專利名稱：Ftir分析檢測儀光路保護(hù)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種FIlR分析檢測儀，尤其是一種FIlR分析檢測儀光路保護(hù)裝置。
背景技術(shù)：
對有機(jī)物質(zhì)的分析檢測經(jīng)常用到FIlR分析檢測儀。在對有機(jī)物質(zhì)進(jìn)行分析時，分析樣品放置于樣品固定臺上，F(xiàn)TIR分析檢測儀的光路位于顯微主體與放置樣品的固定臺之間，通過透射法進(jìn)行成分分析。由于光路的外部由膠性物質(zhì)保護(hù)，密封性不佳，長期使用中容易引起灰塵進(jìn)入，導(dǎo)致聚光鏡被污染，影響聚光鏡的照明作用，使儀器無法正常使用。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種能夠有效的防止灰塵進(jìn)入光路底部的聚光鏡，避免對透射檢測造成影響，提高了準(zhǔn)確性及減少儀器故障的FTIR分析檢測儀光路保護(hù)裝置。為解決上述問題，本實(shí)用新型的一種FIlR分析檢測儀光路保護(hù)裝置，包括顯微主體，聚光鏡位于顯微主體上，顯微主體上方一定距離設(shè)置有放置樣品的固定臺，光路位于顯微主體與固定臺之間，其特征在于所述顯微主體與固定臺之間還設(shè)置有防塵罩，光路位于該防塵罩中。所述防塵罩通過螺栓固定在顯微主體上。所述防塵罩與顯微主體之間以及防塵罩與固定臺之間的接觸端部氣密封。采用本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)的FIlR分析檢測儀光路保護(hù)裝置，能夠更好地確保光路通透，有效地防止灰塵進(jìn)入，使光路底部的聚光鏡保持清潔，對透射樣有良好的照明作用， 提高樣品檢測的準(zhǔn)確性，減少因灰塵擋住聚光鏡而引起的儀器故障。

圖1為本實(shí)用新型FIlR分析檢測儀光路保護(hù)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本實(shí)用新型技術(shù)方案，
以下結(jié)合附圖和實(shí)施方式對本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。如圖1所示，本實(shí)用新型的FIlR分析檢測儀光路保護(hù)裝置，包括顯微主體1，聚光鏡(圖中未示出)位于顯微主體1上，顯微主體1上方一定距離設(shè)置有放置樣品的固定臺 2，光路3位于顯微主體1與固定臺2之間。所述顯微主體1與固定臺2之間還設(shè)置有防塵罩4，光路3位于該防塵罩4中。所述防塵罩4通過螺栓固定在顯微主體1上。所述防塵罩4與顯微主體1之間以及防塵罩4與固定臺2之間的接觸端部氣密封。
權(quán)利要求1.一種FIlR分析檢測儀光路保護(hù)裝置，包括顯微主體，聚光鏡位于顯微主體上，顯微主體上方一定距離設(shè)置有放置樣品的固定臺，光路位于顯微主體與固定臺之間，其特征在于所述顯微主體與固定臺之間還設(shè)置有防塵罩，光路位于該防塵罩中。
2.如權(quán)利要求1所述FIlR分析檢測儀光路保護(hù)裝置，其特征在于所述防塵罩通過螺栓固定在顯微主體上。
3.如權(quán)利要求1或2所述FIlR分析檢測儀光路保護(hù)裝置，其特征在于所述防塵罩與顯微主體之間以及防塵罩與固定臺之間的接觸端部氣密封。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種能夠有效的防止灰塵進(jìn)入光路底部的聚光鏡，避免對透射檢測造成影響，提高了準(zhǔn)確性及減少儀器故障的FTIR分析檢測儀光路保護(hù)裝置，包括顯微主體，聚光鏡位于顯微主體上，顯微主體上方一定距離設(shè)置有放置樣品的固定臺，光路位于顯微主體與固定臺之間，其特征在于所述顯微主體與固定臺之間還設(shè)置有防塵罩，光路位于該防塵罩中。采用本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)的FTIR分析檢測儀光路保護(hù)裝置，能夠更好地確保光路通透，有效地防止灰塵進(jìn)入，使光路底部的聚光鏡保持清潔，對透射樣品有良好的照明作用，提高樣品檢測的準(zhǔn)確性，減少因灰塵擋住聚光鏡而引起的儀器故障。
文檔編號G01N21/15GK202204765SQ201120301350
公開日2012年4月25日 申請日期2011年8月18日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月18日
發(fā)明者宋津京, 郝俊勝 申請人:三星高新電機(jī)(天津)有限公司