專利名稱：一種電子壓縮試驗儀用下壓盤的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
一種電子壓縮試驗儀用下壓盤技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實用新型涉及一種電子壓縮試驗儀用下壓盤。
技術(shù)背景[0002]目前，國內(nèi)存在的壓縮試驗儀中設(shè)有的下壓盤結(jié)構(gòu)，一般存在放置環(huán)壓中心盤難定位或者定位不準確的缺陷，這樣導(dǎo)致的后果就是測量實驗結(jié)果不精確，不能達到使用儀器所需要的結(jié)果，所以實驗儀器中的構(gòu)件還需要一定的改進。發(fā)明內(nèi)容[0003]本實用新型為了彌補現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供了一種結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，定位準確的電子壓縮試驗儀用下壓盤。[0004]本實用新型包括壓盤體，壓盤體呈圓柱體結(jié)構(gòu)，其特征是所述的壓盤體上設(shè)有以壓盤體中心為原點的外環(huán)槽和內(nèi)環(huán)槽。外環(huán)槽與取樣器配合使用實現(xiàn)取樣器的準確定位， 內(nèi)環(huán)槽用于消除空氣阻力對檢測結(jié)果的影響。[0005]所述的內(nèi)環(huán)槽構(gòu)成圓的直徑小于外環(huán)槽構(gòu)成圓的直徑。外環(huán)槽與內(nèi)環(huán)槽的同時設(shè)置可以保證測試結(jié)果的精度。[0006]所述的內(nèi)環(huán)槽與外環(huán)槽設(shè)置于壓盤體內(nèi)的深度相同且小于壓盤體的高度。壓盤體的背面上設(shè)有螺孔，用于實現(xiàn)和儀器中其他部件的連接。[0007]本實用新型的電子壓縮試驗儀用下壓盤的有益效果結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，定位準確、可靠，容易制造，經(jīng)濟適用，適用場合廣泛。


[0008]圖1為本實用新型的主視圖；[0009]圖2為圖1的后視圖；[0010]圖3為圖1的A-A剖視圖；[0011]圖中1、壓盤體，2、外環(huán)槽，3、內(nèi)環(huán)槽，4、螺孔。
具體實施方式
[0012]
以下結(jié)合附圖對本實用新型作進一步的說明[0013]附圖為本實用新型的一種具體實施例，該實施例包括壓盤體1，所述的壓盤體1上設(shè)有以壓盤體中心為原點的外環(huán)槽2和內(nèi)環(huán)槽3。所述的內(nèi)環(huán)槽3構(gòu)成圓的直徑小于外環(huán)槽2構(gòu)成圓的直徑。所述的內(nèi)環(huán)槽3與外環(huán)槽2設(shè)置于壓盤體1內(nèi)的深度相同且小于壓盤體的高度。[0014]本實用新型在使用時，下壓盤用于壓縮試驗儀的測試實驗中，在測量紙張的環(huán)壓強度時，需要使用到環(huán)壓中心盤，由于環(huán)壓中心盤為圓柱體形狀的結(jié)構(gòu)，如果直接放置在壓盤體1上，經(jīng)常會出現(xiàn)滑動的現(xiàn)象導(dǎo)致環(huán)壓中心盤在壓盤體1中定位不準確，造成測試實驗誤差，達不到儀器所起到的測量效果。本實用新型在壓盤體1上設(shè)置有外環(huán)槽2和內(nèi)環(huán)槽 3，外環(huán)槽2用于實現(xiàn)環(huán)壓中心盤的準確定位，保證環(huán)壓中心盤在壓盤體1上的位置不變，內(nèi)環(huán)槽3用于消除空氣阻力對于測量結(jié)果的影響，從而保證測量精度。結(jié)構(gòu)簡單，操作方便。
權(quán)利要求1.一種電子壓縮試驗儀用下壓盤，包括壓盤體(1)，壓盤體(1)呈圓柱體結(jié)構(gòu)，其特征是所述的壓盤體(1)上設(shè)有以壓盤體中心為原點的外環(huán)槽(2)和內(nèi)環(huán)槽(3)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子壓縮試驗儀用下壓盤，其特征是所述的內(nèi)環(huán)槽(3)構(gòu)成圓的直徑小于外環(huán)槽(2)構(gòu)成圓的直徑。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電子壓縮試驗儀用下壓盤，其特征是所述的內(nèi)環(huán)槽(3) 與外環(huán)槽(2)設(shè)置于壓盤體(1)內(nèi)的深度相同且小于壓盤體的高度。
專利摘要本實用新型涉及一種電子壓縮試驗儀用下壓盤。本實用新型包括壓盤體，其特征是所述的壓盤體上設(shè)有以壓盤體中心為原點的外環(huán)槽和內(nèi)環(huán)槽。本實用新型的電子壓縮試驗儀用下壓盤的有益效果結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，定位準確、可靠，容易制造，經(jīng)濟適用，適用場合廣泛。
文檔編號G01N3/02GK202256030SQ20112036870
公開日2012年5月30日 申請日期2011年9月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月29日
發(fā)明者張紅普 申請人:濟南德瑞克儀器有限公司