專利名稱：制備同軸波導法測試樣件的模具的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及微波材料檢測領域，特別是涉及一種制備同軸波導法測試樣件的模具。
背景技術：
電磁參數(shù)是用以表征介電或電磁雙復損耗材料本質特性的重要方法之一。該參數(shù)多采用矩形波導法和同軸波導法進行測量。用同軸波導法測試材料的電磁參數(shù)時，需要兩根同軸電纜，每根同軸波導測試電纜有兩個端口 一個端口用來與矢量網(wǎng)絡測量儀的輸入或輸出端口相連，另一個端口在測試時將被測材料放置在兩個端口之間，這兩個端口分別為母頭和公頭，將公、母兩個端口對接后，可對材料進行電磁參數(shù)測量。同軸波導法測量對測試樣件的尺寸要求較高。同軸波導法測試樣件一般用模具成型的方式制備。此前用來制備同軸測試樣件的模具有多種，但有兩種模具用得較為普遍。一種模具是按照標準樣件的尺寸分別制備陰模和陽模，在具體制備測試樣件時，先將混合了粘接材料的粉體填入模具的凹腔(即陰模)，然后合上陽模，再用錘子等工具對陽模外表面進行敲擊，使混合粉體材料受壓成型。該方法的最大缺點在于混合粉體材料脫模后，制備好的測試樣件因強度較低容易發(fā)生變形，測試樣件放入同軸電纜內(nèi)受壓也容易變形，直接影響測量的準確性。采用敲擊陽模外表面的方法制備測試樣件還有一個難以克服的問題，即余料不易排出來，直接影響所制備的測試樣件的質量。另外一種用來制備測試樣件的模具，其原理與“敲擊法”的模具相似，也是分為陰模與陽模，只是在具體制備測試樣件時，將“敲擊法”改為“擰緊法”，即用螺紋擰緊的方式制備測試樣件。用該法制備的測試樣件與“敲擊法”制備的樣件存在著相同的缺陷，這些缺陷對測試樣件的電磁參數(shù)的精度有較大影響。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是為了克服上述背景技術的不足，提供一種制備同軸波導法測試樣件的模具，其制備的測試樣件重復性強，余料容易排出來，尺寸精度高，強度增大，不易變形，測試樣件的質量有保證，徹底解決了“敲擊法”和“擰緊法”制備的測試樣件重復性差、尺寸精度差或變形影響測量精度的問題。本實用新型提供的制備同軸波導法測試樣件的模具，它包括相互匹配的陽模和陰模,它還包括同軸外導體和同軸內(nèi)導體,所述陽模包括陽模底座、同軸外導體定位柱和同軸內(nèi)導體定位柱，所述陽模底座、同軸外導體定位柱和同軸內(nèi)導體定位柱均為實心同軸圓柱體，所述陰模、同軸外導體和同軸內(nèi)導體均為中空圓柱體，陰模沿軸向套在同軸外導體定位柱上，同軸外導體位于陽模和陰模構成的圓槽內(nèi)，同軸內(nèi)導體沿軸向套在同軸內(nèi)導體定位柱上。在上述技術方案中，所述同軸外導體和同軸內(nèi)導體為墊片型中空圓柱體。在上述技術方案中，所述同軸外導體和同軸內(nèi)導體均采用黃銅制成。[0009]在上述技術方案中，所述陰模、陽模底座、同軸外導體定位柱和同軸內(nèi)導體定位柱均采用不銹鋼材料制成。在上述技術方案中，所述陰模的外徑=陽模底座的直徑。在上述技術方案中，所述陰模的高度=同軸外導體定位柱的高度+同軸外導體的高度。在上述技術方案中，所述同軸外導體的外徑=同軸外導體定位柱的直徑，略小于陰模的內(nèi)徑，同軸內(nèi)導體的外徑 < 同軸外導體的內(nèi)徑 < 同軸外導體定位柱的直徑。在上述技術方案中，所述同軸內(nèi)導體定位柱的直徑略小于同軸內(nèi)導體的內(nèi)徑，同 軸內(nèi)導體的內(nèi)徑< 同軸內(nèi)導體的外徑< 同軸外導體定位柱的直徑。在上述技術方案中，所述同軸外導體的高度=同軸內(nèi)導體的高度=同軸內(nèi)導體定位柱的高度。在上述技術方案中，所述同軸外導體、同軸內(nèi)導體和同軸內(nèi)導體定位柱高度均為
2.00±0. 01毫米，同軸外導體定位柱高度為20. 00±0. 01毫米，陰模高度為22. 00±0. 01毫米。與現(xiàn)有技術相比，本實用新型的優(yōu)點如下采用本實用新型提供的模具制備的測試樣件強度增大，不易變形，余料容易排出來，測試樣件的質量有保證，徹底解決了“敲擊法”和“擰緊法”制備的測試樣件重復性差、尺寸精度差或變形影響測量精度的問題，可用于粉體介電或電磁雙復損耗材料采用同軸波導法進行電磁參數(shù)測試時標準測試樣件的制備。
圖I是本實用新型實施例的立體結構示意圖。圖2是本實用新型實施例的分解結構示意圖。圖中1-陽模，2-陰模，3-同軸外導體，4-同軸內(nèi)導體，5-陽模底座，6_同軸外導體定位柱，7-同軸內(nèi)導體定位柱。
具體實施方式

以下結合附圖及實施例對本實用新型作進一步的詳細描述。參見圖I和2所示，本實用新型實施例提供的制備同軸波導法測試樣件的模具，它包括相互匹配的陽模I、陰模2、同軸外導體3和同軸內(nèi)導體4，陽模I包括陽模底座5、同軸外導體定位柱6和同軸內(nèi)導體定位柱7，陽模底座5、同軸外導體定位柱6和同軸內(nèi)導體定位柱7均為實心同軸圓柱體，陰模2、同軸外導體3和同軸內(nèi)導體4均為中空圓柱體，同軸外導體3和同軸內(nèi)導體4為墊片型中空圓柱體。陰模2沿軸向套在同軸外導體定位柱6上，同軸外導體3位于陽模I和陰模2構成的圓槽內(nèi)，同軸內(nèi)導體4沿軸向套在同軸內(nèi)導體定位柱7上。同軸外導體3和同軸內(nèi)導體4均采用黃銅制成，陰模2、陽模底座5、同軸外導體定位柱6和同軸內(nèi)導體定位柱7均采用不銹鋼材料制成。陰模2的外徑=陽模底座5的直徑=50. 00±0. 01毫米，同軸外導體3的外徑=同軸外導體定位柱6的直徑=14. 00±0. 01毫米，略小于陰模2的內(nèi)徑(15. 00±0. 01暈米)，同軸內(nèi)導體4的外徑(2. 50±0. 01暈米)< 同軸外導體3的內(nèi)徑(7. 00±0. 01暈米)< 同軸外導體定位柱6的直徑(14. 00±0. 01毫米)。同軸內(nèi)導體定位柱7的直徑(I. 38±0· 01暈米)略小于同軸內(nèi)導體4的內(nèi)徑(I. 50±0· 01暈米)，同軸內(nèi)導體4的內(nèi)徑(I. 50±0· Ol毫米)<同軸內(nèi)導體4的外徑(2· 50±0· 01毫米)<同軸外導體定位柱6的直徑(14. 00±0. 01毫米)。同軸外導體3的高度=同軸內(nèi)導體4的高度=同軸內(nèi)導體定位柱7的高度=2.00±0.01毫米，陰模2的高度(22.00±0.01毫米)=同軸外導體定位柱6的高度(20. 00±0.01毫米)+同軸外導體3的高度(2. 00±0.01毫米)，陽模底座5的高度=10. 00土O. 01 暈米。本實用新型實施例中增加了用于精確控制被測材料尺寸的同軸內(nèi)導體4和同軸外導體3，同軸內(nèi)導體4和同軸外導體3均由導電性良好的黃銅制備。同軸外導體3的尺寸與N型同軸測試電纜端口(母頭)內(nèi)表面完全相同，同軸內(nèi)導體4的尺寸則與N型同軸測試電纜端口(公頭)完全相同，并恰好允許公頭插入。被測材料樣件的厚度和直徑由陽模
I、陰模2、同軸外導體3和同軸內(nèi)導體4共同確定。具體做法是先將陰模2套在陽模I的同軸外導體定位柱6上，接著將同軸外導體3放置入模陽模I和陰模2構成的圓槽內(nèi)，最后將同軸內(nèi)導體4插入陽模I的同軸內(nèi)導體定位柱7(即Rl. 38圓柱)上。 制樣時，將經(jīng)過預處理的被測材料用專用工具填入同軸外導體3和同軸內(nèi)導體4的空隙、壓實，將填充好的被測材料外表面用專用工具刮至與同軸外導體3的外表面一樣平整，再將同軸外導體3、同軸內(nèi)導體4和填充在其內(nèi)的被測材料與一并取出，并對另一面按照同樣的方法刮平。到此，標準測試試件制備完畢，可以將制備好的標準測試試件放入7mm的標準同軸電纜進行測量。按上述方法制備的標準測試件徹底解決了 “敲擊法”和“擰緊法”制備的樣件重復性差、尺寸精度差或變形影響測量精度的問題。顯然，本領域的技術人員可以對本實用新型進行各種改動和變型而不脫離本實用新型的精神和范圍。這樣，倘若本實用新型的這些修改和變型屬于本實用新型權利要求及其等同技術的范圍之內(nèi)，則本實用新型也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。本說明書中未作詳細描述的內(nèi)容屬于本領域專業(yè)技術人員公知的現(xiàn)有技術。
權利要求1.一種制備同軸波導法測試樣件的模具，它包括相互匹配的陽模(I)和陰模(2)，其特征在于它還包括同軸外導體⑶和同軸內(nèi)導體(4)，所述陽模⑴包括陽模底座(5)、同軸外導體定位柱(6)和同軸內(nèi)導體定位柱(7)，所述陽模底座(5)、同軸外導體定位柱(6)和同軸內(nèi)導體定位柱⑵均為實心同軸圓柱體,所述陰模(2)、同軸外導體(3)和同軸內(nèi)導體(4)均為中空圓柱體，陰模(2)沿軸向套在同軸外導體定位柱(6)上，同軸外導體(3)位于陽模⑴和陰模⑵構成的圓槽內(nèi)，同軸內(nèi)導體⑷沿軸向套在同軸內(nèi)導體定位柱⑵上。
2.如權利要求I所述的制備同軸波導法測試樣件的模具，其特征在于所述同軸外導體(3)和同軸內(nèi)導體(4)為墊片型中空圓柱體。
3.如權利要求I所述的制備同軸波導法測試樣件的模具，其特征在于所述同軸外導體⑶和同軸內(nèi)導體(4)均采用黃銅制成。
4.如權利要求I所述的制備同軸波導法測試樣件的模具，其特征在于所述陰模(2)、陽模底座(5)、同軸外導體定位柱(6)和同軸內(nèi)導體定位柱(7)均采用不銹鋼材料制成。
5.如權利要求I所述的制備同軸波導法測試樣件的模具，其特征在于所述陰模(2)的外徑=陽模底座(5)的直徑。
6.如權利要求5所述的制備同軸波導法測試樣件的模具，其特征在于所述陰模(2)的高度=同軸外導體定位柱￠)的高度+同軸外導體(3)的高度。
7.如權利要求6所述的制備同軸波導法測試樣件的模具，其特征在于所述同軸外導體⑶的外徑=同軸外導體定位柱(6)的直徑,略小于陰模⑵的內(nèi)徑，同軸內(nèi)導體⑷的外徑<同軸外導體⑶的內(nèi)徑<同軸外導體定位柱(6)的直徑。
8.如權利要求7所述的制備同軸波導法測試樣件的模具，其特征在于所述同軸內(nèi)導體定位柱(X)的直徑略小于同軸內(nèi)導體(4)的內(nèi)徑，同軸內(nèi)導體(4)的內(nèi)徑< 同軸內(nèi)導體(4)的外徑<同軸外導體定位柱(6)的直徑。
9.如權利要求8所述的制備同軸波導法測試樣件的模具，其特征在于所述同軸外導體(3)的高度=同軸內(nèi)導體(4)的高度=同軸內(nèi)導體定位柱(7)的高度。
10.如權利要求I至9中任一項所述的制備同軸波導法測試樣件的模具，其特征在于所述同軸外導體(3)、同軸內(nèi)導體⑷和同軸內(nèi)導體定位柱(7)高度均為2. 00±0. 01毫米，同軸外導體定位柱(6)高度為20. 00±0. 01毫米，陰模(2)高度為22. 00±0. 01毫米。
專利摘要本實用新型公開了一種制備同軸波導法測試樣件的模具，它包括相互匹配的陽模和陰模，它還包括同軸外導體和同軸內(nèi)導體，所述陽模包括陽模底座、同軸外導體定位柱和同軸內(nèi)導體定位柱，所述陽模底座、同軸外導體定位柱和同軸內(nèi)導體定位柱均為實心同軸圓柱體，所述陰模、同軸外導體和同軸內(nèi)導體均為中空圓柱體，陰模沿軸向套在同軸外導體定位柱上，同軸外導體位于陽模和陰模構成的圓槽內(nèi)，同軸內(nèi)導體沿軸向套在同軸內(nèi)導體定位柱上。采用本實用新型制備的測試樣件重復性強，余料容易排出來，尺寸精度高，強度增大，不易變形，測試樣件的質量有保證，徹底解決了“敲擊法”和“擰緊法”制備的測試樣件重復性差、尺寸精度差或變形影響測量精度的問題。
文檔編號G01R31/00GK202487737SQ20112053783
公開日2012年10月10日 申請日期2011年12月21日 優(yōu)先權日2011年12月21日
發(fā)明者王晉華, 王莉, 袁芝金 申請人:航天科工武漢磁電有限責任公司