專利名稱：分布電容檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及ー種分布電容檢測裝置。
背景技術(shù)：
分布電容是由非電容形態(tài)形成的ー種分布參數(shù)，在自然界中廣泛存在。分布電容會對傳感器的靈敏度和電路的測量精度有一定的影響，特別是由它們所引起的ー些外界干擾，必須降低或消除。同樣的儀器、器械由于加工、出廠的不同，其上存在的分布電容的大小也會不同， 在安裝傳感器或設(shè)計電路時，必須對相應(yīng)位置存在的分布電容的大小進行檢測，以確保不會因分布電容過大而對傳感器或電路造成干擾。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種可準(zhǔn)確檢測出分布電容大小的分布電容檢測裝置。本發(fā)明解決上述問題所采用的技術(shù)方案為它包括檢測探針、檢測芯片、串ロ轉(zhuǎn)接模塊和顯示模塊；所述的檢測探針與檢測芯片連接，檢測芯片與串ロ轉(zhuǎn)接模塊連接，串ロ轉(zhuǎn)接模塊與顯示模塊連接。作為優(yōu)選，所述顯示模塊采用計算機的顯示屏。作為優(yōu)選，所述檢測芯片的型號為CY8C21234。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點在干以檢測探針為電容的ー個極，以檢測芯片所在的電路板上的電源地為電容的另ー個扱，通過檢測芯片的檢測可以方便、準(zhǔn)確地測出各種物體上所需測量點存在的分布電容的大小并通過顯示模塊顯示出來，從而可以判斷是否需要采取手段減小該點的分布電容的大小以避免因分布電容過大而對該處的傳感器或電路造成干擾。作為改進，所述檢測裝置還包括主控MCU、步進電機和LED指示燈；所述的主控MCU 和LED指示燈均與檢測芯片連接；所述的步進電機與主控MCU電連接，與檢測探針固定連接；增加的主控MCU、步進電機和LED指示燈可與檢測芯片配合實現(xiàn)各種依靠監(jiān)測分布電容的大小變化來完成的控制功能。作為優(yōu)選，所述的主控MCU的型號為P89C668。


圖1為本發(fā)明分布電容檢測裝置的框圖。
具體實施例方式如圖所示，本發(fā)明分布電容檢測裝置，它包括檢測探針、檢測芯片、串ロ轉(zhuǎn)接模塊和顯示模塊；所述的檢測探針與檢測芯片連接，檢測芯片與串ロ轉(zhuǎn)接模塊連接，串ロ轉(zhuǎn)接模塊與顯示模塊連接；串ロ轉(zhuǎn)接模塊2為業(yè)內(nèi)公知的常規(guī)電路，在此不再贅述；顯示模塊3采用計算機的顯示屏，串ロ轉(zhuǎn)接模塊2與顯示模塊3連接即與計算機的COM接ロ連接，利用計算機內(nèi)強大的軟件支持，可以使檢測出的分布電容值信息得到更好的顯示，在分布電容值變化的情況下，還可以實現(xiàn)波形顯示，使對比分析更清晰明了，檢測出的分布電容值還可以保存在計算機內(nèi)。所述檢測裝置還包括主控MCU、步進電機和LED指示燈；所述的主控MCU和LED指示燈均與檢測芯片連接；所述的步進電機與主控MCU電連接，與檢測探針固定連接；主控 MCU、步進電機和LED指示燈可與檢測芯片配合實現(xiàn)各種依靠監(jiān)測分布電容的大小變化來完成的控制功能。所述檢測芯片的型號為CY8C21234。所述的主控MCU的型號為P89C668。本發(fā)明中，以檢測探針為電容的ー個極，以檢測芯片所在的電路板上的電源地為電容的另ー個極，檢測芯片內(nèi)的16位偽隨機數(shù)列發(fā)生器先控制開關(guān)對電容進行充電，充電時由檢測芯片提供電源，完成充電后，16位偽隨機數(shù)列發(fā)生器控制開關(guān)斷開電容與電源的連接使其放電，放電時形成的電壓信號經(jīng)設(shè)在檢測探針上的信號放大器放大后送入檢測芯片內(nèi)的比較器與基準(zhǔn)電壓進行比較并形成相應(yīng)數(shù)量的脈沖，檢測芯片對脈沖進行計數(shù)及數(shù)據(jù)處理后，計算出分布電容的值，然后發(fā)送至顯示模塊顯示。在實現(xiàn)控制功能時，檢測芯片會對脈沖進行計數(shù)并在脈沖數(shù)量達到設(shè)定的閾值時發(fā)送控制信號給主控MCU，主控MCU控制步進電機運轉(zhuǎn)，步進電機控制檢測探針的運動。
權(quán)利要求
1.ー種分布電容檢測裝置，其特征在于它包括檢測探針、檢測芯片、串ロ轉(zhuǎn)接模塊和顯示模塊；所述的檢測探針與檢測芯片連接，檢測芯片與串ロ轉(zhuǎn)接模塊連接，串ロ轉(zhuǎn)接模塊與顯示模塊連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分布電容檢測裝置，其特征在于所述檢測裝置還包括主控 MCU、步進電機和LED指示燈；所述的主控MCU和LED指示燈均與檢測芯片連接；所述的步進電機與主控M⑶電連接，與檢測探針固定連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分布電容檢測裝置，其特征在于所述顯示模塊采用計算機的顯示屏。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分布電容檢測裝置，其特征在于所述檢測芯片Ul的型號為 CY8C21234。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的分布電容檢測裝置，其特征在于所述的主控MCU的型號為 P89C668。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種分布電容檢測裝置，它包括檢測探針、檢測芯片、串口轉(zhuǎn)接模塊和顯示模塊；所述的檢測探針與檢測芯片連接，檢測芯片與串口轉(zhuǎn)接模塊連接，串口轉(zhuǎn)接模塊與顯示模塊連接。本發(fā)明以檢測探針為電容的一個極，以檢測芯片所在的電路板上的電源地為電容的另一個極，通過檢測芯片的檢測可以方便、準(zhǔn)確地測出各種物體上所需測量點存在的分布電容的大小并通過顯示模塊顯示出來，從而可以判斷是否需要采取手段減小該點的分布電容的大小以避免因分布電容過大而對該處的傳感器或電路造成干擾。
文檔編號G01R27/32GK102565543SQ20121000070
公開日2012年7月11日 申請日期2012年1月4日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月4日
發(fā)明者任懷方, 肖尚清, 鄒繼華 申請人:寧波美康盛德生物科技有限公司