力的磁環(huán)不合格品自動檢測裝置。以上實(shí)施方式只為說明本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思及特點(diǎn)，其目的在于讓熟悉此項(xiàng)技術(shù)的人了解本實(shí)用新型的內(nèi)容并加以實(shí)施，并不能以此限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍，凡根據(jù)本實(shí)用新型精神實(shí)質(zhì)所做的等效變化或修飾均涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種磁環(huán)不合格品自動檢測裝置，其特征在于它包括 CCD攝像機(jī)、用于拍攝磁環(huán)圖像；照明系統(tǒng)，用于給磁環(huán)提供拍照成像所需的光源；圖像采集卡，與所述的CCD攝像機(jī)相連接，用于將拍攝到的磁環(huán)圖像轉(zhuǎn)成數(shù)字化信號存入計(jì)算機(jī)；計(jì)算機(jī)，與所述的圖像采集卡相連接，用于對磁環(huán)圖像進(jìn)行分析，并判定磁環(huán)是否存在缺陷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁環(huán)不合格品自動檢測裝置，其特征在于還包括光電觸發(fā)器，用于判定磁環(huán)是否運(yùn)行至CXD攝像機(jī)范圍內(nèi)的檢測工位。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁環(huán)不合格品自動檢測裝置，其特征在于還包括設(shè)置在所述的CCD攝像機(jī)與磁環(huán)之間的光學(xué)系統(tǒng)，用于給CCD攝像機(jī)提供放大的磁環(huán)圖像。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種磁環(huán)不合格品自動檢測裝置，它包括CCD攝像機(jī)、用于拍攝磁環(huán)圖像；照明系統(tǒng)，用于給磁環(huán)提供拍照成像所需的光源；圖像采集卡，與所述的CCD攝像機(jī)相連接，用于將拍攝到的磁環(huán)圖像轉(zhuǎn)成數(shù)字化信號存入計(jì)算機(jī)；計(jì)算機(jī)，與所述的圖像采集卡相連接，用于對磁環(huán)圖像進(jìn)行分析，并判定磁環(huán)是否存在缺陷。本實(shí)用新型解決了現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，提供了一種識別精度高、效率高、節(jié)約人力的磁環(huán)不合格品自動檢測裝置。
文檔編號G01N21/89GK202133624SQ20112025032
公開日2012年2月1日 申請日期2011年7月15日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月15日
發(fā)明者蘭茹, 汪永生, 賀顯良 申請人:蘇州谷夫道自動化科技有限公司