專利名稱：一種otp型的mcu測試裝置及其測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于集成電路測試領(lǐng)域，尤其涉及一種OTP型MCU測試裝置及其測試方法。
背景技術(shù)：
在OTP (One Time Programable)型MCU的測試中(特別是對于封裝片的測試)，由于OTP只能燒錄一次，經(jīng)常采用的一種方法就是增加額外的測試電路和測試管腳(如圖I所示)，在測試時通過測試管腳進入測試模式，而這將增加芯片的面積和成本，此外測試電路本身可能存在問題，導(dǎo)致芯片的測試失效也是一個問題，第三點就是芯片的測試電路一旦制造以后就被固定，不能修改，如果在芯片量產(chǎn)過程中發(fā)現(xiàn)有功能沒有被測試電路覆蓋，就只能通過重新設(shè)計芯片才能解決，這樣會嚴重影響芯片的品質(zhì)和芯片的上市時間。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種OTP型MCU測試裝置，旨在解決現(xiàn)在的測試裝置需要增加額外的測試電路和測試管腳導(dǎo)致成本高、不靈活的問題。 本發(fā)明是這樣實現(xiàn)的，一種OTP型的MCU測試裝置，包括用于儲存用戶程序的第一模塊，用于儲存測試程序的第二模塊，以及分別與所述第一模塊和第二模塊連接的MCU控制模塊；所述第一模塊和第二模塊是一次燒錄成型；所述MCU控制模塊控制所述第二模塊執(zhí)行測試程序。更進一步地，所述第二模塊的儲存容量根據(jù)所述測試程序的大小來調(diào)整。本發(fā)明還提供了一種采用上述的測試裝置的測試方法，包括下述步驟在所述第二模塊中寫入測試程序，所述第一模塊中不寫入數(shù)據(jù)；當OTP的地址總線跳到已經(jīng)寫入測試程序的第二模塊時，執(zhí)行所述測試程序并測試相關(guān)功能模塊；當測試完成后將所述第二模塊中的測試程序全部清除。更進一步地，在步驟SI中根據(jù)所述測試程序的大小調(diào)整所述第二模塊的儲存容量。在本發(fā)明中，OTP型MCU的測試裝置不需要使用額外的測試電路和測試管腳，降低了芯片的整體成本，而且測試方案可以靈活多變。


圖I是現(xiàn)有技術(shù)提供的OTP型MCU測試裝置的模塊結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本發(fā)明實施例提供的OTP型MCU測試裝置的模塊結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本發(fā)明實施例提供的測試方法的實現(xiàn)流程圖。
具體實施方式
為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應(yīng)當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。圖2示出了本發(fā)明實施例提供的OTP型MCU測試裝置的模塊結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實施例相關(guān)的部分，詳述如下OTP型的MCU測試裝置包括用于儲存用戶程序的第一模塊，用于儲存測試程序的第二模塊，以及分別與第一模塊和第二模塊連接的MCU控制模塊；第一模塊和第二模塊是一次燒錄成型；MCU控制模塊控制第二模塊執(zhí)行測試程序。在本發(fā)明實施例中，將OTP的區(qū)域分為用戶程序區(qū)和測試程序區(qū)兩個部分；在測試時，在測試程序區(qū)內(nèi)寫入測試程序，用戶程序區(qū)保持不變，因為用戶程序區(qū)沒有寫入數(shù)據(jù)(OTP CELL的默認值為I)，PC值會不斷增加，當PC指針跳到測試程序區(qū)后，開始執(zhí)行測試程序，此時可以測試相關(guān)模塊。當測試完成以后，將測試程序區(qū)全部清除(OTP CELL寫入O)。當用戶使用時在用戶程序區(qū)寫入用戶程序即可執(zhí)行，不會影響用戶正常使用。其中，用于存儲測試程序的第二模塊的儲存容量可以根據(jù)測試程序的大小來調(diào)整。 在本發(fā)明實施例中，只需要將OTP容量稍稍增大，不用增加額外的測試電路和測試管腳，特別在一些場合中不能增加額外的測試管腳。其次測試主要靠MCU執(zhí)行測試程序區(qū)代碼來實現(xiàn)，因此不會存在測試電路失效的問題，如果測試代碼執(zhí)行錯誤，則說明芯片相關(guān)模塊存在問題，直接可以區(qū)分出來。第三由于測試程序可以修改，因此測試方案可以靈活的改動，特別是對剛剛上市的芯片，可能存在測試方案的不確定性，這樣的方式可以更好的增加測試的覆蓋率。如圖3所示，采用本發(fā)明實施例提供的OTP型MCU測試裝置的測試方法包括下述步驟SI :在第二模塊中寫入測試程序，第一模塊中不寫入數(shù)據(jù)；可以根據(jù)測試程序的大小調(diào)整第二模塊的儲存容量；S2 :當OTP的地址總線跳到已經(jīng)寫入測試程序的第二模塊時，執(zhí)行所述測試程序并測試相關(guān)功能模塊；0TP的地址總線PC (Program Counter,即程序計數(shù)器)指針是由MCU控制的；S3 :當測試完成后將所述第二模塊中的測試程序全部清除。為了更進一步的說明本發(fā)明實施例，現(xiàn)以8051為內(nèi)核的芯片來具體說明如下假如OTP空間為8KB，劃分前面7KB為用戶程序區(qū)，后面的IKB為測試程序區(qū)；在測試時，將測試程序?qū)懭霚y試程序區(qū)，用戶程序區(qū)保持為空(OTP CELL單元為I);當上電后，MCU開始執(zhí)行用戶程序區(qū)內(nèi)的程序，因為用戶程序區(qū)為空，所以在用戶程序區(qū)全部執(zhí)行的指令都是OxFF (其對應(yīng)的指令為MOV R7 A);執(zhí)行的結(jié)果是將寄存器A的值賦給寄存器R7,然后PC指針加1，當PC值加到測試程序區(qū)時，開始執(zhí)行測試代碼，進行芯片測試。當測試結(jié)束后，將芯片的測試代碼區(qū)全部清零。此時0X00對應(yīng)的指令為NOP指令，不會對用戶使用產(chǎn)生任何影響；在實際的實現(xiàn)中對于測試區(qū)域的選擇可以根據(jù)實際的測試程序大小進行一定的調(diào)整。本發(fā)明提供的OTP型MCU的測試裝置不需要使用額外的測試電路和測試管腳，降低了芯片的整體成本，而且測試方案可以靈活多變；另外測試方法主要是將OTP劃分為用戶區(qū)和測試區(qū)兩個部分來實現(xiàn)，在測試時，MCU控制模塊在測試程序區(qū)中執(zhí)行程序，可以通過寫入不同的程序調(diào)整測試方案，而在用戶使用時，MCU執(zhí)行用戶程序區(qū)中的程序。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種OTP型的MCU測試裝置，其特征在于，包括 用于儲存用戶程序的第一模塊，用于儲存測試程序的第二模塊，以及分別與所述第一模塊和第二模塊連接的MCU控制模塊； 所述第一模塊和第二模塊是一次燒錄成型；所述MCU控制模塊控制所述第二模塊執(zhí)行測試程序。
2.如權(quán)利要求I所述的測試裝置，其特征在于，所述第二模塊的儲存容量根據(jù)所述測試程序的大小來調(diào)整。
3.一種采用權(quán)利要求I或2所述的測試裝置的測試方法，其特征在于，包括下述步驟 51:在所述第二模塊中寫入測試程序，所述第一模塊中不寫入數(shù)據(jù)； 52:當OTP的地址總線跳到已經(jīng)寫入所述測試程序的所述第二模塊時，執(zhí)行所述測試程序并測試相關(guān)功能模塊； 53:當測試完成后將所述第二模塊中的測試程序全部清除。
4.如權(quán)利要求3所述的測試方法，其特征在于，在步驟SI中根據(jù)所述測試程序的大小調(diào)整所述第二模塊的儲存容量。
全文摘要
本發(fā)明適用于集成電路測試領(lǐng)域，提供了一種OTP型MCU測試裝置及其測試方法，測試裝置包括用于儲存用戶程序的第一模塊，用于儲存測試程序的第二模塊，以及分別與第一模塊和第二模塊連接的MCU控制模塊；第一模塊和第二模塊是一次燒錄成型；MCU控制模塊控制第二模塊執(zhí)行測試程序。在本發(fā)明中，OTP型MCU的測試裝置不需要使用額外的測試電路和測試管腳，降低了芯片的整體成本，而且測試方案可以靈活多變。
文檔編號G01R31/26GK102768331SQ201210260849
公開日2012年11月7日 申請日期2012年7月26日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月26日
發(fā)明者嚴凌志, 劉小靈, 謝韶波, 齊凡 申請人:深圳市芯?？萍加邢薰?br>