專利名稱：一種102f傅立葉光譜儀的適配器及使用方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于定量遙感研究與應(yīng)用領(lǐng)域中的102F傅立葉光譜儀中的適配裝置，具體地，是涉及一種102F傅立葉光譜儀的適配器及方法。
背景技術(shù)：
102F傅立葉光譜儀是美國D&P公司生產(chǎn)的3_25微米紅外光譜儀。原設(shè)計的地物比輻射率測量中被測地物的黑體溫度的獲取方法，是用該儀器直接測量的輻射溫度進行模擬，此模擬值是近似值，僅適合高比輻射率地物的測量。不適合需要低比輻射率應(yīng)用的科研、地質(zhì)探礦和軍事偽裝反偽裝等領(lǐng)域。具體來講，102F傅立葉光譜儀在測量比輻射率的方法中必須的一項數(shù)據(jù)是地物在 實際溫度下的黑體普朗克函數(shù)，即該地物在實際溫度下的黑體光譜出輻射度的分布曲線。原102F傅立葉光譜儀獲取該重要數(shù)據(jù)的方法是利用測量地物的輻射溫度進行模擬，在實際溫度下地物的黑體溫度與輻射溫度是不相等的。地物比輻射率越小兩者的差值越大。因此，在測量高比輻射率的場合，例如植被和水體，原102F傅立葉光譜儀在測量比輻射率的方法所引起的誤差在一般要求不甚嚴(yán)格的場合，尚且可以。然而，在測量低比輻射率的場合，原102F傅立葉光譜儀在測量比輻射率的方法所引起的誤差就不可接受。

發(fā)明內(nèi)容
針對上述現(xiàn)有技術(shù)中102F傅立葉光譜儀不能精確測量低比輻射率地物的缺陷，本發(fā)明的目的是提供一種102F傅立葉光譜儀的適配器及方法，運用假黑體原理，通過適配器直接測定低比輻射率被測物的黑體溫度，從而獲取科研、地質(zhì)探礦和軍事偽裝反偽裝等領(lǐng)域所需要的低比輻射率地物的比輻射率。本發(fā)明目的之一的一種102F傅立葉光譜儀的適配器，包括雙截嵌套黑體筒為小截黑體筒I和大截黑體筒2 ;小截黑體筒I與大截黑體筒2均為中空筒體；所述小截黑體筒I 一端與102F傅立葉光譜儀物鏡匹配連接，另一端與大截黑體筒2 一端匹配連接，固定連接后無絲毫漏光；小截黑體筒I的軸線與大截黑體筒2的軸線位于同一直線上；所述小截黑體筒I與102F傅立葉光譜儀物鏡的匹配固定方式可為轉(zhuǎn)式鎖定；所述大截黑體筒2 —端與小截黑體筒I匹配連接，另一端設(shè)有尺寸擴展罩3，所述尺寸擴展罩3內(nèi)放置被測物。被測物與102F傅立葉光譜儀物鏡之間的測距與所述小截黑體筒I的筒體徑向橫截面直徑之比大于6。所述大截黑體筒2和小截黑體筒I的筒體內(nèi)壁設(shè)置為無光黑體，黑體筒等效比輻射率大于O. 99。所述大截黑體筒2內(nèi)壁覆蓋均勻涂覆有無光黑體漆，使黑體筒等效比輻射率大于O. 99 ;優(yōu)選輻射率大于O. 99999 ;且在所述大截黑體筒2的筒體外壁覆蓋有高反射率的銀光漆；所述大截黑體筒2的材質(zhì)可選用隔熱性能好，耐摩擦，而比重不要太大，即不要太重的材料，材料的導(dǎo)熱率必須彡O. 030W/mk，可選擇低導(dǎo)熱率的PVC。這里所述的低導(dǎo)熱率是指熱穩(wěn)定性S彡20、導(dǎo)熱率< O. 030W/mk。所述小截黑體筒I包括筒體11和端帽12 ;所述端帽12通過螺紋或者卡扣方式與所述筒體11連接；所述端帽12為中空結(jié)構(gòu)，102F傅立葉光譜儀物鏡連接在所述端帽12處，物鏡的軸線與所述大、小截黑體筒的軸線均在一條直線上。由于本發(fā)明是通過上下拉動小截黑體筒I來調(diào)節(jié)觀測距離的，所以小截黑體筒I的高度的確定是為了方便調(diào)節(jié)、適配102傅立葉光譜儀透鏡的觀測高度；小截黑體筒I下端的直徑要大于102F傅里葉光譜儀的物鏡在與小截黑體筒I下端同高度時的視場角的直徑;
所述小截黑體筒I與大截黑體筒2的高度之和的范圍為600毫米、00毫米，優(yōu)選720毫米 840毫米；所述大截黑體筒2的筒體徑向橫截面直徑為150毫米或140毫米；所述小截黑體筒I的筒體徑向橫截面必須與所用光譜儀物鏡匹配，直徑為33毫米；所述小截黑體筒I為黑色PVC材質(zhì)制成，內(nèi)壁噴涂中性黑體漆。本發(fā)明目的之二為使用本發(fā)明的這種102F傅立葉光譜儀的適配器進行測試的方法，依次包括如下步驟步驟一，預(yù)處理將所述小截黑體筒I與所述大截黑體筒2進行匹配，而無絲毫漏光;待觀測物體預(yù)處理將所述適配器罩上待觀測物體15分鐘后進行試驗；并遮擋適配器上太陽光，防止直射；步驟二，實驗步驟開啟裝置并初始化后設(shè)置實驗參數(shù)，進行預(yù)備性觀測和高低溫黑體的定標(biāo)觀測，在適配器下觀測被測物體的黑體溫度，被測物體采樣觀測，天空下行輻射測量，測定適配器的環(huán)境輻射，數(shù)據(jù)保存。其中，被測物體采樣觀測與天空下行輻射測量相隔時間越短越好；所述在適配器下觀測被測物體的黑體溫度的步驟為將102F傅立葉光譜儀物鏡置于適配器上方，與小截黑體筒I 一端進行匹配固定，固定連接而無絲毫漏光；套上大截黑體筒(2)以調(diào)節(jié)被測地物與102F物鏡之間的測量距離；連接102F傅立葉光譜儀，進行測試；被測物與102F傅立葉光譜儀物鏡之間的測距與所述大截黑體筒2的徑向橫截面直徑之比大于6 ;所述測定適配器的環(huán)境輻射的步驟為在被測物的位置放置金板，將適配器罩住金板，采樣，保存數(shù)據(jù)文件對應(yīng)于上面觀測結(jié)果。其中，所述采樣即調(diào)整光譜儀的模式為F1-SAMPLE，再進行采樣。更具體地，本發(fā)明目的之二的使用本發(fā)明的這種102F傅立葉光譜儀的適配器進行測試的方法，依次包括如下步驟I.預(yù)處理將所述小截黑體筒I與所述大截黑體筒2進行匹配，而無絲毫漏光；至少在觀測之前15分鐘，用所述適配器大截黑體筒2下端的尺寸擴展罩3罩上待觀測物體；并用遮陽傘擋住太陽光，防止直射到所述適配器上；2.開啟裝置并初始化打開儀器，在102F傅里葉光譜儀的計算機部件中建立工作目錄；啟動批處理軟件，設(shè)置工作路徑；3.設(shè)置實驗參數(shù)在102F傅里葉光譜儀顯示屏的Instrument菜單下進行設(shè)置Coadds (每次采樣次數(shù),用于計算平均值)，Resolution (分辨率設(shè)置)，Set Zero Fill (空值填充方法)，F(xiàn)FT (快速傅里葉轉(zhuǎn)換)默認(rèn)設(shè)置為HANNING (平滑處理)，TemperaturecontroK溫度控制設(shè)置):人工設(shè)置黑體溫度(環(huán)境溫度)、冷黑體溫度(低于環(huán)境溫度15度)、熱黑體溫度(高于環(huán)境溫度20度)，儀器溫度設(shè)置(設(shè)置為環(huán)境溫度);選擇觀測的參量比輻射率，在102F傅里葉光譜儀顯示屏的Process菜單下,選擇emissivity (比福射率)。4.預(yù)備性觀測F1-Aquire功能中點開sample菜單,移開被測物上的適配器,進行一次被測物預(yù)備性觀測。注意，防止先標(biāo)定觀測所出現(xiàn)的日期錯誤問題)。測量結(jié)束后，儀器會提示進行保存。這次觀測僅是程序適應(yīng)要求的預(yù)備性觀測，觀測后迅速將適配器罩在被測物的原來位置。5.高低溫黑體的定標(biāo)觀測預(yù)備性觀測結(jié)束后，開進行傅里葉光譜儀配置的高低溫黑體的定標(biāo)觀測，旨在確定儀器的靈敏度。鏡頭向天頂方向旋轉(zhuǎn)，在鏡頭上安裝儀器配置 的黑體源。打開Process菜單中calibriate instrument選項·進行黑體標(biāo)定。首先標(biāo)定冷黑體，等到狀態(tài)欄顯示溫度和冷黑體溫度差距很小且穩(wěn)定時，進行冷黑體采樣。然后，讓黑體加熱，等溫度和擬定熱黑體溫度差距很小且不變化時。進行熱黑體的采樣。6.在適配器下觀測被測物體的黑體溫度將102F傅里葉光譜儀鏡頭下旋，在已經(jīng)罩住被測物的適配器的小截黑體筒I的上端，將102F傅里葉光譜儀物鏡迅速接上，調(diào)節(jié)小截黑體筒I插入大截黑體筒2中的深度，并作旋轉(zhuǎn)鎖定，進行被測物黑體溫度的測量，保存結(jié)果并命名。7.被測物體采樣觀測移開適配器，對準(zhǔn)被測物再進行一次正式測量，保存結(jié)果并命名。這次采樣方法和第7步相同。此次作為被測物在自然的天空下行輻射下的觀測結(jié)果。置換在第7步中的預(yù)備性測量數(shù)據(jù)。8.天空下行輻射測量在被測物位置放上102F傅里葉光譜儀配置的金板，在Fl-aquire采集功能鍵下的將down welling radiance項打開。然后進行下行福射采樣。下行輻射時觀測員不要移動，周圍人員不要走動，遠離儀器。9.測定適配器的環(huán)境輻射在被測物的位置放置金板，將適配器罩住金板。選擇Process菜單中F1-SAMPLE選項，再進行采樣。保存數(shù)據(jù)文件對應(yīng)于上面觀測結(jié)果。數(shù)據(jù)名需要明確。10.黑體再次標(biāo)定(該步驟可選)再次對黑體進行儀器標(biāo)定。第一種樣品測量完成，重復(fù)3-9步驟。完成其他樣品測量。11.數(shù)據(jù)保存所有觀測完成后，退出軟件，把文件復(fù)制到軟盤里，方便后續(xù)處理。經(jīng)實際多次反復(fù)應(yīng)用此適配器，可以方便精確獲取低比輻射率地物的比輻射率波譜。用本發(fā)明的適配器和方法測量的結(jié)果，與實際理想(真值)的黑體光譜分布曲線相當(dāng)一致，解決了現(xiàn)有技術(shù)中102F傅立葉光譜儀在測量低比輻射率的場合時誤差偏大的問題，從而可以獲取科研、地質(zhì)探礦和軍事偽裝反偽裝等領(lǐng)域所需要的低比輻射率地物的比輻射率。本發(fā)明的適配器結(jié)構(gòu)簡單、使用方便、造價低廉、便于攜帶；使用本發(fā)明的適配器及方法可以很好地解決現(xiàn)有技術(shù)中102F傅立葉光譜儀在測量低比輻射率的場合時誤差偏大的問題，效果明顯，適于推廣運用。


圖I為本發(fā)明的適配器測量的結(jié)果與實際理想(真值)的黑體光譜分布曲線對比圖；圖2為本發(fā)明的適配器的小截黑體筒和大截黑體筒水平放置裝配正視圖；圖3-1和圖3-2分別為本發(fā)明的小截黑體筒水平放置時的正視圖及俯視圖；圖4-1和圖4-2分別為本發(fā)明的大截黑體筒水平放置時的正視圖及俯視圖；
其中，I為小截黑體筒，2為大截黑體筒，3為尺寸擴展罩，11為筒體，12為端帽。
具體實施例方式實施例I分別按現(xiàn)有技術(shù)中的102F傅立葉光譜儀的檢測方法和本發(fā)明的檢測方法分別測定鋁板；得到的檢測結(jié)果見圖I ;其中，所用檢測方法的具體步驟分別為現(xiàn)有技術(shù)中的102F傅立葉光譜儀的檢測方法的具體步驟如下I.打開儀器，在其計算機部件中建立工作目錄；2.啟動批處理軟件；3.設(shè)置工作路徑；4.設(shè)置參數(shù)在102F傅里葉光譜儀顯示屏的Instrument菜單下進行設(shè)置Coadds (每次采樣8次數(shù),用于計算平均值)，Resolution(分辨率設(shè)置高)，Set ZeroFill (空值填充方法)，設(shè)置FFT，(默認(rèn)設(shè)置的是HANNING)，溫度控制設(shè)置Temperaturecontrol :人工設(shè)置黑體(環(huán)境溫度)，冷黑體(環(huán)境溫度低15度)，熱黑體(高20度)，儀器溫度設(shè)置(設(shè)置為環(huán)境溫度)。5.選擇觀測的參量比輻射率。在102F傅里葉光譜儀顯示屏的Process菜單下，選擇 emissivity。6. Fl-Aquire功能中點開sample菜單，移開被測物上的適配器，進行一次被測物預(yù)備性觀測。(注意，防止先標(biāo)定觀測所出現(xiàn)的日期錯誤問題)。測量結(jié)束后，儀器會提示進行保存。這次觀測僅是程序適應(yīng)要求的預(yù)備性觀測，觀測后迅速將適配器罩在被測物的原來位置。7.備性觀測結(jié)束后，進行傅里葉光譜儀配置的高低溫黑體的定標(biāo)觀測，旨在確定儀器的靈敏度。鏡頭向天頂方向旋轉(zhuǎn)，在鏡頭上安裝儀器配置的黑體源。打開Process菜單中calibriate instrument選項.進行黑體標(biāo)定。首先標(biāo)定冷黑體，等到狀態(tài)欄顯示溫度和冷黑體溫度差距很小且穩(wěn)定時，進行冷黑體采樣。然后，讓黑體加熱，等溫度和擬定熱黑體溫度差距很小且不變化時。進行熱黑體的采樣。8.被測物體采樣觀測取下102傅里葉光譜儀配置的高低溫黑體，放回儀器黑體停放處。102傅里葉光譜儀鏡頭下旋，對準(zhǔn)觀測物再采樣一次。這次采樣方法和6相同。此次作為被測物在自然的天空下行輻射下的觀測結(jié)果。放棄第6步觀測數(shù)據(jù)。9.天空下行輻射測量，在被測物位置，放置102傅里葉光譜儀配置的金板，首先采用熱電偶點溫計測量金板溫度。在Fl-aquire采集功能鍵下,將down welling radiance項打開，輸入測量的金板溫度。然后進行下行輻射采樣。下行輻射時觀測員不要移動，周圍人員不要走動，遠離儀器。10.黑體再次標(biāo)定(可選)再次對黑體進行儀器標(biāo)定。第一種樣品測量完成，重復(fù)5-10。完成其他樣品測量。11.所有觀測完成后，退出軟件，把文件復(fù)制到軟盤里，方便后續(xù)處理。本發(fā)明的使用適配器的102F傅立葉光譜儀的檢測方法的具體步驟如下I.預(yù)處理將所述小截黑體筒I與所述大截黑體筒2進行匹配，而無絲毫漏光；至少在觀測之前15分鐘，用所述適配器大截黑體筒2下端的尺寸擴展罩3罩上待觀測物體；并用遮陽傘擋住太陽光，防止直射到所述適配器上；

2.開啟裝置并初始化打開儀器，在102F傅里葉光譜儀的計算機部件中建立工作目錄；啟動批處理軟件，設(shè)置工作路徑；3.設(shè)置實驗參數(shù)在102F傅里葉光譜儀顯示屏的Instrument菜單下進行設(shè)置Coadds (每次采樣次數(shù),用于計算平均值)，Resolution (分辨率設(shè)置)，Set Zero Fill (空值填充方法)，設(shè)置FFT，(默認(rèn)設(shè)置的是HANNING)，Temperature control (溫度控制設(shè)置)人工設(shè)置黑體溫度(環(huán)境溫度)、冷黑體溫度低于環(huán)境溫度15度)、熱黑體溫度(高于環(huán)境溫度20度)，儀器溫度設(shè)置(設(shè)置為環(huán)境溫度)；選擇觀測的參量比輻射率，在102F傅里葉光譜儀顯示屏的Process菜單下,選擇emissivity (比福射率)。4.預(yù)備性觀測F1-Aquire功能中點開sample菜單,移開被測物上的適配器,進行一次被測物預(yù)備性觀測。注意，防止先標(biāo)定觀測所出現(xiàn)的日期錯誤問題。測量結(jié)束后，儀器會提示進行保存。這次觀測僅是程序適應(yīng)要求的預(yù)備性觀測，觀測后迅速將適配器罩在被測物的原來位置。5.高低溫黑體的定標(biāo)觀測預(yù)備性觀測結(jié)束后，開進行傅里葉光譜儀配置的高低溫黑體的定標(biāo)觀測，旨在確定儀器的靈敏度。鏡頭向天頂方向旋轉(zhuǎn)，在鏡頭上安裝儀器配置的黑體源。打開Process菜單中calibriate instrument選項·進行黑體標(biāo)定。首先標(biāo)定冷黑體，等到狀態(tài)欄顯示溫度和冷黑體溫度差距很小且穩(wěn)定時，進行冷黑體采樣。然后，讓黑體加熱，等溫度和擬定熱黑體溫度差距很小且不變化時。進行熱黑體的采樣。6.在適配器下觀測被測物體的黑體溫度將102F傅里葉光譜儀鏡頭下旋，在已經(jīng)罩住被測物的適配器的小截黑體筒I的上端，將102F傅里葉光譜儀物鏡迅速接上，調(diào)節(jié)小截黑體筒I插入大截黑體筒2中的深度，并作旋轉(zhuǎn)鎖定，進行被測物黑體溫度的測量，保存結(jié)果并命名。7.被測物體采樣觀測移開適配器，對準(zhǔn)被測物再進行一次正式測量，保存結(jié)果并命名。這次采樣方法和第7步相同。此次作為被測物在自然的天空下行輻射下的觀測結(jié)果。置換在第7步中的預(yù)備性測量數(shù)據(jù)。8.天空下行輻射測量在被測物位置放上102F傅里葉光譜儀配置的金板，在Fl-aquire采集功能鍵下的將down welling radiance項打開。然后進行下行福射采樣。下行輻射時觀測員不要移動，周圍人員不要走動，遠離儀器。9.測定適配器的環(huán)境輻射在被測物的位置放置金板，將適配器罩住金板。使用F1-SAMPLE采樣。保存數(shù)據(jù)文件對應(yīng)于上面觀測結(jié)果。數(shù)據(jù)名需要明確。10.黑體再次標(biāo)定(該步驟可選)再次對黑體進行儀器標(biāo)定。第一種樣品測量完成，重復(fù)3-9步驟。完成其他樣品測量。11.數(shù)據(jù)保存所有觀測完成后，退出軟件，把文件復(fù)制到軟盤里，方便后續(xù)處理。實驗結(jié)果從圖I可看到，用本發(fā)明的適配器及方法得到的鋁板黑體輻射度分布曲線與真值 非常接近，而用原儀器自帶軟件得到的鋁板黑體輻射度分布曲線偏離真值?？梢?，利用本發(fā)明的適配器及方法解決了現(xiàn)有技術(shù)中102F傅立葉光譜儀在測量低比輻射率的場合時誤差偏大的問題，從而可以獲取更準(zhǔn)確的低比輻射率地物的比輻射率。
權(quán)利要求
1.一種102F傅立葉光譜儀的適配器，其特征在于包括雙截嵌套黑體筒為小截黑體筒(I)和大截黑體筒(2);小截黑體筒(I)與大截黑體筒(2)均為中空筒體； 所述小截黑體筒(I) 一端與102F傅立葉光譜儀物鏡匹配連接，另一端與大截黑體筒(2)—端匹配連接；小截黑體筒(I)的軸線與大截黑體筒(2)的軸線位于同一直線上。
2.如權(quán)利要求I所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器，其特征在于 所述大截黑體筒(2)—端與小截黑體筒(I)匹配連接，另一端設(shè)有尺寸擴展罩(3)，所述尺寸擴展罩(3)內(nèi)放置被測物。
3.如權(quán)利要求I或2所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器，其特征在于 被測物與102F傅立葉光譜儀物鏡之間的測距與所述小截黑體筒(I)的徑向橫截面直徑之比大于6。
4.如權(quán)利要求I或2所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器，其特征在于 所述小截黑體筒(I)和大截黑體筒(2)的筒體高度之和的范圍為600毫米、00毫米；所述大截黑體筒(2)的筒體徑向橫截面直徑為150毫米或140毫米；所述小截黑體筒(I)的筒體徑向橫截面直徑為33毫米。
5.如權(quán)利要求I或2所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器，其特征在于 所述小截黑體筒(I)包括筒體(11)和端帽(12);所述端帽(12)通過螺紋或者卡扣方式與所述筒體(11)連接；所述端帽(12)為中空結(jié)構(gòu)，102F傅立葉光譜儀物鏡連接在所述端帽(12)處，所述物鏡的軸線與所述小截黑體筒(I)、大截黑體筒(2)的軸線位在一條直線上。
6.如權(quán)利要求I或2所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器，其特征在于 所述小截黑體筒(I)和大截黑體筒(2)的筒體高度之和的范圍為720毫米 840毫米；所述大截黑體筒(2)的筒體徑向橫截面直徑為150毫米或140毫米，所述小截黑體筒(2)的筒體徑向橫截面直徑為33毫米。
7.如權(quán)利要求I所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器，其特征在于 所述大截黑體筒(2)和小截黑體筒(I)的筒體內(nèi)壁設(shè)置為無光黑體，黑體筒等效比輻射率大于O. 99。
8.如權(quán)利要求I或7所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器，其特征在于 所述大截黑體筒(2)內(nèi)壁覆蓋均勻涂覆有無光黑體漆；且在所述大截黑體筒(2)的筒體外壁覆蓋有高反射率的銀光漆；所述大截黑體筒(2)的筒體的材質(zhì)選用低導(dǎo)熱率的PVC ；所述低導(dǎo)熱率是指熱穩(wěn)定性S ^ 20，導(dǎo)熱率< O. 030ff/mk ； 所述小截黑體筒(I)為黑色PVC材質(zhì)制成，內(nèi)壁噴涂中性黑體漆。
9.如權(quán)利要求I所述的一種102F傅立葉光譜儀的適配器，其特征在于 所述小截黑體筒(I)與102F傅立葉光譜儀物鏡的匹配固定方式為轉(zhuǎn)式鎖定。
10.如權(quán)利要求I 9之一所述的適配器的使用方法，其特征在于依次包括如下步驟 步驟一，預(yù)處理將所述小截黑體筒(I)與所述大截黑體筒(2)進行匹配，而無絲毫漏光; 待觀測物體預(yù)處理將所述適配器罩上待觀測物體至少15分鐘后再進行試驗；并遮擋適配器上太陽光，防止太陽直接輻射； 步驟二，實驗步驟開啟裝置并初始化后設(shè)置實驗參數(shù)，進行預(yù)備性觀測和高低溫黑體的定標(biāo)觀測，在適配器下觀測被測物體的黑體溫度、被測物體采樣觀測、天空下行輻射測量、測定適配器的環(huán)境輻射、數(shù)據(jù)保存； 在所述實驗步驟里，在適配器下觀測被測物體的黑體溫度的步驟為 將102F傅立葉光譜儀物鏡置于適配器上方，與小截黑體筒(I) 一端進行匹配固定，固定連接而 無絲毫漏光；套上大截黑體筒(2)以調(diào)節(jié)被測地物與102F物鏡之間的測量距離；連接102F傅立葉光譜儀，進行測試；被測物與102F傅立葉光譜儀物鏡之間的測距與所述小截黑體筒(2)的徑向橫截面直徑之比大于6 ;所述測定適配器的環(huán)境輻射的步驟為在被測物的位置放置金板，將適配器罩住金板，采樣，保存數(shù)據(jù)文件對應(yīng)于上面觀測結(jié)果。
全文摘要
本發(fā)明提供一種102F傅立葉光譜儀的適配器及使用方法，所述適配器包括雙截嵌套黑體筒，分為小截黑體筒(1)和大截黑體筒(2)；其中，所述小截黑體筒(1)的一端與102F傅立葉光譜儀物鏡匹配，使物鏡進入而無絲毫漏光；所述小截黑體筒(1)的另一端與大截黑體筒(2)上端匹配，固定連接后無絲毫漏光；所述大截黑體筒(2)的下端裝有尺寸擴展罩(3)。利用本發(fā)明的適配器及方法解決了現(xiàn)有技術(shù)中102F傅立葉光譜儀在測量低比輻射率的場合時誤差偏大的問題，從而可以獲取更準(zhǔn)確的低比輻射率地物的比輻射率。
文檔編號G01J5/02GK102879106SQ20121036350
公開日2013年1月16日 申請日期2012年9月26日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月26日
發(fā)明者張仁華, 田靜, 蘇紅波, 楊永民, 陳少輝, 唐伯惠, 吳驊, 孫曉敏, 唐新齋, 朱治林 申請人:中國科學(xué)院地理科學(xué)與資源研究所