測(cè)試系統(tǒng)、測(cè)試方法以及使用該測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試設(shè)備的制作方法
【專(zhuān)利摘要】一種控制測(cè)試設(shè)備測(cè)試電路板的測(cè)試系統(tǒng)。該測(cè)試設(shè)備包括設(shè)置在電路板上方的至少一對(duì)探針及設(shè)有多個(gè)測(cè)試儀表的測(cè)試儀表組。該測(cè)試系統(tǒng)包括激發(fā)與測(cè)試對(duì)象及測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令的指令激發(fā)模塊、關(guān)聯(lián)匹配電路板的電路原理圖與電路布線圖以確定待測(cè)電路接點(diǎn)相對(duì)于探針的位置關(guān)系的電路關(guān)聯(lián)模塊、將與測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試儀表與探針連接的儀表選擇模塊、將探針的間距調(diào)節(jié)至與待測(cè)電路接點(diǎn)的間距一致的探針調(diào)節(jié)模塊、將待測(cè)電路接點(diǎn)與探針對(duì)準(zhǔn)的位置調(diào)節(jié)模塊及提供測(cè)試環(huán)境并控制探針與待測(cè)電路接點(diǎn)接觸進(jìn)行測(cè)試測(cè)試控制模塊。本發(fā)明還提供一種測(cè)試方法及使用該測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試設(shè)備。
【專(zhuān)利說(shuō)明】測(cè)試系統(tǒng)、測(cè)試方法以及使用該測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試設(shè)備
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測(cè)試系統(tǒng)、測(cè)試方法及使用該測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的電路板測(cè)試方法在對(duì)電路板的特定電學(xué)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試時(shí)通常需要測(cè)試者先根據(jù)電路原理圖在對(duì)應(yīng)的電路布線圖上找出該電學(xué)參數(shù)的測(cè)試點(diǎn)，再選擇合適的測(cè)量?jī)x表對(duì)該測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。然而，當(dāng)需要對(duì)布線復(fù)雜的電路板進(jìn)行測(cè)試時(shí)為了找到測(cè)試點(diǎn)往往需要在電路原理圖與電路布線圖上反復(fù)查找核對(duì)，從而會(huì)浪費(fèi)大量的時(shí)間和精力。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種可方便快捷地進(jìn)行電路測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)、測(cè)試方法及使用該測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試設(shè)備。
[0004]一種測(cè)試系統(tǒng)，應(yīng)用于測(cè)試設(shè)備中以控制測(cè)試設(shè)備對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)試。所述測(cè)試設(shè)備包括設(shè)置在電路板上方的至少一對(duì)探針及設(shè)有多個(gè)測(cè)試儀表的測(cè)試儀表組，該測(cè)試系統(tǒng)包括:
指令激發(fā)模塊，用于根據(jù)設(shè)定的測(cè)試對(duì)象及測(cè)試項(xiàng)目激發(fā)對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令；
電路關(guān)聯(lián)模塊，用于將電路板的電路原理圖與電路布線圖進(jìn)行關(guān)聯(lián)匹配，以根據(jù)測(cè)試對(duì)象對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令確定電路板上待測(cè)電路接點(diǎn)相對(duì)于探針的位置關(guān)系；
儀表選擇模塊，用于根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令將與測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試儀表與所述探針連接；
探針調(diào)節(jié)模塊，用于將探針的間距調(diào)節(jié)至與待測(cè)電路接點(diǎn)的間距一致；
位置調(diào)節(jié)模塊，用于根據(jù)待測(cè)電路接點(diǎn)相對(duì)于探針的位置關(guān)系來(lái)調(diào)節(jié)電路板位置以使得待測(cè)電路接點(diǎn)與探針對(duì)準(zhǔn)；及
測(cè)試控制模塊，用于根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令向電路板提供測(cè)試環(huán)境，并控制探針與待測(cè)電路接點(diǎn)接觸進(jìn)行測(cè)試。
[0005]一種測(cè)試方法，應(yīng)用于測(cè)試設(shè)備中以控制測(cè)試設(shè)備對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)試。所述測(cè)試設(shè)備包括設(shè)置在電路板上方的至少一對(duì)探針及設(shè)有多個(gè)測(cè)試儀表的測(cè)試儀表組，所述測(cè)試方法包括如下步驟:
根據(jù)設(shè)定的測(cè)試對(duì)象及測(cè)試項(xiàng)目激發(fā)對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令。
[0006]將電路板的電路原理圖與電路布線圖進(jìn)行關(guān)聯(lián)匹配，并根據(jù)與測(cè)試對(duì)象相關(guān)的測(cè)試指令確定電路板上待測(cè)電路接點(diǎn)相對(duì)于探針的位置關(guān)系。
[0007]根據(jù)與測(cè)試項(xiàng)目相關(guān)的測(cè)試指令將與測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試儀表與探針相連接。
[0008]將探針的間距調(diào)節(jié)至與待測(cè)電路接點(diǎn)的間距保持一致。
[0009]根據(jù)待測(cè)電路接點(diǎn)相對(duì)于探針的位置關(guān)系來(lái)調(diào)節(jié)所述電路板的位置，使得所述待測(cè)電路接點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的探針對(duì)準(zhǔn)。
[0010]根據(jù)與測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令向電路板提供測(cè)試環(huán)境，并控制探針與待測(cè)電路接點(diǎn)接觸進(jìn)行測(cè)試。
[0011]一種測(cè)試設(shè)備用于對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)試，其包括:
測(cè)試裝置，其包括至少一對(duì)間距可調(diào)節(jié)的探針及設(shè)有多個(gè)測(cè)試儀表的測(cè)試儀表組； 上載板，用于安裝所述測(cè)試裝置；
下載板，其設(shè)置在所述上載板的下方，用于承載所述電路板；
升降機(jī)構(gòu)，用于調(diào)節(jié)所述上載板與下載板之間的相對(duì)位置 存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)電路板的電路原理圖及電路布線圖；
處理器；及
測(cè)試系統(tǒng)，所述測(cè)試系統(tǒng)為固化在處理器上的韌體，所述測(cè)試系統(tǒng)包括:
指令激發(fā)模塊，用于根據(jù)設(shè)定的測(cè)試對(duì)象及測(cè)試項(xiàng)目激發(fā)對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令；
電路關(guān)聯(lián)模塊，用于將電路板的電路原理圖與電路布線圖進(jìn)行關(guān)聯(lián)匹配，以根據(jù)測(cè)試對(duì)象對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令確定電路板上待測(cè)電路接點(diǎn)相對(duì)于探針的位置關(guān)系；
儀表選擇模塊，用于根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令將與測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試儀表與所述探針連接；
探針調(diào)節(jié)模塊，用于將探針的間距調(diào)節(jié)至與待測(cè)電路接點(diǎn)的間距一致； 位置調(diào)節(jié)模塊，用于根據(jù)待測(cè)電路接點(diǎn)相對(duì)于探針的位置關(guān)系來(lái)調(diào)節(jié)電路板位置以使得待測(cè)電路接點(diǎn)與探針對(duì)準(zhǔn)；及
測(cè)試控制模塊，用于根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令向電路板提供測(cè)試環(huán)境，并控制探針與待測(cè)電路接點(diǎn)接觸進(jìn)行測(cè)試。
[0012]相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明提供的測(cè)試系統(tǒng)及方法利用計(jì)算機(jī)自動(dòng)匹配待測(cè)電路板的電路原理圖與電路布線圖以將電路板上的待測(cè)電路接點(diǎn)與測(cè)試探針對(duì)準(zhǔn)，并根據(jù)需要測(cè)量的電學(xué)量選擇對(duì)應(yīng)的測(cè)試儀表與測(cè)試探針連接，從而節(jié)省了人工反復(fù)查閱電路原理圖與電路布線圖來(lái)確認(rèn)待測(cè)電路接點(diǎn)所浪費(fèi)的時(shí)間，提高了電路板測(cè)試的效率。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0013]圖1是本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行環(huán)境的硬件架構(gòu)圖。
[0014]圖2是本發(fā)明測(cè)試方法較佳實(shí)施方式的流程圖。
[0015]主要元件符號(hào)說(shuō)明
【權(quán)利要求】
1.一種測(cè)試系統(tǒng)，應(yīng)用于測(cè)試設(shè)備中以控制測(cè)試設(shè)備對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)試，所述測(cè)試設(shè)備包括設(shè)置在電路板上方的至少一對(duì)探針及設(shè)有多個(gè)測(cè)試儀表的測(cè)試儀表組，該測(cè)試系統(tǒng)包括: 指令激發(fā)模塊，用于根據(jù)設(shè)定的測(cè)試對(duì)象及測(cè)試項(xiàng)目激發(fā)對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令； 電路關(guān)聯(lián)模塊，用于將電路板的電路原理圖與電路布線圖進(jìn)行關(guān)聯(lián)匹配，以根據(jù)測(cè)試對(duì)象對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令確定電路板上待測(cè)電路接點(diǎn)相對(duì)于探針的位置關(guān)系； 儀表選擇模塊，用于根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令將與測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試儀表與所述探針連接； 探針調(diào)節(jié)模塊，用于將探針的間距調(diào)節(jié)至與待測(cè)電路接點(diǎn)的間距一致； 位置調(diào)節(jié)模塊，用于根據(jù)待測(cè)電路接點(diǎn)相對(duì)于探針的位置關(guān)系來(lái)調(diào)節(jié)電路板位置以使得待測(cè)電路接點(diǎn)與探針對(duì)準(zhǔn)；及 測(cè)試控制模塊，用于根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令向電路板提供測(cè)試環(huán)境，并控制探針與待測(cè)電路接點(diǎn)接觸進(jìn)行測(cè)試。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述待測(cè)電路接點(diǎn)相對(duì)于探針的位置關(guān)系根據(jù)一參考坐標(biāo)系來(lái)確定，所述參考坐標(biāo)以其中一探針在電路板上的投影點(diǎn)為原點(diǎn)，以該探針的投影點(diǎn)指向另一探針在電路板上投影點(diǎn)的方向?yàn)樗秸较騺?lái)建立。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試環(huán)境包括進(jìn)行所述測(cè)試項(xiàng)目時(shí)電路板所需要的電壓及電流。
4.一種測(cè)試方法，應(yīng)用于測(cè)試設(shè)備中以控制測(cè)試設(shè)備對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)試，所述測(cè)試設(shè)備包括設(shè)置在電路板上方的至少一對(duì)探針及設(shè)有多個(gè)測(cè)試儀表的測(cè)試儀表組，所述測(cè)試方法包括如下步驟: 根據(jù)設(shè)定的測(cè)試對(duì)象及測(cè)試項(xiàng)目激發(fā)對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令； 將電路板的電路原理圖與電路布線圖進(jìn)行關(guān)聯(lián)匹配，并根據(jù)與測(cè)試對(duì)象相關(guān)的測(cè)試指令確定電路板上待測(cè)電路接點(diǎn)相對(duì)于探針的位置關(guān)系； 根據(jù)與測(cè)試項(xiàng)目相關(guān)的測(cè)試指令將與測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試儀表與探針相連接； 將探針的間距調(diào)節(jié)至與待測(cè)電路接點(diǎn)的間距保持一致； 根據(jù)待測(cè)電路接點(diǎn)相對(duì)于探針的位置關(guān)系來(lái)調(diào)節(jié)所述電路板的位置，使得所述待測(cè)電路接點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的探針對(duì)準(zhǔn)； 根據(jù)與測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令向電路板提供測(cè)試環(huán)境，并控制探針與待測(cè)電路接點(diǎn)接觸進(jìn)行測(cè)試。
5.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述待測(cè)電路接點(diǎn)相對(duì)于探針的位置關(guān)系根據(jù)一參考坐標(biāo)系來(lái)確定，所述參考坐標(biāo)以其中一探針在電路板上的投影點(diǎn)為原點(diǎn)，以該探針的投影點(diǎn)指向另一探針在電路板上投影點(diǎn)的方向?yàn)樗秸较騺?lái)建立。
6.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試環(huán)境包括進(jìn)行所述測(cè)試項(xiàng)目時(shí)電路板所需要的電壓及電流。
7.—種測(cè)試設(shè)備，用于對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)試，所述測(cè)試設(shè)備包括: 測(cè)試裝置，其包括至少一對(duì)間距可調(diào)節(jié)的探針及設(shè)有多個(gè)測(cè)試儀表的測(cè)試儀表組； 上載板，用于安裝所述測(cè)試裝置； 下載板，其設(shè)置在所述上載板的下方，用于承載所述電路板；升降機(jī)構(gòu)，用于調(diào)節(jié)所述上載板與下載板之間的相對(duì)位置 存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)電路板的電路原理圖及電路布線圖； 處理器；及 測(cè)試系統(tǒng)，所述測(cè)試系統(tǒng)為固化在處理器上的韌體，所述測(cè)試系統(tǒng)包括: 指令激發(fā)模塊，用于根據(jù)設(shè)定的測(cè)試對(duì)象及測(cè)試項(xiàng)目激發(fā)對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令； 電路關(guān)聯(lián)模塊，用于將電路板的電路原理圖與電路布線圖進(jìn)行關(guān)聯(lián)匹配，以根據(jù)測(cè)試對(duì)象對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令確定電路板上待測(cè)電路接點(diǎn)相對(duì)于探針的位置關(guān)系； 儀表選擇模塊，用于根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令將與測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試儀表與所述探針連接； 探針調(diào)節(jié)模塊，用于將探針的間距調(diào)節(jié)至與待測(cè)電路接點(diǎn)的間距一致； 位置調(diào)節(jié)模塊，用于根據(jù)待測(cè)電路接點(diǎn)相對(duì)于探針的位置關(guān)系來(lái)調(diào)節(jié)電路板位置以使得待測(cè)電路接點(diǎn)與探針對(duì)準(zhǔn)；及 測(cè)試控制模塊，用于根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令向電路板提供測(cè)試環(huán)境，并控制探針與待測(cè)電路接點(diǎn)接觸進(jìn)行測(cè)試。
8.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述測(cè)試設(shè)備還包括用于設(shè)定測(cè)試對(duì)象及測(cè)試項(xiàng)目的輸入裝置。
9.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述輸入裝置選自鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、麥克風(fēng)及觸控屏幕的組合。
10.如權(quán)利要求7所述 的測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述其中一個(gè)探針固定設(shè)置，另外至少一探針相對(duì)固定探針沿一上載板平面內(nèi)的水平方向活動(dòng)設(shè)置。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK103454571SQ201210172236
【公開(kāi)日】2013年12月18日 申請(qǐng)日期:2012年5月30日 優(yōu)先權(quán)日:2012年5月30日
【發(fā)明者】余啟隆 申請(qǐng)人:富泰華工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司