專利名稱：近地表表層模型構(gòu)建方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及地球物理勘探技術(shù)，更具體地講，涉及ー種近地表表層模型構(gòu)建方法。
背景技術(shù)：
目前，我國(guó)地震勘探的主戰(zhàn)場(chǎng)主要集中在山地、沙漠、黃土塬等復(fù)雜地表區(qū)，所面臨的地表?xiàng)l件異常復(fù)雜，不同區(qū)域有不同的表層特點(diǎn)，存在高速層頂界不平坦和表層速度橫向變化大的情況，因此表層問(wèn)題是地震勘探的首要問(wèn)題。另外，隨著各油田勘探程度的提高，勘探目標(biāo)向低幅度、小斷塊和巖性圈閉的勘探方向轉(zhuǎn)移，勘探難度不斷加大，精度要求不斷提高。為了準(zhǔn)確地分辨出地下復(fù)雜圈閉，靜校正的問(wèn)題目顯突出。然而，由靜校正引起的閉合問(wèn)題是復(fù)雜的，它是由基準(zhǔn)面、高速層頂界面、地面調(diào)查點(diǎn)、交點(diǎn)、表層模型、時(shí)深曲線、替換速度和計(jì)算方法等多種因素綜合形成的，在靜校正計(jì)算中，如果上述因素不可靠或使用不當(dāng)，就會(huì)造成剖面閉合問(wèn)題或構(gòu)造形態(tài)失·真問(wèn)題。這是勘探中長(zhǎng)期存在的問(wèn)題，特別是對(duì)低幅度構(gòu)造的勘探尤為突出。要解決上述問(wèn)題，如何建立準(zhǔn)確的表層模型是關(guān)鍵所在。利用建立近地表表層模型來(lái)計(jì)算靜校正量的方法，從原理上來(lái)講是非?？煽亢驼鎸?shí)的，能夠反映近地表地質(zhì)層的變化規(guī)律。只是如何求取到符合表層地質(zhì)規(guī)律的模型是非常困難的工作，調(diào)查點(diǎn)數(shù)量的多少、對(duì)該地區(qū)沉積規(guī)律的了解，均影響表層點(diǎn)(例如，地面表層上的炮點(diǎn)和檢波點(diǎn))的解釋成果。另外表層點(diǎn)處的模型即便可以真實(shí)的確定，但表層點(diǎn)間低降速界面形態(tài)，往往得不到準(zhǔn)確的確認(rèn)，這樣就會(huì)使模型造成偏差，進(jìn)而影響校正量精度和處理精度。現(xiàn)有的針對(duì)各個(gè)炮點(diǎn)和檢波點(diǎn)構(gòu)建近地表表層模型的方法多采用厚度線性內(nèi)插法，然后逐段進(jìn)行調(diào)整厚度。這種工作不但繁瑣，效率低，而且受人為因素影響，所解釋的結(jié)果帶有不確定性。由于地震采集與處理技術(shù)的迅速發(fā)展，人們對(duì)如何準(zhǔn)確求取表層模型的重視程度越來(lái)越高，需要一種能夠更精確地求取表層點(diǎn)的近地表表層模型的方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供ー種近地表模型構(gòu)建方法，所述方法包括(a)在地面表層上采集多個(gè)待求點(diǎn)的地表高程和坐標(biāo)數(shù)據(jù)；(b)在所述待求點(diǎn)所在的區(qū)域內(nèi)確定預(yù)定數(shù)量的表層調(diào)查點(diǎn)，并獲取每個(gè)表層調(diào)查點(diǎn)處的參考層界面的高程和目標(biāo)層界面的高程；(C)基于每個(gè)表層調(diào)查點(diǎn)處的參考層界面的高程和目標(biāo)層界面的高程，計(jì)算與每個(gè)表層調(diào)查點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考層界面與目標(biāo)層界面之間的層間相關(guān)系數(shù)；(d)基于計(jì)算的與每個(gè)表層調(diào)查點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考層界面與目標(biāo)層界面之間的層間相關(guān)系數(shù)，計(jì)算與每個(gè)待求點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考層界面與目標(biāo)層界面之間的層間相關(guān)系數(shù)；(e)基于計(jì)算的與每個(gè)待求點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考層界面與目標(biāo)層界面之間的層間相關(guān)系數(shù)以及每個(gè)待求點(diǎn)處的參考層界面的高程，計(jì)算每個(gè)待求點(diǎn)處的目標(biāo)層界面的高程，從而構(gòu)建待求點(diǎn)的近地表表層模型。所述待求點(diǎn)可以是炮點(diǎn)或檢波點(diǎn)。
所述表層調(diào)查點(diǎn)可以是炮點(diǎn)或檢波點(diǎn)。所述參考層可以是地面表層，并且待求點(diǎn)處的參考層界面的高程是所述待求點(diǎn)的地表高程。所述參考層可以是地面表層以下的地質(zhì)層，當(dāng)所述參考層先前作為目標(biāo)層進(jìn)行步驟(a)至(e)的計(jì)算時(shí)，可獲得在每個(gè)待求點(diǎn)處所述參考層界面的高程。在步驟(C)中，可根據(jù)以下等式(I)計(jì)算與表層調(diào)查點(diǎn)X對(duì)應(yīng)的參考層界面i與目標(biāo)層界面j之間的層間相關(guān)系數(shù)Ku (X)
權(quán)利要求
1.一種近地表表層模型構(gòu)建方法，所述方法包括 (a)在地面表層上采集多個(gè)待求點(diǎn)的地表高程和坐標(biāo)數(shù)據(jù)； (b)在所述待求點(diǎn)所在的區(qū)域內(nèi)確定預(yù)定數(shù)量的表層調(diào)查點(diǎn)，并獲取每個(gè)表層調(diào)查點(diǎn)處的參考層界面的高程和目標(biāo)層界面的高程； (C)基于每個(gè)表層調(diào)查點(diǎn)處的參考層界面的高程和目標(biāo)層界面的高程，計(jì)算與每個(gè)表層調(diào)查點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考層界面與目標(biāo)層界面之間的層間相關(guān)系數(shù)； (d)基于計(jì)算的與每個(gè)表層調(diào)查點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考層界面與目標(biāo)層界面之間的層間相關(guān)系數(shù)，計(jì)算與每個(gè)待求點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考層界面與目標(biāo)層界面之間的層間相關(guān)系數(shù)； (e)基于計(jì)算的與每個(gè)待求點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考層界面與目標(biāo)層界面之間的層間相關(guān)系數(shù)以及每個(gè)待求點(diǎn)處的參考層界面的高程，計(jì)算每個(gè)待求點(diǎn)處的目標(biāo)層界面的高程，從而構(gòu)建待求點(diǎn)的近地表表層模型。
2.如權(quán)利要求I所述的方法，其中，所述待求點(diǎn)是炮點(diǎn)或檢波點(diǎn)。
3.如權(quán)利要求I或2所述的方法,其中,所述表層調(diào)查點(diǎn)是炮點(diǎn)或檢波點(diǎn)。
4.如權(quán)利要求I所述的方法，其中，所述參考層是地面表層，并且待求點(diǎn)處的參考層界面的高程是所述待求點(diǎn)的地表高程。
5.如權(quán)利要求I所述的方法，其中，所述參考層是地面表層以下的地質(zhì)層，當(dāng)所述參考層先前作為目標(biāo)層進(jìn)行步驟(a)至(e)的計(jì)算時(shí)，獲得在每個(gè)待求點(diǎn)處所述參考層界面的高程。
6.如權(quán)利要求I中的所述的方法，其中，在步驟(c)中，根據(jù)以下等式(I)計(jì)算與表層調(diào)查點(diǎn)X對(duì)應(yīng)的參考層界面i與目標(biāo)層界面j之間的層間相關(guān)系數(shù)Ku(X)
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其中，在步驟(d)中，通過(guò)以下等式(2)來(lái)計(jì)算與待求點(diǎn)y對(duì)應(yīng)的參考層界面i與目標(biāo)層界面j之間的層間相關(guān)系數(shù)Ku(y)
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其中，在步驟(e)中，通過(guò)以下等式(3)來(lái)計(jì)算待求點(diǎn)y處的目標(biāo)層界面j的高程h(yj)
全文摘要
提供了一種近地表模型構(gòu)建方法，所述方法包括(a)在地面表層上采集多個(gè)待求點(diǎn)的地表高程和坐標(biāo)數(shù)據(jù)；(b)在所述待求點(diǎn)所在的區(qū)域內(nèi)確定預(yù)定數(shù)量的表層調(diào)查點(diǎn)，并獲取每個(gè)表層調(diào)查點(diǎn)處的參考層界面的高程和目標(biāo)層界面的高程；(c)計(jì)算與每個(gè)表層調(diào)查點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考層界面與目標(biāo)層界面之間的層間相關(guān)系數(shù)；(d)計(jì)算與每個(gè)待求點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考層界面與目標(biāo)層界面之間的層間相關(guān)系數(shù)；(e)基于計(jì)算的與每個(gè)待求點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考層界面與目標(biāo)層界面之間的層間相關(guān)系數(shù)以及每個(gè)待求點(diǎn)處的參考層界面的高程，計(jì)算每個(gè)待求點(diǎn)處的目標(biāo)層界面的高程，從而構(gòu)建待求點(diǎn)的近地表表層模型。
文檔編號(hào)G01V1/28GK102736104SQ201210175338
公開日2012年10月17日 申請(qǐng)日期2012年5月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月31日
發(fā)明者敬龍江, 曹明, 耿春, 胡善政, 蔡力, 黎書琴, 龍資強(qiáng) 申請(qǐng)人:中國(guó)石油集團(tuán)川慶鉆探工程有限公司地球物理勘探公司