專利名稱：恒溫晶體振蕩器晶體拐點(diǎn)自動(dòng)化測(cè)量?jī)x的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種自動(dòng)化測(cè)量?jī)x，特別涉及恒溫晶體振蕩器批量生產(chǎn)中，恒溫晶體振蕩器溫度曲線零溫度變化點(diǎn)(生產(chǎn)中一般稱為拐點(diǎn))的批量測(cè)量的自動(dòng)化測(cè)量?jī)x。
背景技術(shù)：
恒溫晶體振蕩器(簡(jiǎn)稱0CX0)是一種頻率基準(zhǔn)產(chǎn)品，是一種高精密的電子器件，廣泛使用于3G通信，軍事，高端儀器等對(duì)時(shí)間精準(zhǔn)度要求非常高的場(chǎng)所。OCXO的生產(chǎn)難度較大，現(xiàn)國(guó)內(nèi)0CX080%以上依賴進(jìn)口，這是因?yàn)镺CXO的生產(chǎn)，超過(guò)90%以上都是對(duì)于產(chǎn)品參數(shù)的測(cè)量和調(diào)試，而OCXO批量化生產(chǎn)的難點(diǎn)，就在于自動(dòng)化，批量化的參數(shù)測(cè)量測(cè)試。OCXO的主要原件石英晶體對(duì)于溫度非常敏感，一般在生產(chǎn)中使用的AT切型晶體和SC切型的晶體，其頻率溫度曲線在數(shù)學(xué)呈現(xiàn)為三次方程曲線，而三次曲線在00(0的恒溫點(diǎn)時(shí)，恰好有一個(gè)波峰，其波峰的斜率是最小的，所以對(duì)應(yīng)的，如果能準(zhǔn)確的找到波峰，也就是最合適的恒溫點(diǎn)的話，我們就認(rèn)為找到了該晶體的零溫度變化點(diǎn)(拐點(diǎn))，那么此時(shí)OCXO的溫頻特性將是最穩(wěn)定的，產(chǎn)品性能也是最好的。OCXO的發(fā)熱是由內(nèi)部的功率管提供的，而具體發(fā)熱到什么程度，則是由里面的溫度控制電阻決定的。一般為了找到拐點(diǎn)，我們需要在控制電阻位置接上電位器(可調(diào)電阻)，以50到100歐姆的步進(jìn)改變電阻值，每次改變電阻后，穩(wěn)定10到15分鐘后記錄其頻率值和電阻，然后觀察其頻率變化情況，看其頻率變化的大小，一般需要測(cè)量7到8次后，才能找到頻率變化最小的點(diǎn)。找到該點(diǎn)后，查看當(dāng)時(shí)所用的電阻值，并根據(jù)經(jīng)驗(yàn)換上和測(cè)量時(shí)差不多的電阻。由于測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)，并需要記錄數(shù)據(jù)和計(jì)算，一般一個(gè)最熟練的工人每小時(shí)也只能調(diào)試4到6個(gè)0CX0，效率非常之低。而且由于人工測(cè)量，存在大量估算的情況，實(shí)際上的溫頻特性測(cè)試的一次通過(guò)率一般只有80%，需要多次返工重測(cè)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供了一整套自動(dòng)對(duì)恒溫晶體振蕩器晶體拐點(diǎn)進(jìn)行調(diào)試測(cè)量的設(shè)備。為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案
恒溫晶體振蕩器晶體拐點(diǎn)自動(dòng)化測(cè)量?jī)x，包括調(diào)試機(jī)架，其特征在于它還包括
1)拐點(diǎn)調(diào)試插座多個(gè)待測(cè)試的晶體振蕩器通過(guò)對(duì)應(yīng)的拐點(diǎn)調(diào)試插座與拐點(diǎn)調(diào)試板電連接，每一個(gè)晶體震蕩器的信號(hào)輸出端通過(guò)拐點(diǎn)調(diào)試插座連接到拐點(diǎn)調(diào)試板上的信號(hào)輸出端口，晶體振蕩器的拐點(diǎn)電阻位置與拐點(diǎn)調(diào)試插座上的電阻調(diào)試線相連；
2)拐點(diǎn)調(diào)試板所述拐點(diǎn)調(diào)試板設(shè)有數(shù)字電位器，數(shù)字電位器的輸出端與調(diào)試插座上的電阻調(diào)試線連接，拐點(diǎn)調(diào)試板通過(guò)并口線與控制電腦的輸出端相連，每一塊拐點(diǎn)調(diào)試板都有唯一的地址碼；
3)射頻控制板通過(guò)同軸電纜與拐點(diǎn)調(diào)試板的每一個(gè)晶振信號(hào)輸出端口相連，通過(guò)并口線與控制電腦的輸出端相連，每一塊射頻控制板都有自己唯一的地址碼，射頻控制板用于接受控制電腦的命令開通與晶振信號(hào)輸出端口對(duì)應(yīng)的信號(hào)傳輸通道，并關(guān)閉其他所有通道；
4)頻率測(cè)量?jī)x通過(guò)同軸電纜線與射頻控制板相連接，通過(guò)GPIB線與控制電腦相連，用于測(cè)量每一個(gè)調(diào)試晶體振蕩器的頻率值，并將測(cè)量的數(shù)據(jù)傳送到控制電腦；
5)控制電腦向拐點(diǎn)調(diào)試板發(fā)送唯一的地址碼，設(shè)置該地址的數(shù)字電位器的電阻為指定值，并讀取每一個(gè)晶體振蕩器的頻率，根據(jù)測(cè)量得到的數(shù)據(jù)擬合晶體振蕩器溫頻特性曲線，并計(jì)算得出晶體拐點(diǎn)時(shí)的電阻值。所述拐點(diǎn)調(diào)試板具體包括數(shù)字電位器、比較器、卡口式插座、測(cè)試位置開關(guān)，數(shù)字電位器的電阻輸出端與卡口式插座相連接，數(shù)字電位器的命令接收端與比較器相連接，而比較器與控制電腦并口線相連接，測(cè)試位置開關(guān)直接連卡口式插座。所述拐點(diǎn)調(diào)試插座包括電阻調(diào)試線、四根插針、匹配電容，匹配電容直接焊接在拐點(diǎn)調(diào)試插座的電路板焊盤上，四根插針中兩根為電源插針，直接與拐點(diǎn)調(diào)試板的卡口式插座接口連接，另兩根為拐點(diǎn)電阻插針，通過(guò)電阻調(diào)試線直接連接到測(cè)試晶振的拐點(diǎn)電阻調(diào)試焊盤上。所述的射頻控制板包括比較器、并口接線板、同軸電纜線。比較器與并口接線板連接，同軸電纜線的一端直接與對(duì)應(yīng)位置的測(cè)試晶振的信號(hào)輸出端相連接，同軸電纜線的另一端連接到信號(hào)傳輸?shù)目偟耐S電纜線上。一個(gè)調(diào)試機(jī)架分5層安裝，每一層安裝兩塊拐點(diǎn)調(diào)試板和一塊射頻控制板，每一塊拐點(diǎn)調(diào)試板上設(shè)有8個(gè)調(diào)試插座。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下有益效果
使用本套調(diào)試設(shè)備，每套設(shè)備每次能調(diào)試160個(gè)0CX0，除了安放00(0時(shí)，其他不占用任何人工。每次調(diào)試需要3到4小時(shí)左右，即每小時(shí)40個(gè)左右，相比與人工每小時(shí)4到5個(gè)的調(diào)試速度，其效率提升10倍以上。而且由于軟件提供的精確數(shù)據(jù)建模，使得一次溫頻特性通過(guò)率能達(dá)到接近99%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于人工的80%。


圖1為拐點(diǎn)自動(dòng)化測(cè)量?jī)x的整體結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說(shuō)明。如圖1所示，一整套自動(dòng)拐點(diǎn)調(diào)試設(shè)備，包括了調(diào)試架，頻率測(cè)量?jī)x和控制電腦。調(diào)試架是拐點(diǎn)調(diào)試進(jìn)行的地方，背面安裝有銅條傳送電源。調(diào)試機(jī)架為分層的鐵架子，用于安裝OCXO拐點(diǎn)調(diào)試板和射頻控制板。調(diào)試機(jī)架分為6層，下五層安裝調(diào)試板，每一層安裝兩塊拐點(diǎn)調(diào)試板和一塊射頻控制板，每一塊拐點(diǎn)調(diào)試板含有8個(gè)拐點(diǎn)調(diào)試插座，待測(cè)試的晶體振蕩器插在拐點(diǎn)調(diào)試插座上，所以每一層可同時(shí)調(diào)試16個(gè)0CX0，一個(gè)機(jī)架可以同時(shí)調(diào)試80個(gè)0CX0。待調(diào)試的OCXO通過(guò)調(diào)試插座與調(diào)試板相連接。每?jī)蓚€(gè)調(diào)試架作為一組進(jìn)行調(diào)試，因此一套設(shè)備每次可最多進(jìn)行160個(gè)OCXO的調(diào)試。拐點(diǎn)調(diào)試板具體包括數(shù)字電位器、比較器、卡口式插座、測(cè)試位置開關(guān)，數(shù)字電位器的電阻輸出端與卡口式插座相連接，每一個(gè)數(shù)字電位器有兩路輸出，因此每個(gè)數(shù)字電位器可以同時(shí)連接兩個(gè)卡口式插座。數(shù)字電位器的命令接收端與比較器相連接，而比較器與控制電腦并口線相連接，當(dāng)控制電腦并口發(fā)送命令時(shí)，會(huì)同時(shí)發(fā)送地址碼，當(dāng)比較器發(fā)經(jīng)過(guò)和本身地址進(jìn)行比較，發(fā)現(xiàn)是發(fā)給自己的命令時(shí)，才會(huì)把命令傳給數(shù)字電位器，控制其改變電阻值。測(cè)試位置開關(guān)直接連卡口式插座，用于開關(guān)插座是否通電。在測(cè)試時(shí)，測(cè)試晶振通過(guò)拐點(diǎn)調(diào)試插座，直接插在卡口式插座上，方便測(cè)試。拐點(diǎn)調(diào)試插座是調(diào)試OCXO與拐點(diǎn)調(diào)試板之間的連接器，多個(gè)待測(cè)試的晶體振蕩器通過(guò)對(duì)應(yīng)的拐點(diǎn)調(diào)試插座與拐點(diǎn)調(diào)試板電連接，待測(cè)試的OCXO插在拐點(diǎn)調(diào)試座上，再把拐點(diǎn)調(diào)試座插到調(diào)試板上。本實(shí)施例中每一塊拐點(diǎn)調(diào)試板含有8個(gè)拐點(diǎn)調(diào)試插座，即對(duì)應(yīng)8個(gè)待測(cè)試的晶體振蕩器，每一個(gè)晶體震蕩器的信號(hào)輸出端通過(guò)拐點(diǎn)調(diào)試插座連接到拐點(diǎn)調(diào)試板上的信號(hào)輸出端口，把需要被測(cè)試的信號(hào)傳輸?shù)缴漕l控制板上。拐點(diǎn)調(diào)試插座包括電阻調(diào)試線，四根插針，匹配電容。匹配電容直接焊接在拐點(diǎn)調(diào)試插座的電路板上，根據(jù)測(cè)試晶振的不同，可以更換，但是一般使用一個(gè)通用的電容即可，無(wú)需更換。四根插針中，兩根為電源插針，直接與卡口式插座的接口連接，測(cè)試晶振插在拐點(diǎn)調(diào)試插座上后，靠這兩根電源插針通電。另兩根為拐點(diǎn)電阻插針，在拐點(diǎn)調(diào)試插座正面的點(diǎn)焊接有電阻調(diào)試線，直接連接到測(cè)試晶振的拐點(diǎn)電阻調(diào)試焊盤上，卡口式插座通過(guò)拐點(diǎn)調(diào)試插座電路板上的覆銅線與拐點(diǎn)調(diào)試插座上的拐點(diǎn)電阻插針電連接，從而使得數(shù)字電位器的輸出端與拐點(diǎn)調(diào)試插座上的電阻調(diào)試線電連接，晶體振蕩器的拐點(diǎn)電阻位置與拐點(diǎn)調(diào)試插座上的電阻調(diào)試線相連，這樣拐點(diǎn)調(diào)試板改變數(shù)字電位器的電阻值就能直接反應(yīng)在調(diào)試的00(0上。拐點(diǎn)調(diào)試板通過(guò)并口線與控制電腦的輸出端相連，每一塊拐點(diǎn)調(diào)試板都有唯一的地址碼；每一塊射頻控制板也都有自己唯一的地址碼。射頻控制板通過(guò)同軸電纜與拐點(diǎn)調(diào)試板的每一個(gè)晶振信號(hào)輸出端口相連，同軸電纜的一端直接與對(duì)應(yīng)位置的測(cè)試晶振的信號(hào)輸出端相連接，另一端連接到信號(hào)傳輸?shù)目偟耐S電纜線上，用于信號(hào)的傳輸，通過(guò)并口線與控制電腦的輸出端相連，射頻控制板用于接受控制電腦的命令開通與晶振信號(hào)輸出端口對(duì)應(yīng)的信號(hào)傳輸通道，并關(guān)閉其他所有通道；使與指定信號(hào)傳輸通道對(duì)應(yīng)的被測(cè)試晶體振蕩器的輸出信號(hào)可以被測(cè)量到，射頻控制板控制同時(shí)測(cè)量的多個(gè)00(0在一個(gè)時(shí)刻，只有一路信號(hào)通過(guò)。所有的射頻控制板都由控制電腦控制，每一塊射頻控制板都有自己唯一的地址，當(dāng)控制信號(hào)過(guò)來(lái)時(shí)，射頻控制板根據(jù)控制信號(hào)，把控制信號(hào)和地址碼在比較器芯片中進(jìn)行比較，開通指定的通道，關(guān)閉其他所有通道，保證只有一路信號(hào)通過(guò)。射頻控制板包括比較器、并口接線板、同軸電纜線，比較器與并口接線板連接，接受電腦發(fā)送來(lái)的地址碼，如果經(jīng)過(guò)比較發(fā)現(xiàn)地址相同，則打開對(duì)應(yīng)的通道。本發(fā)明的比較器采用74HC85N比較器。頻率測(cè)量?jī)x通過(guò)同軸電纜線與射頻控制板相連接，通過(guò)GPIB線與控制電腦相連，用于測(cè)量每一個(gè)調(diào)試晶體振蕩器的頻率值，并將測(cè)量的數(shù)據(jù)傳送到控制電腦，由于調(diào)試要求較高，所以要求頻率調(diào)試儀至少需要有2位的精確小數(shù)顯示?？刂齐娔X主要用于安裝控制系統(tǒng)軟件，以及與調(diào)試設(shè)備相連接，通過(guò)排線與調(diào)試機(jī)架連接控制調(diào)試位置和數(shù)字電位器的阻值改變?？刂齐娔X向拐點(diǎn)調(diào)試板發(fā)送唯一的地址碼，設(shè)置該地址的數(shù)字電位器的電阻為指定值，并讀取每一個(gè)晶體振蕩器的頻率，根據(jù)測(cè)量得到的數(shù)據(jù)擬合晶體振蕩器溫頻特性曲線，并計(jì)算得出晶體拐點(diǎn)時(shí)的電阻值。控制電腦通過(guò)排線控制兩個(gè)調(diào)試機(jī)架，共三條排線。一條排線用于控制兩個(gè)調(diào)試機(jī)架射頻控制板，另兩條排線用于控制機(jī)架上的調(diào)試板的數(shù)字電位器，一個(gè)調(diào)試機(jī)架一條。軟件控制系統(tǒng)主要用于控制整個(gè)調(diào)試邏輯，包括發(fā)布修改數(shù)字電位器電阻值命令，控制通道切換，讀取頻率值，根據(jù)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行拐點(diǎn)電阻計(jì)算，數(shù)據(jù)導(dǎo)出和管理等功能。調(diào)試機(jī)架的供電系統(tǒng)分為兩組，一組給各控制板上的芯片供電，使用5V的電源供電，對(duì)于功率要求不高。另一組給待調(diào)試的OCXO進(jìn)行供電，一個(gè)機(jī)架一臺(tái)電源，要求電流至少需要20A以上電源。下面以實(shí)際調(diào)試一批OCXO拐點(diǎn)為例，說(shuō)明拐點(diǎn)調(diào)試系統(tǒng)的使用。首先把拐點(diǎn)調(diào)試插座上的調(diào)試線焊接在OCXO電阻調(diào)試焊盤上。然后把調(diào)試插座插到拐點(diǎn)調(diào)試板上。打開所有的電源，保證系統(tǒng)加電正常。打開系統(tǒng)控制軟件，在軟件上對(duì)應(yīng)的位置，輸入OCXO的編號(hào)，使OCXO編號(hào)和位置一一對(duì)應(yīng)。使用軟件的檢測(cè)功能看是否每一個(gè)OCXO都能被正確讀取頻率，如果不能，則需要修正，直到所有OCXO都能正常讀取頻率。當(dāng)一切準(zhǔn)備正常后，點(diǎn)擊“啟動(dòng)調(diào)試”開始拐點(diǎn)的調(diào)試，控制電腦執(zhí)行以下步驟逐漸改變數(shù)字電位器的值，然后讀取每一個(gè)OCXO的頻率，并記錄數(shù)據(jù)，一般改變7到9次后，以7次為例，以r表示電阻，以f表示頻率，分別得到(r』)，(r2, f2)直到(f7，f7)，控制軟件對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，使用最小二乘法進(jìn)行曲線擬合，得到溫頻曲線的三次曲線方程式為f=ar3+br2+cr+d，對(duì)方程式進(jìn)行求導(dǎo)，得到新的方程式f’ =3ar2+2br+C，使方程轉(zhuǎn)化為二次方程，使用二次方程求根公式，最終得到r的兩個(gè)解，一般為一正一負(fù)，正解即為需要的拐點(diǎn)電阻值。
權(quán)利要求
1.恒溫晶體振蕩器晶體拐點(diǎn)自動(dòng)化測(cè)量?jī)x，包括調(diào)試機(jī)架，其特征在于它還包括1)拐點(diǎn)調(diào)試插座多個(gè)待測(cè)試的晶體振蕩器通過(guò)對(duì)應(yīng)的拐點(diǎn)調(diào)試插座與拐點(diǎn)調(diào)試板電連接，每一個(gè)晶振的信號(hào)輸出端通過(guò)拐點(diǎn)調(diào)試插座連接到拐點(diǎn)調(diào)試板上的信號(hào)輸出端口，晶體振蕩器的拐點(diǎn)電阻位置與拐點(diǎn)調(diào)試插座上的電阻調(diào)試線相連；2)拐點(diǎn)調(diào)試板所述拐點(diǎn)調(diào)試板設(shè)有數(shù)字電位器，數(shù)字電位器的輸出端與調(diào)試插座上的電阻調(diào)試線連接，拐點(diǎn)調(diào)試板通過(guò)并口線與控制電腦的輸出端相連，每一塊拐點(diǎn)調(diào)試板都有唯一的地址碼；3)射頻控制板通過(guò)同軸電纜與拐點(diǎn)調(diào)試板的每一個(gè)晶振信號(hào)輸出端口相連，通過(guò)并口線與控制電腦的輸出端相連，每一塊射頻控制板都有自己唯一的地址碼，射頻控制板用于接受控制電腦的命令開通與晶振信號(hào)輸出端口對(duì)應(yīng)的信號(hào)傳輸通道，并關(guān)閉其他所有通道；4)頻率測(cè)量?jī)x通過(guò)同軸電纜線與射頻控制板相連接，通過(guò)GPIB線與控制電腦相連，用于測(cè)量每一個(gè)調(diào)試晶體振蕩器的頻率值，并將測(cè)量的數(shù)據(jù)傳送到控制電腦；5)控制電腦向拐點(diǎn)調(diào)試板發(fā)送唯一的地址碼，設(shè)置該地址的數(shù)字電位器的電阻為指定值，并讀取每一個(gè)晶體振蕩器的頻率，根據(jù)測(cè)量得到的數(shù)據(jù)擬合晶體振蕩器溫頻特性曲線，并計(jì)算得出晶體拐點(diǎn)時(shí)的電阻值。
2.如權(quán)利要求1所述的恒溫晶體振蕩器晶體拐點(diǎn)自動(dòng)化測(cè)量?jī)x，其特征在于所述拐點(diǎn)調(diào)試板具體包括數(shù)字電位器、比較器、卡口式插座、測(cè)試位置開關(guān)，數(shù)字電位器的電阻輸出端與卡口式插座相連接，數(shù)字電位器的命令接收端與比較器相連接，而比較器與控制電腦并口線相連接，測(cè)試位置開關(guān)直接連卡口式插座。
3.如權(quán)利要求1或2所述的恒溫晶體振蕩器晶體拐點(diǎn)自動(dòng)化測(cè)量?jī)x，其特征在于所述拐點(diǎn)調(diào)試插座包括電阻調(diào)試線、四根插針、匹配電容，匹配電容直接焊接在拐點(diǎn)調(diào)試插座的電路板焊盤上，四根插針中兩根為電源插針，直接與拐點(diǎn)調(diào)試板的卡口式插座接口連接，另兩根為拐點(diǎn)電阻插針，通過(guò)電阻調(diào)試線直接連接到測(cè)試晶振的拐點(diǎn)電阻調(diào)試焊盤上。
4.如權(quán)利要求1或2所述的恒溫晶體振蕩器晶體拐點(diǎn)自動(dòng)化測(cè)量?jī)x，其特征在于所述的射頻控制板包括比較器、并口接線板、同軸電纜線，比較器與并口接線板連接，同軸電纜線的一端直接與對(duì)應(yīng)位置的測(cè)試晶振的信號(hào)輸出端相連接，同軸電纜線的另一端連接到信號(hào)傳輸?shù)目偟耐S電纜線上。
5.如權(quán)利要求1或2所述的恒溫晶體振蕩器晶體拐點(diǎn)自動(dòng)化測(cè)量?jī)x，其特征在于一個(gè)調(diào)試機(jī)架分5層安裝，每一層安裝兩塊拐點(diǎn)調(diào)試板和一塊射頻控制板，每一塊拐點(diǎn)調(diào)試板上設(shè)有8個(gè)調(diào)試插座。
6.如權(quán)利要求1或2所述的恒溫晶體振蕩器晶體拐點(diǎn)自動(dòng)化測(cè)量?jī)x，其特征在于兩個(gè)調(diào)試機(jī)架作為一組。
7.如權(quán)利要求1或2所述的恒溫晶體振蕩器晶體拐點(diǎn)自動(dòng)化測(cè)量?jī)x，其特征在于所述控制電腦執(zhí)行以下步驟逐漸改變數(shù)字電位器的值，然后讀取每一個(gè)晶振的頻率，并記錄數(shù)據(jù)，以r表示電阻，以f表示頻率，分別得到(r』)，(r2, f2)直到(f7，f7)，使用最小二乘法進(jìn)行曲線擬合，得到溫頻曲線的三次曲線方程式為f=ar3+br2+Cr+d，求導(dǎo)得到新的方程式f’ =3ar2+2br+C，最終得到r的兩個(gè)解，正解即為需要的拐點(diǎn)電阻值。
全文摘要
本發(fā)明涉及恒溫晶體振蕩器晶體拐點(diǎn)自動(dòng)化測(cè)量?jī)x，包括調(diào)試機(jī)架，其特征在于它還包括1)拐點(diǎn)調(diào)試插座2)拐點(diǎn)調(diào)試板3)射頻控制板4)頻率測(cè)量?jī)x5)控制電腦向拐點(diǎn)調(diào)試板發(fā)送唯一的地址碼，設(shè)置該地址的數(shù)字電位器的電阻為指定值，并讀取每一個(gè)晶體振蕩器的頻率，根據(jù)測(cè)量得到的數(shù)據(jù)擬合晶體振蕩器溫頻特性曲線，并計(jì)算得出晶體拐點(diǎn)時(shí)的電阻值。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下有益效果使用本套調(diào)試設(shè)備，每套設(shè)備每次能調(diào)試160個(gè)OCXO，除了安放OCXO時(shí)，其他不占用任何人工。每次調(diào)試需要3到4小時(shí)左右，即每小時(shí)40個(gè)左右，相比與人工每小時(shí)4到5個(gè)的調(diào)試速度，其效率提升10倍以上。而且由于軟件提供的精確數(shù)據(jù)建模，使得一次溫頻特性通過(guò)率能達(dá)到接近99%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于人工的80%。
文檔編號(hào)G01R23/02GK102565530SQ20121001151
公開日2012年7月11日 申請(qǐng)日期2012年1月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月13日
發(fā)明者李曉佳, 林麗君, 林正其 申請(qǐng)人:平湖市電子有限公司