專(zhuān)利名稱(chēng)：利用加速試驗(yàn)來(lái)評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種利用加速試驗(yàn)來(lái)評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法，更具體地，涉及一種基于對(duì)敏感參數(shù)分析利用加速試驗(yàn)來(lái)快速評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法。
背景技術(shù)：
壽命試驗(yàn)是基本的可靠性試驗(yàn)方法，在正常工作條件下，常常采用壽命試驗(yàn)方法來(lái)評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性。但是，這種方法對(duì)壽命特別長(zhǎng)的產(chǎn)品來(lái)說(shuō)并不是一種合適的方法。因?yàn)檫@種方法需要花費(fèi)很長(zhǎng)的試驗(yàn)時(shí)間，甚至經(jīng)常來(lái)不及做完壽命試驗(yàn)，新的產(chǎn)品又被設(shè)計(jì)出來(lái)，老產(chǎn)品就要被淘汰了。因此，在壽命試驗(yàn)的基礎(chǔ)上形成的加大應(yīng)力、縮短時(shí)間的加速壽命試驗(yàn)方法逐漸取代了常規(guī)的壽命試驗(yàn)方法。加速壽命試驗(yàn)是用加大試驗(yàn)應(yīng)力(諸如熱應(yīng)力、電應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力等)的方法，激發(fā)產(chǎn)品在短時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生跟正常應(yīng)力水平下相同的失效，縮短試驗(yàn)周期。然后運(yùn)用加速壽命模型，評(píng)價(jià)產(chǎn)品在正常工作應(yīng)力下的可靠性特征。加速環(huán)境試驗(yàn)是近年來(lái)快速發(fā)展的一項(xiàng)可靠性試驗(yàn)技術(shù)。該技術(shù)突破了傳統(tǒng)可靠性試驗(yàn)的技術(shù)思路，將激發(fā)的試驗(yàn)機(jī)制引入到可靠性試驗(yàn)，可以大大縮短試驗(yàn)時(shí)間，提高試驗(yàn)效率，降低試驗(yàn)耗損。加速環(huán)境試驗(yàn)是一種激發(fā)試驗(yàn)，它通過(guò)強(qiáng)化的應(yīng)力環(huán)境來(lái)進(jìn)行可靠性試驗(yàn)。加速環(huán)境試驗(yàn)的加速水平通常用加速因子來(lái)表示。加速因子的含義是指設(shè)備在正常工作應(yīng)力下的壽命與在加速環(huán)境下的壽命之比，通俗來(lái)講就是指一小時(shí)試驗(yàn)相當(dāng)于正常使用的時(shí)間。 因此，加速因子的計(jì)算成為加速壽命試驗(yàn)的核心問(wèn)題，也成為客戶(hù)最為關(guān)心的問(wèn)題。加速因子的計(jì)算也是基于一定的物理模型的，因此下面分別說(shuō)明常用應(yīng)力的加速因子的計(jì)算方法。溫度的加速因子由Arrhenius模型計(jì)算
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^stress其中，Lntmal為正常應(yīng)力下的壽命，Lstress為高溫下的壽命，Tnormal為室溫絕對(duì)溫度，Tstress為高溫下的絕對(duì)溫度，Ea為失效反應(yīng)的活化能(eV)，k為Boltzmann常數(shù)， 8. 62X10_5eV/K，實(shí)踐表明絕大多數(shù)電子元器件的失效符合Arrhenius模型，表I給出了半導(dǎo)體元器件常見(jiàn)的失效反應(yīng)的活化能。然而，傳統(tǒng)的評(píng)估電容器貯存壽命的方法試驗(yàn)周期長(zhǎng)、成本高、所需樣品多，不能給出單樣品的失效激活能和壽命。

發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的問(wèn)題，本發(fā)明的發(fā)明人提出了一種利用加速試驗(yàn)來(lái)評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法，。
本發(fā)明的目的在于提供一種在相對(duì)較短的時(shí)間內(nèi)利用加速試驗(yàn)來(lái)評(píng)價(jià)電容器的貯存壽命的方法。該方法使得試驗(yàn)周期縮短、成本低并且所需樣品較少。在一個(gè)方面，本發(fā)明提供了一種利用加速試驗(yàn)來(lái)評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法，該方法包括以下步驟I)在被評(píng)價(jià)的電容器組中抽取一定數(shù)量的被測(cè)電容器，給每只被測(cè)電容器編號(hào)后測(cè)量并記錄被測(cè)電容器的平均初始電容值Ctl，然后再隨機(jī)分為10組，每組20-100只電容器；2)從所述10組電容器中取出第一組電容器進(jìn)行室溫下的貯存試驗(yàn)，間隔一定時(shí)間取出L個(gè)電容器進(jìn)行測(cè)試并記錄貯存后的平均電容值C1，直至全部電容器都取出并測(cè)量后為止，計(jì)算出貯存后的電容值相對(duì)于初始電容值的電容值變化量AC1，得到室溫下電容值隨時(shí)間變化的貯存壽命前期數(shù)據(jù)曲線(xiàn)；3)從所述10組電容器中取出第二組電容器，在高于室溫溫度的第二溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)，間隔一定時(shí)間取出m個(gè)電容器，將其降至室溫后測(cè)試并記錄貯存后的平均電容值C2，直至全部電容器都取出并測(cè)量后為止，計(jì)算出貯存后的電容值相對(duì)于初始電容值的電容值變化量AC2，從而獲得在第二溫度下電容值隨時(shí)間變化的曲線(xiàn)；如果電容值隨時(shí)間變化較小，則說(shuō)明溫度應(yīng)力不明顯，在該溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)，會(huì)導(dǎo)致試驗(yàn)周期太長(zhǎng)，需要重新選取新的溫度應(yīng)力水平進(jìn)行試驗(yàn)；提高貯存溫度，重新進(jìn)行上述貯存試驗(yàn)，直至找到合適的溫度點(diǎn)記為T(mén)l ;繼續(xù)提高貯存溫度，重復(fù)上述貯存試驗(yàn)4)分別在多個(gè)不同的溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)，與步驟2 —樣間隔一定時(shí)間測(cè)試并記錄貯存后的電容值變化，得到高溫下的貯存電容隨時(shí)間變化的曲線(xiàn)；5)利用曲線(xiàn)擬合，驗(yàn)證不同溫度下變化趨勢(shì)是否相同，如果變化趨勢(shì)一致，則進(jìn)行以下步驟6)，如果變化趨勢(shì)出現(xiàn)不一致，應(yīng)停止試驗(yàn)進(jìn)行分析，查明原因后重新進(jìn)行試驗(yàn)；6)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，推算出常溫下的器件貯存壽命。在一個(gè)實(shí)施方式中，在該評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法中，步驟I)中的所述被評(píng)價(jià)的電容器組為同一批次，并且產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、工藝參數(shù)基本一樣，失效模式、激活能基本相同。在一個(gè)實(shí)施方式中，在該評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法中，步驟I)中的被評(píng)價(jià)的電容器是經(jīng)過(guò)篩選剔除早期失效后全部合格的產(chǎn)品。在一個(gè)實(shí)施方式中,在該評(píng)價(jià)電容器忙存壽命的方法中，在試驗(yàn)時(shí)，選取電容值相對(duì)集中的一批樣品，以便保證在樣品數(shù)較小的情況下，獲得較好的試驗(yàn)結(jié)果。在一個(gè)實(shí)施方式中，在該評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法中，被評(píng)價(jià)的電容器的數(shù)目為200至1000只，以便確保試驗(yàn)的可信度并減少試驗(yàn)的工作量。在一個(gè)實(shí)施方式中，在該評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法中，所述步驟2)中的間隔一定時(shí)間取出一批電容器測(cè)試電容值是為了排除由于測(cè)量引起的變化，因此在設(shè)計(jì)試驗(yàn)時(shí)， 應(yīng)選取足夠的電容器，每隔一段時(shí)間測(cè)量一組電容器，記錄平均值，測(cè)試后的電容器就不再進(jìn)行貯存試驗(yàn)。在一個(gè)實(shí)施方式中，在該評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法中，所述步驟3中的摸底試驗(yàn)用于確定加速溫度的大小，加速溫度應(yīng)力條件既不能過(guò)低，也不能過(guò)高；如果試驗(yàn)所加溫度應(yīng)力條件過(guò)低，會(huì)導(dǎo)致試驗(yàn)周期太長(zhǎng)，就需要重新選取新的溫度應(yīng)力水平進(jìn)行試驗(yàn)摸底。 施加溫度應(yīng)力過(guò)高，試驗(yàn)條件難以保證，同時(shí)有可能會(huì)改變器件老化的趨勢(shì)，引入過(guò)應(yīng)力引起的致命失效。在一個(gè)實(shí)施方式中，在該評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法中，所述步驟6進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，首先是用圖形軟件將室溫和高溫下的貯存試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合，得出兩條不同溫度下電容隨時(shí)間變化的曲線(xiàn)。在這兩條曲線(xiàn)上截取電容值相同的點(diǎn)，對(duì)應(yīng)的時(shí)間分別為t和T，通過(guò)最小二乘法擬合，得出t與T之間的比值，即為加速因子A。設(shè)置貯存失效的判據(jù)，在高溫貯存試驗(yàn)曲線(xiàn)中找出失效時(shí)對(duì)應(yīng)的時(shí)間Tf，結(jié)合前述計(jì)算得出的加速因子A，即可得出常溫貯存的壽命為A*Tf。本發(fā)明提供的利用加速試驗(yàn)來(lái)評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法，包括如下步驟1)在被評(píng)價(jià)電容器中抽取一定數(shù)量的樣本，給每只電容器編號(hào)后測(cè)量并記錄被測(cè)電容器的電容值，后隨機(jī)分為若干組；2)取其中一組進(jìn)行室溫貯存試驗(yàn)，間隔一定時(shí)間取出一批樣品測(cè)試并記錄貯存后的電容值變化，得到室溫貯存電容隨時(shí)間變化的曲線(xiàn)；3)在不同溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)，通過(guò)摸底試驗(yàn)確定合適的溫度作為加速應(yīng)力；4)在步驟3)確定的合適的較高溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)，與步驟2) —樣間隔一定時(shí)間測(cè)試并記錄貯存后的電容值變化，得到高溫下的貯存電容隨時(shí)間變化的曲線(xiàn)；5)利用曲線(xiàn)擬合，驗(yàn)證不同溫度下變化趨勢(shì)是否相同，如果變化趨勢(shì)一致，進(jìn)行步驟6)，如果變化趨勢(shì)出現(xiàn)不一致，應(yīng)停止試驗(yàn)進(jìn)行分析，查明原因后重新進(jìn)行試驗(yàn)；6)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，推算出常溫下的器件貯存壽命。根據(jù)本發(fā)明的方法使得試驗(yàn)周期縮短、成本低并且所需樣品較少。


下面通過(guò)參照附圖結(jié)合具體實(shí)例來(lái)進(jìn)一步詳細(xì)地描述本發(fā)明，其中圖I是本發(fā)明的加速壽命試驗(yàn)平臺(tái)搭建示意圖。
具體實(shí)施例方式如圖I所示，本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)包括電源，其用于對(duì)試驗(yàn)箱中的待測(cè)器件和/或其它測(cè)試設(shè)備進(jìn)行供電。該測(cè)試系統(tǒng)還包括器件測(cè)試設(shè)備，其用于測(cè)試該待測(cè)器件的參數(shù)。該測(cè)試系統(tǒng)還包括待測(cè)器件溫度/濕度傳感器，用于測(cè)量待測(cè)器件的環(huán)境溫度和/或濕度； 試驗(yàn)箱溫度/濕度傳感器，用于測(cè)量試驗(yàn)箱中的溫度和/或濕度。除了圖I所示部件之外， 本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)還可以包括其它測(cè)試設(shè)備。在一個(gè)方面，本發(fā)明提供了一種利用加速試驗(yàn)來(lái)評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法，該方法包括以下步驟I)在被評(píng)價(jià)的電容器組中抽取一定數(shù)量的被測(cè)電容器，給每只被測(cè)電容器編號(hào)后測(cè)量并記錄被測(cè)電容器的平均初始電容值Ctl，然后再隨機(jī)分為10組，每組20-100只電容器；2)從所述10組電容器中取出第一組電容器進(jìn)行室溫下的貯存試驗(yàn)，間隔一定時(shí)間取出L個(gè)電容器進(jìn)行測(cè)試并記錄貯存后的平均電容值C1，直至全部電容器都取出并測(cè)量后為止，計(jì)算出貯存后的電容值相對(duì)于初始電容值的電容值變化量AC1，得到室溫下電容值隨時(shí)間變化的貯存壽命前期數(shù)據(jù)曲線(xiàn)；3)從所述10組電容器中取出第二組電容器，在高于室溫溫度的第二溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)，間隔一定時(shí)間取出m個(gè)電容器，將其降至室溫后測(cè)試并記錄貯存后的平均電容值C2，直至全部電容器都取出并測(cè)量后為止，計(jì)算出貯存后的電容值相對(duì)于初始電容值的電容值變化量AC2，從而獲得在第二溫度下電容值隨時(shí)間變化的曲線(xiàn)；如果電容值隨時(shí)間變化較小，則說(shuō)明溫度應(yīng)力不明顯，在該溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)，會(huì)導(dǎo)致試驗(yàn)周期太長(zhǎng)，需要重新選取新的溫度應(yīng)力水平進(jìn)行試驗(yàn)；提高貯存溫度，重新進(jìn)行上述貯存試驗(yàn)，直至找到合適的溫度點(diǎn)記為T(mén)l ;繼續(xù)提高貯存溫度，重復(fù)上述貯存試驗(yàn)；4)分別在多個(gè)不同的溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)，與步驟2) —樣間隔一定時(shí)間測(cè)試并記錄貯存后的電容值變化，得到高溫下的貯存電容隨時(shí)間變化的曲線(xiàn)；5)利用曲線(xiàn)擬合，驗(yàn)證不同溫度下變化趨勢(shì)是否相同，如果變化趨勢(shì)一致，則進(jìn)行以下步驟6)，如果變化趨勢(shì)出現(xiàn)不一致，應(yīng)停止試驗(yàn)進(jìn)行分析，查明原因后重新進(jìn)行試驗(yàn)；6)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，推算出常溫下的器件貯存壽命。優(yōu)選地，在該評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法中，步驟I)中的所述被評(píng)價(jià)的電容器組為同一批次，并且產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、工藝參數(shù)基本一樣，失效模式、激活能基本相同。優(yōu)選地，在該評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法中，步驟I)中的被評(píng)價(jià)的電容器是經(jīng)過(guò)篩選剔除早期失效后全部合格的產(chǎn)品。優(yōu)選地，在該評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法中，在試驗(yàn)時(shí)，選取電容值相對(duì)集中的一批樣品，以便保證在樣品數(shù)較小的情況下，獲得較好的試驗(yàn)結(jié)果。優(yōu)選地，在該評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法中，被評(píng)價(jià)的電容器的數(shù)目為200至 1000只，以便確保試驗(yàn)的可信度并減少試驗(yàn)的工作量。優(yōu)選地，在該評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法中，所述步驟2)中的間隔一定時(shí)間取出一批電容器測(cè)試電容值是為了排除由于測(cè)量引起的變化，因此在設(shè)計(jì)試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)選取足夠的電容器，每隔一段時(shí)間測(cè)量一組電容器，記錄平均值，測(cè)試后的電容器就不再進(jìn)行貯存試驗(yàn)。優(yōu)選地，在該評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法中，所述步驟3中的摸底試驗(yàn)用于確定加速溫度的大小，加速溫度應(yīng)力條件既不能過(guò)低，也不能過(guò)高；如果試驗(yàn)所加溫度應(yīng)力條件過(guò)低，會(huì)導(dǎo)致試驗(yàn)周期太長(zhǎng)，就需要重新選取新的溫度應(yīng)力水平進(jìn)行試驗(yàn)摸底。施加溫度應(yīng)力過(guò)高，試驗(yàn)條件難以保證，同時(shí)有可能會(huì)改變器件老化的趨勢(shì)，引入過(guò)應(yīng)力引起的致命失效。優(yōu)選地，在該評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法中，所述步驟6進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，首先是用圖形軟件將室溫和高溫下的貯存試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合，得出兩條不同溫度下電容隨時(shí)間變化的曲線(xiàn)。在這兩條曲線(xiàn)上截取電容值相同的點(diǎn)，對(duì)應(yīng)的時(shí)間分別為t和T，通過(guò)最小二乘法擬合，得出t與T之間的比值，即為加速因子A。設(shè)置貯存失效的判據(jù)，在高溫貯存試驗(yàn)曲線(xiàn)中找出失效時(shí)對(duì)應(yīng)的時(shí)間Tf，結(jié)合前述計(jì)算得出的加速因子A，即可得出常溫貯存的壽命為 A*Tfo下面描述本發(fā)明的實(shí)施例，該實(shí)施例用來(lái)說(shuō)明而不是限制本發(fā)明。首先，在被評(píng)價(jià)的電容器組中抽取200只被測(cè)電容器，給每只被測(cè)電容器編號(hào)后測(cè)量并記錄被測(cè)電容器的平均初始電容值Ctl，然后再隨機(jī)分為10組，每組20只電容器。然后，從所述10組電容器中取出第一組電容器進(jìn)行室溫下的貯存試驗(yàn)，間隔一定時(shí)間取出I 個(gè)電容器進(jìn)行測(cè)試并記錄貯存后的平均電容值C1，直至全部電容器都取出并測(cè)量后為止， 計(jì)算出貯存后的電容值相對(duì)于初始電容值的電容值變化量△ C1，得到室溫下電容值隨時(shí)間變化的貯存壽命前期數(shù)據(jù)曲線(xiàn)。從所述10組電容器中取出第二組電容器，在高于室溫溫度的第二溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)，間隔一定時(shí)間取出I個(gè)電容器，將其降至室溫后測(cè)試并記錄貯存后的平均電容值C2，直至全部電容器都取出并測(cè)量后為止，計(jì)算出貯存后的電容值相對(duì)于初始電容值的電容值變化量AC2，從而獲得在第二溫度下電容值隨時(shí)間變化的曲線(xiàn)； 如果電容值隨時(shí)間變化較小，則說(shuō)明溫度應(yīng)力不明顯，在該溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)，會(huì)導(dǎo)致試驗(yàn)周期太長(zhǎng)，需要重新選取新的溫度應(yīng)力水平進(jìn)行試驗(yàn)；提高貯存溫度，重新進(jìn)行上述貯存試驗(yàn)，直至找到合適的溫度點(diǎn)記為T(mén)l ;繼續(xù)提高貯存溫度，重復(fù)上述貯存試驗(yàn)。分別在多個(gè)不同的溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)，與上面步驟一樣間隔一定時(shí)間測(cè)試并記錄貯存后的電容值變化，得到高溫下的貯存電容隨時(shí)間變化的曲線(xiàn)。之后，利用曲線(xiàn)擬合，驗(yàn)證不同溫度下變化趨勢(shì)是否相同，如果變化趨勢(shì)一致，則進(jìn)行以下步驟，如果變化趨勢(shì)出現(xiàn)不一致，應(yīng)停止試驗(yàn)進(jìn)行分析，查明原因后重新進(jìn)行試驗(yàn)。最后，進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，推算出常溫下的器件貯存壽命。雖然已經(jīng)參照附圖和具體實(shí)施例詳細(xì)地描述了本發(fā)明，但本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，本發(fā)明并不限于上述實(shí)施方式和實(shí)施例，在不背離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以進(jìn)行各種更改、替換，本發(fā)明的范圍如在所附權(quán)利要求中限定。
權(quán)利要求
1.一種利用加速試驗(yàn)來(lái)評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法，包括以下步驟1)在被評(píng)價(jià)的電容器組中抽取一定數(shù)量的被測(cè)電容器，給每只被測(cè)電容器編號(hào)后測(cè)量并記錄被測(cè)電容器的平均初始電容值Ctl，然后再隨機(jī)分為10組；2)從所述10組電容器中取出第一組電容器進(jìn)行室溫下的貯存試驗(yàn)，間隔一定時(shí)間取出L個(gè)電容器進(jìn)行測(cè)試并記錄貯存后的平均電容值C1，直至全部電容器都取出并測(cè)量后為止，計(jì)算出貯存后的電容值相對(duì)于初始電容值的電容值變化量AC1，得到室溫下電容值隨時(shí)間變化的貯存壽命前期數(shù)據(jù)曲線(xiàn)；3)從所述10組電容器中取出第二組電容器，在高于室溫的第二溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)， 間隔一定時(shí)間取出m個(gè)電容器，將其降至室溫后測(cè)試并記錄貯存后的平均電容值C2，直至全部電容器都取出并測(cè)量后為止，計(jì)算出貯存后的電容值相對(duì)于初始電容值的電容值變化量 Λ C2，從而獲得在第二溫度下電容值隨時(shí)間變化的曲線(xiàn)；如果電容值隨時(shí)間變化較小，則說(shuō)明溫度應(yīng)力不明顯，在該溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)，會(huì)導(dǎo)致試驗(yàn)周期太長(zhǎng)，需要重新選取新的溫度應(yīng)力水平進(jìn)行試驗(yàn)；提高貯存溫度，重新進(jìn)行上述貯存試驗(yàn)，直至找到合適的溫度點(diǎn)記為 Tl ;繼續(xù)提高貯存溫度，重復(fù)上述貯存試驗(yàn)；4)分別在多個(gè)不同的溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)，與步驟2)—樣間隔一定時(shí)間測(cè)試并記錄貯存后的電容值變化，得到高溫下的貯存電容隨時(shí)間變化的曲線(xiàn)；5)利用曲線(xiàn)擬合，驗(yàn)證不同溫度下變化趨勢(shì)是否相同，如果變化趨勢(shì)一致，則進(jìn)行以下步驟6)，如果變化趨勢(shì)出現(xiàn)不一致，應(yīng)停止試驗(yàn)進(jìn)行分析，查明原因后重新進(jìn)行試驗(yàn)；6)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，推算出常溫下的器件貯存壽命。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法，其中，步驟I)中的所述被評(píng)價(jià)的電容器組為同一批次，并且產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、工藝參數(shù)基本一樣，失效模式、激活能基本相同。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法，其中，步驟I)中的被評(píng)價(jià)的電容器是經(jīng)過(guò)篩選剔除早期失效后全部合格的產(chǎn)品。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法，其中，在試驗(yàn)時(shí)，選取電容值相對(duì)集中的一批樣品，以便保證在樣品數(shù)較小的情況下，獲得較好的試驗(yàn)結(jié)果。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法，其中，被評(píng)價(jià)的電容器的數(shù)目為200至1000只，以便確保試驗(yàn)的可信度并減少試驗(yàn)的工作量。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法，其中，測(cè)試后的電容器不再進(jìn)行貯存試驗(yàn)。
7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法，其中，所述步驟3)中的摸底試驗(yàn)用于確定加速溫度的大小。
8.根據(jù)權(quán)利要求I所述的評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法，其中，所述步驟3)中的加速溫度應(yīng)力條件既不能過(guò)低，也不能過(guò)高；如果試驗(yàn)所加溫度應(yīng)力條件過(guò)低，會(huì)導(dǎo)致試驗(yàn)周期太長(zhǎng)，就需要重新選取新的溫度應(yīng)力水平進(jìn)行試驗(yàn)摸底，然而施加溫度應(yīng)力過(guò)高，試驗(yàn)條件難以保證。
9.根據(jù)權(quán)利要求I所述的評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的試驗(yàn)方法，其中所述步驟6)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，首先是用圖形軟件將室溫和高溫下的貯存試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合，得出兩條不同溫度下電容隨時(shí)間變化的曲線(xiàn)，然后在這兩條曲線(xiàn)上截取電容值相同的點(diǎn)，對(duì)應(yīng)的時(shí)間分別為t 和T，通過(guò)最小二乘法擬合，得出t與T之間的比值，即為加速因子A，設(shè)置貯存失效的判據(jù)，在高溫貯存試驗(yàn)曲線(xiàn)中找出失效時(shí)對(duì)應(yīng)的時(shí)間TF，結(jié)合前述計(jì)算得出的加速因子A，即可得出常溫貯存的壽命為A*Tf。
全文摘要
本發(fā)明提供一種利用加速試驗(yàn)來(lái)評(píng)價(jià)電容器貯存壽命的方法，包括1)在被評(píng)價(jià)電容器中抽取一定數(shù)量樣本，給每只電容器編號(hào)后測(cè)量并記錄被測(cè)電容器的電容值，后隨機(jī)分為若干組；2)取其中一組進(jìn)行室溫貯存試驗(yàn)，間隔一定時(shí)間取出一批樣品測(cè)試并記錄貯存后的電容值變化，得到室溫貯存電容隨時(shí)間變化曲線(xiàn)；步驟3)在不同溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)，通過(guò)摸底試驗(yàn)確定合適的溫度作為加速應(yīng)力；4)在步驟3)確定的合適的較高溫度下進(jìn)行貯存試驗(yàn)，與步驟2)一樣間隔一定時(shí)間測(cè)試并記錄貯存后的電容值變化，得到高溫下的貯存電容隨時(shí)間變化曲線(xiàn)；5)利用曲線(xiàn)擬合，驗(yàn)證不同溫度下變化趨勢(shì)是否相同；6)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，推算出常溫下器件貯存壽命。
文檔編號(hào)G01R31/00GK102590659SQ20121002186
公開(kāi)日2012年7月18日 申請(qǐng)日期2012年1月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月31日
發(fā)明者劉文寶 申請(qǐng)人:中國(guó)航天標(biāo)準(zhǔn)化研究所