專(zhuān)利名稱(chēng)：介電物體的檢測(cè)的制作方法
介電物體的檢測(cè)
背景技術(shù)：
為了以電容方式定位介電物體，可以產(chǎn)生電場(chǎng)并且隨后確定是否電場(chǎng)通過(guò)物體而受到影響。在一個(gè)變形方案中，借助兩個(gè)并排的電極來(lái)產(chǎn)生兩個(gè)電場(chǎng)，并且在兩個(gè)電極上進(jìn)行電容的比較。如果電容相差超過(guò)預(yù)先確定的程度，則可以得出在電場(chǎng)的范圍中存在物體。該方式可以針對(duì)任何類(lèi)型的具有介電特性的物體使用，例如在輕質(zhì)建筑墻中的木梁。由并排的電極構(gòu)成的布置相對(duì)于在其環(huán)境中的任何類(lèi)型的電導(dǎo)體敏感。因此，電極布置相距于電路以一定的空間距離來(lái)構(gòu)建，該電路進(jìn)行電容確定。電極布置例如可以布置在與所述電路相同的電路板上，其中在電極和電路之間存在幾厘米的水平距離。對(duì)此可替選地，可以將電極裝置安裝在分離的印刷電路板上，使得在垂直方向上在電路和電極之間存在一定距離。 本發(fā)明的任務(wù)是，提出一種用于檢測(cè)介電物體的設(shè)備和方法，其能夠?qū)崿F(xiàn)改進(jìn)的空間利用。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明借助具有權(quán)利要求I所述特征的設(shè)備以及通過(guò)具有權(quán)利要求7所述特征的方法來(lái)解決該任務(wù)。從屬權(quán)利要求給出了優(yōu)選的實(shí)施形式。根據(jù)本發(fā)明的用于檢測(cè)介電物體的設(shè)備包括第一電極和第二電極；第一裝置，用于確定能夠通過(guò)物體影響的、在第一電極和共同的參考點(diǎn)之間的第一電容；以及第二裝置，用于確定能夠通過(guò)物體影響的、在第二電極和接地點(diǎn)之間的第二電容。此外，設(shè)置有控制裝置，用于操控(Ansteuerung)所述裝置，以及設(shè)置有分析裝置，用于當(dāng)確定的電容相差超過(guò)預(yù)先確定的程度時(shí)，檢測(cè)到物體。在此，控制裝置設(shè)計(jì)用于操控所述裝置，使得相繼地進(jìn)行確定，并且設(shè)置有開(kāi)關(guān)裝置，以便將各未被操控的裝置的電極與共同的參考點(diǎn)電連接。有利的是，由此可以連接在第一電極和第二電極之間的寄生電容，使得其不影響這些確定的差。通過(guò)本發(fā)明，可以將在差分電容確定情況下的寄生電容的影響最小化。根據(jù)本發(fā)明的、在同時(shí)短路的寄生電容情況下順序測(cè)量的方式可以擴(kuò)展到任意多個(gè)電極或者電極對(duì)。優(yōu)選的是，在第一電極和第二電極的區(qū)域中設(shè)置有第三電極。第三電極可以用于在兩個(gè)第一電極的區(qū)域中實(shí)現(xiàn)關(guān)于印制導(dǎo)線(xiàn)或者電子器件的屏蔽。在此在第三電極和第一電極這兩個(gè)電極之間形成的耦合電容如上面描述的那樣被連接寄生電容，使得其并不影響電容確定。由此，可以將測(cè)量電路緊湊地構(gòu)建；尤其是可以將分析電路和電極之間的距離在精度方面無(wú)損地降低到小于10毫米，優(yōu)選大約I. 6毫米，這對(duì)應(yīng)于通常的電路板的厚度。第三電極可以布置在第一電極和第二電極的背離介電物體的側(cè)上。由此，可以實(shí)現(xiàn)電極的節(jié)省空間的構(gòu)造以及與電極連接的用于分析電極信號(hào)的組件。并不需要組件和電極在多個(gè)電路板上的分布或者保持在電極和組件之間的大的距離。用于確定電容的裝置可以設(shè)計(jì)用于發(fā)出如下時(shí)間信號(hào)所述時(shí)間信號(hào)的長(zhǎng)度分別與確定的電容相關(guān)，并且分析裝置可以設(shè)計(jì)用于提供如下時(shí)間信號(hào)所述時(shí)間信號(hào)的長(zhǎng)度與電容的差相關(guān)。時(shí)間信號(hào)可以基于電容的充電過(guò)程或者放電過(guò)程來(lái)確定。于是，可以借助比較低的頻率來(lái)確定電容，這可以提高確定的精度。由分析裝置提供的時(shí)間信號(hào)可以被積分并且與閾值比較。這種分析可以用已知的方式來(lái)簡(jiǎn)單并可靠地構(gòu)建?？刂蒲b置可以設(shè)計(jì)用于以相同頻率周期性地操控第一裝置和第二裝置來(lái)確定電容，其中在周期性的操控之間的相位關(guān)系是可變的，以便在不存在物體時(shí)補(bǔ)償不同大小的電容。于是，可以將用于確定電容的過(guò)程的簡(jiǎn)單并且有效的同步與所述設(shè)備的簡(jiǎn)單的可校準(zhǔn)性結(jié)合?？梢栽陔姌O和共同的參考點(diǎn)之間設(shè)置多個(gè)用于確定電容的裝置，其中控制裝置設(shè)計(jì)用于在每個(gè)時(shí)刻僅僅操控一個(gè)裝置，并且開(kāi)關(guān)裝置設(shè)計(jì)用于將所有未被操控的裝置的電 極與共同的參考點(diǎn)電連接。于是，可以借助空間上分布的電極來(lái)進(jìn)行一系列的多次電容確定。根據(jù)本發(fā)明的用于檢測(cè)介電物體的方法包括確定能夠通過(guò)物體影響的、在第一電極和接地點(diǎn)之間的第一電容的步驟，確定能夠通過(guò)物體影響的、在第二電極和共同的參考點(diǎn)之間的第二電容的步驟，以及當(dāng)確定的電容相差超過(guò)預(yù)先確定的程度時(shí)，檢測(cè)到物體的步驟。在此，相繼地確定電容，并且在借助電極的確定期間將各另外的電極與共同的參考點(diǎn)電連接。最后，計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品包括計(jì)算機(jī)代碼裝置，用于執(zhí)行所述方法，并且可以在處理裝置上運(yùn)行，或者存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀的數(shù)據(jù)載體上。


現(xiàn)在參照附圖進(jìn)一步描述本發(fā)明。其中
圖I示出了電極布置；
圖2示出了基于圖I中的電極布置的測(cè)量電路；
圖3示出了用于操控圖2中的電極布置的梁探測(cè)器；
圖4示出了圖3中的梁探測(cè)器上的變化過(guò)程的時(shí)間圖；以及 圖5示出了用于探測(cè)梁的方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式圖I示出了電極布置100。借助在圖I中示出的電極布置100，差分電容測(cè)量是可能的，使得可以發(fā)現(xiàn)或者確定物體120。例如，電極布置100可以用作梁探測(cè)器，用于檢測(cè)埋藏在輕質(zhì)建筑墻中的木梁?？商孢x地，電極布置100也可以用于介電液體的料位確定，其中可以使用所示的或者匹配的電極布置?；诓罘蛛娙荽_定的其他應(yīng)用同樣是可能的。在透明地示出的電路板(印刷電路板)110的兩側(cè)施加有電極EO - E3。在電路板110的上側(cè)上有電極E2，其被電極El U形環(huán)繞。電極El又被電極EO U形環(huán)繞。在電路板110的下側(cè)上，平面的電極E3與電極EO至E2對(duì)置。電極EO至E3以球面的形狀構(gòu)建，其與電路板110粘合。電極EO至E3例如可以通過(guò)刻蝕工藝在電路板110上構(gòu)建，借助該刻蝕工藝也將另外的連接元件構(gòu)建在電路板110上用于連接電器件。在電路板110以及電極EO上有介電物體120。
電極EO至E2與電器件連接，而電極E3未被繼續(xù)連接或者能夠高歐姆值地與電路連接，譬如通過(guò)受控的開(kāi)關(guān)如晶體管連接。電極E3用于將電極EO至E2向下屏蔽。在那里安裝的測(cè)量電路或者測(cè)量人員對(duì)于電極EO至E2的影響通過(guò)電極E3最小化。在一些實(shí)施形式中，也可以省去電極E3。分別在電極EO至E3之間出現(xiàn)的電容C1、C2、C12和C3以等效電路圖的形式繪出。電容Cl在電極EO和El之間形成，其中電極EO接地；相應(yīng)地，在電極EO和E2之間形成電容。在其他實(shí)施形式中，電極EO與任意的其他作為地的電勢(shì)連接，只要該電勢(shì)可以用作不變的參考點(diǎn)用于確定電容Cl或者D2。在電極El和E2之間存在寄生電容C12。另一寄生電容C3在電極El和E3之間或者E3和E2之間的部分 電容的串聯(lián)電路中。為了差分地檢測(cè)介電物體120，通常將電容Cl和C2同時(shí)充電或者放電，并且檢測(cè)充電過(guò)程或者放電過(guò)程結(jié)束的時(shí)間差。如果該時(shí)間差超過(guò)預(yù)先確定的時(shí)間閾值，則推斷出介電物體120。寄生電容C12和C3引起電容Cl和C2相互的耦合，使得出現(xiàn)串?dāng)_，并且降低了測(cè)量的精度，尤其是在電容Cl和C2之間僅僅有小的差別時(shí)。當(dāng)替代電極E3在電極El和E2的區(qū)域中布置有另一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)、例如電器件或者操作元件時(shí)，寄生電容C3也會(huì)出現(xiàn)。圖2示出了基于圖I的電極布置100的測(cè)量電路200。所示的測(cè)量電路200是用于說(shuō)明目的的等效電路圖，在實(shí)際的測(cè)量電路中，譬如將寄生電容C12和C3最小化。電極EO與地電連接，使得電容Cl和C2的各下部端子接地。電容Cl和C2的上部端子借助寄生電容C12和C3相互連接。電容Cl的上部端子在下文中稱(chēng)為測(cè)試點(diǎn)A。測(cè)試點(diǎn)A借助電阻Rl與恒定的工作電壓連接，如通過(guò)在電阻Rl的上部端子上的箭頭表示的那樣。相應(yīng)地，電容C2的上部端子在下文中稱(chēng)為測(cè)試點(diǎn)B。測(cè)試點(diǎn)B借助電阻R2與工作電壓連接。開(kāi)關(guān)SI與電容C2并聯(lián)布置，開(kāi)關(guān)S2與電容C2并聯(lián)布置。電容Cl的確定通過(guò)如下方式進(jìn)行電容Cl通過(guò)電阻Rl充電并且確定直到測(cè)試點(diǎn)A上的電壓超過(guò)預(yù)先確定的閾值的時(shí)間。該閾值通常在充電情況下在工作電壓的2/3處，并且在放電情況下在工作電壓的1/3處。確定的時(shí)間與電容Cl成比例。如果介電物體120在電極El和EO的區(qū)域中(這些電極形成電容Cl)，則電容Cl的值改變，這可以借助直到在測(cè)試點(diǎn)A上的電壓超過(guò)閾值的改變的時(shí)間來(lái)檢測(cè)。電容C2的確定相應(yīng)地進(jìn)行，其方式是，電容C2借助電阻R2來(lái)充電，并且在測(cè)試點(diǎn)B上的電壓與閾值比較。寄生電容C3和C12將電容Cl和C2電耦合，使得借助所描述的方式，在電容Cl和C2之間的實(shí)際的差大于可證實(shí)的差。如果電容Cl和C2并不同時(shí)被確定，而是相繼地被確定，則可以在確定電容Cl期間將開(kāi)關(guān)S2閉合，而在確定電容C2期間將開(kāi)關(guān)S2閉合。如果開(kāi)關(guān)S2閉合，則電容C2被短路，并且寄生電容C12和C3與電容Cl并聯(lián)。電容值相加，使得確定電容Cl + C12 + C3。接著，斷開(kāi)開(kāi)關(guān)S2并且閉合開(kāi)關(guān)SI，使得可以確定電容C2 + C12 + C3。在C12和C3與介電物體120的影響無(wú)關(guān)之后，其同樣程度地涉及兩次電容確定。將電容Cl + C12 + C3充電到預(yù)先確定的電壓所需的時(shí)間與用于將電容C2 + C12 + C3相應(yīng)充電所需的時(shí)間進(jìn)行的比較可以通過(guò)寄生電容C12、C3引起的恒定的部分而省去。由此，得到的時(shí)間差與電容Cl或者C2相關(guān)，并且寄生電容C12和C3并不影響測(cè)量。圖3示出了用于操控圖2中的電極布置200的梁探測(cè)器300。時(shí)間環(huán)節(jié)Fl與測(cè)試點(diǎn)A連接，而時(shí)間環(huán)節(jié)F2與測(cè)試點(diǎn)B連接。如果進(jìn)行測(cè)量，則時(shí)間環(huán)節(jié)的與測(cè)試點(diǎn)A或者B連接的相應(yīng)端子是高歐姆的。否則，端子接地，使得實(shí)現(xiàn)開(kāi)關(guān)SI或者S2的功能。時(shí)鐘發(fā)生器PWM提供矩形信號(hào)，其中可以在每個(gè)時(shí)鐘周期期間影響高輸出信號(hào)(High)和較低輸出信號(hào)(Low)之間的關(guān)系。由時(shí)鐘發(fā)生器PWM提供的矩形信號(hào)的上升沿觸發(fā)時(shí)間環(huán)節(jié)FF1，并且下降沿觸發(fā)時(shí)間環(huán)節(jié)FF2。時(shí)間環(huán)節(jié)FFl和FF2的未被使用的端子與地或者供電電壓連接。時(shí)間環(huán)節(jié)FF2的非反相的輸出端Q與RS觸發(fā)器FF3的R輸入端連接。在其他實(shí)施形式中，也可以使用任意的其他狀態(tài)存儲(chǔ)器，譬如相應(yīng)地連接的T觸發(fā)器。時(shí)間環(huán)節(jié)FFl
的反相的輸出端()與FF3的S輸
入端連接。FF3的非反相的輸出端Q與積分器連接，該積分器由晶體管Tl、電阻R3和電容器C4構(gòu)建。積分器的輸出端與低通濾波器連接，該低通濾波器通過(guò)電阻R5和電容器C5形成。低通濾波器的輸出端與運(yùn)算放大器OVl的非反相輸入端連接，其反相輸入端被施加以恒定的電壓，該電壓通過(guò)電阻R6和齊納二極管ZDl提供。運(yùn)算放大器OV作為比較器工作。如果在非反相輸入端上的電壓超過(guò)在反相輸入端上的電壓，則運(yùn)算放大器OVl的輸出端被置于正值(High)。對(duì)于所示的簡(jiǎn)單的比較器可替選的是，也可以使用窗口比較器，其輸出端輸出信號(hào)，該信號(hào)表明是否由低通濾波器提供的電壓在兩個(gè)預(yù)先確定的閾值之間。運(yùn)算放大器OVl的輸出端與端子K連接。與RS觸發(fā)器FF3的輸出端Q連接的器件用于當(dāng)周期性地在FF3的輸出端Q上出現(xiàn)的脈沖超過(guò)預(yù)先確定的長(zhǎng)度時(shí)，在端子K上提供正信號(hào)。這對(duì)應(yīng)于在電容Cl和C2之間的預(yù)先確定的差，該差通過(guò)在電極E0、E1和E2的區(qū)域中的介電物體120引起。在端子K上的信號(hào)對(duì)應(yīng)用于確定介電物體120。觸發(fā)器FFl至FF3用于交替地確定電容Cl和C2并且相互比較。通過(guò)所選擇的電路布置可以避免的是，將指明電容Cl、C2之一的電容的值緩存，而確定另一電容C2、Cl。不同于圖3的示圖，電容Cl和C2也可以用多種其他方式來(lái)確定，或者分析上面示出的脈沖。例如，通過(guò)時(shí)間環(huán)節(jié)FFl和FF2提供的脈沖可以首先積分，并且隨后才相互比較?？商孢x地，可以將脈沖之一反相，并且向下推移電壓差(High - Low)，以便隨后輸送給積分器。比較以及分析可以借助數(shù)字微型計(jì)算機(jī)來(lái)進(jìn)行，其中可以進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換和/或數(shù)模轉(zhuǎn)換。電容Cl和C2也可以借助不同于通過(guò)時(shí)間環(huán)節(jié)FFl和FF2的另一確定方法來(lái)轉(zhuǎn)換為數(shù)字值。在另一實(shí)施形式中，電容Cl和C2的每個(gè)可以借助振蕩器來(lái)確定，并且將振蕩器的頻率相減。圖3的相互連接的觸發(fā)器FFl至FF3的工作方式現(xiàn)在參照?qǐng)D4進(jìn)一步闡述。圖4示出了帶有在圖3中的梁探測(cè)器300上的變化過(guò)程的時(shí)間圖400。在水平方向上繪出了時(shí)間。從上至下提供了四個(gè)變化過(guò)程。最上部的變化過(guò)程410對(duì)應(yīng)于時(shí)鐘發(fā)生器PWM的輸出Q。隨后的變化過(guò)程420和430對(duì)應(yīng)于時(shí)間環(huán)節(jié)FFl或者FF2的輸出Q。要注意的是，雖然在圖3中時(shí)間環(huán)節(jié)FFl的輸出Q并未被布線(xiàn)，然而變化過(guò)程420涉及該輸出
并且并不涉及已布線(xiàn)的輸出O。第四變化過(guò)程440對(duì)應(yīng)于RS觸發(fā)器FF3的輸出Q。
在周期T內(nèi)，時(shí)鐘發(fā)生器PWM產(chǎn)生在變化過(guò)程410中示出的對(duì)稱(chēng)矩形信號(hào)。正的部分Tp和負(fù)的部分Tn長(zhǎng)度相同。在另一實(shí)施形式中，可以通過(guò)變化過(guò)程410也產(chǎn)生非對(duì)稱(chēng)信號(hào)，其中Tp和Tn長(zhǎng)度不同。在時(shí)刻t0，借助第一變化過(guò)程410的上升沿觸發(fā)第一時(shí)間環(huán)節(jié)FF1，以便開(kāi)始確定Cl的電容。第一時(shí)間環(huán)節(jié)FFl的輸出Q被置于“High”，并且電容Cl通過(guò)電阻Rl充電。在該時(shí)刻，第二時(shí)間環(huán)節(jié)FF2的輸出Q為“Low”，這對(duì)應(yīng)于圖2中的閉合的開(kāi)關(guān)S2。在時(shí)刻tl，測(cè)試點(diǎn)A上的電壓超過(guò)預(yù)先確定的閾值，并且測(cè)量結(jié)束。變化過(guò)程420切換回“Low”。變化過(guò)程420中的在t0和tl之間的脈沖持續(xù)時(shí)間Pwl與Cl的確定的電容相關(guān)。電容C2的相應(yīng)確定在時(shí)刻C2以變化過(guò)程410的下降沿開(kāi)始。在時(shí)刻t3，所述確定結(jié)束，并且變化過(guò)程430的脈沖持續(xù)時(shí)間Pw2與C2的確定的電容相關(guān)。 為了將脈沖持續(xù)時(shí)間Pwl和Pw2相互比較，RS觸發(fā)器FF3分別被變化過(guò)程430的下降沿置位，并且被變化過(guò)程420的下降沿復(fù)位。所述置位在時(shí)刻t0或者t3進(jìn)行，復(fù)位在時(shí)刻tl或者t4進(jìn)行。如果Cl和C2的電容相同，則脈沖長(zhǎng)度Pwl和Pw2長(zhǎng)度相同，并且變化過(guò)程440是對(duì)稱(chēng)的矩形信號(hào)。換而言之，在該情況中在變化過(guò)程440中的Pw3與變化過(guò)程410中的Tp或者Tn長(zhǎng)度正好相同。通過(guò)變化過(guò)程440的積分，可以提供電壓，該電壓對(duì)應(yīng)于在變化過(guò)程440的High時(shí)間和Low時(shí)間之間的比例，并且該電壓可以在經(jīng)過(guò)低通濾波器之后與恒定的電壓比較。如果由低通濾波器提供的電壓距離恒定的電壓超過(guò)預(yù)先確定的程度，則該變化過(guò)程440的信號(hào)具有脈沖一暫停關(guān)系，該關(guān)系可以得出在圖I中的電極EO至E2的區(qū)域中存在介電物體 120?？赏ㄟ^(guò)部件偏差或者通過(guò)在部件之間的寄生效應(yīng)而引起的非對(duì)稱(chēng)性由此可以被補(bǔ)償，使得第四變化過(guò)程440的矩形信號(hào)可以以合適的程度變?yōu)榉菍?duì)稱(chēng)。梁探測(cè)器100可以通過(guò)這種方式可調(diào)整地設(shè)計(jì)。圖5示出了用于檢測(cè)介電物體120的方法。該方法500包括步驟510至560。在第一步驟510中，產(chǎn)生用于控制Cl和C2的電容測(cè)量的時(shí)鐘。在步驟520中確定第一電容Cl，而在步驟530中確定第二電容C2。在方法500回到開(kāi)始并且重新進(jìn)行期間，在步驟540中確定兩個(gè)確定的電容的差。隨后，在步驟550中將確定的差與閾值比較。如果確定的差與閾值偏差超過(guò)預(yù)先確定的程度，則推斷出在電極EO至E2的區(qū)域中存在介電物體120。在步驟560中輸出該結(jié)果。該輸出例如可以通過(guò)光學(xué)方式和/或聲學(xué)方式至梁探測(cè)器300的使用者地進(jìn)行。
權(quán)利要求
1.一種用于檢測(cè)介電物體(120)的設(shè)備(300)，其中所述設(shè)備(300)包括以下元件 一第一電極(El)和第二電極(E2); -第一裝置(FF1)，用于確定能夠通過(guò)物體(120)影響的、在第一電極(El)和共同的參考點(diǎn)(EO)之間的第一電容(Cl)； -第二裝置(FF2)，用于確定能夠通過(guò)物體(120)影響的、在第二電極(E2)和共同的參考點(diǎn)(EO)之間的第二電容(C2)； -控制裝置(PWM)，用于操控所述裝置； -分析裝置(FF3)，用于當(dāng)確定的電容(Cl，C2)相差超過(guò)預(yù)先確定的程度時(shí)，檢測(cè)到物體(120)； 其特征在于， -控制裝置(PWM)設(shè)計(jì)用于操控所述裝置(FF1，F(xiàn)F2)，使得相繼地進(jìn)行確定，并且 -設(shè)置有開(kāi)關(guān)裝置(SI，S2，F(xiàn)F2，F(xiàn)Fl),以便將各未被操控的裝置(FF2，F(xiàn)Fl)的電極(E2，E1)與共同的參考點(diǎn)(EO)電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的裝置(300)，其特征在于，在第一電極(El)和第二電極(E2)的區(qū)域中設(shè)置有第三電極(E3)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的裝置(300)，其特征在于，第三電極(E3)布置在第一電極(El)和第二電極(E2)的背離介電物體的側(cè)上。
4.根據(jù)上述權(quán)利要求之一所述的裝置(300)，其特征在于，用于確定電容(C1，C2)的裝置(FF1，F(xiàn)F2)設(shè)計(jì)用于發(fā)出如下時(shí)間信號(hào)(PW1，Pff2):所述時(shí)間信號(hào)的長(zhǎng)度分別與確定的電容(Cl，C2)相關(guān)，并且分析裝置(FF3)設(shè)計(jì)用于提供如下時(shí)間信號(hào)(PW3):所述時(shí)間信號(hào)的長(zhǎng)度與電容(Cl, C2)的差相關(guān)。
5.根據(jù)上述權(quán)利要求之一所述的裝置(300)，其特征在于，控制裝置(PWM)設(shè)計(jì)用于以相同頻率周期性地操控第一裝置(FFl)和第二裝置(FF2)來(lái)確定電容(Cl，C2)，其中在周期性的操控之間的相位關(guān)系是可變的，以便在不存在物體(120)時(shí)補(bǔ)償不同大小的電容(Cl，C2)。
6.根據(jù)上述權(quán)利要求之一所述的裝置(300)，其特征在于，在電極(E1，E2)和共同的參考點(diǎn)(EO)之間設(shè)置多個(gè)用于確定電容(Cl，C2)的裝置(FF1，F(xiàn)F2)，其中控制裝置(PWM)設(shè)計(jì)用于在每個(gè)時(shí)刻僅僅操控一個(gè)裝置(FF1，F(xiàn)F2)，并且開(kāi)關(guān)裝置(SI，S2)設(shè)計(jì)用于將所有未被操控的裝置(FF1，F(xiàn)F2)的電極(E1，E2)與共同的參考點(diǎn)(EO)電連接。
7.一種用于檢測(cè)介電物體(120)的方法(500)，包括以下步驟 -確定(520 )能夠通過(guò)物體(120 )影響的、在第一電極(EI)和共同的參考點(diǎn)(EO )之間的第一電容(Cl); -確定(530 )能夠通過(guò)物體(120 )影響的、在第二電極(E2 )和共同的參考點(diǎn)(EO )之間的第二電容(C2)，以及 -當(dāng)確定的電容(Cl，C2 )相差超過(guò)預(yù)先確定的程度時(shí)，檢測(cè)到(540，550 )物體(120 ); 其中 -相繼地確定電容(Cl，C2)，并且在借助電極(El，E2)之一的確定期間將相應(yīng)另外的電極(E2，El)與共同的參考點(diǎn)(EO)電連接。
8.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，帶有當(dāng)其在處理設(shè)備上運(yùn)行時(shí)用于執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法的程序代碼裝置。
9.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，帶有當(dāng)其存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀的數(shù)據(jù)載體上時(shí)用于執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法的程序代碼裝置。
全文摘要
一種用于檢測(cè)介電物體(120)的設(shè)備(300)，包括第一電極(E1)和第二電極(E2)；第一裝置(FF1)，用于確定能夠通過(guò)物體(120)影響的、在第一電極(E1)和共同的參考點(diǎn)(E0)之間的第一電容(C1)；第二裝置(FF2)，用于確定能夠通過(guò)物體(120)影響的、在第二電極(E2)和接地點(diǎn)之間的第二電容(C2)。此外，設(shè)置有控制裝置(PWM)，用于操控所述裝置；以及分析裝置(FF3)，用于當(dāng)確定的電容相差超過(guò)預(yù)先確定的程度時(shí)，檢測(cè)到物體(120)。在此，控制裝置設(shè)計(jì)用于操控所述裝置，使得相繼地進(jìn)行確定，并且設(shè)置有開(kāi)關(guān)裝置(S1，S2，F(xiàn)F2，F(xiàn)F1)，以便將各未被操控的裝置的電極與共同的參考點(diǎn)電連接。
文檔編號(hào)G01F23/26GK102959390SQ201180033242
公開(kāi)日2013年3月6日 申請(qǐng)日期2011年5月11日 優(yōu)先權(quán)日2010年7月7日
發(fā)明者M.哈爾, O.格羅斯曼 申請(qǐng)人:羅伯特·博世有限公司