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感煙探測器的制造方法與工藝

文檔序號(hào):11412428閱讀:391來源:國知局
感煙探測器的制造方法與工藝
本發(fā)明涉及能夠以光學(xué)方式探測空氣中漂浮的煙和污染物質(zhì)等的感煙探測器。

背景技術(shù):
以往,感煙探測器在預(yù)防火災(zāi)和發(fā)現(xiàn)火災(zāi)時(shí)用作探測煙的裝置,或者在半導(dǎo)體制造工廠和食品工廠等(所謂無塵室等)的環(huán)境維護(hù)時(shí)用作探測污染物質(zhì)(塵埃等)的裝置。存在各種感煙探測器,并且存在以光學(xué)方式探測空氣中所含煙和污染物質(zhì)(以下稱“煙等”)的光學(xué)式感煙探測器。在光學(xué)式的感煙探測器的情況下,通常由受光部接收因煙等粒子使來自發(fā)光部的光發(fā)生散射而在檢煙部產(chǎn)生的散射光,從而探測煙等,但是由于受光部的受光靈敏度因污染等可能會(huì)降低,例如日本專利公開公報(bào)特開平7-151680號(hào)(專利文獻(xiàn)1)所述,單獨(dú)具備發(fā)出測試光的測試光用的發(fā)光部,測量受光部接收的測試光的受光量,并根據(jù)受光量校正受光部的受光靈敏度,當(dāng)該受光量在規(guī)定值以下時(shí)輸出異常警報(bào)(參照專利文獻(xiàn)1的說明書段落[0045]、[0046]和圖23等)。然而,如上述專利文獻(xiàn)1記載的感煙探測器那樣,利用受光部接收的受光量的減少變化來探測受光部的受光靈敏度降低的情況下,由于通過測量從正常時(shí)受光量的減少變化來探測受光靈敏度的降低,所以根據(jù)光量遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于散射光的測試光所減少的受光量來探測受光靈敏度的降低,存在不能實(shí)現(xiàn)高精度探測的問題。此外,按照上述專利文獻(xiàn)1記載的感煙探測器,相對于受光元件從正面入射光量遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于散射光的測試光(參照專利文獻(xiàn)1的段落[0045]),即使受光部的污損等已經(jīng)達(dá)到妨礙散射光入射的程度,也有可能對測試光的入射不構(gòu)成任何影響。為了規(guī)避上述情況可以考慮嚴(yán)格設(shè)定測試時(shí)的閾值,這樣則不能監(jiān)視污損等的過程。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
鑒于上述問題,本發(fā)明的目的在于提供能夠高精度探測受光部的受光靈敏度降低的感煙探測器。本發(fā)明的感煙探測器包括發(fā)光部、受光部和檢煙部,所述受光部借助透光體接收因煙或者塵埃的粒子使所述發(fā)光部的光在所述檢煙部發(fā)生散射而產(chǎn)生的散射光,從而探測煙或者塵埃,所述感煙探測器的特征在于,還包括用于探測所述受光部的受光靈敏度的測試用光源,所述透光體沒有污損、破損和昆蟲進(jìn)入中的至少任意一種異常時(shí),入射所述透光體的來自所述測試用光源的測試光不會(huì)入射所述受光部,所述透光體有所述異常時(shí),入射所述透光體的來自所述測試用光源的測試光發(fā)生散射而產(chǎn)生的散射光被所述受光部接收,并通過檢測受光量的增加,來探測所述受光部的受光靈敏度的降低。此外,本發(fā)明的感煙探測器的特征還在于,所述測試用光源設(shè)置在所述測試用光源的測試光能入射到所述透光體的位置、且設(shè)置在所述受光部的視野范圍外的位置上。此外,本發(fā)明的感煙探測器的特征還在于,所述測試用光源設(shè)置在所述測試用光源的測試光能入射到所述透光體的位置、且設(shè)置在內(nèi)部范圍外的位置上,所述內(nèi)部范圍劃定在所述受光部的視野范圍內(nèi),并且在所述內(nèi)部范圍中,所述透光體沒有污損等異常時(shí)的、由所述受光部接收的所述測試用光源的測試光的受光量,大于等于所述透光體有污損等異常時(shí)的、由所述受光部以非散射光的狀態(tài)和散射光的狀態(tài)接收的所述測試用光源的測試光的受光量之和。此外,本發(fā)明的感煙探測器的特征還在于,所述測試用光源設(shè)置在所述測試用光源的測試光能入射到所述透光體的位置、且設(shè)置在內(nèi)部范圍外的位置上,所述內(nèi)部范圍劃定在所述受光部的視野范圍內(nèi),并且在將所述透光體沒有污損等異常時(shí)的、由所述受光部接收的來自所述測試用光源的測試光的受光量設(shè)為A0,將所述透光體有污損等異常時(shí)的、由所述受光部以非散射光的狀態(tài)接收的來自所述測試用光源的測試光的受光量設(shè)為A1,將以散射光的狀態(tài)接收的來自所述測試用光源的測試光的受光量設(shè)為B1的情況下,所述內(nèi)部范圍中關(guān)系式A0≥A1+B1成立。此外,本發(fā)明的感煙探測器的特征還在于,所述測試用光源的測試光在反射面上反射后入射所述透光體。另外,本發(fā)明還可以采用如下結(jié)構(gòu)。即,可以使所述透光體為將光朝向受光部聚光的聚光透鏡。可以使所述測試用光源為LED??梢允顾鰷y試用光源的測試光直接或間接入射所述透光體??梢允顾鰷y試用光源的測試光在反射面上反射后入射所述透光體,此時(shí),可以使反射所述測試用光源的測試光的反射面為光收集器的壁面,所述光收集器用于使來自發(fā)光部的光衰減為雜散光??梢允顾鍪芄獠烤哂凶鳛槭芄庠墓怆姸O管??梢允箿y試用光源相對于所述透光體設(shè)置在受光元件側(cè)。可以設(shè)定用于判斷所述受光部的受光靈敏度降低的測試用閾值,將所述受光部輸出的、由所述受光部所接收的源于測試光的光的信號(hào)強(qiáng)度與所述測試用閾值進(jìn)行比較,當(dāng)所述信號(hào)強(qiáng)度在所述測試用閾值以上時(shí),判斷所述受光部的受光靈敏度降低??梢噪A梯性設(shè)定多個(gè)所述測試用閾值,從而能夠階梯性判斷所述受光部的受光靈敏度降低。可以使所述測試用閾值以受光部的受光靈敏度未降低的正常情況下、所述受光部輸出的信號(hào)強(qiáng)度為基準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)定。根據(jù)本發(fā)明,還包括用于探測受光部的受光靈敏度的測試用光源,測試時(shí),通過由受光部接收來自測試用光源的測試光并檢測其受光量的增加,來探測受光部的受光靈敏度降低,從而能夠根據(jù)受光部增加的受光量判斷受光部的受光靈敏度降低。因此,根據(jù)本發(fā)明,能夠提供高精度探測受光部的受光靈敏度降低的感煙探測器。此外,根據(jù)本發(fā)明,由于受光部接收透光體發(fā)生污損等異常時(shí)產(chǎn)生的散射光,所以能通過受光量的增加來探測污損等異常。此外,根據(jù)本發(fā)明,通過將測試用光源設(shè)置在測試用光源的測試光能入射到透光體的位置、且位于受光部的視野范圍外的位置上,測試時(shí),透光體沒有污損等、受光部的受光靈敏度沒有降低時(shí),受光部基本不會(huì)接收測試用光源的測試光,而當(dāng)透光體有污損等、受光部的受光靈敏度降低時(shí),受光部可以接收因所述污損等異常導(dǎo)致入射透光體的測試用光源的測試光散射而產(chǎn)生的散射光,基于透光體沒有污損等異常時(shí)與有污損等異常時(shí)之間增加的受光部的受光量,能夠判斷受光部的受光靈敏度降低。而且,根據(jù)本發(fā)明,測試用光源設(shè)置在測試用光源的測試光能入射到所述透光體的位置、且設(shè)置在內(nèi)部范圍外的位置上,所述內(nèi)部范圍劃定在受光部的視野范圍內(nèi),并且在所述內(nèi)部范圍中,透光體沒有污損等異常時(shí)的、由受光部接收測試用光源的測試光的受光量,大于等于透光體有污損等異常時(shí)的、由受光部以非散射光的狀態(tài)和散射光的狀態(tài)接收的測試用光源的測試光的受光量之和?;蛘?,測試用光源設(shè)置在測試用光源的測試光能入射到透光體的位置、且設(shè)置在內(nèi)部范圍外的位置上,所述內(nèi)部范圍劃定在受光部的視野范圍內(nèi),并且在將透光體沒有污損等異常時(shí)的、由受光部接收的來自測試用光源的測試光的受光量設(shè)為A0,將透光體有污損等異常時(shí)的、由受光部以非散射光的狀態(tài)接收的來自測試用光源的測試光的受光量設(shè)為A1,將以散射光的狀態(tài)接收的來自測試用光源的測試光的受光量設(shè)為B1的情況下,所述內(nèi)部范圍中關(guān)系式A0≥A1+B1成立。由此,相比于透光體沒有污損等、受光部的受光靈敏度沒有降低時(shí)由受光部接收的測試用光源的測試光的受光量,透光體有污損等、受光部的受光靈敏度降低時(shí)由受光部接收的測試用光源的測試光的受光量增大,因此,能夠基于透光體沒有污損等異常時(shí)與有污損等異常時(shí)之間增加的受光部的受光量,判斷受光部的受光靈敏度降低。附圖說明圖1是簡要表示本發(fā)明第一實(shí)施方式中設(shè)備結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)圖。圖2是表示第一實(shí)施方式中測試光的軌跡等的說明圖。圖3是表示第一實(shí)施方式中受光靈敏度測試時(shí)的處理流程的流程圖。圖4是本發(fā)明第二實(shí)施方式中相當(dāng)于圖2的圖。圖5是本發(fā)明第三實(shí)施方式中相當(dāng)于圖2的圖。圖6是本發(fā)明第四實(shí)施方式中相當(dāng)于圖2的圖。附圖標(biāo)記說明1感煙探測器2煙檢測單元2a暗箱3風(fēng)扇4流入部5導(dǎo)入通道6發(fā)光部6a發(fā)光元件7受光部7a受光元件7b受光窗7c遮擋壁8電源部9控制部10聚光透鏡(發(fā)光部側(cè))11聚光透鏡(受光部側(cè))12檢煙部13遮光部14光收集器15~16孔17流道分路部18回流通道19流道合流部20過濾器21空氣流傳感器22測試用光源SA取樣空氣LB光線軌跡R1視野范圍R2內(nèi)部范圍RF反射面TB1~TB3光線軌跡具體實(shí)施方式(第一實(shí)施方式)首先,根據(jù)圖1至圖3說明第一實(shí)施方式的感煙探測器1。另外,感煙探測器1可以在預(yù)防火災(zāi)和發(fā)現(xiàn)火災(zāi)時(shí)用作探測煙的裝置,或者在半導(dǎo)體制造工廠和食品工廠等(所謂無塵室等)的環(huán)境維護(hù)時(shí)用作探測污染物質(zhì)(塵埃等)的裝置。如圖1所示,感煙探測器1包括:由暗箱2a劃定的煙檢測單元2;以及風(fēng)扇3,將空氣A作為探測對象的取樣空氣SA借助導(dǎo)入通道5送入煙檢測單元2,所述空氣A從監(jiān)視區(qū)域中鋪設(shè)的未圖示取樣用配管借助流入部4流入,在煙檢測單元2內(nèi)包括:具有LED等發(fā)光元件6a的發(fā)光部6;以及受光部7,具備光電二極管等受光元件7a,并且所述受光部7配置成使來自發(fā)光部6的光LB不會(huì)直接入射所述受光元件7a,此外,感煙探測器1還具有電源部8和控制部9等,所述電源部8連接于發(fā)光部6的發(fā)光元件6a、受光部7的受光元件7a和空氣流傳感器21等,所述控制部9連接于受光部7的受光元件7a等。另外,在本實(shí)施方式中,感煙探測器1的導(dǎo)入通道5從風(fēng)扇3的二次側(cè)在流道分路部17處分路,且使取樣空氣SA從煙檢測單元2回流的回流通道18在風(fēng)扇3的二次側(cè)的流道合流部19處合流,利用流道合流部19與流道分路部17之間產(chǎn)生的壓力差(通過使流道合流部19中的流速大于流道分路部17中的流速,可以使兩者間產(chǎn)生壓力差,例如通過將流道合流部19設(shè)置在風(fēng)扇3的轉(zhuǎn)動(dòng)葉片的周向邊緣附近的位置上,并將流道分路部17設(shè)置在遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)動(dòng)葉片的周向邊緣的位置上,可以使兩者間產(chǎn)生壓力差),使取樣空氣SA從導(dǎo)入通道5在過濾器20過濾后通過煙檢測單元2,并從回流通道18回流至風(fēng)扇3的二次側(cè)。感煙探測器1中,在煙檢測單元2的暗箱2a中央設(shè)有檢煙部12,該檢煙部12在取樣空氣SA通過時(shí)以光學(xué)方式探測煙等。即,在感煙探測器1中,如果取樣空氣SA中含有煙等,則在取樣空氣SA通過檢煙部12時(shí),因煙等導(dǎo)致來自發(fā)光部6的發(fā)光元件6a的光LB發(fā)生散射而產(chǎn)生散射光,受光部7的受光元件7a接收所述散射光以探測煙等。另外,在煙檢測單元2的暗箱2a內(nèi),在發(fā)光部6的前方(具體為正前方)設(shè)有聚光透鏡10,該聚光透鏡10使來自發(fā)光部6的發(fā)光元件6a的光LB朝向檢煙部12側(cè)集中并透過,在受光部7的前方(具體為正前方)設(shè)有作為透光體一例的聚光透鏡11,該聚光透鏡11使來自發(fā)光部6的發(fā)光元件6a的光LB因煙等而散射所產(chǎn)生的散射光等朝向受光部7側(cè)集中并透過,孔15、16使來自發(fā)光部6的發(fā)光元件6a的光LB通過,遮光部13由光收集器14等構(gòu)成,所述光收集器14用于將來自發(fā)光部6的發(fā)光元件6a的光LB衰減為雜散光。在感煙探測器1中,控制部9包括:放大電路,將來自受光部7的受光元件7a的信號(hào)放大;A/D轉(zhuǎn)換器,對放大的信號(hào)進(jìn)行轉(zhuǎn)換;以及比較電路,將轉(zhuǎn)換后的信號(hào)與預(yù)先設(shè)定的閾值進(jìn)行比較,控制部9能夠基于來自受光部7的受光元件7a的信號(hào)進(jìn)行煙等探測的判斷等,此外如后詳述,在測試時(shí),控制部9還能夠控制測試用光源22亮燈、基于來自受光部7的受光部元件7a的信號(hào)進(jìn)行其受光靈敏度降低的探測的判斷、以及在探測到受光部7的受光元件7a的受光靈敏度降低時(shí)進(jìn)行控制以輸出異常信號(hào)。并且,在感煙探測器1的煙檢測單元2的暗箱2a內(nèi),將用于探測受光部7的受光靈敏度降低的LED等測試用光源22設(shè)置在測試光入射作為透光體一例的聚光透鏡11的位置,同時(shí)處于煙檢測單元2的暗箱2a內(nèi)展開的受光部7的受光元件7a的視野范圍R1(...
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