專利名稱：一種用于測量晶振準確性的方法和系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明涉及晶振測量技術(shù)領域，特別涉及一種用于測量晶振準確性的方法和系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
目前手機中必然會使用外部晶振，一般至少有兩顆晶振，一顆為高精度高頻率的晶振A，用于提供CPU運行所需的時鐘頻率；另一顆為普通的晶振B，主要用于提供給系統(tǒng)實時時鐘、藍牙等低速設備使用。通常生產(chǎn)線上容易出現(xiàn)供貨質(zhì)量問題的晶振為普通的晶振B0而生產(chǎn)線生產(chǎn)手機時，一旦發(fā)現(xiàn)某批次晶振的質(zhì)量存在瑕疵，就需要將所有生產(chǎn)完的手機全部拆機，再用儀器測量逐個排查出問題晶振的手機，然后再將晶振沒有問題的 手機重新裝機。然而，在拆機和重新裝機的過程都需要人工操作，工作效率非常低，操作不方便，特別是由于手機的大部分晶振都在屏蔽蓋里，使得拆機測量耗時耗力。另外，對于那些原本正常的手機，經(jīng)過這一返工工序，也可能會引入新的問題。因此，提供一種無需拆機且能快速判斷出晶振準確性的方法，尤為重要。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的不足之處，本發(fā)明的目的在于提供一種用于測量晶振準確性的方法和系統(tǒng)，以解決現(xiàn)有技術(shù)需要拆機排查問題晶振，工作效率低，操作不方便的問題。為了達到上述目的，本發(fā)明采取了以下技術(shù)方案一種用于測量晶振準確性的方法，其包括使能第一定時器和第二定時器，分別開始給第一晶振和第二晶振的時鐘頻率計數(shù)；循環(huán)讀取第二定時器的計數(shù)值，直到第二定時器的計數(shù)值等于第二晶振的時鐘頻率；讀取第一定時器的計數(shù)值，并根據(jù)第一定時器的計數(shù)值，獲取第二晶振的實際時鐘頻率，來判斷第二晶振的準確度。所述的用于測量晶振準確性的方法中，在所述使能第一定時器和第二定時器，分別給第一晶振和第二晶振的時鐘頻率開始計數(shù)的步驟之前，所述的方法還包括將第一定時器和第二定時器的計數(shù)值清零。所述的用于測量晶振準確性的方法中，根據(jù)第二晶振的準確度，控制顯示裝置進行相應顯示。所述的用于測量晶振準確性的方法中，所述第一晶振為標準時鐘頻率晶振，第二晶振為待查晶振。所述的用于測量晶振準確性的方法中，所述第二晶振的實際時鐘頻率為第二晶振的標準時鐘頻率與第二晶振的頻率偏差值之差。
所述的用于測量晶振準確性的方法中，所述第二晶振的頻率偏差值通過以下公式計算AHZ= (CountA-ClockA-A clock) X ClockB/(CountA-A clock)其中，ClockA為第一晶振的時鐘頻率，CountA為第一定時器的計數(shù)值，ClockB為第二晶振的時鐘頻率，Aclock為第一定時器比第二定時器多運行的時間。所述的用于測量晶振準確性的方法中，A clock通過以下方式獲得提供標準時鐘頻率的第一晶振和第三晶振；其中，第一晶振和第三晶振均為標準時鐘頻率的晶振，第二晶振和第_■晶振為同一型號的時鐘頻率晶振；使能第一定時器和第二定時器，分別給第一晶振和第三晶振的時鐘頻率開始計數(shù)；循環(huán)讀取第二定時器的計數(shù)值，直到第二定時器的計數(shù)值等于第三晶振的時鐘頻率；讀取第一定時器的計數(shù)值；將第一定時器的計數(shù)值減去第一晶振的頻率，得到A clock。所述的用于測量晶振準確性的方法中，所述第一晶振的時鐘頻率為19. 2MHz，第三晶振的時鐘頻率為32. 768KHz。一種用于測量晶振準確性的系統(tǒng)，其包括第一定時器，用于對第一晶振的時鐘頻率進行計數(shù)；第二定時器，用于對第二晶振的時鐘頻率進行計數(shù)；處理器，用于循環(huán)讀取第二定時器計數(shù)值，在第二定時器的計數(shù)值等于第二晶振的時鐘頻率時，讀取第一定時器的計數(shù)值，并根據(jù)第一定時器的計數(shù)值，獲取第二晶振的實際時鐘頻率，來判斷第二晶振的準確度；所述第一定時器和第二定時器與處理器連接。所述的用于測量晶振準確性的系統(tǒng)，還包括與處理器連接的顯示裝置，用于根據(jù)第二晶振的準確度，顯示相應的信息。相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明提供的用于測量晶振準確性的方法和系統(tǒng)，采用兩個定時器分給兩個晶振的時鐘頻率計數(shù)，通過循環(huán)讀取第二定時器的計數(shù)值，直到第二定時器的計數(shù)值等于第二晶振的時鐘頻率時，讀取第一定時器的計數(shù)值，并根據(jù)第一定時器的計數(shù)值，獲取第二晶振的實際時鐘頻率，來判斷第二晶振的準確度，從而排查出問題晶振。在排查問題晶振過程中，無需使用儀器測量，也無需拆機，只需通過軟件測量篩選出問題晶振的手機，大大提高了工作效率，而且大大節(jié)省了排查時間和人力成本。


圖I為本發(fā)明用于測量晶振準確性的方法流程圖。 圖2為本發(fā)明用于測量晶振準確性的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖。
具體實施例方式本發(fā)明提供一種用于測量晶振準確性的方法和系統(tǒng)，通過使用一顆正常的晶振和兩個定時器來測量待查晶振是否正常，采用軟件測量的方法來分別獲取兩顆晶振的時鐘頻率，通過兩者的對比來判斷出待查晶振的準確性，不僅大大提高了排查效率，也節(jié)省了巨大的人工成本。為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及效果更加清楚、明確，以下參照附圖并舉實施例對本發(fā)明進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。請參閱圖1，本發(fā)明提供的用于測量晶振準確性的方法包括S101、使能第一定時器和第二定時器，分別開始給第一晶振和第二晶振的時鐘頻率計數(shù)。在本實施方式中，使用第一定時器給第一晶振的時鐘頻率進行計時，使用第二定 時器給第二晶振的時鐘頻率進行計時，使第一晶振和第二晶振的時鐘頻率反映到各自計數(shù)的定時器中。在具體實施時，在步驟SlOl之前，所述的方法還包括S100、將第一定時器和第二定時器的計數(shù)值清零。如果沒有將兩定時器的計數(shù)值清零，在測量時，只需將定時器最后的計數(shù)值減去其初始計數(shù)值即可。S102、循環(huán)讀取第二定時器的計數(shù)值，直到第二定時器的計數(shù)值等于第二晶振的時鐘頻率。S103、讀取第一定時器的計數(shù)值，并根據(jù)第一定時器的計數(shù)值，獲取第二晶振的實際時鐘頻率，來判斷第二晶振的準確度。其中，在步驟S103之后，本發(fā)明提供的用于測量晶振準確性的方法還包括S104、根據(jù)第二晶振的準確度，控制顯示裝置進行相應顯示。如果當?shù)诙д竦臏蚀_度在標準范圍內(nèi)時，顯示裝置顯示“正常”，當?shù)诙д竦臏蚀_度不在標準范圍內(nèi)時，顯示裝置則顯示“不正常”。在具體實施時，在測試時，所述第一晶振為標準時鐘頻率晶振，第二晶振為待查晶振，通過兩個定時器運行時間相等，并且在第一晶振時鐘頻率正常的情況下，來判斷第二晶振的準確度，通過顯示裝置直觀的顯示測量結(jié)果，降低了操作人員的勞動強度，大大節(jié)省了勞動人成本。本實施例中，所述第二晶振的實際時鐘頻率為第二晶振的標準時鐘頻率與第二晶振的頻率偏差值之差。其中，第二晶振的頻率偏差值通過以下公式計算AHZ= (CountA-ClockA-A clock) X ClockB/(CountA-A clock)其中，ClockA為第一晶振的時鐘頻率，CountA為第一定時器的計數(shù)值，ClockB為第二晶振的時鐘頻率，A clock為第一定時器比第二定時器多運行的時間。在AHZ為正值時，表示第二晶振的時鐘頻率偏慢，在AHZ為負值時，表示第二晶振的時鐘頻率偏快。A clock的產(chǎn)生是因為在第二定時器的計數(shù)值等于第二晶振的時鐘頻率時，軟件會先讀取第二定時器的計數(shù)值，再讀取第一定時器的計數(shù)值，在這個過程中，第一定時器會比第二定時器多運行一段時間。A clock是一個統(tǒng)計值，因此A clock需要在排查之前進行測試，以下以測量第一晶振和第三晶振為應用實施例，來對Aclock測試方法進行詳細說明。其中，第一晶振和第三晶振均為標準時鐘頻率的晶振。第一晶振可采用高精度高頻率的晶振，其時鐘頻率為19. 2MHz,第二晶振和第二晶振米用普通晶振,第二晶振的時鐘頻率為32. 768KHZ，其與第二晶振為同一型號的晶振，其時鐘頻率可通過儀器測試確定，第二晶振的時鐘頻率需要通過本發(fā)明的方法進行測試。A clock值具體通過以下方式獲得第一步、提供標準時鐘頻率的第一晶振和第三晶振；第二步、使能第一定時器和第二定時器，分別給第一晶振和第三晶振的時鐘頻率開始計數(shù)；第三步、循環(huán)讀取第二定時器的計數(shù)值，直到第二定時器的計數(shù)值等于第三晶振的時鐘頻率；第四步、讀取第一定時器的計數(shù)值；第五步、將第一定時器的計數(shù)值減去第一晶振的頻率，得到Aclock。并且，在第二步之前，也可以先將第一定時器和第二定時器的計數(shù)值清零。
以下對AHZ值確定方式進行詳細說明第一定時器運行的時間為(CountA-A clock) X (1/ClockA),第二定時器運行的時間為CountBX [I/(ClockB-AHZ)] (CountB為第二定時器的計數(shù)值，并且CountB =ClockB),根據(jù)第一定時器和第二定時器運行時間相等的原則，即CountB/(ClockB-AHZ)=(CountA- A clock)/ClockA,可得出AHZ = (CountA-ClockA-Aclock) XClockB/(CountA-A clock)。并且，在A HZ < =-I時，表示第二晶振偏快I AHZ|，即、第二晶振的實際時鐘頻率為=ClockB+1 A HZ |，顯示裝置顯示第二晶振不正常，在-I < AHZ < I時，表示第二晶振正常無偏差，即、第二晶振的時鐘頻率為ClockB，顯示裝置顯示第二晶振正常；在AHZ> = I時，第二晶振偏慢，即、第二晶振的實際時鐘頻率為=ClockB-A HZ，此時顯示裝置顯示第二晶振不正常。如果想要測試出比較準確的A clock, 一般采用10臺沒有偏差的手機做樣本，每臺做5次得到5個△ clock,最后算50個△ clock結(jié)果的平均值。如果測試樣本越多,越準確。本發(fā)明還相應提供一種用于測量晶振準確性的系統(tǒng)，其包括第一定時器110、第二定時器120和處理器130，所述第一定時器110和第二定時器120與處理器130連接。其中，第一定時器110用于對第一晶振的時鐘頻率進行計數(shù)；第二定時器120用于對第二晶振的時鐘頻率進行計數(shù)；處理器130用于循環(huán)讀取第二定時器120計數(shù)值，在第二定時器120的計數(shù)值等于第二晶振的時鐘頻率時，讀取第一定時器110的計數(shù)值，并根據(jù)第一定時器110的計數(shù)值，獲取第二晶振的實際時鐘頻率，來判斷第二晶振的準確度。本發(fā)明實施例中，所述的用于測量晶振準確性的系統(tǒng)還包括顯示裝置140，其與處理器130連接，用于根據(jù)第二晶振的準確度，顯示相應的信息。該顯示裝置140為LED顯示屏，根據(jù)第二晶振的準確度，直觀顯示第二晶振的時鐘頻率是“正?！边€是“不正?！?。綜上所述，本發(fā)明在排查問題晶振過程中，無需使用儀器測量，也無需拆機，只需通過軟件測量篩選出問題晶振的手機，大大提高了工作效率，而且大大節(jié)省了排查時間和人力成本，適合在大批量生產(chǎn)時使用?？梢岳斫獾氖?，對本領域普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案及其發(fā)明構(gòu)思加以等同替換或改變，而所有這些改變或替換都應屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護范圍。
權(quán)利要求
1.一種用于測量晶振準確性的方法，其特征在于，包括 使能第一定時器和第二定時器，分別開始給第一晶振和第二晶振的時鐘頻率計數(shù)； 循環(huán)讀取第二定時器的計數(shù)值，直到第二定時器的計數(shù)值等于第二晶振的時鐘頻率；讀取第一定時器的計數(shù)值，并根據(jù)第一定時器的計數(shù)值，獲取第二晶振的實際時鐘頻率，來判斷第二晶振的準確度。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于測量晶振準確性的方法，其特征在于，在所述使能第一定時器和第二定時器，分別給第一晶振和第二晶振的時鐘頻率開始計數(shù)的步驟之前，所述的方法還包括將第一定時器和第二定時器的計數(shù)值清零。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于測量晶振準確性的方法，其特征在于，根據(jù)第二晶振的準確度，控制顯示裝置進行相應顯示。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于測量晶振準確性的方法，其特征在于，所述第一晶振為標準時鐘頻率晶振，第二晶振為待查晶振。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于測量晶振準確性的方法，其特征在于，所述第二晶振的實際時鐘頻率為第二晶振的標準時鐘頻率與第二晶振的頻率偏差值之差。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于測量晶振準確性的方法，其特征在于，所述第二晶振的頻率偏差值通過以下公式計算AHZ = (CountA-ClockA- A clock) X ClockB/ (CountA- A clock) 其中，ClockA為第一晶振的時鐘頻率，CountA為第一定時器的計數(shù)值，ClockB為第二晶振的時鐘頻率，A clock為第一定時器比第二定時器多運行的時間。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于測量晶振準確性的方法，其特征在于，Aclock通過以下方式獲得 提供標準時鐘頻率的第一晶振和第三晶振；其中，第一晶振和第三晶振均為標準時鐘頻率的晶振，第二晶振和第_■晶振為同一型號的時鐘頻率晶振； 使能第一定時器和第二定時器，分別給第一晶振和第三晶振的時鐘頻率開始計數(shù)； 循環(huán)讀取第二定時器的計數(shù)值，直到第二定時器的計數(shù)值等于第三晶振的時鐘頻率； 讀取第一定時器的計數(shù)值； 將第一定時器的計數(shù)值減去第一晶振的頻率，得到A clock。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的用于測量晶振準確性的方法，其特征在于，所述第一晶振的時鐘頻率為19. 2MHz，第三晶振的時鐘頻率為32. 768KHz。
9.一種用于測量晶振準確性的系統(tǒng)，其特征在于，包括 第一定時器，用于對第一晶振的時鐘頻率進行計數(shù)； 第二定時器，用于對第二晶振的時鐘頻率進行計數(shù)； 處理器，用于循環(huán)讀取第二定時器計數(shù)值，在第二定時器的計數(shù)值等于第二晶振的時鐘頻率時，讀取第一定時器的計數(shù)值，并根據(jù)第一定時器的計數(shù)值，獲取第二晶振的實際時鐘頻率，來判斷第二晶振的準確度； 所述第一定時器和第二定時器與處理器連接。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的用于測量晶振準確性的系統(tǒng)，其特征在于，還包括與處理器連接的顯示裝置，用于根據(jù)第二晶振的準確度，顯示相應的信息。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于測量晶振準確性的方法和系統(tǒng)，其方法包括先使能第一定時器和第二定時器，分別開始給第一晶振和第二晶振的時鐘頻率計數(shù)；之后循環(huán)讀取第二定時器的計數(shù)值，直到第二定時器的計數(shù)值等于第二晶振的時鐘頻率；再讀取第一定時器的計數(shù)值，并根據(jù)第一定時器的計數(shù)值，獲取第二晶振的實際時鐘頻率，來判斷第二晶振的準確度。本發(fā)明在排查問題晶振過程中，無需使用儀器測量，也無需拆機，只需通過軟件測量篩選出問題晶振的手機，大大提高了工作效率，而且大大節(jié)省了排查時間和人力成本，適合在大批量生產(chǎn)時使用。
文檔編號G01R23/02GK102721865SQ20121019315
公開日2012年10月10日 申請日期2012年6月4日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月4日
發(fā)明者李煒鋒, 楊岳, 王鵬蕾 申請人:惠州Tcl移動通信有限公司