專利名稱：一種用于檢測的光標(biāo)方軸的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于飛機(jī)裝配技術(shù)。涉及一種用于飛機(jī)工裝定位孔三維坐標(biāo)檢測的光標(biāo)方軸。
背景技術(shù)：
原有檢測飛機(jī)工裝定位孔的光標(biāo)球僅能檢測零件上的定位孔一端的中心點坐標(biāo)值。在實際工作中，有些定位孔位檢測時，需要同時檢測定位孔軸線方向兩端中心點的三維坐標(biāo)。現(xiàn)有的光標(biāo)球無法準(zhǔn)確檢測定位孔軸線方向兩端中心點的三維坐標(biāo)，影響安裝精度。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種能夠準(zhǔn)確檢測定位孔軸線方向兩端中心點三維坐標(biāo)的光標(biāo)方軸。本發(fā)明的技術(shù)方案是一種用于檢測的光標(biāo)方軸，包括圓盤2和定位軸3，定位軸3 的上端與圓盤2的下表面同軸連接,其特征在于有一個橫截面為正方形的長方體1，長方體I的四個矩形側(cè)面分別為第一側(cè)面、第二側(cè)面、第三側(cè)面和第四側(cè)面，第一側(cè)面和第三側(cè)面相對，第二側(cè)面和第四側(cè)面相對，在第一側(cè)面和第三側(cè)面上有上下排列的兩個貫通孔，位于下面的是第一貫通孔4，位于上面的是第二貫通孔5，第一貫通孔4和第二貫通孔5的軸線相互平行并且與圓盤2的下表面10平行，定位軸3的軸線位于第一貫通孔4和第二貫通孔5的軸線所在的平面內(nèi)，第一貫通孔4和第二貫通孔5的孔徑相等，第一貫通孔4和第二貫通孔5軸線的之間的距離為B，第一貫通孔4的軸線到圓盤2下表面10的距離為C ;在第二側(cè)面和第四側(cè)面上有上下排列的兩個貫通孔，位于下面的是第三貫通孔7，位于上面的是第四貫通孔6，第三貫通孔7和第四貫通孔6的軸線相互平行并且與圓盤2的下表面10平行，定位軸3的軸線位于第三貫通孔7和第四貫通孔6的軸線所在的平面內(nèi)，第三貫通孔7 和第四貫通孔6的孔徑相等；第三貫通孔7和第四貫通孔6的孔徑相等，第三貫通孔7和第一貫通孔4的孔徑相等，第三貫通孔7和第四貫通孔6軸線的之間的距離為B，第四貫通孔 6的軸線到圓盤2下表面10的距離為C ;在長方體I的上表面9上有中心孔8，中心孔8的孔徑與第一貫通孔4的孔徑相等，長方體I的上表面9到圓盤2下表面10的距離為A。本發(fā)明的優(yōu)點是能夠準(zhǔn)確檢測定位孔軸線方向兩端中心點三維坐標(biāo)，提高了安裝精度。


圖I是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是圖I的俯視圖。
具體實施例方式下面對本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)說明。參見圖1、2，一種用于檢測的光標(biāo)方軸，包括圓
3盤2和定位軸3，定位軸3的上端與圓盤2的下表面同軸連接，其特征在于有一個橫截面為正方形的長方體1，長方體I的四個矩形側(cè)面分別為第一側(cè)面、第二側(cè)面、第三側(cè)面和第四側(cè)面，第一側(cè)面和第三側(cè)面相對，第二側(cè)面和第四側(cè)面相對，在第一側(cè)面和第三側(cè)面上有上下排列的兩個貫通孔，位于下面的是第一貫通孔4，位于上面的是第二貫通孔5，第一貫通孔4和第二貫通孔5的軸線相互平行并且與圓盤2的下表面10平行，定位軸3的軸線位于第一貫通孔4和第二貫通孔5的軸線所在的平面內(nèi)，第一貫通孔4和第二貫通孔5的孔徑相等，第一貫通孔4和第二貫通孔5軸線的之間的距離為B，第一貫通孔4的軸線到圓盤 2下表面10的距離為C ;在第二側(cè)面和第四側(cè)面上有上下排列的兩個貫通孔，位于下面的是第三貫通孔7，位于上面的是第四貫通孔6，第三貫通孔7和第四貫通孔6的軸線相互平行并且與圓盤2的下表面10平行，定位軸3的軸線位于第三貫通孔7和第四貫通孔6的軸線所在的平面內(nèi)，第三貫通孔7和第四貫通孔6的孔徑相等；第三貫通孔7和第四貫通孔6的孔徑相等，第三貫通孔7和第一貫通孔4的孔徑相等，第三貫通孔7和第四貫通孔6軸線的之間的距離為B，第四貫通孔6的軸線到圓盤2下表面10的距離為C ;在長方體I的上表面 9上有中心孔8，中心孔8的孔徑與第一貫通孔4的孔徑相等，長方體I的上表面9到圓盤 2下表面10的距離為A。長方體I的上表面9到圓盤2下表面10的距離A = IOOmm 120mm,第三貫通孔 7和第四貫通孔6軸線的之間的距離B = 40mm 60mm,第四貫通孔6的軸線到圓盤2下表面10的距離C = 20mm 30mm,第一貫通孔4的孔徑d = 5mm 10_。本發(fā)明的使用方法是I、將光標(biāo)方軸的定位軸3插入工裝定位件待檢測定位孔中，使光標(biāo)方軸的圓盤2 的下表面與工裝定位件需檢測面貼合。2、用檢測光學(xué)球測量光標(biāo)方軸的長方體I的上表面9上的中心孔8的三維坐標(biāo)值，將所得三維坐標(biāo)值其中表示光標(biāo)方軸的軸向坐標(biāo)的數(shù)值，減去光標(biāo)方軸的長方體I的上表面9到圓盤2下表面10的距離A的尺寸數(shù)值后，最終的三維坐標(biāo)值，為工裝定位件待檢測定位孔中心點在檢測平面上的真實三維坐標(biāo)值。3、用檢測光學(xué)球測量光標(biāo)方軸的長方體I的第一側(cè)面上的第一貫通孔4中心點三維坐標(biāo)數(shù)值和第二貫通孔5的中心點三維坐標(biāo)數(shù)值，將所得的兩點三維坐標(biāo)值相對工裝定位件工作面進(jìn)行計算，可得工裝定位件待檢測定位孔中心軸線在相對平行于第一側(cè)面的軸線面上與工裝定位件工作面上的真實角度值。4、用檢測光學(xué)球測量光標(biāo)方軸的長方體I的第二側(cè)面上的第三貫通孔7中心點三維坐標(biāo)數(shù)值和第四貫通孔6的中心點三維坐標(biāo)數(shù)值，將所得的兩點三維坐標(biāo)值相對工裝定位件工作面進(jìn)行計算，可得工裝定位件待檢測定位孔中心軸線在相對平行于第二側(cè)面的軸線面上與工裝定位件工作面上的真實角度值。下表給出3個實施例的主要參數(shù)，單位為mm。第一貫通孔的孔徑ABC圓盤厚度實施例IΦ5Η79040228實施例2Φ6Η7115403510實施例3Φ6Η712060421權(quán)利要求
1.一種用于檢測的光標(biāo)方軸，包括圓盤[2]和定位軸[3]，定位軸[3]的上端與圓盤[2]的下表面同軸連接，其特征在于有一個橫截面為正方形的長方體[1]，長方體[I]的四個矩形側(cè)面分別為第一側(cè)面、第二側(cè)面、第三側(cè)面和第四側(cè)面，第一側(cè)面和第三側(cè)面相對， 第二側(cè)面和第四側(cè)面相對，在第一側(cè)面和第三側(cè)面上有上下排列的兩個貫通孔，位于下面的是第一貫通孔[4]，位于上面的是第二貫通孔[5]，第一貫通孔[4]和第二貫通孔[5]的軸線相互平行并且與圓盤[2]的下表面[10]平行，定位軸[3]的軸線位于第一貫通孔[4] 和第二貫通孔[5]的軸線所在的平面內(nèi)，第一貫通孔[4]和第二貫通孔[5]的孔徑相等，第一貫通孔[4]和第二貫通孔[5]軸線的之間的距離為B，第一貫通孔[4]的軸線到圓盤[2] 下表面[10]的距離為C ;在第二側(cè)面和第四側(cè)面上有上下排列的兩個貫通孔，位于下面的是第三貫通孔[7]，位于上面的是第四貫通孔[6]，第三貫通孔[7]和第四貫通孔[6]的軸線相互平行并且與圓盤[2]的下表面[10]平行，定位軸[3]的軸線位于第三貫通孔[7]和第四貫通孔[6]的軸線所在的平面內(nèi)，第三貫通孔[7]和第四貫通孔[6]的孔徑相等；第三貫通孔[7]和第四貫通孔[6]的孔徑相等，第三貫通孔[7]和第一貫通孔[4]的孔徑相等， 第三貫通孔[7]和第四貫通孔[6]軸線的之間的距離為B，第四貫通孔[6]的軸線到圓盤[2]下表面[10]的距離為C ;在長方體[I]的上表面[9]上有中心孔[8]，中心孔[8]的孔徑與第一貫通孔[4]的孔徑相等，長方體[I]的上表面[9]到圓盤[2]下表面[10]的距離為A。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的光標(biāo)方軸，其特征在于長方體[I]的上表面[9]到圓盤[2] 下表面[10]的距離A = IOOmm 120臟，第三貫通孔[7]和第四貫通孔[6]軸線的之間的距離B = 40mm 60mm,第四貫通孔[6]的軸線到圓盤[2]下表面[10]的距離C = 20mm 3Ctam,第一貫通孔[4]的孔徑d = 5臟 ICtam。
全文摘要
本發(fā)明屬于飛機(jī)裝配技術(shù)。涉及一種用于飛機(jī)工裝定位孔三維坐標(biāo)檢測的光標(biāo)方軸。其特征在于有一個橫截面為正方形的長方體[1]，在長方體[1]的四個矩形側(cè)面各有上下排列的兩個貫通孔，在長方體[1]的上表面[9]上有中心孔[8]。本發(fā)明能夠準(zhǔn)確檢測定位孔軸線方向兩端中心點三維坐標(biāo)，提高了安裝精度。
文檔編號G01B5/004GK102607364SQ20121010789
公開日2012年7月25日 申請日期2012年4月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月13日
發(fā)明者唐憲偉, 楊揚, 趙立兵, 郭忠義 申請人:哈爾濱飛機(jī)工業(yè)集團(tuán)有限責(zé)任公司