專利名稱：電路板測試方法和系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電路器件測試領(lǐng)域，并且特別地，涉及一種電路板測試方法和系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
電路板的測試主要分為在線測試和功能測試，其中，在線測試由在線測試儀(InCircuit Tester,簡稱為ICT)來實現(xiàn)，功能測試由功能測試儀(Functional CircuitTester,簡稱為FCT)完成,該測試過程又稱為動態(tài)測試(通電)。具體地，在線測試儀又稱為電路板故障分析儀，該設(shè)備所執(zhí)行的測試屬于靜態(tài)測 試，是很多電子類企業(yè)必備的印刷電路實裝板(Printed Circuit Board Assembly,簡稱為PCBA)生產(chǎn)的測試設(shè)備。在線測試儀如同一塊功能強(qiáng)大的萬用表，對電路板上的所有元器件依次進(jìn)行掃描檢驗的儀器。如圖I所示，常規(guī)的ICT使用專門的針床2，使得探針I(yè)與已焊接好的線路板3上的元器件接觸，并用數(shù)百毫伏電壓4和10毫安以內(nèi)電流經(jīng)過開關(guān)板5進(jìn)行分立隔離測試，從而精確地測出所裝電阻、電感、電容、二極管、三極管、可控硅、場效應(yīng)管、集成等通用和特殊元器件的漏裝、錯裝、參數(shù)值偏差、焊點連焊、線路板開短路等故障，并將故障元件或出現(xiàn)開/短路所的位置準(zhǔn)確告知用戶。ICT使用范圍廣，測試覆蓋率高，測量準(zhǔn)確性高，故障定位準(zhǔn)確，能夠直接定位到元件級，因此在處理故障PCBA使用比較容易。傳統(tǒng)ICT由I臺計算機(jī)、一套ICT測試硬件內(nèi)核構(gòu)成。ICT的測試是順序進(jìn)行的，也就是，測完第一個元件，再測第二個元件，直到一電路板的所有元件測試完成，這樣，總的測試時間，就是所有元件的測試時間之和；如果是多拼板測試，則是先測試完一塊板，再測試第二塊板，此時，總測試時間就是多塊板的測試時間總和，例如，假如有4塊拼板，每塊板的測試時間是10秒，則4塊板的總測試時間就是10X4 = 40秒。另一方面，功能測試儀能夠驗證一個單元電路、一塊實裝電路板在實際工作情況下是否具有某些功能。FCT通常需要根據(jù)電路板的實際需要，進(jìn)行以下五個步驟的測試操作一、給待測電路板電源端加載合適的工作電源；二、給電路板的有關(guān)輸入端施加合適的激勵信號；三、對電路的有關(guān)輸出端進(jìn)行有關(guān)參數(shù)測量；四、根據(jù)電路板實際情況計算電路的有關(guān)參數(shù)；五、根據(jù)參數(shù)值判斷電路板是否有故障。通過以上測試步驟，能夠達(dá)到對電路板功能的檢測目的。ICT能夠在實裝板不加電的情況下的對各個元器件進(jìn)行參數(shù)測試，一般不會對元器件造成損壞；FCT屬于動態(tài)側(cè)試，是在實裝板加電、工作下的情況下，進(jìn)行的測試，有可能給元器件帶來損傷。ICT測試通過的實裝板進(jìn)行FCT測試未必通過；ICT測試故障的實裝板進(jìn)行FCT測試必然失??；只有ICT測試通過的實裝板方可進(jìn)行FCT測試，否則會帶來安全隱患。ICT與FCT測試均需將測試點引出，ICT須在實裝板上所有的布線網(wǎng)絡(luò)上設(shè)置探針，而FCT測試只需在部分關(guān)鍵網(wǎng)絡(luò)上設(shè)置探針，因此，F(xiàn)CT測試點必然被包含在ICT測試點中。但是FCT測試還包含一些非探針接觸式測試，如發(fā)光管點亮與否的測試、蜂鳴器是否發(fā)生的測試等等，此類測試需采用非探針式模塊進(jìn)行測試。兩種測試儀的差別較大，并且對于FCT，應(yīng)充分考慮到各個測試點的實際情況，如加電測試點應(yīng)考慮電壓的大小、電流的大小，從而確定針的間距、針的粗細(xì)；一些測試點還要考慮其他網(wǎng)絡(luò)對它的干擾。ICT測試點的定義是通用的、等價的，即不需規(guī)定測試點上連接的元器件類型，所有類型均可；而FCT測試點需要按一定的條件進(jìn)行歸類，如加電點、電壓采集點、頻率采集點、邏輯加載測試點等，不同的類別應(yīng)連接到不同的功能板卡上，每個點都有自己的獨特定義。在進(jìn)行測試時，影響測試速度的因素主要包括測試主機(jī)(一般為標(biāo)準(zhǔn)PC機(jī))的運行速度、ICT測試系統(tǒng)硬件的響應(yīng)速度、測試軟件算法的影響以及待測板本身特性的影響。測試主機(jī)的運行速度主要取決于計算機(jī)的CPU性能，隨著各種技術(shù)的發(fā)展，計算機(jī)CPU性能及速度幾乎是依照摩爾定律，不斷翻倍提升，到目前為止，計算機(jī)的運行速度已 經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過ICT測試速度，因此測試主機(jī)的運行速度已經(jīng)不會成為制約ICT測試速度的瓶頸。另外，ICT測試系統(tǒng)硬件的響應(yīng)速度主要包括電子通道開關(guān)的開關(guān)速度、電路的建立及穩(wěn)定時間、AD以及DA的采樣速度等，隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，電子元件速度原來越高，因此，ICT測試系統(tǒng)硬件的響應(yīng)速度也不會明顯影響實際測試的速度。而在測試軟件算法方面，優(yōu)秀的軟件算法可以大大提高開短路測試速度。對于同一個品牌的ICT，所采用的算法幾乎是固定的，因此，算法同樣不會明顯影響實際測試的速度。對于，待測板本身特性，例如，在電路板上有較多的大電容、大電感等儲能元件的情況下，在測試過程中，電路的穩(wěn)定時間會比較長，因此測試速度必然降低。但是這種速度的降低是由被測板本身決定的，于測試儀本身無關(guān)。綜上所述，ICT對被測板的測試速度，幾乎已經(jīng)提升到了極限，進(jìn)一步提高速度的空間已經(jīng)很小。此外，對于其他類型的測試，同樣存在難以進(jìn)一步提高測試速度的問題，針對該問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發(fā)明內(nèi)容
針對相關(guān)技術(shù)中難以進(jìn)一步提高電路板測試速度的問題，本發(fā)明提出一種電路板測試方法和系統(tǒng)，能夠改善測試的效率，降低測試所消耗的時間和人力成本。本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的根據(jù)本發(fā)明的實施例，提供了一種電路板測試方法。該方法包括在系統(tǒng)對多個測試設(shè)備中的每個測試設(shè)備分配了線程的情況下，每個測試設(shè)備在各自所分配線程的控制下，對該測試設(shè)備對應(yīng)的電路板進(jìn)行測試，其中，多個測試設(shè)備以并行的方式進(jìn)行測試。其中，每個測試設(shè)備包括多個測試裝置，多個測試裝置用于對電路板進(jìn)行不同的測試?？蛇x地，多個測試裝置包括在線測試儀ICT和功能測試儀FCT。并且，在每個測試設(shè)備對一電路板進(jìn)行測試時，先由該測試設(shè)備的ICT進(jìn)行測試，之后由該測試設(shè)備的FCT進(jìn)行測試，其中，在該測試設(shè)備的ICT測試完成后，由該測試設(shè)備的切換開關(guān)板將該測試設(shè)備的ICT與上位機(jī)系統(tǒng)的連接關(guān)斷，并將該測試設(shè)備的FCT與上位機(jī)系統(tǒng)的連接導(dǎo)通，且在FCT測試完成后，該FCT的放電電路對該電路板進(jìn)行放電。此外，在每個測試設(shè)備對一電路板進(jìn)行測試時，根據(jù)預(yù)定順序調(diào)用該測試設(shè)備的多個測試裝置對該電路板進(jìn)行測試。

根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種電路板測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括多個測試設(shè)備，用于對電路板進(jìn)行測試；處理器，用于創(chuàng)建線程，并通過運行所創(chuàng)建的線程控制多個測試設(shè)備對電路板進(jìn)行測試，其中，處理器控制多個測試設(shè)備以并行的方式進(jìn)行測試。其中，每個測試設(shè)備包括多個測試裝置，多個測試裝置用于對電路板進(jìn)行不同的測試，每個測試設(shè)備包括線測試儀ICT和功能測試儀FCT。并且，每個ICT包括多路電源，用于對電路板的預(yù)定測試位置施加所要求的電平；AD采集電路，用于采集電路板的被測元件輸出的電壓和/或電流；信號調(diào)理及放大電路，用于對來自AD采集電路的采集結(jié)果進(jìn)行信號格式調(diào)整，之后發(fā)送給與多個測試裝置連接的上位機(jī)系統(tǒng)。此外，每個FCT包括電源模塊，用于給電路板的被測元件提供工作電源；數(shù)字IO模塊，用于對電路板的被測元件提供信號輸入；信號源模塊，用于提供參考信號；信號采集模塊，用于將被測元件基于信號輸入而輸出的結(jié)果與來自信號源模塊的參考信號進(jìn)行對比，并將對比結(jié)果輸出給與多個測試裝置連接的上位機(jī)系統(tǒng)；放電模塊，用于在該FCT對一電路板測試完成后，對該電路板進(jìn)行放電操作；通訊模塊，用于實現(xiàn)該FCT與被測電路板之間的通信。此外，每個測試設(shè)備進(jìn)一步包括切換開關(guān)板，與FCT和ICT連接，并且連接至上位機(jī)系統(tǒng)，用于在每個測試設(shè)備對一電路板進(jìn)行測試時，控制先由該測試設(shè)備的ICT進(jìn)行測試，之后由該測試設(shè)備的FCT進(jìn)行測試，其中，在該測試設(shè)備的ICT測試完成后，由該測試設(shè)備的切換開關(guān)板將該測試設(shè)備的ICT與上位機(jī)系統(tǒng)的連接關(guān)斷，并將該測試設(shè)備的FCT與上位機(jī)系統(tǒng)的連接導(dǎo)通。本發(fā)明通過建立多個線程，分別控制多個測試設(shè)備進(jìn)行并行測試，能夠更加有效地利用處理器的資源，有效減少測試所需的時間，提高測試速度，節(jié)省了人力和成本。


圖I是相關(guān)技術(shù)中通過ICT進(jìn)行測試的原理示意圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的電路板測試方法的流程圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的電路板測試方法對電路板進(jìn)行并行測試的原理示意圖；圖4是根據(jù)本發(fā)明實施例的電路板測試方法進(jìn)行測試時設(shè)備之間互連的示意圖；圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的電路板測試方法進(jìn)行測試時多個設(shè)備之間互連的示意圖；圖6是根據(jù)本發(fā)明實施例的電路板測試系統(tǒng)的框圖7是根據(jù)本發(fā)明實施例的電路板測試系統(tǒng)中測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)框圖；圖8是根據(jù)本發(fā)明實施例的電路板測試系統(tǒng)的功能組成的框圖。
具體實施例方式通常，CPU的生產(chǎn)商為了提高CPU的性能，通常做法是提高CPU的時鐘頻率和增加緩存容量。不過目前CPU的頻率越來越快，如果再通過提升CPU頻率和增加緩存的方法來提高性能，往往會受到制造工藝上的限制以及成本過高的制約。盡管提高CPU的時鐘頻率和增加緩存容量后的確可以改善性能，但通過這種借助CPU性能提高性能的方式在實現(xiàn)上存在較大難度。并且，即使CPU的處理速率和緩存能夠大幅度提高，但是在實際進(jìn)行電路板測試時，CPU的執(zhí)行單元(處理資源)仍舊不能夠得到充分利用。
考慮到上述問題，根據(jù)本發(fā)明的實施例，提供了一種電路板測試方法。如圖2所示，根據(jù)本發(fā)明實施例的電路板測試方法包括步驟S201，系統(tǒng)對多個測試設(shè)備中的每個測試設(shè)備分配線程；步驟S203，每個測試設(shè)備在各自所分配線程的控制下，對該測試設(shè)備對應(yīng)的電路板進(jìn)行測試，其中，多個測試設(shè)備以并行的方式進(jìn)行測試。如圖3所示，通過上述處理，能夠?qū)Χ鄠€電路板l-η同時進(jìn)行測試。其中，每個測試設(shè)備可以包括多個測試裝置，多個測試裝置用于對電路板進(jìn)行不同的測試。多個測試裝置包括在線測試儀(ICT)和功能測試儀(FCT)。如圖4所示，上位機(jī)系統(tǒng)(例如，PC機(jī)(計算機(jī)))可以通過其上設(shè)置的通訊卡與ICT或FCT的硬件內(nèi)核通訊，ICT或FCT的硬件內(nèi)核連接至針床壓具，對待測板進(jìn)行測試。如圖5所示，在存在多臺測試設(shè)備，每臺測試設(shè)備都包括ICT或FCT的硬件內(nèi)核，此時，PC機(jī)上可以設(shè)置多個通訊卡，與ICT或FCT的硬件內(nèi)核——對應(yīng)進(jìn)行通訊，ICT或FCT的硬件內(nèi)核并行對針床壓具上的電路板進(jìn)行測試。除了上述列舉的ICT和FCT之外，每個測試設(shè)備都可以包括各種測試裝置，并且，每個測試設(shè)備都能夠利用這些測試裝置對電路板進(jìn)行測試，每個測試設(shè)備對一個電路板進(jìn)行測試完成之后，可以繼續(xù)對下一個電路板進(jìn)行測試，也就是說，每個測試設(shè)備都可以理解為對應(yīng)于一個測試隊列，這個隊列中有多個需要測試的電路板，測試設(shè)備可以依次對其隊列中的電路板進(jìn)行測試。具體地，在每個測試設(shè)備對一電路板進(jìn)行測試時，先由該測試設(shè)備的ICT進(jìn)行測試，之后由該測試設(shè)備的FCT進(jìn)行測試，其中，在該測試設(shè)備的ICT測試完成后，由該測試設(shè)備的切換開關(guān)板將該測試設(shè)備的ICT與上位機(jī)系統(tǒng)的連接關(guān)斷，并將該測試設(shè)備的FCT與上位機(jī)系統(tǒng)的連接導(dǎo)通，且在FCT測試完成后，該FCT的放電電路對該電路板進(jìn)行放電，通過在FCT測試完成后進(jìn)行放電，能夠保證電路板后續(xù)進(jìn)行其他測試或使用時的安全性，避免電路板被損壞。借助于上述處理，不僅能夠通過并行測試的方式來提高測試效率，還能夠?qū)⒉煌臏y試裝置集成，使得一臺測試設(shè)備具備多種測試功能，能夠進(jìn)行不同類型的測試，通過每個測試設(shè)備就能夠完成多種類型的測試，避免了測試過程在電路板在不同設(shè)備之間轉(zhuǎn)移，進(jìn)一步改善了測試效率，并且能夠使測試過程更加穩(wěn)定可控，便于管理。
根據(jù)本發(fā)明的實施例，提供了一種電路板測試系統(tǒng)。根據(jù)本發(fā)明實施例的電路板測試系統(tǒng)包括多個測試設(shè)備62-64，用于對電路板進(jìn)行測試；處理器61，用于創(chuàng)建線程，并通過運行所創(chuàng)建的線程控制多個測試設(shè)備對電路板進(jìn)行測試，其中，處理器控制多個測試設(shè)備以并行的方式進(jìn)行測試。 其中，圖6中僅示出了測試設(shè)備62-64，實際上，系統(tǒng)中可以包括更多的測試設(shè)備(例如，測試設(shè)備的數(shù)量可以是數(shù)十、數(shù)百或者更多)，圖6中所示的僅僅是具體的實例。其中，每個測試設(shè)備包括多個測試裝置，多個測試裝置用于對電路板進(jìn)行不同的測試，可選地，每個測試設(shè)備的測試裝置可以包括線測試儀和功能測試儀。圖7示出了一個測試設(shè)備的具體結(jié)構(gòu)實例，其中，在本實例中，一個測試設(shè)備包括ICT 71和FCT 72。所有單元電路都由上位機(jī)(PC機(jī))通過數(shù)字總線進(jìn)行控制。如圖7所示，一個測試設(shè)備的ICT 71可以包括多路電源(如圖7中所示的A源電路、B源電路、B源電路、D源電路以及4路DA電路)，用于對電路板的預(yù)定測試位置施加所要求的電平，其中，4路DA電路輸出的DA電壓值，輸出給A源及C源，用于控制A源電路的AC信號頻率值、DC信號電壓值以及C源電路的輸出電壓值；AD采集電路，用于采集電路板的被測元件輸出的電壓和/或電流；信號調(diào)理及放大電路，用于對來自AD采集電路的采集結(jié)果進(jìn)行信號格式調(diào)整，之后發(fā)送給與多個測試裝置連接的上位機(jī)系統(tǒng)。上位機(jī)可以根據(jù)待測元件的特性，經(jīng)ICT開關(guān)板輸出合適的直流信號或交流信號給待測元件，經(jīng)信號調(diào)理及放大電路對輸出的電壓電流進(jìn)行采集，最終計算出待測元件的參數(shù)，并判斷是否正確。繼續(xù)參照圖7，一個測試設(shè)備的每個FCT 72包括電源模塊，用于給待測電路板(板上的待測元件)提供工作電源；數(shù)字IO模塊，用于對電路板的被測元件提供信號輸入；信號源模塊，用于提供參考信號；信號采集模塊，用于將被測元件基于信號輸入而輸出的結(jié)果與來自信號源模塊的參考信號進(jìn)行對比，并將對比結(jié)果輸出給與多個測試裝置連接的上位機(jī)系統(tǒng)；放電模塊，用于在該FCT對一電路板測試完成后，對該電路板進(jìn)行放電操作；通訊模塊，用于實現(xiàn)該FCT與被測電路板之間的通信。具體地，數(shù)字IO模塊用于對待測電路的數(shù)字IO部分進(jìn)行測試，信號源模塊用于給待測電路的輸入端施加激勵信號，信號采集模塊用于給待測電路板的輸出端進(jìn)行信號采集，放電模塊給待測板測試結(jié)束后對電路板上的電容進(jìn)行放電；通訊模塊用于與待測板的通訊(比如RS232串行通訊等)。由于ICT測試時弱信號測試，而FCT測試需要加電，所以通常會有強(qiáng)電。如圖7所示，每個測試設(shè)備進(jìn)一步包括切換開關(guān)板(ICT與FCT切換開關(guān)板)，與FCT和ICT連接，并且連接至上位機(jī)系統(tǒng)，用于在每個測試設(shè)備對一電路板進(jìn)行測試時，控制先由該測試設(shè)備的ICT進(jìn)行測試，之后由該測試設(shè)備的FCT進(jìn)行測試，其中，在該測試設(shè)備的ICT進(jìn)行測試完成后，該測試設(shè)備的切換開關(guān)板將該測試設(shè)備的ICT與上位機(jī)系統(tǒng)的連接關(guān)斷，并將該測試設(shè)備的FCT與上位機(jī)系統(tǒng)的連接導(dǎo)通。其中，ICT與FCT切換開關(guān)板能夠保護(hù)ICT電路的安全，用于將待測板連接到ICT或FCT，保證FCT強(qiáng)電信號不會影響ICT硬件電路。通過上述方式將ICT與FCT相結(jié)合，得到的測試設(shè)備可以成為在線-功能測試儀(簡稱為IFT)。另外，圖7中僅僅示出了將ICT與FCT相結(jié)合的情況中的一個具體實例，在實際應(yīng)用中，可以將其他測試裝置集成在一起，并且借助類似的組件(例如，開關(guān)板等)實現(xiàn)不同裝置之間的切換，具體的情況本文不再一一列舉。根據(jù)本發(fā)明的測試設(shè)備集成了多種測試功能,能夠進(jìn)行不同類型的測試,本發(fā)明的測試系統(tǒng)也可以稱為多系統(tǒng)并行測試(MPT)，在實際應(yīng)用中，用戶在對多拼電路板進(jìn)行測試時所使用的界面可以與常規(guī)ICT相同或類似；在組塊設(shè)置界面，增加不同組歸屬于哪個IFT內(nèi)核的設(shè)定編輯框，也就是說，每個組(可以是一塊待測電路板，或者一塊待測電路板內(nèi)的一部分)，都可以任意指定由哪個測試內(nèi)核進(jìn)行測試，在軟件的測試界面，指定每個測試流程要測試的內(nèi)容、測試結(jié)果的顯示方式以及測試參數(shù)。測試界面還將顯示測試過程中 各個測試流程的測試進(jìn)度。軟件采用的關(guān)鍵技術(shù)在于，底層驅(qū)動部分采用了多線程技術(shù)，每個線程，負(fù)責(zé)驅(qū)動一個IFT硬件內(nèi)核，對相應(yīng)的電路板進(jìn)行測試；由于計算機(jī)的運行速度相對于IFT硬件的測試速度快很多，不同線程之間幾乎相互不影響。因此每個線程的測試速度，也就是每個IFT硬件內(nèi)核的測試速度，也不會受其他線程的影響。具體實現(xiàn)方法是在測試界面點擊測試后，將由測試服務(wù)器來執(zhí)行整個測試流程的測試；在測試服務(wù)器中，會根據(jù)系統(tǒng)中存在幾個系統(tǒng)內(nèi)核，來創(chuàng)建幾個線程，每個線程均執(zhí)行一遍整個測試流程。在測試流程中，會遍歷整個測試文件中的組，根據(jù)在編輯界面中指定的測試內(nèi)核，分別由指定的測試內(nèi)核來執(zhí)行相應(yīng)的測試，并把測試的進(jìn)度傳遞到測試軟件界面，同時測試界面同步顯示測試進(jìn)度。在所有內(nèi)核的測試流程均執(zhí)行完畢后，測試服務(wù)器還將把各個測試結(jié)果傳遞到測試界面，由測試界面顯示各個組的測試結(jié)果，同時把測試結(jié)果傳遞到統(tǒng)計軟件中。這樣整個測試流程執(zhí)行完畢。在一臺MPT內(nèi)集成多套IFT硬件內(nèi)核(可根據(jù)實際需要配置，常用配置的為2套(雙核)或4套(4核)IFT硬件內(nèi)核)，每套IFT硬件內(nèi)核，根據(jù)用戶需要選擇配置包括ICT部分的信號源板、開關(guān)板等，包括FCT部分的各硬件模塊，以及負(fù)責(zé)ICT與FCT切換的開關(guān)板等。然后根據(jù)實際待測板，制作專用IFT測試針床，組成完整的基于多線程、多系統(tǒng)并行測試的PCBA高速測試MPT系統(tǒng)。如圖8所示的功能結(jié)構(gòu)框圖，編輯界面負(fù)責(zé)創(chuàng)建被測板數(shù)據(jù)文件，同時調(diào)試被測板數(shù)據(jù)。創(chuàng)建的被測板數(shù)據(jù)會傳遞到測試界面，由測試界面進(jìn)行測試。編輯和測試均調(diào)用測試服務(wù)器(SERV)，在測試服務(wù)器中執(zhí)行和測試有關(guān)的操作，同時測試服務(wù)器還將調(diào)用調(diào)試與校準(zhǔn)程序校準(zhǔn)后的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。測試服務(wù)器調(diào)用底層動態(tài)鏈接庫來連接系統(tǒng)硬件，并驅(qū)動底層硬件工作。調(diào)試與校準(zhǔn)程序連接底層動態(tài)鏈接庫，完成校準(zhǔn)系統(tǒng)硬件、調(diào)試硬件的功能。開機(jī)自檢調(diào)用調(diào)試與校準(zhǔn)測試中生成的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，通過底層動態(tài)鏈接庫連接底層硬件，在開機(jī)時自檢系統(tǒng)中的硬件，查看系統(tǒng)中硬件的狀態(tài)。本發(fā)明提供的測試技術(shù)可以用于多種電路板的測試(例如，可以對PCBA進(jìn)行測試)，是基于多線程、多系統(tǒng)并行高速在線測試方案。在同一臺測試設(shè)備內(nèi)，集成多個IFT測試硬件系統(tǒng)；利用軟件多線程技術(shù)，采用不同的線程驅(qū)動不同的IFT測試硬件系統(tǒng)，對不同的待測電路板，同時進(jìn)行并行測試；這樣,一臺多系統(tǒng)并行測試MPT，可以達(dá)到多臺普通ICT和FCT同時測試的效果，極大地提高了測試速度，同時大大降低PCBA的生產(chǎn)測試的設(shè)備投入及測試人工成本。例如，一條傳統(tǒng)的空調(diào)板生產(chǎn)流水線，需要配置2臺ICT測試及6臺FCT測試，8個測試人員。如果采用雙系統(tǒng)的MPT設(shè)備，最多4臺MPT設(shè)備，4個測試人員，即可完成原來8個人所能完成的ICT及FCT的測試，節(jié)省了 4臺設(shè)備，4個測試人員。綜上所述，本發(fā)明能夠借助超線程(Hyper-Threading,簡稱HT)技術(shù),使得CPU可以同時執(zhí)行多重線程，讓CPU發(fā)揮更大效率，并且能夠讓單個處理器都能使用線程級并行計算，進(jìn)而兼容多線程操作系統(tǒng)和軟件，減少CPU的閑置時間，提高的CPU的運行效率，從而搭配多功能的測試設(shè)備，實現(xiàn)并行的測試，并且能夠通過單個測試設(shè)備完成不同類型的測試，提高了測試的效率，避免電路板在不同設(shè)備之間轉(zhuǎn)移，顯著降低了測試的時間成本和人力成本。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精 神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種電路板測試方法，其特征在于，包括 在系統(tǒng)對多個測試設(shè)備中的每個測試設(shè)備分配了線程的情況下，所述每個測試設(shè)備在各自所分配線程的控制下，對該測試設(shè)備對應(yīng)的電路板進(jìn)行測試，其中，所述多個測試設(shè)備以并行的方式進(jìn)行測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電路板測試方法，其特征在于，每個測試設(shè)備包括多個測試裝置，所述多個測試裝置用于對電路板進(jìn)行不同的測試。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路板測試方法，其特征在于，所述多個測試裝置包括在線測試儀ICT和功能測試儀FCT。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電路板測試方法，其特征在于，在每個測試設(shè)備對一電路板進(jìn)行測試時，先由該測試設(shè)備的ICT進(jìn)行測試，之后由該測試設(shè)備的FCT進(jìn)行測試，其中，在該測試設(shè)備的ICT測試完成后，由該測試設(shè)備的切換開關(guān)板將該測試設(shè)備的ICT與上位機(jī)系統(tǒng)的連接關(guān)斷，并將該測試設(shè)備的FCT與上位機(jī)系統(tǒng)的連接導(dǎo)通，且在FCT測試完成后，該FCT的放電電路對該電路板進(jìn)行放電。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電路板測試方法，其特征在于，在每個測試設(shè)備對一電路板進(jìn)行測試時，根據(jù)預(yù)定順序調(diào)用該測試設(shè)備的多個測試裝置對該電路板進(jìn)行測試。
6.—種電路板測試系統(tǒng),其特征在于,包括 多個測試設(shè)備，用于對電路板進(jìn)行測試； 處理器，用于創(chuàng)建線程，并通過運行所創(chuàng)建的線程控制所述多個測試設(shè)備對電路板進(jìn)行測試，其中，所述處理器控制所述多個測試設(shè)備以并行的方式進(jìn)行測試。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電路板測試系統(tǒng)，其特征在于，每個測試設(shè)備包括多個測試裝置，所述多個測試裝置用于對電路板進(jìn)行不同的測試，每個測試設(shè)備包括線測試儀ICT和功能測試儀FCT。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電路板測試系統(tǒng)，其特征在于，每個ICT包括 多路電源，用于對電路板的預(yù)定測試位置施加所要求的電平； AD采集電路，用于采集電路板的被測元件輸出的電壓和/或電流； 信號調(diào)理及放大電路，用于對來自所述AD采集電路的采集結(jié)果進(jìn)行信號格式調(diào)整，之后發(fā)送給與所述多個測試裝置連接的上位機(jī)系統(tǒng)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電路板測試系統(tǒng)，其特征在于，每個FCT包括 電源模塊，用于給電路板的被測元件提供工作電源； 數(shù)字IO模塊，用于對電路板的被測元件提供信號輸入； 信號源模塊，用于提供參考信號； 信號采集模塊，用于將所述被測元件基于所述信號輸入而輸出的結(jié)果與來自所述信號源模塊的參考信號進(jìn)行對比，并將對比結(jié)果輸出給與所述多個測試裝置連接的上位機(jī)系統(tǒng)； 放電模塊，用于在該FCT對一電路板測試完成后，對該電路板進(jìn)行放電操作； 通訊模塊，用于實現(xiàn)該FCT與被測電路板之間的通信。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電路板測試系統(tǒng)，其特征在于，每個測試設(shè)備進(jìn)一步包括 切換開關(guān)板，與所述FCT和ICT連接，并且連接至所述上位機(jī)系統(tǒng)，用于在每個測試設(shè)備對一電路板進(jìn)行測試時，控制先由該測試設(shè)備的ICT進(jìn)行測試，之后由該測試設(shè)備的FCT進(jìn)行測試，其中， 在該測試設(shè)備的ICT測試完成后，由該測試設(shè)備的切換開關(guān)板將該測試設(shè)備的ICT與上位機(jī)系統(tǒng)的連接關(guān)斷，并將該測試設(shè)備的FCT與上位機(jī)系統(tǒng)的連接導(dǎo)通。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電路板測試方法和系統(tǒng)，該方法包括在系統(tǒng)對多個測試設(shè)備中的每個測試設(shè)備分配了線程的情況下，所述每個測試設(shè)備在各自所分配線程的控制下，對該測試設(shè)備對應(yīng)的電路板進(jìn)行測試，其中，所述多個測試設(shè)備以并行的方式進(jìn)行測試。本發(fā)明通過建立多個線程，分別控制多個測試設(shè)備進(jìn)行并行測試，能夠更加有效地利用處理器的資源，有效減少測試所需的時間，提高測試速度，節(jié)省了人力和成本。
文檔編號G01R31/28GK102636741SQ20121012983
公開日2012年8月15日 申請日期2012年4月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月27日
發(fā)明者林杰清 申請人:北京星河康帝思科技開發(fā)有限公司