專利名稱：電測治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種電測治具，屬于測試技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
FPC的兩個(gè)端部通常為導(dǎo)電電極，即金手指，用來與其他電子產(chǎn)品相連通，以達(dá)成電性導(dǎo)通。FPC在與其他模組組件如觸控屏、顯示面板等連接時(shí)，通常由壓著機(jī)先將FPC — 端的導(dǎo)電電極與模組組件的周邊線路進(jìn)行壓合，如使FPC的一端與觸控傳感層壓合連通， 一端連通后再將FPC的另一端與電路板連通。為了避免FPC壓合后的壓著不良，通常在FPC 一端壓合后對其進(jìn)行電性測試?，F(xiàn)有技術(shù)中，電性測試采用插拔式，插拔式的電測治具上設(shè)置有專門連接FPC的連接卡扣，測試時(shí)需人工打開連接卡扣，將FPC另一未壓合端插入連接卡扣，再閉合連接卡扣以固定FPC，然后進(jìn)行檢測，這種插拔式的檢測方式易損傷FPC及電測治具上的連接卡扣，且插拔過程較費(fèi)時(shí)。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種電測治具，將FPC自由端送入電測治具進(jìn)行檢測，不損傷FPC及電測治具上的連接卡扣，節(jié)省電測時(shí)間。為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供一種電測治具，其特征是，包括一帶有測試電極的測試板、置于所述測試板之上的下壓板、平行置于所述下壓板上的可運(yùn)動(dòng)的上壓板， 所述上壓板上設(shè)置一帶推動(dòng)機(jī)構(gòu)的可推動(dòng)所述上壓板向下運(yùn)動(dòng)的蓋板；所述推動(dòng)機(jī)構(gòu)可為一壓合蓋板的把手機(jī)構(gòu)；所述下壓板、上壓板上包含多個(gè)垂直貫通的針孔構(gòu)成的檢測區(qū)，多個(gè)所述針孔內(nèi)分別設(shè)置有探針，所述探針由上端頭、下端頭以及位于兩者之間的探針體組成，所述探針體的直徑大于所述上端頭和所述下端頭的直徑，所述探針的下端頭穿過所述下壓板與所述測試板上的測試電極碰觸；所述探針的上端頭可由所述上壓板的針孔內(nèi)伸出；僅當(dāng)所述上壓板向下運(yùn)動(dòng)時(shí)，所述探針的上端頭才伸出所述上壓板的針孔，與由所述上壓板、所述蓋板夾持的待測FPC上的電極碰觸。檢測區(qū)可為一個(gè)或多個(gè)區(qū)域，根據(jù)需要檢測的FPC自由端數(shù)量設(shè)置由多個(gè)所述針孔構(gòu)成的相應(yīng)數(shù)量的檢測區(qū)域。所述探針包含上端頭和下端頭以及位于兩者之間的探針體，所述探針體的直徑大于上端頭的直徑和下端頭的直徑。所述下壓板下部的針孔孔徑小于所述下壓板上部的針孔所容置的所述探針體的直徑。所述上壓板的針孔孔徑大于所述探針的上端頭直徑，小于所述探針體直徑。所述下壓板與所述上壓板之間設(shè)置一中壓板，所述中壓板上包含與所述下壓板、 上壓板對應(yīng)的針孔，所述針孔位于中壓板內(nèi)上部的孔徑小于位于下部的孔徑所容置的探針體的直徑。[0013]所述中壓板固定設(shè)置，所述上壓板與所述中壓板之間設(shè)置有可使上壓板恢復(fù)初始位置的恢復(fù)構(gòu)件。所述可使上壓板恢復(fù)初始位置的恢復(fù)構(gòu)件可為彈簧構(gòu)件。所述檢測區(qū)中的相鄰所述針孔相互交錯(cuò)排列。所述檢測區(qū)中的相鄰所述針孔相互交錯(cuò)排列成多排。所述檢測區(qū)中的相鄰所述針孔相互交錯(cuò)排列成兩排。還包含對待測FPC位置進(jìn)行定位的定位裝置。本實(shí)用新型所達(dá)到的有益效果本實(shí)用新型的電測治具，將FPC自由端送入電測治具進(jìn)行檢測，不損傷FPC及電測治具上的連接卡扣，節(jié)省檢測時(shí)間，提高了檢測效率。

圖1是本實(shí)用新型電測治具一實(shí)施例示意圖；圖2是圖1的電測治具未壓合時(shí)示意圖；圖3是圖1的電測治具壓合時(shí)示意圖；圖4是另一實(shí)施例上壓板俯視示意圖；圖中，測試臺1、測試板2、測試電極21、下壓板3、針孔31、中壓板4、針孔41、上壓板5、針孔51、蓋板6、彈簧7、FPC8、導(dǎo)電電極81、探針9、下端頭91、探針體92、上端頭93、 操作把手10、檢測區(qū)11。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述。以下實(shí)施例僅用于更加清楚地說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案，而不能以此來限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。實(shí)施例1如圖1所示，本實(shí)用新型的電測治具包括設(shè)置在測試臺1上的測試板2、置于測試板2之上的下壓板3、平行置于下壓板3上的上壓板5、設(shè)置在下壓板3、上壓板5之間的中壓板4，中壓板4與上壓板5之間設(shè)置有彈性構(gòu)件彈簧7，上壓板5上設(shè)置一帶操作把手的蓋板6。未操作蓋板6下壓時(shí)，上壓板5與蓋板6之間的距離可容納需電性測試的FPC8推入、退出。下壓板3、中壓板4和上壓板5上包含多個(gè)位置對應(yīng)的針孔31、針孔41、針孔51， 針孔內(nèi)設(shè)置有探針9，一根探針9分別穿過下壓板3、中壓板4和上壓板5內(nèi)的針孔31、針孔 41、針孔51。下壓板3內(nèi)的針孔31壁上設(shè)有臺階，下部的針孔孔徑小于探針體92的直徑，下部針孔內(nèi)容納探針9的下端頭91，上部的針孔內(nèi)容納部分探針體92。探針9的下端頭91與測試板2上的測試電極21電性連通。上壓板5的針孔51孔徑大于探針的上端頭93直徑， 小于探針體92直徑，用于容納探針9的部分上端頭93。中壓板4內(nèi)的針孔41壁上設(shè)有臺階，上部的針孔孔徑小于探針體92的直徑。下部針孔內(nèi)容納部分探針體92，上部的針孔內(nèi)容納部分探針上端頭93。FPC8推入進(jìn)行電性測試時(shí)，其上的導(dǎo)電電極81面朝向上壓板5，并由定位裝置限定其各導(dǎo)電電極恰好推至位于與上壓板5上的多個(gè)針孔51相對的位置。由于上壓板5、中壓板4和下壓板3上的針孔51、41、31孔徑相對非常小，各孔之間距離非常近，因此，加工難度增加，且由于各孔相距較近，相鄰的探針的上端頭伸出時(shí)易發(fā)生相互接觸，干擾測試。因此，較佳的針孔的排列方式是將相鄰針孔錯(cuò)開排列，形成相互交錯(cuò)的兩排針孔。測試過程為如圖2、圖3所示，F(xiàn)PC8的一端已與其他電子產(chǎn)品如觸控傳感層壓合，將FPC另一未壓合端推入蓋板6與上壓板5之間的夾縫中，F(xiàn)PC8上的導(dǎo)電電極81面朝向上壓板5，并由定位裝置限定其各導(dǎo)電電極81恰好推至位于與上壓板5上的多個(gè)針孔51相對的位置。 操作把手使蓋板6向下壓FPC8，F(xiàn)PC8貼于上壓板5上與上壓板5 —起向下運(yùn)動(dòng)；上壓板5 壓縮彈簧7，上壓板5與中壓板4之間的距離隨著彈簧7的壓縮而逐漸靠近，位于上壓板5 針孔51內(nèi)的探針上端頭93會從孔內(nèi)探出上壓板5的上表面，與置于上壓板5之上的FPC8 的導(dǎo)電電極81接觸連通，由探針9實(shí)現(xiàn)了將測試板2與FPC8的電極連通，從而進(jìn)行測試。實(shí)施例2如圖4所示，在實(shí)施例1的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例中，以一觸控傳感層上壓合三根FPC 為例，根據(jù)需檢測的三根FPC的位置，對應(yīng)設(shè)置電測治具中包含三個(gè)檢測區(qū)11，即上壓板5 上包含三個(gè)檢測區(qū)11，每個(gè)檢測區(qū)11中設(shè)有多個(gè)相互交錯(cuò)成兩排的針孔51，針孔51內(nèi)設(shè)有探針，與上壓板對應(yīng)的中壓板、下壓板上均包含三個(gè)對應(yīng)檢測區(qū)，每個(gè)檢測區(qū)中都對應(yīng)設(shè)有針孔，其中上壓板對應(yīng)檢測區(qū)向下凹陷(圖中未畫出)，以容置FPC對其定位，在此對中壓板及下壓板結(jié)構(gòu)不再重復(fù)敘述，其其余結(jié)構(gòu)及對應(yīng)關(guān)系與實(shí)施例1相同，使電測治具同時(shí)對三根FPC進(jìn)行電性測試，提高了工作效率。以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和變形，這些改進(jìn)和變形也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種電測治具，其特征是，包括一帶有測試電極的測試板、置于所述測試板之上的下壓板、平行置于所述下壓板上的可運(yùn)動(dòng)的上壓板，所述上壓板上設(shè)置一帶推動(dòng)機(jī)構(gòu)的可推動(dòng)所述上壓板向下運(yùn)動(dòng)的蓋板；所述下壓板、上壓板上包含多個(gè)垂直貫通的針孔構(gòu)成的檢測區(qū)，多個(gè)所述針孔內(nèi)分別設(shè)置有探針，所述探針的下端頭穿過所述下壓板與所述測試板上的測試電極碰觸；所述探針的上端頭可由所述上壓板的針孔內(nèi)伸出；所述上壓板向下運(yùn)動(dòng)時(shí)，所述探針的上端頭伸出所述上壓板的針孔，與由所述上壓板、 所述蓋板夾持的待測FPC上的電極碰觸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電測治具，其特征是，所述探針包含上端頭和下端頭以及位于兩者之間的探針體，所述探針體的直徑大于上端頭的直徑和下端頭的直徑。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電測治具，其特征是，所述下壓板下部的針孔孔徑小于所述下壓板上部所容置的探針體的直徑。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電測治具，其特征是，所述上壓板的針孔孔徑大于所述探針的上端頭直徑，小于所述探針體直徑。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電測治具，其特征是，所述下壓板與所述上壓板之間設(shè)置一中壓板，所述中壓板上包含與所述下壓板、上壓板對應(yīng)的針孔，所述針孔位于中壓板內(nèi)上部的孔徑小于位于下部所容置的探針體的直徑。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電測治具，其特征是，所述中壓板固定設(shè)置，所述上壓板與所述中壓板之間設(shè)置有可使上壓板恢復(fù)初始位置的恢復(fù)構(gòu)件。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電測治具，其特征是，所述檢測區(qū)中的相鄰所述針孔相互交錯(cuò)排列。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7中任意一項(xiàng)所述的電測治具，其特征是，所述檢測區(qū)中的相鄰所述針孔相互交錯(cuò)排列成多排。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至7中任意一項(xiàng)所述的電測治具，其特征是，所述檢測區(qū)中的相鄰所述針孔相互交錯(cuò)排列成兩排。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電測治具，其特征是，還包含對待測FPC位置進(jìn)行定位的定位裝置。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種電測治具，包括測試板、置于測試板之上的下壓板、平行置于下壓板上的可運(yùn)動(dòng)的上壓板，上壓板上設(shè)置一帶推動(dòng)機(jī)構(gòu)的可推動(dòng)所述上壓板向下運(yùn)動(dòng)的蓋板；下壓板、上壓板上包含多個(gè)垂直貫通的針孔構(gòu)成的檢測區(qū)，多個(gè)針孔內(nèi)分別設(shè)置有探針，探針的下端頭穿過下壓板與測試板上的測試電極碰觸；探針的上端頭位于上壓板的針孔內(nèi)；僅當(dāng)上壓板向下運(yùn)動(dòng)時(shí)，探針的上端頭才伸出所述上壓板的針孔，與由上壓板、蓋板夾持的待測FPC上的電極碰觸。本實(shí)用新型的電測治具，將FPC自由端送入電測治具以進(jìn)行檢測，不損傷FPC上的導(dǎo)電電極及電測治具上的檢測電極，節(jié)省檢測時(shí)間，提高了檢測效率。
文檔編號G01R31/28GK202330639SQ20112048858
公開日2012年7月11日 申請日期2011年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月30日
發(fā)明者冀海明 申請人:南京瀚宇彩欣科技有限責(zé)任公司