專利名稱：一種觸摸裝置檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種觸摸裝置檢測(cè)方法，尤其是投射電容式觸摸屏缺陷檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
觸摸屏作為ー種新型的人機(jī)交互界面，以其易于使用、堅(jiān)固耐用、反應(yīng)速度快、節(jié)省空間等優(yōu)點(diǎn)，廣泛地被應(yīng)用各種數(shù)字信息系統(tǒng)所使用，其中投射電容式觸摸屏憑借其高舒適和高互動(dòng)的人性化用戶體驗(yàn)，為信息處理的人機(jī)交互界面提供了良好的解決方案。近年眾多廠家積極投入研發(fā)和生產(chǎn)電容式觸摸屏，但電容式觸摸屏生產(chǎn)エ藝相當(dāng)復(fù)雜，除少數(shù)大廠外，眾多剛進(jìn)入該領(lǐng)域的中小型企業(yè)生產(chǎn)效率低，不良率居高不下。因此完善的制程檢測(cè)手段是眾多生產(chǎn)企業(yè)提高效率和產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。エ廠生產(chǎn)測(cè)試目的是提
高成品率，降低成本，在生產(chǎn)階段分揀出有問題的產(chǎn)品，避免流入下ー個(gè)階段，造成浪費(fèi)。傳統(tǒng)檢測(cè)觸摸裝置的方法大都停留在機(jī)械式測(cè)試階段，常見的有利用機(jī)械臂模擬手指在產(chǎn)品上進(jìn)行劃線、打點(diǎn)等動(dòng)作來模擬實(shí)際人的操作方式，然后讀取數(shù)據(jù)并處理，判定產(chǎn)品是否合格。該檢測(cè)需利用機(jī)械臂來仿真手指的操作，所以需要提前設(shè)定機(jī)械臂以保證模擬操作時(shí)的準(zhǔn)確性。這樣務(wù)必增加了難度，而且浪費(fèi)了時(shí)間。因此我們希望能夠?yàn)閺V大用戶提供一種更加便捷的方法來解決以上問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)際所要解決的技術(shù)問題是提供ー種可檢測(cè)投射電容式觸摸屏是否存在缺陷的方法。為了實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的上述目的，本發(fā)明提供了一種電容式觸摸屏的缺陷檢測(cè)方法，所述觸摸屏上設(shè)有一根或多根交叉放置的驅(qū)動(dòng)線和感測(cè)線，通過依次驅(qū)動(dòng)所有驅(qū)動(dòng)線，量取每根驅(qū)動(dòng)線和感測(cè)線之間的互電容值，通過對(duì)比上述互電容值是否均在閥值區(qū)間內(nèi)從而檢測(cè)出該電容式觸摸屏是否有缺陷存在。本發(fā)明所述的觸摸裝置的檢測(cè)方法，利用偵測(cè)電容的方法來檢測(cè)觸摸裝置是否存在異常，代替了傳統(tǒng)的機(jī)械式檢測(cè)步驟，不但方法更加簡(jiǎn)便，而且可以快速準(zhǔn)確的判斷該觸摸裝置是否存在異常，從而避免了不良品流入下一道エ序，節(jié)約了成本。


圖I為投射式電容屏原理及示意圖；圖2為兩根驅(qū)動(dòng)線短路時(shí)測(cè)量值；圖3為兩根感測(cè)線短路時(shí)測(cè)量值；圖4為驅(qū)動(dòng)線斷路時(shí)測(cè)量值；圖5為感測(cè)線斷路時(shí)測(cè)量值；圖6為驅(qū)動(dòng)線和感測(cè)線之間短路時(shí)測(cè)量值。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)ー步的說明。本發(fā)明所述的觸摸裝置檢測(cè)的方法，首先涉及電容式觸摸屏的結(jié)構(gòu)。參考圖I所示，該電容觸摸屏10主要由驅(qū)動(dòng)線20和感測(cè)線30組成為電極矩陣，驅(qū)動(dòng)線20和感測(cè)線30交叉放置，在交叉處形成互感電容50，驅(qū)動(dòng)線20和感測(cè)線30的電極分別構(gòu)成了互感電容50的兩極，當(dāng)手指觸摸電容屏，與觸摸點(diǎn)70附近的兩個(gè)電極產(chǎn)生耦合電容，造成這兩個(gè)電極之間電容量的變化，檢測(cè)時(shí)，驅(qū)動(dòng)線20通過驅(qū)動(dòng)電路40分時(shí)依序發(fā)出信號(hào)，當(dāng)一根或多根驅(qū)動(dòng)線同時(shí)驅(qū)動(dòng)時(shí)，其余驅(qū)動(dòng)線通過芯片內(nèi)部接地。對(duì)應(yīng)的感測(cè)線30同時(shí)接收信號(hào)，該接收信號(hào)通過運(yùn)算放大器60后輸出給檢測(cè)端，根據(jù)該耦合電容值的變化，可計(jì)算出每ー個(gè)觸摸點(diǎn)坐標(biāo)。在生產(chǎn)中，電容屏模組制作過程中的制造缺陷，通常分為以下五類A.兩根驅(qū)動(dòng)線短路；B 兩根感測(cè)線短路；C.驅(qū)動(dòng)線斷路；D.感測(cè)線斷路；E.驅(qū)動(dòng)線和感測(cè)線短路。本實(shí)施例中，以6條驅(qū)動(dòng)線和6條感測(cè)線組成的電容觸摸屏為例。測(cè)量的互電容值分為三類。第一類，表示驅(qū)動(dòng)線與感測(cè)線交疊點(diǎn)之間的互電容，此時(shí)X表示驅(qū)動(dòng)線序號(hào)，y表示感測(cè)線序號(hào)，用Ctxry表示第二類，表示驅(qū)動(dòng)線之間的互電容，此時(shí)X表示實(shí)際驅(qū)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)線序號(hào)，y表示與之構(gòu)成互電容被配置為感測(cè)線功能的驅(qū)動(dòng)線序號(hào)，用Ctxty表示第三類，表示感測(cè)線之間的互電容，此時(shí)X表示被配置為驅(qū)動(dòng)線進(jìn)行實(shí)際驅(qū)動(dòng)的感測(cè)線序號(hào)，y表示與之構(gòu)成互電容的相鄰感測(cè)線序號(hào)，用Crxry表示合格電容觸摸屏測(cè)量值會(huì)落在ー個(gè)合理范圍內(nèi)，通常定義為Thrl くく Thr2 < C< Thr3 くく Thr4，C表示實(shí)際測(cè)量值，ThrI-Thr4分別表示閥值1_閥值4，以下結(jié)合附圖，分五種情況分別進(jìn)行討論。A，兩根驅(qū)動(dòng)線短路。測(cè)試方法為首先驅(qū)動(dòng)ー根驅(qū)動(dòng)線，然后將與其相鄰的驅(qū)動(dòng)線配置成感測(cè)線，其余驅(qū)動(dòng)線不驅(qū)動(dòng)，當(dāng)針對(duì)短路對(duì)應(yīng)的兩根驅(qū)動(dòng)線進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，測(cè)量得到的電容值遠(yuǎn)大于其余正常行的值。如附圖2所示為檢測(cè)驅(qū)動(dòng)線短路時(shí)得出的ー屏互電容測(cè)量值Ctxty表示針對(duì)第Y根驅(qū)動(dòng)線配置為感測(cè)線時(shí)與相鄰第X根驅(qū)動(dòng)線之間的互電容值，例如在TX3與TX4短路的情況下，設(shè)置TX3為驅(qū)動(dòng)線，TX4則為感測(cè)線，獲取互電容值C34 ;設(shè)置TX3為感測(cè)線，TX4則為驅(qū)動(dòng)線，獲取互電容值C43。此時(shí)有C34，C43 > Thr4。B，兩根感測(cè)線短路。 測(cè)試方法為針對(duì)兩根感測(cè)線，將其中一根配置為感測(cè)線，將該感測(cè)線相鄰的另外一根感測(cè)線配置成驅(qū)動(dòng)線，當(dāng)短路對(duì)應(yīng)的兩根感測(cè)線檢測(cè)時(shí)，測(cè)量值遠(yuǎn)大于其余正常列的值。如附圖3所示為檢測(cè)感測(cè)線短路時(shí)得出的ー屏互電容測(cè)量值Crxry表示針對(duì)第Y根感測(cè)線與相鄰被配置為驅(qū)動(dòng)線的第X根感測(cè)線之間的互電容值，例如，RX3與RX4短路，先將RX3配置成驅(qū)動(dòng)線，獲取與RX4的互電容值C34，再將RX4配置成驅(qū)動(dòng)線，獲取與RX3的互電容值 C43,則 C34, C43 > Thr4。C，驅(qū)動(dòng)線斷路。測(cè)試方法為逐一驅(qū)動(dòng)驅(qū)動(dòng)線，由于驅(qū)動(dòng)線斷點(diǎn)以遠(yuǎn)的部分和感測(cè)線上交疊電容沒有電荷累積，所以這些地方測(cè)量值都遠(yuǎn)小于其余驅(qū)動(dòng)線的值。以驅(qū)動(dòng)線從左向右驅(qū)動(dòng)為例，如果斷在左邊源頭處，整個(gè)驅(qū)動(dòng)線都受影響，小于正常值，如果斷在中間，則斷點(diǎn)以左電容值正常，斷點(diǎn)以右電容值不正常。如附圖4所示，Ctxry表示針對(duì)第Y根感測(cè)線與其及第X根驅(qū)動(dòng)線之間交疊點(diǎn)處的互電容值，如果驅(qū)動(dòng)線TX3從左向右驅(qū)動(dòng)，斷路點(diǎn)在TX3與RX3交匯處右側(cè)，則有C31，C32，C33正常，C34，C35，C36 < Thrl，此時(shí)檢測(cè)結(jié)果為驅(qū)動(dòng)線TX3為斷路狀態(tài)。D，感測(cè)線斷路。

測(cè)試方法為逐一驅(qū)動(dòng)該驅(qū)動(dòng)線，由于對(duì)應(yīng)的斷路點(diǎn)以遠(yuǎn)感測(cè)線部分與驅(qū)動(dòng)線之間的交疊電容沒有電荷累積，所以這些地方互電容測(cè)量值都遠(yuǎn)小于正常值。以感測(cè)線下端連接芯片例，如果斷在下面靠近芯片處，整個(gè)感測(cè)線都受影響，如果斷在中間，則斷點(diǎn)以下至芯片端電容值正常，斷點(diǎn)以上不正常。如附圖5所示，Ctxry表示針對(duì)第Y根感測(cè)線與其及第X根驅(qū)動(dòng)線之間交疊點(diǎn)處的互電容值，如果感測(cè)線RX3斷路點(diǎn)在TX3與RX3交匯點(diǎn)下方，則有C13，C23，C33 < Thrl, C43，C53，C63正常，此時(shí)檢測(cè)結(jié)果為感測(cè)線RX3為斷路狀態(tài)。E，驅(qū)動(dòng)線與感測(cè)線短路。測(cè)試方法為未短路驅(qū)動(dòng)線驅(qū)動(dòng)時(shí)，對(duì)應(yīng)感測(cè)線有通過短路驅(qū)動(dòng)線到地的回路，所以整體值偏小，而當(dāng)對(duì)應(yīng)短路的驅(qū)動(dòng)線驅(qū)動(dòng)時(shí)，由于對(duì)應(yīng)短路感測(cè)線的運(yùn)算放大器直接被驅(qū)動(dòng)，其對(duì)應(yīng)感測(cè)線測(cè)量值遠(yuǎn)大于其余感測(cè)線對(duì)應(yīng)值，且數(shù)值都接近飽和。如附圖6所示，Ctxry表示針對(duì)第Y根感測(cè)線與其及第X根驅(qū)動(dòng)線之間交疊點(diǎn)處的互電容值，如果驅(qū)動(dòng)線TX3 與感測(cè)線 RX3 短路，則有 Thrl < Ctx3 < Thr2 (x 關(guān) 3)，且 C33 > Thr4。以上五種情況，通過檢測(cè)得到不同的電容值，來判斷該電容屏是否存在以上五種缺陷之中的ー種或多種。本實(shí)施例中雖然以6*6的電容屏為例，但并不局限于6*6的陣列，形如M*N(M，N均為自然數(shù))形式的電容屏均可參考本實(shí)施例實(shí)施檢測(cè)。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所做的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種觸摸裝置檢測(cè)的方法，觸摸裝置包含電容屏、電容屏控制芯片，所述電容屏上設(shè)置有多根交叉放置的驅(qū)動(dòng)線和感測(cè)線，其特征在于，包括以下步驟 依次驅(qū)動(dòng)所有驅(qū)動(dòng)線，量取每根驅(qū)動(dòng)線和感測(cè)線之間的互電容值，通過判斷所述互電容值是否在閥值區(qū)間內(nèi)，從而檢測(cè)出該觸摸裝置是否存在缺陷， 所述缺陷為驅(qū)動(dòng)線之間的短路、感測(cè)線之間的短路、驅(qū)動(dòng)線的斷路、感測(cè)線的斷路、驅(qū)動(dòng)線與感測(cè)線之間的短路，之中的ー種或多種。
2.如權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于當(dāng)缺陷為驅(qū)動(dòng)線之間的短路時(shí)，采用如下方式檢測(cè) 首先驅(qū)動(dòng)ー根驅(qū)動(dòng)線，然后將與其相鄰的驅(qū)動(dòng)線配置成感測(cè)線，其余驅(qū)動(dòng)線不驅(qū)動(dòng)，測(cè)量該驅(qū)動(dòng)線與相鄰驅(qū)動(dòng)線之間的互電容值，對(duì)于所有驅(qū)動(dòng)線依次重復(fù)上述操作，當(dāng)針對(duì)互相短路的兩根驅(qū)動(dòng)線進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，測(cè)量得到這兩根驅(qū)動(dòng)線之間的互電容值遠(yuǎn)大于或遠(yuǎn)小于正常驅(qū)動(dòng)線之間的測(cè)量值。
3.如權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于當(dāng)缺陷為感測(cè)線之間的短路時(shí)，采用如下方式檢測(cè) 首先所有驅(qū)動(dòng)線不驅(qū)動(dòng)，將ー根感測(cè)線配置成驅(qū)動(dòng)線進(jìn)行驅(qū)動(dòng)，測(cè)量該感測(cè)線與其相鄰感測(cè)線之間的互電容值，對(duì)于所有感測(cè)線依次重復(fù)上述操作，當(dāng)針對(duì)互相短路的兩根感測(cè)線進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，測(cè)量得到這兩根感測(cè)線之間的互電容值遠(yuǎn)大于或遠(yuǎn)小于正常感測(cè)線之間的測(cè)量值。
4.如權(quán)利要求I所述的方法，其特征在干當(dāng)缺陷為驅(qū)動(dòng)線斷路時(shí)，采用如下方式檢測(cè)對(duì)應(yīng)斷路的驅(qū)動(dòng)線斷點(diǎn)以遠(yuǎn)的所有與感測(cè)線交疊點(diǎn)的互電容值遠(yuǎn)小于或遠(yuǎn)大于正常的驅(qū)動(dòng)線與感測(cè)線交疊點(diǎn)之間的互電容測(cè)量值。
5.如權(quán)利要求I所述的方法，其特征在干當(dāng)缺陷為感測(cè)線斷路時(shí)，采用如下方式檢測(cè)對(duì)應(yīng)斷路的感測(cè)線斷點(diǎn)以遠(yuǎn)的所有與驅(qū)動(dòng)線交疊點(diǎn)的互電容值遠(yuǎn)小于或遠(yuǎn)大于正常的驅(qū)動(dòng)線與感測(cè)線交疊點(diǎn)之間的互電容測(cè)量值。
6.如權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于當(dāng)缺陷為驅(qū)動(dòng)線與感測(cè)線之間的短路吋，采用如下方式檢測(cè)未短路驅(qū)動(dòng)線與短路感測(cè)線交疊點(diǎn)測(cè)量值較正常測(cè)量值偏小，而短路的驅(qū)動(dòng)線與感測(cè)線交疊點(diǎn)測(cè)量值遠(yuǎn)大于正常測(cè)量值；或者，未短路驅(qū)動(dòng)線與短路感測(cè)線交疊點(diǎn)測(cè)量值較正常測(cè)量值偏大，而短路的驅(qū)動(dòng)線與感測(cè)線交疊點(diǎn)測(cè)量值遠(yuǎn)大于正常測(cè)量值。
7.如權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于所述電容屏為投射電容式觸摸屏。
8.如權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于所述電容屏控制芯片，其包含驅(qū)動(dòng)電路和檢測(cè)電路，所述驅(qū)動(dòng)電路具有可調(diào)整的驅(qū)動(dòng)電壓。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種觸摸裝置檢測(cè)方法，該觸摸裝置包含電容屏、電容屏控制芯片，電容屏上設(shè)置有多根交叉放置的驅(qū)動(dòng)線和感測(cè)線，檢測(cè)時(shí)，依次驅(qū)動(dòng)所有驅(qū)動(dòng)線，量取每根驅(qū)動(dòng)線和感測(cè)線之間的互電容值，通過判斷所述互電容值是否在閥值區(qū)間內(nèi)，從而檢測(cè)出該觸摸裝置是否存在缺陷。本發(fā)明所述的觸摸裝置的檢測(cè)方法，利用偵測(cè)電容的方法來檢測(cè)觸摸裝置是否存在異常，代替了傳統(tǒng)的機(jī)械式檢測(cè)步驟，方法簡(jiǎn)便，可以快速準(zhǔn)確的判斷該觸摸裝置是否存在異常，從而避免了不良品流入下一道工序，節(jié)約了成本。
文檔編號(hào)G01R31/02GK102866322SQ20121031268
公開日2013年1月9日 申請(qǐng)日期2012年8月29日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月29日
發(fā)明者張晉芳, 劉宏輝, 田志民 申請(qǐng)人:北京集創(chuàng)北方科技有限公司