專利名稱：校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
所公開和要求保護(hù)的概念總體上涉及校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)和方法，更特別地，涉及一種校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)和方法，其中該校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)包括可與電子裝置連接的電引線，且其中該引線與各種測試器件的連接被該校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)內(nèi)部地切換。
背景技術(shù)：
在比如核電站的設(shè)施和其他設(shè)施中，傳感器和其他器件一般檢測過程條件和其他條件，反映這種條件的數(shù)據(jù)被提供到中心位置，諸如控制室。一般在多數(shù)情況下，控制室還需要來自傳感器的除了原始輸出之外的輸出。例如，除了可由壓力傳感器輸出的當(dāng)前存在的壓力之外，控制室中還期望額外地提供平均壓力、峰值壓力和最小壓力、以及對壓力傳感器提供的信號的其他處理。因此，需要執(zhí)行關(guān)于傳感器信號的這種額外函數(shù)的設(shè)施一般包括某些類型的電子裝置，該電子裝置接收來自傳感器的信號，對信號執(zhí)行各種處理，并且向控制室提供一個或更多數(shù)據(jù)流。根據(jù)電子裝置的復(fù)雜度，并且還根據(jù)其他因素，電子裝置可能需要不時地校準(zhǔn)。例如，核電站中的電子裝置可能由于電子裝置的老式設(shè)計以及需要順應(yīng)聯(lián)邦的要求而是模擬性質(zhì)的。這樣的電子裝置可能需要經(jīng)常測試和校準(zhǔn)。另一方面，控制藥物制造過程方面的電子裝置可能是完全數(shù)字化的，需要很少的校準(zhǔn)。與電子裝置需要的校準(zhǔn)頻率和量無關(guān)，這些校準(zhǔn)操作一般是耗時費力的，并且容易產(chǎn)生錯誤。例如，在用于核電站中的模擬配置的電子裝置中，技術(shù)員一般需要遵循測試規(guī)程，包括連接數(shù)字萬用表到電子裝置上的電子組件上的某些位置，連接電壓源到電子裝置上的其他組件上的某些位置，產(chǎn)生信號，注意所檢測的電壓(或者其他檢測參數(shù))，并將值記錄在記錄單上。在核電站中，由于所涉及的設(shè)備的多樣性以及為了實現(xiàn)安全運行裕度而提供的設(shè)備冗余度，這種校準(zhǔn)規(guī)程將會是極度麻煩的。由于用于任何給定電子裝置的測試規(guī)程一般是瑣碎且復(fù)雜的，所以容易出現(xiàn)錯誤。例如，第一步可能需要技術(shù)員將特定設(shè)備連接到電子裝置的特定組件并且向電子裝置提供特定輸入信號，注意測量器件上的檢測輸出并且記錄它。電子裝置與測試設(shè)備之間的連接中的一個或更多然后必須以測試規(guī)程中指定的方式重新連接到電子裝置的其他組件。這種變化的連接和重新連接由于其復(fù)雜性而招致錯誤。此外，這種操作是費力且耗時的。因此期望提供一種改善的系統(tǒng)，其克服了已知測試方法的這些和其他缺點。

發(fā)明內(nèi)容
一種改善的用于校準(zhǔn)電子裝置的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)，包括處理器裝置、評估裝置和連接裝置。該評估裝置包括一個或更多信號發(fā)生器以及一個或更多測量器件，諸如伏特計。該連接裝置包括多條引線且由該處理器裝置操作來內(nèi)部地切換和將各條引線與該評估裝置的各種元件相連接。通過使所有引線能夠一開始與電子裝置相連并且通過內(nèi)部地切換引線與評估裝置的各種元件之間的連接，該校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)在執(zhí)行測試規(guī)程時節(jié)省了時間且避免了錯誤。此外，所公開并且要求保護(hù)的概念的一方面在于提供一種改善的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)。所公開并且要求保護(hù)的概念的另一方面在于提供一種改善的利用這種改善的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)對電子裝置執(zhí)行測試規(guī)程的方法。所公開和要求保護(hù)的概念的這些和其他方面通過一種改善的用于校準(zhǔn)電子裝置的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)來提供，該電子裝置構(gòu)造為接收輸入信號并且利用該輸入信號執(zhí)行一個或更多操作，至少部分地基于該信號以及該一個或更多操作提供輸出信號。該校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)的一般特性可以闡述為包括:處理器裝置，包括處理器和存儲器；評估裝置，與該處理器通信且包括至少第一信號發(fā)生器和至少第一測量器件；以及連接裝置，包括多條引線，引線中的至少一些每條與該至少第一信號發(fā)生器和該至少第一測量器件中的至少一個相連，且構(gòu)造為與該電子裝置相連。該存儲器中存儲有一個或更多程序(routine)，其在處理器上執(zhí)行時使得該校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)執(zhí)行操作，該操作的一般特性可闡述為包括:用第一多條引線從該至少第一信號發(fā)生器向該電子裝置輸入至少第一輸入信號；用該至少第一檢測器件通過第二多條引線從該電子裝置檢測至少第一輸出信號；以及至少部分基于該至少第一輸入信號和該至少第一輸出信號判斷該電子裝置的至少一部分是否適當(dāng)?shù)乇恍?zhǔn)。所公開并且要求保護(hù)的概念的其他方面通過一種改善的在校準(zhǔn)電子裝置時操作校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)的方法來提供，該電子裝置構(gòu)造為接收輸入信號且利用輸入信號執(zhí)行一個或更多操作，至少部分地基于該信號和該一個或更多操作提供輸出信號。該校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)可以闡述為包括:處理器裝置，包括處理器和存儲器；評估裝置，與該處理器通信且包括至少第一信號發(fā)生器和至少第一測量器件；以及連接裝置，包括多條引線，引線中的至少一些每條與該至少第一信號發(fā)生器和該至少第一測量器件中的至少一個相連，且構(gòu)造為與該電子裝置相連。該方法的一般特性可闡述為包括:用第一多條引線從該至少第一信號發(fā)生器向該電子裝置輸入至少第一輸入信號；用該至少第一檢測器件通過第二多條引線從該電子裝置檢測至少第一輸出信號；以及至少部分基于該至少第一輸入信號和該至少第一輸出信號判斷該電子裝置的至少一部分是否適當(dāng)?shù)乇恍?zhǔn)。


結(jié)合附圖閱讀下面的詳細(xì)描述，可以獲得對所公開并且要求保護(hù)的概念的進(jìn)一步理解，附圖中:圖1是根據(jù)所公開并且要求保護(hù)的概念的改善的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)的示意圖，該校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)在執(zhí)行測試規(guī)程期間與電子裝置連接；圖2是圖1的改善的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)的詳細(xì)示意圖；以及圖3是流程圖，示出根據(jù)所公開并且要求保護(hù)的概念的改善的方法的某些方面，該改善的方法采用圖1的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)。貫穿說明書，相似的附圖標(biāo)記表示相似的部件。
具體實施例方式根據(jù)所公開并且要求保護(hù)的概念的改善的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4在圖1中示意性繪示為與電子裝置8相連。電子裝置8可以是大范圍設(shè)備中的任意設(shè)備，且在這里示出的示范性實施例中，是在諸如核電站之類的設(shè)施或其他設(shè)施中采用的插件架(card rack)。示范性電子裝置8包括示范性的七個功能插件板,指定為12A-12G,其在所示的示范性實施例中是模擬特性的且包括各種暴露的電子組件，諸如電容器、電阻器、晶體管等。然而應(yīng)注意，在其他實施例中，可以采用一個或更多數(shù)字插件板而不偏離本概念。電子裝置8還包括所有插件板12A-12G都連接到的連接器16。傳感器20諸如壓力傳感器或其他傳感器與電子裝置8相連，連接還存在于電子裝置8與控制室24之間。如在相關(guān)領(lǐng)域中理解的那樣，電子裝置8檢測來自傳感器20的信號并且對信號執(zhí)行一函數(shù)，諸如在一時段上檢測來自傳感器20的指示壓力值的信號并且將給定時段上的平均壓力的值傳遞到控制室24。其他函數(shù)或附加函數(shù)或者二者可以根據(jù)應(yīng)用需要而由電子裝置8提供。圖1中示意性示出且在圖2中以更詳細(xì)的方式示出的改善的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4包括處理器32、評估裝置36、連接裝置40和I/O裝置44。處理器裝置32包括處理器48，處理器48可以是大范圍處理器中的任意處理器，且可以是微處理器(μ P)或其他類型的處理器。存儲器可以是用于存儲數(shù)據(jù)、程序和其他電子材料的各種類型的電子存儲器件中的任意存儲器，諸如像RAM、ROM、EPROM等之類的存儲器，沒有限制。存儲在存儲器52中的程序之一是操作系統(tǒng)程序，處理器48通過其來控制評估裝置36、連接裝置40和I/O裝置44的各種元件。操作系統(tǒng)程序在校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4上被標(biāo)準(zhǔn)化且一般是不變的，與校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4所部署的環(huán)境無關(guān)。另一程序是定制校準(zhǔn)程序，其對于部署校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4的設(shè)施而言是特定的，且包括與設(shè)施處的電子裝置8相關(guān)聯(lián)的各種定制寫入的測試規(guī)程。各種程序在處理器48上的運行導(dǎo)致校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4執(zhí)行各種操作，如這里將在其他地方更詳細(xì)地描述的那樣。處理器48與評估裝置36、連接裝置40和I/O裝置44連接并且控制它們。評估裝置36包括一個或更多信號發(fā)生器56以及一個或更多測量器件60、64。在這里所示的實施例中，測量器件60、64是伏特計，更特別地，是數(shù)字萬用表，盡管可以采用其他和/或附加的測量器件而不偏離本概念。信號發(fā)生器56包括電壓源68和函數(shù)發(fā)生器72，它們連接在一起。函數(shù)發(fā)生器72產(chǎn)生各種函數(shù)，諸如斜坡函數(shù)、階梯函數(shù)、鋸齒函數(shù)、正弦波函數(shù)等，并且與電壓源協(xié)作以產(chǎn)生遵循來自函數(shù)發(fā)生器72的前述函數(shù)的電壓信號。連接裝置40包括切換裝置76和多條引線，在所示的示范性實施例中為十條，其編號為80A-80J。引線全部都與切換裝置76相連，切換裝置76由處理器48控制。來自評估裝置36的組件諸如信號發(fā)生器56和測量器件60、64的連接被與切換裝置76相似地連接。有利地，切換裝置將引線80A-80J中的任意引線與評估裝置36的組件中的任意組件內(nèi)部地連接。注意，圖2僅示出了引線80A和80G經(jīng)由切換裝置76與信號發(fā)生器56以及測量器件60、64的所有組件可以相連，但是應(yīng)注意，切換裝置76實際上能夠獨立地切將具有任意連接的引線80A-80J中的任意引線切換到評估裝置36的任意組件。有利地，提供大量引線80A-80J，其使得技術(shù)員能夠在測試操作開始時連接將由校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4執(zhí)行的所有連接，而不需要技術(shù)員在測試規(guī)程過程期間重新連接引線80A-80J中的任意引線。如上所述，存儲在存儲器52中的定制校準(zhǔn)程序一般將包括用于部署校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4的設(shè)施處存在的各種電子裝置8中的許多(如果不是全部的話)電子裝置的測試規(guī)程。測試規(guī)程一般將是某些定制寫入代碼的形式，該代碼基于部署校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4的設(shè)施處使用的操作手冊。用于任何給定電子裝置的測試規(guī)程可以首先調(diào)用例如在1.0伏特和3.0伏特之間以I秒的間隔步進(jìn)15秒的階梯電壓，輸入被提供給插件板12C的特定組件上的特定位置，輸出電壓被從插件板12A的特定組件上的特定位置檢測。因此，以示例的方式，且可以從圖1和圖2理解，切換裝置76因此將會內(nèi)部地連接引線80C和信號發(fā)生器56且可以連接引線80A與伏特計60。校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4然后將輸入前述階梯函數(shù)電壓到電子裝置8中，如上面所述的那樣，并且用伏特計60檢測所得電壓(如果有的話)。如果所檢測的電壓指示電子裝置8的第一部分的適當(dāng)校準(zhǔn)，處理器48然后可以執(zhí)行測試規(guī)程的下一部分，其可以是施加1.5伏特的固定電壓至插件板12F上的特定組件的特定位置，同時檢測來自插件板12D的特定組件上的特定位置以及來自插件板12G的特定組件上的特定位置的電壓。為了這樣做，切換裝置76將會通過內(nèi)部地連接引線80E與信號發(fā)生器56，連接引線80D與伏特計60，以及連接引線80G與伏特計64，來內(nèi)部地重新連接各條引線80與評估裝置36的各種組件。校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4然后將產(chǎn)生前述信號且同時檢測所指示的電壓。因此，可以指示技術(shù)員將各種引線80A-80J中的所有引線連接到將在整個測試規(guī)程過程期間評估的插件板12A-12G上的各種位置中的所有位置，由處理器48控制的切換裝置76將會內(nèi)部地切換各種引線80A-80J和評估裝置36的組件中的連接，以執(zhí)行構(gòu)成測試規(guī)程的各種測試操作。于是，校準(zhǔn)測試系統(tǒng)4以及其存儲的測試規(guī)程的使用有利地避免了在執(zhí)行測試規(guī)程時技術(shù)員需要周期性地斷開和重新連接各種引線80A-80J與電子裝置8的各種其他組件。測試規(guī)程的前述示例無意成為限制，而是應(yīng)注意，測試規(guī)程一般具有非常豐富的指令開發(fā)集合。例如，在比較固定測試值諸如電壓與用于該電壓的固定預(yù)期值時，測試規(guī)程一般將采用對于特定電子裝置8執(zhí)行的具體測量而言特定的容限(tolerance)，其一般是測量信號的某一百分比加上測量尺度的某一百分比的形式。作為示例，某一電壓容限可以是預(yù)期測量信號(比方說，以伏特為單位)的±1.00%與尺度(比方說，O至100伏特)的±4.00%的組合。如果預(yù)期測量是50伏特，容限可以是50伏特的土 1.00%(其等于0.50伏特)加上100伏特尺度的±4.00% (其等于4.00伏特)，總?cè)菹逓椤?.50伏特。然而，測試規(guī)程還配置為實現(xiàn)當(dāng)輸入和/或預(yù)期輸出根據(jù)時間而變化時的測試，諸如在電壓輸入或輸出遵循斜坡函數(shù)、階梯函數(shù)、鋸齒函數(shù)和正弦波函數(shù)中的一個或更多的情況下，和/或當(dāng)在施加輸入與檢測輸出之間預(yù)期有時間延遲時的測試。在這樣的情況下，適當(dāng)?shù)娜菹迣⒏鶕?jù)時間而改變，測試規(guī)程有利地包括實時計算并且應(yīng)用正確的容限的能力，該容限對于根據(jù)時間而施加特定的輸入而言是特定的。I/O裝置44包括顯示器84和鍵盤88，二者都與處理器48連接。鍵盤88可用于技術(shù)員輸入數(shù)據(jù)，諸如電子裝置8的標(biāo)識碼，其可以使處理器48采用標(biāo)識碼來從存儲器52檢索相關(guān)的測試規(guī)程，該測試規(guī)程已經(jīng)被寫入和存儲以用于與特定電子裝置8相關(guān)的使用。顯示器84可以顯示對技術(shù)員的指令，諸如連接各種引線80A-80J到電子裝置8的各種元件的圖，且可以向技術(shù)員提供其他指令。例如，在執(zhí)行測試規(guī)程的各部分時，其可以是測試規(guī)程的一部分，用于使技術(shù)員替換給定組件，諸如電子裝置8的給定插件板12A-12G。替選地，可以指示技術(shù)員調(diào)節(jié)給定插件板12A-12G上的增益或者整修(refurbish)插件板12A-12G。此外，顯示器84可以向技術(shù)員輸出測試規(guī)程中的每個獨立測試步驟的說明，并且能在實際執(zhí)行每個這種獨立測試步驟之前等候來自技術(shù)員所表示的(即，輸入的)贊同。此外，顯示器能配置為實時輸出所產(chǎn)生的輸入和所獲得的結(jié)果，意味著顯示器84能模擬否則將會在信號發(fā)生器56和伏特計60、64的單獨顯示器上提供的輸出。顯示器84還能最后指示技術(shù)員已經(jīng)對電子裝置完成了測試和校準(zhǔn)，校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4可以與不同的電子裝置8相連。有利地，提供平臺92和輪96以用于在各個電子裝置8之間移動校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4，這里為了清除而僅明確示出了一個電子裝置8。圖3大體上示出一流程圖，該流程圖描繪了根據(jù)所公開且要求保護(hù)的概念的改善的方法的某些方面。處理可以始于由校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4檢測標(biāo)識碼的輸入，諸如設(shè)備標(biāo)識符，如在104處那樣。這種輸入可以通過技術(shù)員打字輸入要校準(zhǔn)的特定電子裝置8的標(biāo)識碼來進(jìn)行。然后校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4能夠檢索與技術(shù)員在104處確定的特定電子裝置8相關(guān)聯(lián)的測試規(guī)程，如在108處那樣。處理器48然后可以使顯示器84輸出連接圖，如在112處那樣，連接圖指示技術(shù)員各種引線80A-80J應(yīng)如何與各種插件板12A-12G相連以執(zhí)行在108處所檢索到的整個測試規(guī)程中的全部測試操作。注意，在執(zhí)行任何給定測試規(guī)程時可能采用少于全部的引線80A-80J，還應(yīng)注意，在這種測試規(guī)程期間可能少于全部的插件板12A-12G與引線80A-80J相連。還應(yīng)理解，提供十條引線80A-80G僅用于示例，七個插件板12A-12G也是如此，注意，二者都可具有更多或更少的數(shù)目而不偏離本概念。一旦各種引線80A-80J已經(jīng)連接到電子裝置8上的各種位置，技術(shù)員就可以通過提供〈開始 > 命令向校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4指示已經(jīng)完成了這些連接，如在116處那樣。然后如在120處那樣，通過根據(jù)需要一開始用切換裝置76將各種引線80A-80J切換為與執(zhí)行第一測試所需的評估裝置36的各種組件相連、用信號發(fā)生器56輸入適當(dāng)?shù)男盘柕诫娮友b置8、以及用伏特計60、64或二者檢測輸出，來開始執(zhí)行測試規(guī)程。測試規(guī)程向處理器48指示各種測試參數(shù)。然后在124處確定是否檢測到在測試規(guī)程的該點處正被測試的電子裝置8的特定組件的校準(zhǔn)問題。如果檢測到這種校準(zhǔn)問題，則在128處繼續(xù)處理，咨詢測試規(guī)程以識別將輸出在顯示器84上供技術(shù)員執(zhí)行的特定指令。然后在132處檢測輸入，該輸入指示所顯示的指令已經(jīng)被執(zhí)行，然后在136處判斷問題是否被解決。如果問題未被解決，則在128處繼續(xù)處理，進(jìn)一步咨詢測試規(guī)程，在顯示器84上輸出進(jìn)一步的指令供技術(shù)員執(zhí)行。另一方面，如果在136處判定問題已經(jīng)得到解決，則在120處繼續(xù)處理，整個測試規(guī)程被從其開始處重新執(zhí)行。由于技術(shù)員采取的動作已經(jīng)導(dǎo)致電子裝置8的某些類型的改變，這可能影響了在測試規(guī)程的早期部分中發(fā)生的情況，所以在這種情形下重新開始測試規(guī)程。因此，既然在136處斷定問題已經(jīng)得到解決，就重新開始測試規(guī)程以重新評估電子裝置8的所有元件。另一方面，如果在124處判斷未檢測到與電子裝置8中的正在被檢測的特定組件的校準(zhǔn)相關(guān)的問題，則在140處繼續(xù)處理，判定是否存在測試規(guī)程的尚未被執(zhí)行的任何剩余部分。如果存在，則在144處繼續(xù)處理，切換裝置76根據(jù)需要內(nèi)部地切換與評估裝置36的各種組件的引線連接，用信號發(fā)生器產(chǎn)生新信號，利用伏特計60或64或二者檢測一個或更多輸出信號(如果有的話)。然后在124處繼續(xù)處理，判斷是否檢測到與電子裝置8的當(dāng)前測試的組件的校準(zhǔn)相關(guān)的問題。另一方面，如果在140處判定在當(dāng)前測試規(guī)程中不存在進(jìn)一步的測試，則顯示器84輸出電子裝置8的測試完成的指示。校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4然后可以與電子裝置8斷開連接，可以轉(zhuǎn)移到另一電子裝置8 (這里未明確示出)且重復(fù)該過程，如在104處那樣。因此，改善的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4和方法可以通過消除技術(shù)員所需的許多勞動而節(jié)省時間，還能通過避免現(xiàn)有技術(shù)系統(tǒng)所需的繁復(fù)重新連接而進(jìn)一步減少勞動。有利的是，校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4還能在測試表格的各個空白處填寫伏特計60和64或評估裝置36的其他組件所檢測和/或推導(dǎo)出的結(jié)果。就此而言，將理解，可以在評估裝置36中采用任意數(shù)量的伏特計、信號發(fā)生器和其他器件，而不偏離本概念。因此，除了電壓本身之外，校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)4能記錄諸如到達(dá)檢測電壓的時間、插件板的插座條狀態(tài)之類的信息以及實質(zhì)上可能期望獲得和記錄的任何其他類型信息。通過存儲多個測試規(guī)程，即設(shè)施處的各種不同電子裝置8每個有一個測試規(guī)程，使用單獨的校準(zhǔn)測試系統(tǒng)4的個體技術(shù)員可以與先前用過去的系統(tǒng)能執(zhí)行的校準(zhǔn)和測試相比執(zhí)行多得多的校準(zhǔn)和測試。本公開可以以其他形式體現(xiàn)而不偏離其思想和實質(zhì)特性。所描述的實施例在所有方面都僅視為示范性的，而不是限制性的。本公開的范圍因此由所附權(quán)利要求而非前述說明來表明。落入權(quán)利要求的等價物的含義和范圍內(nèi)的所有改變將被涵蓋在權(quán)利要求的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)(4)，用于在校準(zhǔn)電子裝置(8)時使用，該電子裝置(8)構(gòu)造為接收輸入信號，利用該輸入信號執(zhí)行一個或更多操作，以及至少部分地基于該信號以及該一個或更多操作提供輸出信號，該校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)包括: 處理器裝置(32 )，包括處理器(48 )和存儲器(52 ); 評估裝置(36)，與該處理器通信且包括至少第一信號發(fā)生器(56)和至少第一測量器件(60)； 連接裝置(40)，包括多條引線(80A-J)，至少一些引線每條都與該至少第一信號發(fā)生器和該至少第一測量器件中的至少一個相連，且構(gòu)造為與該電子裝置相連； 該存儲器具有存儲在其中的一個或更多程序，其在該處理器上執(zhí)行時使該校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)執(zhí)行多個操作，該操作包括: 從該至少第一信號發(fā)生器使用第一多條引線向該電子裝置輸入至少第一輸入信號； 用該至少第一測量器件檢測經(jīng)由第二多條引線來自該電子裝置的至少第一輸出信號；以及 至少部分地基于該至少第一輸入信號和該至少第一輸出信號判斷該電子裝置的 至少一部分是否被適當(dāng)校準(zhǔn)。
2.如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)，其中，所述操作還包括輸出指令，該指令表示所述第一多條引線和所述第二多條引線將要連接到的該電子裝置上的多個位置。
3.如權(quán)利要求2所述的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)，其中，所述存儲器中存儲有與該電子裝置相關(guān)聯(lián)的測試規(guī)程，其中所述操作還包括: 檢測表示該電子裝置的標(biāo)識的輸入； 采用該電子裝置的標(biāo)識來從該存儲器檢索該測試規(guī)程的至少一部分；以及從該測試規(guī)程的該至少一部分獲取所述第一多條引線和所述第二多條引線將要連接到的所述電子裝置上的多個位置。
4.如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)，其中，所述存儲器中存儲有與所述電子裝置相關(guān)聯(lián)的測試規(guī)程，其中所述操作還包括在進(jìn)行所述判斷時采用該測試規(guī)程的至少一部分。
5.如權(quán)利要求4所述的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)，其中，所述操作還包括至少部分地基于所述判斷和所述測試規(guī)程中的至少一個輸出以下各項中的至少一項的指令: 該電子裝置的特定組件應(yīng)被替換； 該電子裝置的特定組件應(yīng)被調(diào)節(jié)；以及 該電子裝置的特定組件應(yīng)被整修。
6.如權(quán)利要求5所述的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)，其中，所述操作還包括檢測表示所述指令已經(jīng)被執(zhí)行的輸入，以及響應(yīng)于該輸入而再次執(zhí)行所述輸入操作、所述檢測操作和所述判斷操作。
7.如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)，其中，所述操作還包括: 輸入多個輸入信號作為所述至少第一輸入信號； 檢測多個輸出信號作為所述至少第一輸出信號，該多個輸出信號中的至少一些信號每個響應(yīng)于所述多個輸入信號中的至少一個信號；以及 作為所述判斷，至少部分地基于所述多個輸入信號的至少一部分和所述多個輸出信號中的至少一部分進(jìn)行判斷。
8.如權(quán)利要求7所述的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)，其中，所述操作還包括以下操作中的至少一個: 同時輸入所述多個輸入信號中的至少兩個信號；以及 同時檢測所述多個輸出信號中的至少兩個信號。
9.如權(quán)利要求8所述的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)，其中，所述評估裝置還包括與所述處理器通信的多個測量器件，其中所述操作還包括同時檢測: 用所述多個測量器件中的測量器件(60)測量的所述多個輸出信號中的輸出信號，以及 用所述多個測量器件中的另一測量器件(64)測量的所述多個輸出信號中的另一輸出信號。
10.如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)，其中，所述連接裝置還包括連接在所述引線中的至少一些引線與所述評估裝置的至少一部分之間的切換裝置(76)，其中所述操作還包括響應(yīng)于來自所述處理器裝置的多個信號，用所述切換裝置切換所述引線中的所述至少一些引線中的至少第一引線在該至少第一信號發(fā)生器和該至少第一測量器件中的所述至少一個中的連接。
11.一種在校準(zhǔn)電子裝置(8)時操作校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)(4)的方法，該電子裝置(8)構(gòu)造為接收輸入信號，使用該輸入信號執(zhí)行一個或更多操作，以及至少部分地基于該信號和該一個或更多操作提供輸出信號，該校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)包括具有處理器(48)和存儲器(52)的處理器裝置(32)、與該處理器通信且包括至少第一信號發(fā)生器(56)和至少第一測量器件(60)的評估裝置(36)、以及包括多條引線(80A-J)的連接裝置(40)，所述引線中的至少一些每條與所述至少第一信號發(fā)生器和所述至少第一測量器件中的至少一個相連且構(gòu)造為與該電子裝置相連，該方法包括: 從該至少第一信號發(fā)生器使用第一多條引線向該電子裝置輸入至少第一輸入信號； 用該至少第一測量器件通過第二多條引線檢測來自該電子裝置的至少第一輸出信號；以及 至少部分地基于該至少第一輸入信號和該至少第一輸出信號判斷該電子裝置的至少一部分是否被適當(dāng)?shù)匦?zhǔn)。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，還包括輸出指令，該指令表示所述第一多條引線和所述第二多條引線將要連接到的該電子裝置上的多個位置。
13.如權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述存儲器中存儲有與該電子裝置相關(guān)聯(lián)的測試規(guī)程，且所述方法還包括: 檢測表示該電子裝置的標(biāo)識的輸入； 采用該電子裝置的標(biāo)識來從該存儲器檢索該測試規(guī)程的至少一部分；以及從該測試規(guī)程的該至少一部分獲取所述第一多條引線和所述第二多條引線將要連接到的所述電子裝置上的多個位置。
14.如權(quán)利要求11所述的方法，其中，所述存儲器中存儲有與所述電子裝置相關(guān)聯(lián)的測試規(guī)程，且所述方法還包括在進(jìn)行所述判斷時采用該測試規(guī)程的至少一部分。
15.如權(quán)利要求14所述的方法，還包括至少部分地基于所述判斷和所述測試規(guī)程中的至少一個輸出以下各項中的至少一項的指令: 該電子裝置的特定組件應(yīng) 被替換； 該電子裝置的特定組件應(yīng)被調(diào)節(jié)；以及該電子裝置的特定組件應(yīng)被整修。
16.如權(quán)利要求15所述的方法，還包括檢測表示所述指令已經(jīng)被執(zhí)行的輸入，以及響應(yīng)于該輸入而再次執(zhí)行所述輸入步驟、所述檢測步驟和所述判斷步驟。
17.如權(quán)利要求11所述的方法，還包括: 輸入多個輸入信號作為所述至少第一輸入信號； 檢測多個輸出信號作為所述至少第一輸出信號，該多個輸出信號中的至少一些信號每個響應(yīng)于所述多個輸入信號中的至少一個信號；以及 作為所述判斷，至少部分地基于所述多個輸入信號的至少一部分和所述多個輸出信號中的至少一部分進(jìn)行判斷。
18.如權(quán)利要求17所述的方法，還包括以下步驟中的至少一個: 同時輸入所述多個輸入信號中的至少兩個信號；以及 同時檢測所述多個輸出信號中的至少兩個信號。
19.如權(quán)利要求18所述的方法，其中，所述評估裝置還包括與所述處理器通信的多個測量器件，且所述方法還包括同時檢測: 用所述多個測量器件中的測量器件(60)測量的所述多個輸出信號中的輸出信號，以及 用所述多個測量器件中的另一測量器件(64)測量的所述多個輸出信號中的另一輸出信號。
20.如權(quán)利要求11所述的方法，其中，所述連接裝置還包括連接在所述引線中的至少一些引線與所述評估裝置的至少一部分之間的切換裝置(76)，其中所述方法還包括響應(yīng)于來自所述處理器裝置的多個信號，用所述切換裝置切換所述引線中的所述至少一些引線中的至少第一引線在該至少第一信號發(fā)生器和該至少第一測量器件中的所述至少一個中的連接。
全文摘要
一種改善的用于校準(zhǔn)電子裝置的校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)，包括處理器裝置、評估裝置和連接裝置。該連接裝置包括多條引線并且由該處理器裝置操作來內(nèi)部地切換和連接各條引線與該評估裝置的各種元件。通過使所有引線都一開始能夠與電子裝置連接并且通過內(nèi)部地切換引線與評估裝置的各種元件之間的連接，該校準(zhǔn)檢測系統(tǒng)在執(zhí)行測試規(guī)程時節(jié)省了時間并且避免了錯誤。
文檔編號G01D18/00GK103154674SQ201180048582
公開日2013年6月12日 申請日期2011年9月21日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月8日
發(fā)明者R·W·肖普, S·J·那斯恩森, R·J·胡佛 申請人:西屋電氣有限責(zé)任公司