專利名稱：多郵票孔pcb板測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試裝置，尤其涉及PCB板測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
隨著科技的發(fā)展，芯片的功能越來(lái)越強(qiáng)大，外圍電路隨著也增多，當(dāng)這些功能都集成到一塊板上作為一個(gè)模塊與外部通訊時(shí)可以通過(guò)插座、插針等連接方式，對(duì)空間要求比較嚴(yán)格的機(jī)器來(lái)說(shuō)只能減小引腳的間距及插座的高度等來(lái)滿足要求，但這個(gè)連接由于虛焊或者抗震性不好導(dǎo)致接觸不良等給機(jī)器造成一定的隱患，使用郵票孔的焊接方式能很好的解決以上存在的問(wèn)題，可靠性比較高抗震性能好；但由于郵票孔間的間距過(guò)密，對(duì)單板功能的測(cè)試相對(duì)比較困難，目前市場(chǎng)上提供的測(cè)試架都是采用的頂針的方式，頂針細(xì)、價(jià)格昂貴且容易斷、不好維護(hù)，實(shí)用性不高，不利于批量生產(chǎn)測(cè)試。

實(shí)用新型內(nèi)容為了解決測(cè)試的問(wèn)題，將頂針用彈簧針來(lái)代替，針與PCB板的接觸方式也由原來(lái)的平行頂在郵票孔上改成垂直的方式，測(cè)試架由2塊基板組成，彈簧針定位在2塊基板之間，采用梯形上大下小的方式，上端固定下端有活動(dòng)槽，并可由螺絲自行調(diào)整基板間的高度來(lái)保證PCB板的取放與接觸。一種多郵票孔PCB板測(cè)試裝置，其包括測(cè)試架上基板、測(cè)試架下基板、連接測(cè)試架上基板和測(cè)試架下基板的支架和彈簧針，所述彈簧針設(shè)置在兩塊基板之間，設(shè)置方式為梯形上大下小的形式。作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述支架為高度可調(diào)的支架。作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述支架為螺絲。作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，測(cè)試架上基板對(duì)應(yīng)彈簧針上方設(shè)有缺口。作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，彈簧針上端固定在測(cè)試架上基板上，彈簧針下端設(shè)置在測(cè)試架下基板的活動(dòng)槽內(nèi)。作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，還包括走線圓孔，其設(shè)置在所述測(cè)試架下基板上。走線圓孔，方便連接線的走線。作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，還包括測(cè)試孔，其設(shè)置在所述測(cè)試架下基板上。測(cè)試孔，將原測(cè)試點(diǎn)間的距離拉大，平整排放。本實(shí)用新型的多郵票孔PCB板測(cè)試裝置的有益效果是采用彈簧針比細(xì)小的頂針價(jià)格便宜的多；接觸面比較大，不必因?yàn)橐稽c(diǎn)點(diǎn)的偏差而導(dǎo)致接觸不良；維護(hù)容易，一端固定一端活動(dòng)，更換方便，還可自由調(diào)整高度。

圖I是本實(shí)用新型多郵票孔PCB板測(cè)試裝置立體圖；圖2是圖I的俯視圖；[0014]圖3是圖I的主視圖；圖4是本實(shí)用新型多郵票孔PCB板測(cè)試裝置測(cè)試帶郵票孔的測(cè)試板的結(jié)構(gòu)示意圖；圖5是圖4的俯視圖；圖6是圖4的主視圖；圖7是圖4中A部分的放大圖。圖中各部件名稱如下測(cè)試架上基板101、支架102、測(cè)試架下基板103、彈簧針 104、帶郵票孔的測(cè)試板105、活動(dòng)槽106、走線圓孔107、測(cè)試孔108。
具體實(shí)施方式
如圖I至3所示，一種多郵票孔PCB板測(cè)試裝置，其包括測(cè)試架上基板101、測(cè)試架下基板103、連接測(cè)試架上基板101和測(cè)試架下基板103的支架102和彈簧針104，所述彈簧針104設(shè)置在兩塊基板之間，設(shè)置方式為梯形上大下小的形式。所述支架102為高度可調(diào)的支架。例如所述支架102為螺絲。所述測(cè)試架下基板103上設(shè)有走線圓孔107和測(cè)試孔 108。測(cè)試架上基板101對(duì)應(yīng)彈簧針104上方設(shè)有缺口。這樣方便多郵票孔PCB板測(cè)的取放。彈簧針104上端固定在測(cè)試架上基板101上，彈簧針104下端設(shè)置在測(cè)試架下基板103的活動(dòng)槽內(nèi)。圖4至圖6表示多郵票孔PCB板安放到測(cè)試裝置上，由圖中可以看出，接觸面比較大，不必因?yàn)橐稽c(diǎn)點(diǎn)的偏差而導(dǎo)致接觸不良；維護(hù)容易，一端固定一端活動(dòng)，更換方便，還可自由調(diào)整高度。圖7是圖4中A部分的放大圖，具體的表示了活動(dòng)槽。以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型所作的進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明，不能認(rèn)定本實(shí)用新型的具體實(shí)施只局限于這些說(shuō)明。對(duì)于本實(shí)用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡(jiǎn)單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種多郵票孔PCB板測(cè)試裝置，其特征在于其包括測(cè)試架上基板(101)、測(cè)試架下基板(103)、連接測(cè)試架上基板(101)和測(cè)試架下基板(103)的支架(102)和彈簧針(104)，所述彈簧針(104)設(shè)置在兩塊基板之間，設(shè)置方式為梯形上大下小的形式。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的多郵票孔PCB板測(cè)試裝置，其特征在于所述支架(102)為聞度可調(diào)的支架。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的多郵票孔PCB板測(cè)試裝置，其特征在于所述支架(102)為螺絲。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的多郵票孔PCB板測(cè)試裝置，其特征在于測(cè)試架上基板(101)對(duì)應(yīng)彈簧針(104)上方設(shè)有缺口。
5.根據(jù)權(quán)利要求I至4任意一項(xiàng)所述的多郵票孔PCB板測(cè)試裝置，其特征在于彈簧針(104)上端固定在測(cè)試架上基板(101)上，彈簧針(104)下端設(shè)置在測(cè)試架下基板(103)的活動(dòng)槽(106)內(nèi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求I至4任意一項(xiàng)所述的多郵票孔PCB板測(cè)試裝置，其特征在于還包括走線圓孔(107)，其設(shè)置在所述測(cè)試架下基板(103)上。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的多郵票孔PCB板測(cè)試裝置，其特征在于還包括走線圓孔(107)，其設(shè)置在所述測(cè)試架下基板(103)上。
8.根據(jù)權(quán)利要求I至4任意一項(xiàng)所述的多郵票孔PCB板測(cè)試裝置，其特征在于還包括測(cè)試孔(108)，其設(shè)置在所述測(cè)試架下基板(103)上。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的多郵票孔PCB板測(cè)試裝置，其特征在于還包括測(cè)試孔(108)，其設(shè)置在所述測(cè)試架下基板(103)上。
專利摘要本實(shí)用新型提供了一種多郵票孔PCB板測(cè)試裝置，其包括測(cè)試架上基板、測(cè)試架下基板、連接測(cè)試架上基板和測(cè)試架下基板的支架和彈簧針，所述彈簧針設(shè)置在兩塊基板之間，設(shè)置方式為梯形上大下小的形式。本實(shí)用新型的多郵票孔PCB板測(cè)試裝置的有益效果是采用彈簧針比細(xì)小的頂針價(jià)格便宜的多；接觸面比較大，不必因?yàn)橐稽c(diǎn)點(diǎn)的偏差而導(dǎo)致接觸不良；維護(hù)容易，一端固定一端活動(dòng)，更換方便，還可自由調(diào)整高度。
文檔編號(hào)G01R1/04GK202362326SQ20112049552
公開(kāi)日2012年8月1日 申請(qǐng)日期2011年12月2日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月2日
發(fā)明者劉杰, 周暖, 張世渡, 許明偉 申請(qǐng)人:深圳視融達(dá)科技有限公司