專利名稱：模擬電路測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電路領(lǐng)域，具體而言，涉及一種模擬電路測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
隨著模擬電路的廣泛使用，往往需要對(duì)模擬電路的功能進(jìn)行測(cè)試，也即，測(cè)試模擬電路的功能正確性，但是，在現(xiàn)有技術(shù)中，在對(duì)模擬電路的進(jìn)行測(cè)試時(shí)，需要連接外部測(cè)試設(shè)備(例如高速測(cè)試儀器)或者對(duì)應(yīng)的接收芯片(如高速串行數(shù)據(jù)接收器或模數(shù)轉(zhuǎn)化器)才能夠進(jìn)行測(cè)試，從而導(dǎo)致現(xiàn)有的模擬電路測(cè)試方法成本高，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)。針對(duì)相關(guān)技術(shù)中的模擬電路測(cè)試方式需要連接外部設(shè)備才能夠進(jìn)行測(cè)試的問(wèn)題，目前尚未提出有效的解決方案。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種模擬電路測(cè)試裝置，以解決相關(guān)技術(shù)中的模擬電路測(cè)試方式需要連接外部設(shè)備設(shè)備的才能夠進(jìn)行測(cè)試的問(wèn)題。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種模擬電路測(cè)試裝置，包括產(chǎn)生電路，用于提供測(cè)試向量；第一獲取電路，連接于被測(cè)電路的輸入端和產(chǎn)生電路之間，用于獲取測(cè)試向量以及將測(cè)試向量施加至被測(cè)電路；第二獲取電路，連接于被測(cè)電路的輸出端，用于獲取被測(cè)電路的輸出信息；以及分析電路，與第二獲取電路相連接，用于根據(jù)被測(cè)電路的輸出信息判斷被測(cè)電路的功能正確性。進(jìn)一步地，產(chǎn)生電路包括特征產(chǎn)生器，用于產(chǎn)生特征序列；以及模擬電路測(cè)試向量產(chǎn)生器，連接于特征產(chǎn)生器，用于根據(jù)特征序列得到測(cè)試向量。進(jìn)一步地，產(chǎn)生電路還包括隨機(jī)序列產(chǎn)生器，連接于模擬電路測(cè)試向量產(chǎn)生器，用于產(chǎn)生隨機(jī)測(cè)試向量序列，其中，模擬電路測(cè)試向量產(chǎn)生器用于將特征序列的信息加入隨機(jī)測(cè)試向量序列，以產(chǎn)生含有特征信息的測(cè)試向量。進(jìn)一步地，第一獲取電路為模擬電路向量獲取電路，模擬電路向量獲取電路用于從數(shù)字模擬接口獲取測(cè)試向量。進(jìn)一步地,第二獲取電路為解串行化電路,其中，解串行化電路用于獲取被測(cè)電路的輸出信息，以及將輸出信息中的串行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為并行數(shù)據(jù)。進(jìn)一步地，第二獲取電路為模數(shù)轉(zhuǎn)換電路，其中，模數(shù)轉(zhuǎn)換電路用于獲取被測(cè)電路的輸出信息，以及將輸出信息中的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)。 進(jìn)一步地，包括數(shù)字電路，其中，數(shù)字電路包括產(chǎn)生電路和分析電路。進(jìn)一步地，模擬電路測(cè)試裝置還包括測(cè)試向量壓縮電路，用于抽取解串行化電路或模數(shù)轉(zhuǎn)換電路恢復(fù)的數(shù)據(jù)流中的特征信息，并加以壓縮，回傳給數(shù)字電路。進(jìn)一步地，分析電路為測(cè)試向量特征分析電路，測(cè)試向量特征分析電路用于分析經(jīng)過(guò)測(cè)試向量壓縮電路壓縮過(guò)的特征信息，并檢測(cè)特征信息的正確性。進(jìn)一步地,被測(cè)電路為串行器轉(zhuǎn)換電路或數(shù)模轉(zhuǎn)換電路。
通過(guò)采用本發(fā)明所提供的模擬電路測(cè)試裝置，由于通過(guò)產(chǎn)生電路提供測(cè)試向量，連接于被測(cè)電路的輸入端和產(chǎn)生電路之間的第一獲取電路獲取測(cè)試向量以及將測(cè)試向量施加至被測(cè)電路，連接于被測(cè)電路的輸出端的第二獲取電路獲取被測(cè)電路的輸出信息；以及通過(guò)與第二獲取電路相連接的分析電路根據(jù)被測(cè)電路的輸出信息判斷被測(cè)電路的功能正確性，因而解決了相關(guān)技術(shù)中的模擬電路測(cè)試方式需要連接外部設(shè)備才能夠進(jìn)行測(cè)試的問(wèn)題，進(jìn)而達(dá)到了使得模擬電路測(cè)試裝置無(wú)需連接外部設(shè)備也能夠進(jìn)行測(cè)試的效果。


構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分的附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中圖I是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的模擬電路測(cè)試裝置的示意圖；以及圖2是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的模擬電路測(cè)試裝置的示意圖。
具體實(shí)施例方式需要說(shuō)明的是，在不沖突的情況下，本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明。本發(fā)明實(shí)施例提供了一種模擬電路測(cè)試裝置。圖I是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例模擬電路測(cè)試裝置的示意圖，如圖I所示，該模擬電路測(cè)試裝置包括產(chǎn)生電路、第一獲取電路、第二獲取電路和分析電路。產(chǎn)生電路，用于提供測(cè)試向量。該測(cè)試向量用于提供給模擬電路以進(jìn)行測(cè)試，其中，該測(cè)試向量既可以是基于特征序列得到的測(cè)試向量，也可以是基于隨機(jī)測(cè)試向量序列和特征序列二者所得到的測(cè)試向量。第一獲取電路，連接于被測(cè)電路的輸入端和所述產(chǎn)生電路之間，用于獲取所述測(cè)試向量以及將所述測(cè)試向量施加至所述被測(cè)電路。該第一獲取電路可以作為模擬電路的一部分，用于在獲取到測(cè)試向量之后，將獲取到的測(cè)試向量施加至模擬電路中的被測(cè)電路部分。第二獲取電路，連接于所述被測(cè)電路的輸出端，用于獲取所述被測(cè)電路的輸出信息。該第二獲取電路也可以作為模擬電路的一部分，用于從模擬電路中的被測(cè)電路部分的輸出端獲取到被測(cè)電路的輸出信息。分析電路，與所述第二獲取電路相連接，用于根據(jù)所述被測(cè)電路的輸出信息判斷所述被測(cè)電路的功能正確性。該分析電路可以作為數(shù)字電路的一部分，用于基于來(lái)自模擬電路的第二獲取電路反饋的信息進(jìn)行分析，以判斷所述被測(cè)電路的功能正確性。在該實(shí)施例所提供的模擬電路測(cè)試裝置中，由于第一獲取電路獲取到了進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試向量并將測(cè)試向量施加至被測(cè)電路，第二獲取電路獲取被測(cè)電路輸出的信息，以及分析電路根據(jù)第二獲取電路反饋的信息對(duì)被測(cè)電路的功能正確性進(jìn)行分析，因而解決了相關(guān)技術(shù)中的模擬電路測(cè)試方式需要連接外部設(shè)備才能夠進(jìn)行測(cè)試的問(wèn)題，進(jìn)而達(dá)到了使得模擬電路測(cè)試裝置無(wú)需連接外部設(shè)備也能夠進(jìn)行測(cè)試的效果。作為所述產(chǎn)生電路的一種可選實(shí)施方式，上述的產(chǎn)生電路可以包括特征產(chǎn)生器和模擬電路測(cè)試向量產(chǎn)生器。
特征產(chǎn)生器用于產(chǎn)生特征序列。模擬電路測(cè)試向量產(chǎn)生器，連接于特征產(chǎn)生器，用于根據(jù)所述特征序列得到所述測(cè)試向量。通過(guò)該實(shí)施方式的產(chǎn)生電路，由于根據(jù)特征產(chǎn)生器產(chǎn)生的特征序列得到所述測(cè)試向量，因而，簡(jiǎn)化了測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)。為了提高測(cè)試的覆蓋率，優(yōu)選地，上述的產(chǎn)生電路還包括隨機(jī)序列產(chǎn)生器。隨機(jī)序列產(chǎn)生器，連接于所述模擬電路測(cè)試向量產(chǎn)生器，用于產(chǎn)生隨機(jī)測(cè)試向量序列，此時(shí)，所述模擬電路測(cè)試向量產(chǎn)生器用于將所述特征序列的信息加入所述隨機(jī)測(cè)試向量序列，以產(chǎn)生含有特征信息的測(cè)試向量。上述的第一獲取電路可以采用至少兩種方式來(lái)實(shí)現(xiàn)，例如方式一，第一獲取電路可以為模擬電路向量獲取電路，該模擬電路向量獲取電路用于從數(shù)字模擬接口獲取所述測(cè)試向量。方式二，第二獲取電路也可以為解串行化電路，其中，所述解串行化電路用于獲取所述被測(cè)電路的輸出信息，以及將所述輸出信息中的串行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為并行數(shù)據(jù)。上述的第二獲取電路為模數(shù)轉(zhuǎn)換電路，其中，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換電路用于獲取所述被測(cè)電路的輸出信息，以及將所述輸出信息中的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)。本發(fā)明實(shí)施例的模擬電路測(cè)試裝置可以包括數(shù)字電路和模擬電路兩部分，其中，數(shù)字電路可以包括上述的產(chǎn)生電路和所述分析電路。模擬電路可以包括上述的模擬電路向量獲取電路和解串行化電路。為了簡(jiǎn)化模擬電路的實(shí)現(xiàn)難度，優(yōu)選地，模擬電路測(cè)試裝置還包括測(cè)試向量壓縮電路。測(cè)試向量壓縮電路用于抽取解串行化電路或模數(shù)轉(zhuǎn)換電路恢復(fù)的數(shù)據(jù)流中的特征信息，并加以壓縮，回傳給數(shù)字電路。上述的分析電路可以為測(cè)試向量特征分析電路，該測(cè)試向量特征分析電路用于分析經(jīng)過(guò)所述測(cè)試向量壓縮電路壓縮過(guò)的特征信息，并檢測(cè)所述特征信息的正確性。上述的被測(cè)電路為串行器轉(zhuǎn)換電路或數(shù)模轉(zhuǎn)換電路。即，本發(fā)明實(shí)施例所提供的測(cè)試裝置即可以用于對(duì)串行器轉(zhuǎn)換電路進(jìn)行測(cè)試，也可以用于對(duì)數(shù)模轉(zhuǎn)換電路進(jìn)行測(cè)試。在具體實(shí)現(xiàn)當(dāng)中，測(cè)試向量特征分析電路也可以和測(cè)試向量壓縮電路進(jìn)行合并。圖2是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的模擬電路測(cè)試裝置的示意圖。如圖2所示，該模擬電路測(cè)試裝置包括數(shù)字電路10和模擬電路20。數(shù)字電路10包括隨機(jī)序列產(chǎn)生器11、特征產(chǎn)生器12、模擬電路測(cè)試向量產(chǎn)生器13和測(cè)試向量特征分析電路15。隨機(jī)序列產(chǎn)生器11用于產(chǎn)生隨機(jī)測(cè)試向量序列。特征產(chǎn)生器12用于產(chǎn)生特征序列。
模擬電路測(cè)試向量產(chǎn)生器13用于將特征序列的信息加入隨機(jī)測(cè)試向量序列，并產(chǎn)生新的含有特征信息的測(cè)試向量序列。模擬電路20包括模擬電路向量獲取電路21、串行器轉(zhuǎn)換電路或數(shù)模轉(zhuǎn)換電路22、解串行化電路或模數(shù)轉(zhuǎn)換電路23和測(cè)試向量壓縮電路24。模擬電路向量獲取電路21用于從數(shù)字模擬接口獲取測(cè)試向量序列。
串行器轉(zhuǎn)換電路或數(shù)模轉(zhuǎn)換電路22用于將并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為串行數(shù)據(jù)或者將并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)。解串行化電路或模數(shù)轉(zhuǎn)換電路23用于將串行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為并行數(shù)據(jù)或?qū)⒛M信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)。
測(cè)試向量壓縮電路24用于抽取解串行化電路或模數(shù)轉(zhuǎn)換電路23恢復(fù)的數(shù)據(jù)流中的特征信息，并加以壓縮，回傳給數(shù)字電路10。測(cè)試向量特征分析電路15用于分析經(jīng)過(guò)測(cè)試向量壓縮電路24壓縮過(guò)的特征信息，并檢測(cè)特征信息率的正確性。通過(guò)上述的測(cè)試電路，能夠測(cè)試串行器轉(zhuǎn)換電路或數(shù)模轉(zhuǎn)換電路22功能正確性。以下對(duì)上述測(cè)試電路的工作原理進(jìn)一步闡述如下模擬電路測(cè)試向量產(chǎn)生器13將隨機(jī)序列產(chǎn)生器11和特征產(chǎn)生器12產(chǎn)生的數(shù)據(jù)合成為具有特征信息的測(cè)試激勵(lì)。測(cè)試激勵(lì)被施加于串行器轉(zhuǎn)換電路或數(shù)模轉(zhuǎn)換電路22。解串行化電路或模數(shù)轉(zhuǎn)換電路23和測(cè)試向量壓縮電路24獲取22的輸出，將壓縮過(guò)信息回傳給測(cè)試向量特征分析電路15。測(cè)試向量特征分析電路15通過(guò)分析特征信息判定解串行化電路或模數(shù)轉(zhuǎn)換電路23的功能正確性。通過(guò)本發(fā)明實(shí)施例所提供的測(cè)試電路，能夠在不需要外部測(cè)試設(shè)備的條件下快速測(cè)試模擬電路的功能正確性，測(cè)試覆蓋率高，測(cè)試準(zhǔn)確性高，測(cè)試條件與正常工作條件相似度高。本發(fā)明實(shí)施例所提供的測(cè)試電路也可以用于高速模擬電路測(cè)試，測(cè)試覆蓋率高，測(cè)試條件與真實(shí)工作條件一致，測(cè)試高效，且測(cè)試時(shí)間短。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種模擬電路測(cè)試裝置，其特征在于，包括 產(chǎn)生電路，用于提供測(cè)試向量； 第一獲取電路，連接于被測(cè)電路的輸入端和所述產(chǎn)生電路之間，用于獲取所述測(cè)試向量以及將所述測(cè)試向量施加至所述被測(cè)電路； 第二獲取電路，連接于所述被測(cè)電路的輸出端，用于獲取所述被測(cè)電路的輸出信息；以及 分析電路，與所述第二獲取電路相連接，用于根據(jù)所述被測(cè)電路的輸出信息判斷所述被測(cè)電路的功能正確性。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的模擬電路測(cè)試裝置，其特征在于，所述產(chǎn)生電路包括 特征產(chǎn)生器(12)，用于產(chǎn)生特征序列；以及 模擬電路測(cè)試向量產(chǎn)生器(13)，連接于所述特征產(chǎn)生器(12)，用于根據(jù)所述特征序列得到所述測(cè)試向量。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的模擬電路測(cè)試裝置，其特征在于，所述產(chǎn)生電路還包括 隨機(jī)序列產(chǎn)生器(11)，連接于所述模擬電路測(cè)試向量產(chǎn)生器(13)，用于產(chǎn)生隨機(jī)測(cè)試向量序列， 其中，所述模擬電路測(cè)試向量產(chǎn)生器(13)用于將所述特征序列的信息加入所述隨機(jī)測(cè)試向量序列，以產(chǎn)生含有特征信息的測(cè)試向量。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的模擬電路測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一獲取電路為模擬電路向量獲取電路(21)，所述模擬電路向量獲取電路(21)用于從數(shù)字模擬接口獲取所述測(cè)試向量。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的模擬電路測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二獲取電路為解串行化電路，其中，所述解串行化電路用于獲取所述被測(cè)電路的輸出信息，以及將所述輸出信息中的串行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為并行數(shù)據(jù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的模擬電路測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二獲取電路為模數(shù)轉(zhuǎn)換電路，其中，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換電路用于獲取所述被測(cè)電路的輸出信息，以及將所述輸出信息中的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的模擬電路測(cè)試裝置，其特征在于，包括數(shù)字電路(10)，其中，所述數(shù)字電路(10)包括所述產(chǎn)生電路和所述分析電路。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的模擬電路測(cè)試裝置，其特征在于，還包括 測(cè)試向量壓縮電路(24)，用于抽取解串行化電路或模數(shù)轉(zhuǎn)換電路(23)恢復(fù)的數(shù)據(jù)流中的特征信息，并加以壓縮，回傳給所述數(shù)字電路(10)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的模擬電路測(cè)試裝置，其特征在于，所述分析電路為測(cè)試向量特征分析電路(15)，所述測(cè)試向量特征分析電路(15)用于分析經(jīng)過(guò)所述測(cè)試向量壓縮電路(24)壓縮過(guò)的特征信息，并檢測(cè)所述特征信息的正確性。
10.根據(jù)權(quán)利要求I所述的模擬電路測(cè)試裝置，其特征在于，所述被測(cè)電路為串行器轉(zhuǎn)換電路或數(shù)模轉(zhuǎn)換電路。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種模擬電路測(cè)試裝置，包括產(chǎn)生電路，用于提供測(cè)試向量；第一獲取電路，連接于被測(cè)電路的輸入端和產(chǎn)生電路之間，用于獲取測(cè)試向量以及將測(cè)試向量施加至被測(cè)電路；第二獲取電路，連接于被測(cè)電路的輸出端，用于獲取被測(cè)電路的輸出信息；以及分析電路，與第二獲取電路相連接，用于根據(jù)被測(cè)電路的輸出信息判斷被測(cè)電路的功能正確性。通過(guò)本發(fā)明，解決了相關(guān)技術(shù)中的模擬電路測(cè)試方式需要連接外部設(shè)備才能夠進(jìn)行測(cè)試的問(wèn)題，進(jìn)而達(dá)到了使得模擬電路測(cè)試裝置無(wú)需連接外部設(shè)備也能夠進(jìn)行測(cè)試的效果。
文檔編號(hào)G01R31/316GK102628923SQ20121007324
公開日2012年8月8日 申請(qǐng)日期2012年3月19日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月19日
發(fā)明者宋紅東, 隋海建 申請(qǐng)人:硅谷數(shù)模半導(dǎo)體(北京)有限公司, 硅谷數(shù)模國(guó)際有限公司