專利名稱：激發(fā)光源漂移校正裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及激發(fā)光源的光學測量裝置，尤其涉及激發(fā)光源漂移校正裝置的光路結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
在原子熒光光譜測量中，原子蒸氣濃度與激發(fā)光源強度直接影響測量的結(jié)果。在儀器各個方面穩(wěn)定的理想狀態(tài)下，激發(fā)光源的穩(wěn)定會直接影響測量精度。而現(xiàn)在在原子熒光光譜測量中，國內(nèi)及國外基本上都用空心陰極燈，空心陰極燈的漂移一直是個難題。特別是汞燈，隨溫度變化汞燈的光源強度變化很大。為在測量的同時獲得燈的強度變化信號。在以往的解決過程中，技術(shù)人員做了以下兩種方法。1)在空心陰極燈與原子化器之間放一塊透視鏡片，鏡片與水平呈一定角度。讓激發(fā)光源一部分透射過去，另一部分反射，同樣都用光電檢測器接收。2)在空心陰極燈與原子化器之間放一反射鏡的旋轉(zhuǎn)機構(gòu)，工作方法是空心陰極燈的光源直接照射到原子蒸氣，激發(fā)產(chǎn)生熒光通過光電檢測器接收。隔一定時間旋轉(zhuǎn)機構(gòu)工作，讓反射鏡把光源反射到另一光電檢測器。第一種方法的缺點是人為地消弱了激發(fā)光源強度。第二種方法多了運動機構(gòu)增大了儀器成本。兩種方法的共同缺點是增大了光路距離，光能損失很大。

實用新型內(nèi)容本實用新型提供了一種激發(fā)光源漂移校正裝置，解決了既保證精確測量光偏移結(jié)果，又不增大光路結(jié)構(gòu)的問題。本實用新型的設(shè)計方案如下激發(fā)光源漂移校正裝置，包括激發(fā)光源1、原子化器3、透鏡組以及光電檢測器組， 校正裝置的各個元器件組成激發(fā)光檢測光路和熒光檢測光路。激發(fā)光檢測光路是由激發(fā)光源1、透鏡一 2、原子化器3、透鏡二 4以及光電檢測器一 5依次順序排列布置構(gòu)成，上述各個元器件的中心焦點分布在同一直線上；熒光檢測光路由激發(fā)光源1、透鏡一 2、原子化器3，透鏡三6以及光電檢測器二 7 依次順序設(shè)置構(gòu)成，激發(fā)光源1、透鏡一 2、原子化器3的中心焦點分布在同一直線上，原子化器3、透鏡三6和光電檢測器二 7的中心焦點分布在另同一直線上，且與激發(fā)光源1、透鏡一 2、原子化器3形成的光路直線存在角度，角度范圍大于零度，小于180度，保證光電檢測器二7接收不到激發(fā)光源即可。光電檢測器一 5與透鏡二 4的間距小于等于透鏡二 4的焦距。光電檢測器二 7與透鏡三6的間距小于等于透鏡三6的焦距。原子化器3包括點火單元與原子蒸氣發(fā)生單元，點火單元可以是高溫加熱爐絲、 低溫點火線圈或紅外加熱；原子蒸氣發(fā)生單元可以是氫化物發(fā)生單元或冷蒸氣發(fā)生單元。由于透鏡焦點處所呈的像點最小，聚光面積小，不能充分利用檢測器接收面積。另外，透鏡焦點處的光強度較大，可能會超出光電檢測器的接受能力。因此，在具體實施中為了充分達到光電檢測器接收器面積與光強最佳性能比，光電檢測器一 5設(shè)置在透鏡二 4的焦點上或稍小于焦距的位置上，光電檢測器二 7設(shè)置在透鏡三6的焦點上或稍小于焦距的位置上。原子化器3、透鏡三6與光電檢測器二 7構(gòu)成的光路與激發(fā)光源1、透鏡一 2、原子化器3、透鏡二 4以及光電檢測器一 5所呈的直線光路成的角度在0°至180°之間，保證光電檢測器二 7接收不到激發(fā)光即可。激發(fā)光源1選用空心陰極燈、氘燈、氙燈或激光。光電檢測器一 5和光電檢測器二 7選用光電倍增管、光電池、固態(tài)檢測器電荷耦合器、電荷注入器或二極管陣列等光電轉(zhuǎn)換元件。光電檢測器一 5和光電檢測器二 7分別與信息綜合處理單元電連接，信息綜合處理單元用于處理得到的電子化光數(shù)據(jù)。使用本裝置測得一組樣品數(shù)據(jù)大約需要20秒。本實用新型的光路流程如下當裝置開機預(yù)熱后，點燃原子蒸氣前，激發(fā)光源1的輸出光線經(jīng)透鏡一 2匯聚到原子化器3中心，透鏡二 4以原子化器3中心為光源點，把光線匯聚到光電檢測器一 5記錄光源數(shù)據(jù)；點燃原子蒸氣開始測樣后，激發(fā)光源1輸出光線經(jīng)透鏡一 2匯聚到原子化器3中心，激發(fā)樣品產(chǎn)生熒光，熒光經(jīng)透鏡三6匯聚到光電檢測器二 7上，記錄數(shù)據(jù)，再經(jīng)信息綜合處理單元計算整合兩個光電檢測器測得的數(shù)據(jù)即可校正光源漂移量。本實用新型通過改進激發(fā)光源漂移校正裝置的光路結(jié)構(gòu)，使得本裝置在不增大光路結(jié)構(gòu)的前提下，保證了精確測量光偏移的結(jié)果，提高了產(chǎn)品的精度；同時本實用新型在使用過程中不會對激發(fā)光源造成光學上的削弱，提高了光能源的使用效率。

圖1為本實用新型激發(fā)光源漂移校正裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本實用新型激發(fā)光源漂移校正裝置的工作原理流程圖。附圖編號說明1-激發(fā)光源；2-透鏡一 ；3-原子化器；4-透鏡二 ；5-光電檢測器一 ；6_透鏡三； 7-光電檢測器二。
以下結(jié)合附圖和具體實施方式
對本實用新型作進一步詳細地說明，本實用新型的保護范圍不局限于下述的具體實施方式
。
具體實施方式
如圖1、圖2所示的激發(fā)光源漂移校正裝置，依次包括分布在同一直線上的激發(fā)光源1、透鏡一 2、原子化器3、透鏡二 4和光電檢測器一 5組成的光路結(jié)構(gòu)，原子化器3的中心設(shè)置在透鏡一 2、透鏡二 4、透鏡三6的焦點處，透鏡一 2、透鏡二 4、透鏡三6均為凸透鏡。光電檢測器一 5用于接收激發(fā)光源1的輸出光線，光電檢測器一 5與透鏡二 4的間距稍小于透鏡二 4的焦距。[0032]本裝置還包括透鏡三6以及光電檢測器二 7組成的光路結(jié)構(gòu)，透鏡三6與光電檢測器二 7設(shè)置在不接收激發(fā)光源1照射的原子化器3的一側(cè)，且與檢測激發(fā)光源1的光路相垂直，光電檢測器二 7用于接收激發(fā)產(chǎn)生的熒光，光電檢測器二 7與透鏡三6的間距稍小于透鏡三6的焦距。光電檢測器一 5和光電檢測器二 7分別與信息綜合處理單元中的計算機電連接， 計算機用于分析處理經(jīng)過光電檢測器的光數(shù)據(jù)。其中，激發(fā)光源1選用空心陰極燈，光電檢測器一 5、光電檢測器二 7選用光電倍增管。原子化器3選用火焰原子化器，其內(nèi)部包括點火單元和原子蒸氣發(fā)生單元的點火單元選用高溫加熱爐絲，原子蒸氣發(fā)生單元選用氫化物發(fā)生單元。上述技術(shù)方案只是本實用新型的一種實施方式，對于本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員而言， 在本實用新型公開了應(yīng)用方法和原理的基礎(chǔ)上，很容易做出各種類型的改進或變形，而不僅限于本實用新型上述具體實施方式
所描述的結(jié)構(gòu)，因此前面描述的方式只是優(yōu)選地，而并不具有限制性的意義。
權(quán)利要求1.激發(fā)光源漂移校正裝置，包括激發(fā)光源(1)、原子化器(3)、透鏡組以及光電檢測器組，其特征在于所述校正裝置的各個元器件組成激發(fā)光檢測光路和熒光檢測光路；所述的激發(fā)光檢測光路是由所述的激發(fā)光源(1)、透鏡一 O)、原子化器(3)、透鏡二 (4)以及光電檢測器一(5)依次順序排列布置構(gòu)成，上述各個元器件的中心焦點分布在同一直線上；所述的熒光檢測光路由所述的激發(fā)光源(1)、透鏡一 O)、原子化器(3)，透鏡三(6)以及光電檢測器二(7)依次順序設(shè)置構(gòu)成，所述激發(fā)光源(1)、透鏡一 O)、原子化器C3)的中心焦點分布在同一直線上，所述原子化器(3)、透鏡三(6)和光電檢測器二(7)的中心焦點分布在另同一直線上，且與所述激發(fā)光源(1)、透鏡一 O)、原子化器C3)形成的光路直線存在角度，角度范圍大于零度，小于180度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激發(fā)光源漂移校正裝置，其特征在于所述的原子化器(3)中心位于所述的透鏡一 O)、透鏡二 G)、透鏡三(6)的同一個焦點上，所述的激發(fā)光源(1)發(fā)光位置位于所述的透鏡一 O)的另一個焦點上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激發(fā)光源漂移校正裝置，其特征在于所述的光電檢測器一(5)與所述的透鏡二的間距小于等于所述透鏡二的焦距。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激發(fā)光源漂移校正裝置，其特征在于所述的光電檢測器二(7)與所述的透鏡三(6)的間距小于等于所述透鏡三(6)的焦距。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激發(fā)光源漂移校正裝置，其特征在于 所述的激發(fā)光源(1)選用空心陰極燈、氘燈、氙燈或激光。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激發(fā)光源漂移校正裝置，其特征在于所述的光電檢測器一( 和光電檢測器二(7)選用光電倍增管、光電池、固態(tài)檢測器電荷耦合器、電荷注入器或二極管陣列。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激發(fā)光源漂移校正裝置，其特征在于所述的原子化器C3)包括點火單元與原子蒸氣發(fā)生單元，所述的點火單元選用高溫加熱爐絲、低溫點火線圈或紅外加熱；原子蒸氣發(fā)生單元選用氫化物發(fā)生單元或冷蒸氣發(fā)生單元。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激發(fā)光源漂移校正裝置，其特征在于所述原子化器中心位于透鏡一 O)、透鏡二 G)、透鏡三(6)的一個焦點上，激發(fā)光源發(fā)光位置是透鏡一 O)的另一個焦點；所述的光電檢測器一(5)與所述的透鏡二的間距小于等于所述透鏡二的焦距；所述的光電檢測器二(7)與所述的透鏡三(6)的間距小于等于所述透鏡三(6)的焦距；所述的激發(fā)光源(1)選用空心陰極燈、氘燈、氙燈或激光；所述的光電檢測器一( 和光電檢測器二(7)選用光電倍增管、光電池、固態(tài)檢測器電荷耦合器、電荷注入器或二極管陣列；所述的原子化器C3)包括點火單元與原子蒸氣發(fā)生單元，所述的點火單元選用高溫加熱爐絲、低溫點火線圈或紅外加熱；原子蒸氣發(fā)生單元選用氫化物發(fā)生單元或冷蒸氣發(fā)生單元。
專利摘要本實用新型涉及一種激發(fā)光源漂移校正裝置，包含激發(fā)光檢測光路以及熒光檢測光路，激發(fā)光檢測光路包括焦點處在同一直線上的激發(fā)光源、透鏡一、原子化器、透鏡二以及光電探測器一；熒光檢測光路包括焦點處在同一直線上的激發(fā)光源、透鏡一、原子化器，以及焦點處在另一直線上的原子化器、透鏡三和光電檢測器二；本實用新型通過改進激發(fā)光源漂移校正裝置的光路結(jié)構(gòu)，使得本裝置在不增大光路結(jié)構(gòu)的前提下，保證了精確測量光偏移的結(jié)果，提高了產(chǎn)品的精度；同時本實用新型在使用過程中不會對激發(fā)光源造成光學上的削弱，提高了光能源的使用效率。
文檔編號G01N21/64GK202305177SQ20112041786
公開日2012年7月4日 申請日期2011年10月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月28日
發(fā)明者喬丙勝 申請人:北京銳光儀器有限公司