專利名稱：引線框架檢測(cè)工具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
引線框架檢測(cè)工具技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實(shí)用新型涉及一種引線框架檢測(cè)工具。
技術(shù)背景[0002]引線框架作為集成電路的芯片載體，是一種借助于鍵合金絲實(shí)現(xiàn)芯片內(nèi)部電路引出端與外引線的電氣連接，形成電氣回路的關(guān)鍵結(jié)構(gòu)件，它起到了和外部導(dǎo)線連接的橋梁作用，絕大部分的半導(dǎo)體集成塊中都需要使用引線框架，因而，引線框架是是電子信息產(chǎn)業(yè)中重要的基礎(chǔ)材料。[0003]引線框架產(chǎn)品類型有TO、DIP、ZIP、SIP、SOP、SSOP、QFP (QFJ)、SOD、SOT 等。主要用模具沖壓法和化學(xué)刻蝕法進(jìn)行生產(chǎn)。[0004]引線框架的檢測(cè)工具是引線框架生產(chǎn)中的一種重要的工具，但現(xiàn)有的引線框架檢測(cè)工具檢測(cè)質(zhì)量和效率都有待進(jìn)一步提高。實(shí)用新型內(nèi)容[0005]本實(shí)用新型需要解決的技術(shù)問(wèn)題就在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種引線框架檢測(cè)工具，它既可以方便快捷的實(shí)現(xiàn)對(duì)各種規(guī)格待檢測(cè)引線框架或印刷電路板的檢測(cè)，也簡(jiǎn)化了操作流程，減少了生產(chǎn)成本，節(jié)省了作業(yè)空間，保證了檢測(cè)質(zhì)量和效率。[0006]為解決上述問(wèn)題，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案[0007]本實(shí)用新型提供了一種引線框架檢測(cè)工具，所述工具包括基板，所述基板上設(shè)置有多個(gè)溝槽。[0008]所述基板的上頂面和下底面上分別設(shè)置有多個(gè)溝槽。[0009]所述溝槽寬度和深度均不相等。[0010]本實(shí)用新型通過(guò)多個(gè)溝槽既可以方便快捷的實(shí)現(xiàn)對(duì)各種規(guī)格帶檢測(cè)引線框架或印刷電路板的檢測(cè)，也簡(jiǎn)化了操作流程，減少了生產(chǎn)成本，節(jié)省了作業(yè)空間，保證了檢測(cè)質(zhì)量和效率。


[0011]圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
[0012]如圖1所示，本實(shí)用新型提供了一種引線框架檢測(cè)工具，所述工具包括基板1，所述基板上設(shè)置有多個(gè)溝槽2、3、4、5、6、7。[0013]所述基板的上頂面8和下底面9上分別設(shè)置有多個(gè)溝槽。[0014]所述溝槽寬度和深度均不相等。[0015]本實(shí)用新型通過(guò)多個(gè)溝槽既可以方便快捷的實(shí)現(xiàn)對(duì)各種規(guī)格帶檢測(cè)引線框架或印刷電路板的檢測(cè)，也簡(jiǎn)化了操作流程，減少了生產(chǎn)成本，節(jié)省了作業(yè)空間，保證了檢測(cè)質(zhì)[0016] 最后應(yīng)說(shuō)明的是顯然，上述實(shí)施例僅僅是為清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型所作的舉例， 而并非對(duì)實(shí)施方式的限定。對(duì)于所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在上述說(shuō)明的基礎(chǔ)上還可以做出其它不同形式的變化或變動(dòng)。這里無(wú)需也無(wú)法對(duì)所有的實(shí)施方式予以窮舉。而由此所引申出的顯而易見(jiàn)的變化或變動(dòng)仍處于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之中。
權(quán)利要求1.一種引線框架檢測(cè)工具，其特征在于所述工具包括基板，所述基板上設(shè)置有多個(gè)溝槽。
2.如權(quán)利要求1所述的引線框架檢測(cè)工具，其特征在于所述基板的上頂面和下底面上分別設(shè)置有多個(gè)溝槽。
3.如權(quán)利要求2所述的引線框架檢測(cè)工具，其特征在于所述溝槽寬度和深度均不相寸。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種引線框架檢測(cè)工具，包括基板，所述基板上設(shè)置有多個(gè)溝槽。所述基板的上頂面和下底面上分別設(shè)置有多個(gè)溝槽。所述溝槽寬度和深度均不相等。本實(shí)用新型既可以方便快捷的實(shí)現(xiàn)對(duì)各種規(guī)格待檢測(cè)引線框架或印刷電路板的檢測(cè)，也簡(jiǎn)化了操作流程，減少了生產(chǎn)成本，節(jié)省了作業(yè)空間，保證了檢測(cè)質(zhì)量和效率。
文檔編號(hào)G01R31/00GK202255448SQ20112031757
公開(kāi)日2012年5月30日 申請(qǐng)日期2011年8月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月29日
發(fā)明者吳旺春, 孫華, 朱貴節(jié), 謝艷, 陳忠, 黃玉紅 申請(qǐng)人:江陰康強(qiáng)電子有限公司