專利名稱：薄膜成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于對(duì)在制造光學(xué)薄膜時(shí)產(chǎn)生的缺陷進(jìn)行檢測(cè)并由此算出產(chǎn)品的預(yù)期成品率的薄膜成品 率預(yù)測(cè)系統(tǒng)以及方法。
背景技術(shù)：
光學(xué)薄膜是用于制造液晶顯示裝置(LCD, Liquid Crystal Display)的薄膜,是用于統(tǒng)稱偏振光薄膜、漫射薄膜、反射薄膜、棱鏡薄膜等的術(shù)語。這種光學(xué)薄膜通常以卷繞在輥(roll)上的方式制造，之后，將卷繞在輥上的薄膜按用戶所期望的尺寸切削并提供給用戶。此時(shí)，在薄膜產(chǎn)生缺陷的情況下，該部分在驗(yàn)收過程中被廢棄，這種缺陷的個(gè)數(shù)和產(chǎn)生位置成為決定光學(xué)薄膜成品率的重要因素。為了確認(rèn)這種光學(xué)產(chǎn)品的缺陷，在制造光學(xué)薄膜的行業(yè)中，一般使用在線自動(dòng)光學(xué)檢查系統(tǒng)。在線自動(dòng)光學(xué)檢查機(jī)在產(chǎn)生缺陷的位置用墨水或者條形碼等進(jìn)行標(biāo)記，由此在后續(xù)工序中將標(biāo)記過的部位廢棄或者對(duì)該標(biāo)記過的部位執(zhí)行追加檢查。然而，以往的在線自動(dòng)光學(xué)檢查系統(tǒng)那樣的設(shè)備等僅辨別缺陷的存在及其位置，而無法預(yù)測(cè)偏振光薄膜成品率。由此，需要用于在光學(xué)薄膜坯料的產(chǎn)品化之前預(yù)測(cè)基于產(chǎn)品尺寸或者切削位置的成品率的系統(tǒng)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種薄膜成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)以及方法，其用于對(duì)在制造光學(xué)薄膜時(shí)產(chǎn)生的缺陷進(jìn)行檢測(cè)并由此算出產(chǎn)品的預(yù)期成品率。I. 一種光學(xué)薄膜成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，具備第一檢查部，其在光學(xué)薄膜的制造工序中，對(duì)在執(zhí)行特定步驟中的光學(xué)薄膜上的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，生成包含檢測(cè)出的缺陷的位置的第一缺陷數(shù)據(jù)；第二檢查部，其對(duì)執(zhí)行區(qū)別于所述特定步驟的所述制造工序的其它步驟中的所述光學(xué)薄膜上的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，生成包含檢測(cè)出的缺陷的位置的第二缺陷數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)合并部，其合并所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)；以及成品率預(yù)測(cè)部，其根據(jù)由所述數(shù)據(jù)合并部合并得到的缺陷數(shù)據(jù)，算出基于所述光學(xué)薄膜的預(yù)期切削位置和切削尺寸的所述光學(xué)薄膜的預(yù)期成品率。2. 一種成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，在上述I中，所述第一檢查部和所述第二檢查部從所述光學(xué)薄膜的上表面拍攝所述光學(xué)薄膜的圖像，根據(jù)拍攝得到的所述圖像來生成所述缺陷數(shù)據(jù)。3. 一種成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，在上述I中，所述數(shù)據(jù)合并部將所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)的位置坐標(biāo)進(jìn)行比較來算出所述第一缺陷數(shù)據(jù)的校正坐標(biāo)，在根據(jù)算出的所述校正坐標(biāo)來校正了其位置的所述第一缺陷數(shù)據(jù)中除去存在于與所述第二缺陷數(shù)據(jù)相同位置的缺陷，并結(jié)合剩余的第一缺陷數(shù)據(jù)與所述第二缺陷數(shù)據(jù)，由此合并所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)。4. 一種成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，在上述3中，所述數(shù)據(jù)合并部以所述第一缺陷數(shù)據(jù)內(nèi)包含的缺陷以及所述第二缺陷數(shù)據(jù)內(nèi)包含的缺陷中重復(fù)缺陷的數(shù)量變得最大的方式算出所述第一缺陷數(shù)據(jù)的校正坐標(biāo)。5. 一種成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，在上述I中，還具備接縫缺陷排除部，該接縫缺陷排除部從所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)中排除接縫缺陷。6. 一種成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，在上述5中，當(dāng)所述接縫缺陷排除部在所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)內(nèi)包含的缺陷中，在與所述光學(xué)薄膜的長(zhǎng)邊方向垂直的方向上識(shí)別出既定個(gè)數(shù)以上的缺陷的情況下，將該缺陷識(shí)別為接縫缺陷而予以排除。7. 一種成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，在上述I中，所述成品率預(yù)測(cè)部對(duì)按所述光學(xué)薄膜的預(yù)期切削位置以及切削得到的薄膜的尺寸來切削得到的各薄膜是否存在缺陷進(jìn)行判斷，根據(jù)切削得到的薄膜的個(gè)數(shù)以及切削得到的薄膜中存在缺陷的薄膜的個(gè)數(shù)來算出所述光學(xué)薄膜的預(yù)期成品率。8. 一種成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，在上述I中，所述光學(xué)薄膜的制造工序中的特定步驟是 對(duì)所述光學(xué)薄膜涂敷粘合劑或者粘接劑之前的步驟，區(qū)別于所述特定步驟的所述制造工序的其它步驟是對(duì)所述光學(xué)薄膜涂敷所述粘合劑或者粘接劑之后的步驟。9. 一種成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，在上述I中，所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)還包含分別獨(dú)立地檢測(cè)出的缺陷的明亮度和尺寸。10. 一種光學(xué)薄膜成品率預(yù)測(cè)方法，包含以下步驟在光學(xué)薄膜的制造工序中，對(duì)執(zhí)行特定步驟中的光學(xué)薄膜上的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，生成包含檢測(cè)出的缺陷的位置的第一缺陷數(shù)據(jù)；對(duì)執(zhí)行區(qū)別于所述特定步驟的所述制造工序的其它步驟中的所述光學(xué)薄膜上的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，生成包含檢測(cè)出的缺陷的位置的第二缺陷數(shù)據(jù)；合并所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)；以及根據(jù)由所述合并步驟合并得到的缺陷數(shù)據(jù)，算出基于所述光學(xué)薄膜的預(yù)期切削位置和切削尺寸的所述光學(xué)薄膜的預(yù)期成品率。11. 一種成品率預(yù)測(cè)方法，在上述10中，在所述第一缺陷數(shù)據(jù)的生成步驟和所述第二缺陷數(shù)據(jù)的生成步驟中，從所述光學(xué)薄膜的上表面拍攝所述光學(xué)薄膜的圖像，根據(jù)拍攝得到的所述圖像來生成所述缺陷數(shù)據(jù)。12. 一種成品率預(yù)測(cè)方法，在上述10中，所述合并步驟包含以下步驟將所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)的位置坐標(biāo)進(jìn)行比較來算出所述第一缺陷數(shù)據(jù)的校正坐標(biāo)；根據(jù)算出的所述校正坐標(biāo)來對(duì)所述第一缺陷數(shù)據(jù)的位置進(jìn)行校正；以及在位置校正過的所述第一缺陷數(shù)據(jù)中除去存在于與所述第二缺陷數(shù)據(jù)相同位置的缺陷，并結(jié)合剩余的第一缺陷數(shù)據(jù)與所述第二缺陷數(shù)據(jù)。13. 一種成品率預(yù)測(cè)方法，在上述12中，所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)還包含分別獨(dú)立地檢測(cè)出的缺陷的明亮度和尺寸。14. 一種成品率預(yù)測(cè)方法，在上述13中，所述第一缺陷數(shù)據(jù)的校正坐標(biāo)的算出步驟包含以下步驟第一步驟，從所述第一缺陷數(shù)據(jù)中選擇具有在既定值以上的明亮度和尺寸的缺陷作為代表缺陷；第二步驟，選擇所述代表缺陷中的一個(gè)缺陷；第三步驟，從所述第二缺陷數(shù)據(jù)中選擇具有與在所述第二步驟中選擇的缺陷相同明亮度和尺寸的缺陷；第四步驟，算出在所述第二步驟中選擇的缺陷以及在所述第三步驟中選擇的缺陷的位置的差值，以算出的位置的差值來校正所述代表缺陷位置；第五步驟，算出在所述第四步驟中校正過的所述代表缺陷中與所述第二缺陷數(shù)據(jù)重復(fù)的缺陷的個(gè)數(shù)；以及第六步驟，分別對(duì)在所述第一步驟中選擇的代表缺陷反復(fù)執(zhí)行所述第二步驟至第五步驟，將在所述第五步驟中重復(fù)的缺陷的個(gè)數(shù)最多的代表缺陷的位置的差值選擇為所述校正坐標(biāo)。15. 一種成品率預(yù)測(cè)方法，在上述10中，還包含以下步驟在執(zhí)行所述合并步驟之前，從所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)中排除接縫缺陷。16. 一種成品率預(yù)測(cè)方法，在上述15中，在所述接縫缺陷排除步驟中，當(dāng)在所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)內(nèi)包含的缺陷中，在與所述光學(xué)薄膜的長(zhǎng)邊方向垂直的方向上識(shí)別出既定個(gè)數(shù)以上的缺陷的情況下，將該缺陷識(shí)別為接縫缺陷而予以排除。17. 一種成品率預(yù)測(cè)方法，在上述10中，所述光學(xué)薄膜的制造工序中的 特定步驟是對(duì)所述光學(xué)薄膜涂敷粘合劑或者粘接劑之前的步驟，區(qū)別于所述特定步驟的所述制造工序的其它步驟是對(duì)所述光學(xué)薄膜涂敷所述粘合劑或者粘接劑之后的步驟。18. 一種計(jì)算機(jī)可讀取的記錄介質(zhì),記錄了用于在計(jì)算機(jī)上執(zhí)行所述10至17中的任一項(xiàng)所述方法的程序。根據(jù)本發(fā)明，在執(zhí)行以卷筒方式制造的光學(xué)薄膜的后續(xù)工序之前，能夠正確地判斷基于光學(xué)薄膜的切削位置和尺寸的預(yù)期成品率。另外，由此能夠使用最佳切削位置和尺寸來切削光學(xué)薄膜而制造片型薄膜，因此具有能夠縮減光學(xué)薄膜的制造單價(jià)這種優(yōu)點(diǎn)。


圖I是表不本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的光學(xué)薄膜的層疊結(jié)構(gòu)的圖。圖2是用于說明本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的光學(xué)薄膜成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)的框圖。圖3是用于說明本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式中在接縫缺陷排除部排除接縫缺陷的過程的圖。圖4是表示本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式中在數(shù)據(jù)合并部計(jì)算校正坐標(biāo)的方法的流程圖。圖5是例示第一缺陷數(shù)據(jù)、第二缺陷數(shù)據(jù)以及在數(shù)據(jù)合并部合并得到的數(shù)據(jù)的圖。圖6A是用于說明成品率預(yù)測(cè)部模擬基于切削位置的成品率預(yù)測(cè)的圖。圖6B是用于說明成品率預(yù)測(cè)部模擬基于切削位置的成品率預(yù)測(cè)的圖。圖6C是用于說明成品率預(yù)測(cè)部模擬基于切削位置的成品率預(yù)測(cè)的圖。圖7A是用于說明成品率預(yù)測(cè)部模擬基于切削尺寸的成品率預(yù)測(cè)的圖。圖7B是用于說明成品率預(yù)測(cè)部模擬基于切削尺寸的成品率預(yù)測(cè)的圖。圖8是表示本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)的圖。附圖標(biāo)記說明100 :成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)；102 :第一檢查部；104 :第二檢查部；106 :接縫缺陷排除部；108 :數(shù)據(jù)合并部；110 :成品率預(yù)測(cè)部。
具體實(shí)施例方式下面，參照

本發(fā)明的具體實(shí)施方式
。然而，這僅僅是例示，本發(fā)明并不限定于此。在說明本發(fā)明時(shí)，針對(duì)本發(fā)明涉及的公知技術(shù)的具體說明在判斷為可脫離本發(fā)明的宗旨的情況下，省略其詳細(xì)的說明。并且，后述的術(shù)語等是考慮本發(fā)明的功能來定義的，該術(shù)語根據(jù)用戶、使用者的意圖或者慣例等可能發(fā)生變化。因此，應(yīng)當(dāng)根據(jù)本說明書整體的內(nèi)容來定義。本發(fā)明的技術(shù)思想是根據(jù)權(quán)利要求的范圍來決定的，以下實(shí)施方式僅是用于向本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有一般知識(shí)的人具體說明本發(fā)明的技術(shù)思想的一個(gè)方法。在說明本發(fā)明的實(shí)施方式等之前，首先簡(jiǎn)單說明一般的光學(xué)薄膜的結(jié)構(gòu)以及制造工序。圖I是表示本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的光學(xué)薄膜的層疊結(jié)構(gòu)的圖。如圖I所示，本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的光學(xué)薄膜包含偏振鏡、在所述偏振鏡的兩面上層疊的偏振鏡保護(hù)層、在上側(cè)偏振鏡保護(hù)層的上表面層疊的隔膜、以及在下側(cè)偏振鏡保護(hù)層的下表面層疊的保護(hù)薄膜?！?br> 如下說明具有這種層疊結(jié)構(gòu)的光學(xué)薄膜的制造工序。首先，使實(shí)施了染色、交聯(lián)以及延伸處理的聚乙烯醇(PVA)薄膜干燥而得到偏振鏡。接著，在制造出的所述偏振鏡的兩面使用粘接劑，并附著三乙酰纖維素(TAC)薄膜而制造偏振片。其后，在制造出的偏振片的一面上使用粘合劑來附著隔膜(SP Film)，在相反面上附著保護(hù)薄膜(PF Film)。這樣，用于制造光學(xué)薄膜的各光學(xué)薄膜元件等、即PVA薄膜、TAC薄膜、隔膜、保護(hù)薄膜等為帶狀的薄片狀產(chǎn)品，被卷繞在輥(roll)上提供給各工序，制造出的光學(xué)薄膜也被卷繞在輥上而提供給后續(xù)工序。其后，在后續(xù)工序中，引出輥狀卷繞的所述光學(xué)片而切削成規(guī)定尺寸的薄片狀產(chǎn)品，并將切削得到的薄片中產(chǎn)生缺陷的薄片除去后出廠。圖2是用于說明本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的光學(xué)薄膜成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)200的框圖。本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)200構(gòu)成如下在所述光學(xué)薄膜的制造工序中，對(duì)制造過程中的光學(xué)薄膜的缺陷(或者缺點(diǎn))進(jìn)行檢測(cè)，利用檢測(cè)出的缺陷位置信息，在執(zhí)行后續(xù)工序之前算出基于制造出的光學(xué)薄膜的切削位置和尺寸的預(yù)期成品率，由此能夠算出能得到最高成品率的切削位置和尺寸。如圖2所示，本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)200具備第一檢查部202、第二檢查部204、接縫缺陷排除部206、數(shù)據(jù)合并部208、以及成品率預(yù)測(cè)部210。第一檢查部202和第二檢查部204對(duì)制造過程中的光學(xué)薄膜上的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，生成包含檢測(cè)出的缺陷位置、明亮度以及尺寸信息的缺陷數(shù)據(jù)。為了進(jìn)行區(qū)別，由第一檢查部202生成的缺陷數(shù)據(jù)稱為第一缺陷數(shù)據(jù)，由第二檢查部204生成的缺陷數(shù)據(jù)稱為第二缺陷數(shù)據(jù)?？梢詫⒌谝粰z查部202和第二檢查部204分別配置成分別位于光學(xué)薄膜的制造工序中相互不同的步驟。例如，如圖I示出的實(shí)施方式那樣，第一檢查部202能夠從粘接TAC薄膜之后，并在涂敷用于粘接隔膜、保護(hù)薄膜的粘合劑之前的光學(xué)薄膜收集缺陷數(shù)據(jù)(未涂敷檢查機(jī))，第二檢查部204能夠從涂敷粘合劑之后的光學(xué)薄膜收集缺陷數(shù)據(jù)(涂敷檢查機(jī))。但是，這僅是例示，只要第一檢查部202和第二檢查部204位于適合對(duì)光學(xué)薄膜制造工序中產(chǎn)生的光學(xué)薄膜的缺陷進(jìn)行識(shí)別的位置，在工序中能夠存在于任一處。這樣，將第一檢查部202和第二檢查部204構(gòu)成為使它們位于相互不同的工序步驟的理由在于，提高存在于光學(xué)薄膜中的缺陷的識(shí)別率。例如，有時(shí)在粘接隔膜和保護(hù)薄膜之前能夠易于識(shí)別的缺陷在粘接隔膜和保護(hù)薄膜之后難以清楚地識(shí)別，相反，還可能存在在粘接隔膜和保護(hù)薄膜的工序中新產(chǎn)生的缺陷。因此，在僅具備第一檢查部202和第二檢查部204中的一個(gè)的情況下，對(duì)存在于光學(xué)薄膜的缺陷進(jìn)行檢測(cè)的概率變得相對(duì)低。由此，本發(fā)明構(gòu)成為，利用第一檢查部202和第二檢查部204，按照各制造工序來獨(dú)立識(shí)別光學(xué)薄膜上的缺陷，并在后述數(shù)據(jù)合并部208對(duì)獨(dú)立識(shí)別的缺陷進(jìn)行合并，由此，能夠無遺漏地識(shí)別存在于光學(xué)薄膜的缺陷。第一檢查部202和第二檢查部204能夠如下構(gòu)成具備配置在所述光學(xué)薄膜上表面的多個(gè)照相機(jī)模塊，使用所述照相機(jī)模塊來拍攝光學(xué)薄膜，并能夠從拍攝得到的圖像中檢測(cè)薄膜上的缺陷。因此，構(gòu)成為以光學(xué)薄膜為基準(zhǔn)能夠在設(shè)置所述照相機(jī)模塊一面的相反面上具備光源202a、204a，照相機(jī)模塊能夠?qū)乃龉庠?02a、204a發(fā)出并透射所述光學(xué)薄膜的光進(jìn)行拍攝。在該情況下，當(dāng)光學(xué)薄膜存在缺陷時(shí)，該部分的光的透射度較低，因 此能夠易于識(shí)別光學(xué)薄膜上的缺陷。接縫缺陷排除部206從所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)中排除接縫缺陷。在光學(xué)薄膜的生產(chǎn)工序中，在TAC薄膜、隔膜、保護(hù)薄膜中的任一個(gè)薄膜被耗盡的情況下，需要進(jìn)行將現(xiàn)有薄膜的結(jié)尾部分與新提供的薄膜的開始部分相互粘貼的作業(yè)。在該情況下，各薄膜的接縫部分在第一檢查部202和第二檢查部204中識(shí)別為缺陷，具體地說，如圖3的左側(cè)圖所示，識(shí)別為在與光學(xué)薄膜的長(zhǎng)邊方向(圖中Z方向)垂直的方向上連續(xù)產(chǎn)生缺陷(在圖中表示為A的部分)。這樣，在產(chǎn)生接縫缺陷的情況下，在后述的數(shù)據(jù)合并部208對(duì)第一缺陷數(shù)據(jù)與第二缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行合并時(shí)產(chǎn)生錯(cuò)誤的可能性變得非常高。數(shù)據(jù)合并部208利用第一缺陷數(shù)據(jù)和第二缺陷數(shù)據(jù)共同表示的缺陷坐標(biāo)來執(zhí)行數(shù)據(jù)合并，但是在產(chǎn)生接縫缺陷的情況下，有可能將相互不同的接縫部分作為相同區(qū)域而錯(cuò)誤判斷。因此，接縫缺陷排除部206通過排除第一缺陷數(shù)據(jù)和第二缺陷數(shù)據(jù)中的接縫缺陷，防止在數(shù)據(jù)合并部208中有可能產(chǎn)生的合并錯(cuò)誤。具體地說，接縫缺陷排除部206構(gòu)成為當(dāng)在所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)內(nèi)包含的缺陷中，在與所述光學(xué)薄膜的長(zhǎng)邊方向(Z方向)垂直的方向上識(shí)別出已經(jīng)設(shè)定的個(gè)數(shù)以上的缺陷的情況下，能夠?qū)⒃撊毕葑R(shí)別為接縫缺陷而予以排除。圖3是用于說明這種接縫缺陷排除部206中的接縫缺陷排除過程的圖，左側(cè)圖示出排除接縫缺陷(A部分)之前的情況，右側(cè)圖示出排除接縫缺陷之后的情況。另外，在所述第一缺陷數(shù)據(jù)和第二缺陷數(shù)據(jù)中不存在接縫部分的情況下，能夠省略接縫缺陷排除部206。數(shù)據(jù)合并部208對(duì)所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行合并。光學(xué)薄膜中產(chǎn)生的缺陷能夠劃分為僅記錄到第一缺陷數(shù)據(jù)的缺陷、僅記錄到第二缺陷數(shù)據(jù)的缺陷、以及第一缺陷數(shù)據(jù)和第二缺陷數(shù)據(jù)中共同記錄的缺陷。數(shù)據(jù)合并部208從記錄到所述第一缺陷數(shù)據(jù)和第二缺陷數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)中排除重復(fù)的數(shù)據(jù)，將兩份數(shù)據(jù)合并為一份數(shù)據(jù)，由此生成包含從光學(xué)薄膜中識(shí)別出的所有缺陷數(shù)據(jù)的一份缺陷數(shù)據(jù)。具體地說，數(shù)據(jù)合并部208將所述第一缺陷數(shù)據(jù)與所述第二缺陷數(shù)據(jù)的位置坐標(biāo)進(jìn)行比較來算出所述第一缺陷數(shù)據(jù)的校正坐標(biāo)，利用算出的所述校正坐標(biāo)來校正其位置，從校正后的所述第一缺陷數(shù)據(jù)中除去存在于與所述第二缺陷數(shù)據(jù)相同位置的缺陷，并將剩余的第一缺陷數(shù)據(jù)與所述第二缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行結(jié)合，由此對(duì)所述第一缺陷數(shù)據(jù)與所述第二缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行合并。即，即使是同一缺陷，也因第一檢查部202、第二檢查部204以及光學(xué)薄膜的相對(duì)位置，而可能判斷是在第一檢查部202和第二檢查部204中存在于相互不同的位置的缺陷。因此，數(shù)據(jù)合并部208利用第一缺陷數(shù)據(jù)和第二缺陷數(shù)據(jù)共同記錄的缺陷位置的差來算出校正坐標(biāo)，并利用該校正坐標(biāo)對(duì)第一缺陷數(shù)據(jù)的位置坐標(biāo)進(jìn)行校正，以使得同一缺陷在第一缺陷數(shù)據(jù)和第二缺陷數(shù)據(jù)上存在于相同位置。在所述實(shí)施方式中，記載為校正第一缺陷數(shù)據(jù)的位置，但是這僅僅是例示，相反，顯而易見，還能夠校正第二缺陷數(shù)據(jù)的位置而使其與第一缺陷數(shù)據(jù)一致。下面，說明算出所述校正坐標(biāo)的方法。圖4是表示本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的數(shù)據(jù)合并部208計(jì)算校正坐標(biāo)的方法400的流程圖。在本發(fā)明中，以所述第一缺陷數(shù)據(jù)內(nèi)包含的缺陷以及所述第二缺陷數(shù)據(jù)內(nèi)包含的缺陷中重復(fù)的缺陷數(shù)量變得最大的方式算出校正坐標(biāo)。首先，從第一缺陷數(shù)據(jù)(或者第二缺陷數(shù)據(jù))中選擇規(guī)定個(gè)數(shù)的代表缺陷(402)。此時(shí)，所述代表缺陷有可能是在所述第一缺陷數(shù)據(jù)(第二缺陷數(shù)據(jù))中記錄的缺陷中具有已經(jīng)設(shè)定的值以上的明亮度和尺寸的缺陷。這種缺陷等相對(duì)易于識(shí)別，因此在第一缺陷數(shù)據(jù)和第二缺陷數(shù)據(jù)中都包括的可能性高。接著，從所選擇的所述代表缺陷中選擇一個(gè)缺陷(404)，從所述第二缺陷數(shù)據(jù)(第一缺陷數(shù)據(jù))中選擇與所選擇的缺陷對(duì)應(yīng)的缺陷、即具有與所選擇的缺陷相同明亮度和尺寸的缺陷(406)。此時(shí)，具有與所選擇的缺陷“相同”明亮度和尺寸的缺陷不僅是具有與所選擇的缺陷完全相同的明亮度和尺寸的缺陷，還包含存在于規(guī)定誤差范圍內(nèi)的缺陷。即，即使是同一缺陷，因設(shè)備的誤差等也可能將其尺寸或者明亮度識(shí)別為不同，因此鑒于這一點(diǎn)選擇對(duì)應(yīng)的缺陷。接著，算出在所述步驟404中選擇的缺陷以及在所述步驟406中選擇的缺陷的位置的差值(408)，以計(jì)算出的位置的差值校正所述代表缺陷內(nèi)包含的缺陷等的位置之后(410)，算出在所述步驟410中校正的所述代表缺陷中與所述第二缺陷數(shù)據(jù)(第一缺陷數(shù)據(jù))重復(fù)的缺陷個(gè)數(shù)(412)。其后，分別對(duì)在所述步驟402中選擇的代表缺陷反復(fù)執(zhí)行所述步驟404至412，將與所述第二缺陷數(shù)據(jù)(第一缺陷數(shù)據(jù))重復(fù)的缺陷個(gè)數(shù)最多的代表缺陷的位置的差值選擇為所述校正坐標(biāo)(416)。圖5是例示第一缺陷數(shù)據(jù)、第二缺陷數(shù)據(jù)以及在數(shù)據(jù)合并部208合并得到的數(shù)據(jù)的圖。成品率預(yù)測(cè)部210根據(jù)在數(shù)據(jù)合并部208合并得到的缺陷數(shù)據(jù)，算出基于所述光學(xué)薄膜的預(yù)期切削位置和切削尺寸的所述光學(xué)薄膜的預(yù)期成品率。具體地說，成品率預(yù)測(cè)部210基于已經(jīng)設(shè)定的切削位置和切削大小，模擬光學(xué)薄膜的切削，算出包含在合并得到的所述缺陷數(shù)據(jù)內(nèi)的缺陷是否包含在切削的薄膜中的哪一個(gè)薄膜中。圖6是用于說明在成品率預(yù)測(cè)部210模擬基于切削位置的成品率預(yù)測(cè)的圖，圖6A示出以薄膜的行進(jìn)方向?yàn)榛鶞?zhǔn)向左方向傾斜、并以四角形片方式切斷薄膜的情況，圖6B示出以薄膜的中央為基準(zhǔn)切斷薄膜的情況，圖6C示出向右方向傾斜而切斷薄膜的情況。在圖中用點(diǎn)表示的部分是表示薄膜缺陷的部分。根據(jù)圖可知，在圖6A的情況下，18個(gè)薄片中存在缺陷的薄片有8個(gè)，在圖6B的情 況下有9個(gè)，在圖6C的情況下有6個(gè)。由此，當(dāng)分別算出成品率時(shí)，在圖6A的情況下，為10/18=55%，在圖6B的情況下，為9/18=50%，在圖6C的情況下，為12/18=66%。因此，可知在以圖6的方式分布缺陷的情況下，如圖6C所示那樣切斷薄膜在成品率方面是有利的。圖7是用于說明在成品率預(yù)測(cè)部210模擬基于切削尺寸的成品率預(yù)測(cè)的圖，圖7A示出以較小尺寸切斷薄膜的示例，圖7B示出以較大尺寸切斷薄膜的示例。當(dāng)以與圖6相同的方式預(yù)測(cè)各種情況的成品率時(shí)，在圖7A的情況下為9/18=50%，在圖7B的情況下為4/10=40%。因此，可知在該情況下，按圖7A的尺寸切削在成品率方面是有利的。成品率預(yù)測(cè)部210模擬基于如上已經(jīng)設(shè)定的薄膜切削位置和切削尺寸的成品率預(yù)測(cè)，并將各種情況下算出的預(yù)期成品率顯示給用戶。并且，用戶確認(rèn)所算出的預(yù)期成品率而選擇能得到最高成品率的切削位置和尺寸，從而執(zhí)行后續(xù)工序。圖8是表示本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的成品率預(yù)測(cè)方法(800)的流程圖。首先，在光學(xué)薄膜的制造工序中，對(duì)執(zhí)行特定步驟過程中的光學(xué)薄膜上的缺陷進(jìn)·
接著，對(duì)執(zhí)行區(qū)別于所述特定步驟的所述制造工序中的其它步驟過程中的所述光學(xué)薄膜上的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，生成包含檢測(cè)出的缺陷位置、明亮度和尺寸的第二缺陷數(shù)據(jù)(804)。如上所述，在所述步驟802和步驟804中，能夠從所述光學(xué)薄膜的上表面拍攝所述光學(xué)薄膜的圖像，從拍攝得到的所述圖像生成所述缺陷數(shù)據(jù)。接著，在所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)中存在接縫缺陷的情況下，排除接縫缺陷(806)，合并排除了接縫缺陷的所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)(808)。此時(shí)，在所述步驟806中，當(dāng)在所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)內(nèi)包含的缺陷中，在與所述光學(xué)薄膜的長(zhǎng)邊方向垂直的方向上識(shí)別出已經(jīng)設(shè)定的個(gè)數(shù)以上的缺陷的情況下，能夠?qū)⒃撊毕葑R(shí)別為接縫缺陷而予以排除。另外，如下構(gòu)成所述步驟808:將所述第一缺陷數(shù)據(jù)與所述第二缺陷數(shù)據(jù)的位置坐標(biāo)進(jìn)行比較而算出所述第一缺陷數(shù)據(jù)的校正坐標(biāo)，在根據(jù)算出的所述校正坐標(biāo)來對(duì)所述第一缺陷數(shù)據(jù)的位置進(jìn)行校正之后，將位置校正過的所述第一缺陷數(shù)據(jù)中的、除了存在于與所述第二缺陷數(shù)據(jù)相同位置的缺陷以外的所述第一缺陷數(shù)據(jù)與所述第二缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行
彡口口 其后，根據(jù)合并得到的缺陷數(shù)據(jù)，算出基于所述光學(xué)薄膜的預(yù)期切削位置和切削尺寸的所述光學(xué)薄膜的預(yù)期成品率(810)。另一方面,在本發(fā)明的實(shí)施方式中能夠包含計(jì)算機(jī)可讀取的記錄介質(zhì),該計(jì)算機(jī)可讀取的記錄介質(zhì)包含用于在計(jì)算機(jī)上執(zhí)行本說明書所述的方法等的程序。所述計(jì)算機(jī)可讀取的記錄介質(zhì)能夠單獨(dú)或者組合包含程序指令、本地?cái)?shù)據(jù)文件、本地?cái)?shù)據(jù)結(jié)構(gòu)等。所述介質(zhì)可以是針對(duì)本發(fā)明特別設(shè)計(jì)而構(gòu)成的，或者也可以是具有計(jì)算機(jī)軟件領(lǐng)域的常識(shí)的人所公知而使用的。作為計(jì)算機(jī)可讀取的記錄介質(zhì)的示例，包含硬盤、軟盤和磁帶之類的磁介質(zhì)、CD-ROM、DVD之類的光記錄介質(zhì)、軟盤之類的磁-光介質(zhì)、以及ROM、RAM、閃存之類的以存儲(chǔ)并執(zhí)行程序指令的方式特別構(gòu)成的硬件裝置。作為程序指令的示例，不僅能包含通過編譯程序生成的機(jī)械語言代碼，還包含能使用解釋程序等由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的高級(jí)語言代碼。以上，根據(jù)代表性實(shí)施方式詳細(xì)地說明了本發(fā)明，但是應(yīng)該理解為具有本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域常識(shí)的人在不脫離本發(fā)明范疇的范圍內(nèi)能夠?qū)λ鰧?shí)施方式進(jìn)行各種變形。
因而，本發(fā)明的權(quán)利要求范圍并不限定于說明的實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)由后述的權(quán)利要 求書和與該權(quán)利要求書均等的實(shí)施方式等確定。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)薄膜成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，具備 第一檢查部，其在光學(xué)薄膜的制造工序中，對(duì)執(zhí)行特定步驟中的光學(xué)薄膜上的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，生成包含檢測(cè)出的缺陷的位置的第一缺陷數(shù)據(jù)； 第二檢查部，其對(duì)執(zhí)行區(qū)別于所述特定步驟的所述制造工序的其它步驟中的所述光學(xué)薄膜上的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，生成包含檢測(cè)出的缺陷的位置的第二缺陷數(shù)據(jù)； 數(shù)據(jù)合并部，其合并所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)；以及 成品率預(yù)測(cè)部，其根據(jù)由所述數(shù)據(jù)合并部合并得到的缺陷數(shù)據(jù)，算出基于所述光學(xué)薄膜的預(yù)期切削位置和切削尺寸的所述光學(xué)薄膜的預(yù)期成品率。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述第一檢查部和所述第二檢查部從所述光學(xué)薄膜的上表面拍攝所述光學(xué)薄膜的圖像，根據(jù)拍攝得到的所述圖像來生成所述缺陷數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于， 所述數(shù)據(jù)合并部將所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)的位置坐標(biāo)進(jìn)行比較來算出所述第一缺陷數(shù)據(jù)的校正坐標(biāo)，在根據(jù)算出的所述校正坐標(biāo)來校正其位置的所述第一缺陷數(shù)據(jù)中除去存在于與所述第二缺陷數(shù)據(jù)相同位置的缺陷，并結(jié)合剩余的第一缺陷數(shù)據(jù)與所述第二缺陷數(shù)據(jù)，由此合并所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于， 所述數(shù)據(jù)合并部以所述第一缺陷數(shù)據(jù)內(nèi)包含的缺陷以及所述第二缺陷數(shù)據(jù)內(nèi)包含的缺陷中重復(fù)缺陷的數(shù)量變得最大的方式算出所述第一缺陷數(shù)據(jù)的校正坐標(biāo)。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于， 還具備接縫缺陷排除部，該接縫缺陷排除部從所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)中排除接縫缺陷。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于， 當(dāng)所述接縫缺陷排除部在所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)內(nèi)包含的缺陷中，在與所述光學(xué)薄膜的長(zhǎng)邊方向垂直的方向上識(shí)別出既定個(gè)數(shù)以上的缺陷的情況下，將該缺陷識(shí)別為接縫缺陷而予以排除。
7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于， 所述成品率預(yù)測(cè)部對(duì)按所述光學(xué)薄膜的預(yù)期切削位置以及切削得到的薄膜的尺寸來切削得到的各薄膜是否存在缺陷進(jìn)行判斷，根據(jù)切削得到的薄膜的個(gè)數(shù)以及切削得到的薄膜中存在缺陷的薄膜的個(gè)數(shù)來算出所述光學(xué)薄膜的預(yù)期成品率。
8.根據(jù)權(quán)利要求I所述的成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于， 所述光學(xué)薄膜的制造工序中的特定步驟是對(duì)所述光學(xué)薄膜涂敷粘合劑或者粘接劑之前的步驟，區(qū)別于所述特定步驟的所述制造工序的其它步驟是對(duì)所述光學(xué)薄膜涂敷所述粘合劑或者粘接劑之后的步驟。
9.根據(jù)權(quán)利要求I所述的成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于， 所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)還包含分別獨(dú)立地檢測(cè)出的缺陷的明亮度和尺寸。
10.一種光學(xué)薄膜成品率預(yù)測(cè)方法，包含以下步驟 在光學(xué)薄膜的制造工序中，對(duì)執(zhí)行特定步驟中的光學(xué)薄膜上的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，生成包含檢測(cè)出的缺陷的位置的第一缺陷數(shù)據(jù)； 對(duì)執(zhí)行區(qū)別于所述特定步驟的所述制造工序的其它步驟中的所述光學(xué)薄膜上的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，生成包含檢測(cè)出的缺陷的位置的第二缺陷數(shù)據(jù)； 合并所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)；以及 根據(jù)由所述合并步驟合并得到的缺陷數(shù)據(jù)，算出基于所述光學(xué)薄膜的預(yù)期切削位置和切削尺寸的所述光學(xué)薄膜的預(yù)期成品率。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的成品率預(yù)測(cè)方法，其特征在于， 在所述第一缺陷數(shù)據(jù)的生成步驟和所述第二缺陷數(shù)據(jù)的生成步驟中，從所述光學(xué)薄膜的上表面拍攝所述光學(xué)薄膜的圖像，根據(jù)拍攝得到的所述圖像來生成所述缺陷數(shù)據(jù)。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的成品率預(yù)測(cè)方法，其特征在于， 所述合并步驟包含以下步驟 將所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)的位置坐標(biāo)進(jìn)行比較來算出所述第一缺陷數(shù)據(jù)的校正坐標(biāo)； 根據(jù)算出的所述校正坐標(biāo)來對(duì)所述第一缺陷數(shù)據(jù)的位置進(jìn)行校正；以及 在位置校正過的所述第一缺陷數(shù)據(jù)中除去存在于與所述第二缺陷數(shù)據(jù)相同位置的缺陷，并結(jié)合剩余的第一缺陷數(shù)據(jù)與所述第二缺陷數(shù)據(jù)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的成品率預(yù)測(cè)方法，其特征在于， 所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)還包含分別獨(dú)立地檢測(cè)出的缺陷的明亮度和尺寸。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的成品率預(yù)測(cè)方法，其特征在于， 所述第一缺陷數(shù)據(jù)的校正坐標(biāo)的算出步驟包含以下步驟 第一步驟，從所述第一缺陷數(shù)據(jù)中選擇具有既定值以上的明亮度和尺寸的缺陷作為代表缺陷； 第二步驟，選擇所述代表缺陷中的一個(gè)缺陷； 第三步驟，從所述第二缺陷數(shù)據(jù)中選擇具有與在所述第二步驟中選擇的缺陷相同明亮度和尺寸的缺陷； 第四步驟，算出在所述第二步驟中選擇的缺陷以及在所述第三步驟中選擇的缺陷的位置的差值，以所算出的位置的差值來校正所述代表缺陷的位置； 第五步驟，算出在所述第四步驟中校正過的所述代表缺陷中與所述第二缺陷數(shù)據(jù)重復(fù)的缺陷的個(gè)數(shù)；以及 第六步驟，分別對(duì)在所述第一步驟中選擇的代表缺陷反復(fù)執(zhí)行所述第二步驟至第五步驟，將在所述第五步驟中重復(fù)的缺陷的個(gè)數(shù)最多的代表缺陷的位置的差值選定為所述校正坐標(biāo)。
15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的成品率預(yù)測(cè)方法，其特征在于， 還包含以下步驟在執(zhí)行所述合并步驟之前，從所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)中排除接縫缺陷。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的成品率預(yù)測(cè)方法，其特征在于， 在所述接縫缺陷排除步驟中，當(dāng)在所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)內(nèi)包含的缺陷中，在與所述光學(xué)薄膜的長(zhǎng)邊方向垂直的方向上識(shí)別出既定個(gè)數(shù)以上的缺陷的情況下，將該缺陷識(shí)別為接縫缺陷而予以排除。
17.根據(jù)權(quán)利要求10所述的成品率預(yù)測(cè)方法，其特征在于， 所述光學(xué)薄膜的制造工序中的特定步驟是對(duì)所述光學(xué)薄膜涂敷粘合劑或者粘接劑之前的步驟，區(qū)別于所述特定步驟的所述制造工序的其它步驟是對(duì)所述光學(xué)薄膜涂敷所述粘合劑或者粘接劑之后的步驟。
18.一種計(jì)算機(jī)可讀取的記錄介質(zhì)，記錄了用于在計(jì)算機(jī)上執(zhí)行權(quán)利要求10至17中的任一項(xiàng)所述方法的程序。
全文摘要
本發(fā)明提供一種薄膜成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)以及方法，其用于對(duì)在制造光學(xué)薄膜時(shí)產(chǎn)生的缺陷進(jìn)行檢測(cè)以算出產(chǎn)品的預(yù)期成品率。本發(fā)明涉及的成品率預(yù)測(cè)系統(tǒng)包含第一檢查部，其在光學(xué)薄膜的制造工序中，對(duì)執(zhí)行特定步驟中的光學(xué)薄膜上的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，生成包含檢測(cè)出的缺陷的位置的第一缺陷數(shù)據(jù)；第二檢查部，其對(duì)執(zhí)行區(qū)別于所述特定步驟的所述制造工序的其它步驟中的所述光學(xué)薄膜上的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，生成包含檢測(cè)出的缺陷的位置的第二缺陷數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)合并部，其合并所述第一缺陷數(shù)據(jù)和所述第二缺陷數(shù)據(jù)；以及成品率預(yù)測(cè)部，其根據(jù)由所述數(shù)據(jù)合并部合并得到的缺陷數(shù)據(jù)，算出基于所述光學(xué)薄膜的預(yù)期切削位置和切削尺寸的所述光學(xué)薄膜的預(yù)期成品率。
文檔編號(hào)G01N21/88GK102901734SQ20121026097
公開日2013年1月30日 申請(qǐng)日期2012年7月25日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月25日
發(fā)明者洪昇均, 樸宰賢, 尹永根 申請(qǐng)人:東友精細(xì)化工有限公司