專利名稱：直尺形一體化無極測量塞規(guī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于測量工具，尤其涉及一種直尺形一體化無極測量塞規(guī)。
背景技術(shù)：
常規(guī)用于檢測連接部件之間間隙的測量工具一般是塞規(guī)。塞規(guī)大多采用單一尺寸對應(yīng)單一厚度的金屬片，再組成多個(gè)尺寸范圍的塞規(guī)組，使用時(shí)根據(jù)估測來選擇對應(yīng)的塞規(guī)片。生產(chǎn)電視機(jī)的組裝工序用于檢測電視機(jī)殼體與顯示屏之間的間隙也是采用塞規(guī)測量方式。檢測時(shí)，操作工尋找對應(yīng)的尺寸時(shí)規(guī)格繁多，查找困難；尺寸預(yù)計(jì)不準(zhǔn)時(shí)，需再找對應(yīng)規(guī)格測量。測量方式繁雜。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足，提供一種直尺形一體化無極測量塞規(guī)，采用厚度漸變的標(biāo)尺形式，實(shí)現(xiàn)了部件縫隙的無極化測量和簡化了測量方式。本實(shí)用新型為實(shí)現(xiàn)上述目的，通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)，一種直尺形一體化無極測量塞規(guī)，其特征是包括塞規(guī)本體，所述塞規(guī)本體呈直尺形，塞規(guī)本體的厚度沿其縱向厚度漸變。所述塞規(guī)的長度L與厚度T的關(guān)系為tgA = T/L。有益效果采用厚度漸變的標(biāo)尺形式，實(shí)現(xiàn)了部件縫隙的無極化測量和簡化了測量方式，能一次測量縫隙尺寸，直接由刻度上讀出縫隙尺寸。

圖1是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型厚度的函數(shù)關(guān)系圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合較佳實(shí)施例，對依據(jù)本實(shí)用新型提供的具體實(shí)施方式
詳述如下詳見附圖，一種直尺形一體化無極測量塞規(guī)，包括塞規(guī)本體1，所述塞規(guī)本體呈直尺形，塞規(guī)本體的厚度沿其縱向厚度漸變。所述塞規(guī)的長度L與厚度T的關(guān)系為tgA = T/L。如塞規(guī)本體寬度40mm，長度100mm，厚度0-lmm。塞規(guī)本體表面根據(jù)厚度設(shè)置刻度。如圖2所示，塞規(guī)的長度L與厚度T的關(guān)系為tgA = T/L，P點(diǎn)的厚度為t = l*tgA，其中A可以根據(jù)實(shí)際調(diào)整。 塞規(guī)本體可以變更其長度，寬度和厚度，制作不同規(guī)格的塞規(guī)。使用時(shí)，將塞規(guī)本體放在需要檢測的部件縫隙處，如果塞規(guī)進(jìn)入縫隙，說明縫隙大于此處標(biāo)示的尺寸；反之，不能塞進(jìn)去，則說明沒有達(dá)到標(biāo)示的尺寸；在塞規(guī)的臨界處，則是縫隙的準(zhǔn)確測量尺寸。以上所述，僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并非對本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)作任何形式上的限制。凡是依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本實(shí)用新型的技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種直尺形一體化無極測量塞規(guī)，其特征是包括塞規(guī)本體，所述塞規(guī)本體呈直尺形，塞規(guī)本體的厚度沿其縱向厚度漸變。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的直尺形一體化無極測量塞規(guī)，其特征是所述塞規(guī)的長度L 與厚度T的關(guān)系為tgA = T/L。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種直尺形一體化無極測量塞規(guī)，其特征是包括塞規(guī)本體，所述塞規(guī)本體呈直尺形，塞規(guī)本體的厚度沿其縱向厚度漸變。有益效果采用厚度漸變的標(biāo)尺形式，實(shí)現(xiàn)了部件縫隙的無極化測量和簡化了測量方式，能一次測量縫隙尺寸，直接由刻度上讀出縫隙尺寸。
文檔編號G01B5/14GK202304661SQ201120392758
公開日2012年7月4日 申請日期2011年10月14日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月14日
發(fā)明者張淑優(yōu) 申請人:天津三星電子有限公司