專利名稱：高精度回路電阻測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種高精度回路電阻測(cè)試儀。
背景技術(shù)：
回路電阻測(cè)試儀主要用于測(cè)量開關(guān)、斷路器和變壓器等設(shè)備的接觸電阻。接觸電阻值比較小，測(cè)試電流大于100A。一般用4線制測(cè)量法。電流通過被測(cè)設(shè)備的接觸點(diǎn)，從接觸點(diǎn)測(cè)出電壓，R = U/I。主要有直流恒流源、控制主板和IXD顯示屏等組成。以上電路有以下缺點(diǎn)1.電壓和電流回路誤差較大。2.電壓和電流回路線性度差。3.溫度漂移大。為此，人們進(jìn)行了長(zhǎng)期的探索，提出了各種各樣的解決方案，但是均未獲得較為理想的改進(jìn)。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是針對(duì)上述問題，提供一種設(shè)計(jì)合理，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，能夠有效降低整個(gè)電路的溫漂誤差，操作使用方便的高精度回路電阻測(cè)試儀。為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用了下列技術(shù)方案本高精度回路電阻測(cè)試儀，包括CPU，在CPU上連接有電壓采樣回路和電流采樣回路，其特征在于，所述的有電壓采樣回路上連接有電壓校正單元，所述的電流采樣回路上連接有電流校正單元。在上述的高精度回路電阻測(cè)試儀中，所述的電壓校正單元和電流校正單元通過第一切換結(jié)構(gòu)與電壓采樣回路和電流采樣回路相連；所述的電壓校正單元和電流校正單元通過第二切換結(jié)構(gòu)與電壓采樣回路和電流采樣回路相連。在上述的高精度回路電阻測(cè)試儀中，所述的電壓采樣回路包括依次串聯(lián)的電壓輸入端口、第一放大電路、第一 A/D轉(zhuǎn)換電路、第一隔離模塊,所述的第一隔離模塊與CPU相連；所述的電流采樣回路包括依次串聯(lián)的電流輸入端口、第二放大電路、第二 A/D轉(zhuǎn)換電路、第二隔離模塊，所述的第二隔離模塊與CPU相連。在上述的高精度回路電阻測(cè)試儀中，所述的第一放大電路和第二放大電路的放大倍數(shù)為20倍。在上述的高精度回路電阻測(cè)試儀中，所述的第一切換結(jié)構(gòu)包括連接在CPU上的第一驅(qū)動(dòng)模塊，所述的第一驅(qū)動(dòng)模塊與第一開關(guān)相連，所述的第一開關(guān)連接在電壓采樣回路和電流采樣回路之間；第二切換結(jié)構(gòu)包括連接在CPU上的第二驅(qū)動(dòng)模塊，所述的第二驅(qū)動(dòng)模塊與第二開關(guān)相連，所述的第二開關(guān)連接在電壓采樣回路和電流采樣回路之間。在上述的高精度回路電阻測(cè)試儀中，所述的第一開關(guān)和第二開關(guān)均為雙刀雙擲開關(guān)。與現(xiàn)有的技術(shù)相比，本高精度回路電阻測(cè)試儀的優(yōu)點(diǎn)在于設(shè)計(jì)合理，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單， 能夠有效降低整個(gè)電路的溫漂誤差，操作使用方便。

圖I是本實(shí)用新型提供的結(jié)構(gòu)示意圖。[0012]圖中，電壓采樣回路I、電壓輸入端口 11、第一放大電路12、第一 A/D轉(zhuǎn)換電路13、 第一隔離模塊14、電流采樣回路2、電流輸入端口 21、第二放大電路22、第二 A/D轉(zhuǎn)換電路 23、第二隔離模塊24、電壓校正單元3、電流校正單元4、第一驅(qū)動(dòng)模塊6、第一開關(guān)7、第二驅(qū)動(dòng)模塊8、第二開關(guān)9。
具體實(shí)施方式
如圖I所示，本高精度回路電阻測(cè)試儀包括CPU，在CPU上連接有電壓采樣回路I 和電流采樣回路2，電壓采樣回路I上連接有電壓校正單元3，電流采樣回路2上連接有電流校正單元4。電壓校正單元3和電流校正單元4通過第一切換結(jié)構(gòu)與電壓采樣回路I和電流采樣回路2相連；電壓校正單元3和電流校正單元4通過第二切換結(jié)構(gòu)與電壓采樣回路I和電流采樣回路2相連。電壓采樣回路I包括依次串聯(lián)的電壓輸入端口 11、第一放大電路12、第一 A/D轉(zhuǎn)換電路13、第一隔離模塊14，第一隔離模塊14與CPU相連。電流采樣回路2包括依次串聯(lián)的電流輸入端口 21、第二放大電路22、第二 A/D轉(zhuǎn)換電路23、第二隔離模塊24，第二隔離模塊24與CPU相連。第一放大電路12和第二放大電路22的放大倍數(shù)為20倍。第一切換結(jié)構(gòu)包括連接在CPU上的第一驅(qū)動(dòng)模塊6，第一驅(qū)動(dòng)模塊6與第一開關(guān)7 相連，第一開關(guān)7連接在電壓采樣回路I和電流采樣回路2之間。第二切換結(jié)構(gòu)包括連接在CPU上的第二驅(qū)動(dòng)模塊8，第二驅(qū)動(dòng)模塊8與第二開關(guān)9相連，第二開關(guān)9連接在電壓采樣回路I和電流采樣回路2之間。第一開關(guān)7和第二開關(guān)9均為雙刀雙擲開關(guān)。本文中所描述的具體實(shí)施例僅僅是對(duì)本實(shí)用新型精神作舉例說明。本實(shí)用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)所描述的具體實(shí)施例做各種各樣的修改或補(bǔ)充或采用類似的方式替代，但并不會(huì)偏離本實(shí)用新型的精神或者超越所附權(quán)利要求書所定義的范圍。盡管本文較多地使用了電壓采樣回路I、電壓輸入端口 11、第一放大電路12、第一 A/D轉(zhuǎn)換電路13、第一隔離模塊14、電流采樣回路2、電流輸入端口 21、第二放大電路22、第二 A/D轉(zhuǎn)換電路23、第二隔離模塊24、電壓校正單元3、電流校正單元4、第一驅(qū)動(dòng)模塊6、第一開關(guān)7、第二驅(qū)動(dòng)模塊8、第二開關(guān)9等術(shù)語，但并不排除使用其它術(shù)語的可能性。使用這些術(shù)語僅僅是為了更方便地描述和解釋本實(shí)用新型的本質(zhì)；把它們解釋成任何一種附加的限制都是與本實(shí)用新型精神相違背的。
權(quán)利要求1.一種高精度回路電阻測(cè)試儀，包括CPU，在CPU上連接有電壓采樣回路(I)和電流采樣回路(2)，其特征在于，所述的有電壓采樣回路(I)上連接有電壓校正單元(3)，所述的電流采樣回路(2)上連接有電流校正單元(4)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的高精度回路電阻測(cè)試儀，其特征在于，所述的電壓校正單元 ⑶和電流校正單元⑷通過第一切換結(jié)構(gòu)與電壓采樣回路⑴和電流采樣回路⑵相連; 所述的電壓校正單元(3)和電流校正單元(4)通過第二切換結(jié)構(gòu)與電壓采樣回路(I)和電流采樣回路⑵相連。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的高精度回路電阻測(cè)試儀，其特征在于，所述的電壓采樣回路(I)包括依次串聯(lián)的電壓輸入端口(11)、第一放大電路(12)、第一A/D轉(zhuǎn)換電路(13)、 第一隔離模塊(14)，所述的第一隔離模塊(14)與CPU相連；所述的電流采樣回路(2)包括依次串聯(lián)的電流輸入端口(21)、第二放大電路(22)、第二A/D轉(zhuǎn)換電路(23)、第二隔離模塊 (24)，所述的第二隔離模塊(24)與CPU相連。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的高精度回路電阻測(cè)試儀，其特征在于，所述的第一放大電路(12)和第二放大電路(22)的放大倍數(shù)為20倍。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高精度回路電阻測(cè)試儀，其特征在于，所述的第一切換結(jié)構(gòu)包括連接在CPU上的第一驅(qū)動(dòng)模塊￠)，所述的第一驅(qū)動(dòng)模塊￠)與第一開關(guān)(7)相連，所述的第一開關(guān)(7)連接在電壓采樣回路(I)和電流采樣回路(2)之間；所述的第二切換結(jié)構(gòu)包括連接在CPU上的第二驅(qū)動(dòng)模塊(8)，所述的第二驅(qū)動(dòng)模塊(8)與第二開關(guān)(9)相連， 所述的第二開關(guān)(9)連接在電壓采樣回路⑴和電流采樣回路⑵之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的高精度回路電阻測(cè)試儀，其特征在于，所述的第一開關(guān)(7)和第二開關(guān)(9)均為雙刀雙擲開關(guān)。
專利摘要本實(shí)用新型屬于測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種高精度回路電阻測(cè)試儀。它解決了現(xiàn)有技術(shù)設(shè)計(jì)不夠合理等技術(shù)問題。包括CPU，在CPU上連接有電壓采樣回路和電流采樣回路，其特征在于，所述的有電壓采樣回路上連接有電壓校正單元，所述的電流采樣回路上連接有電流校正單元。與現(xiàn)有的技術(shù)相比，本高精度回路電阻測(cè)試儀的優(yōu)點(diǎn)在于設(shè)計(jì)合理，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，能夠有效降低整個(gè)電路的溫漂誤差，操作使用方便。
文檔編號(hào)G01R27/08GK202351327SQ201120433540
公開日2012年7月25日 申請(qǐng)日期2011年11月3日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月3日
發(fā)明者張韜, 鄭玲龍 申請(qǐng)人:杭州高電科技有限公司