一種在編程時對芯片進行測試的方法及測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提出了一種在編程時對芯片進行測試的方法，包括：將芯片與燒寫器相連；將第一寫入值保存至芯片，第一寫入值用于控制芯片的零點輸出；對芯片進行第一檢測以獲得芯片的第一輸出數(shù)據(jù)；向芯片施加磁場并將第二寫入值保存至芯片，第二寫入值用于控制芯片的額定輸出；對芯片進行第二檢測以獲得芯片的第二輸出數(shù)據(jù)；撤除磁場并根據(jù)第一和第二輸出數(shù)據(jù)生成第一和第二檢測值以便根據(jù)第一和第二檢測值判斷對芯片的編程是否合格。根據(jù)本發(fā)明實施例的方法，在芯片編程過程中對芯片進行及時有效的測試，提高芯片的生產(chǎn)良率，能夠有效地降低測試成本，提高芯片的生產(chǎn)效率。本發(fā)明還提出了一種芯片編程及測試系統(tǒng)。
【專利說明】一種在編程時對芯片進行測試的方法及測試系統(tǒng)
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及芯片測試【技術領域】，特別涉及一種在編程時對芯片進行測試的方法及芯片編程測試系統(tǒng)。
【背景技術】
[0002]目前對編程芯片的測試方法:首先對一批芯片進行編程，用編程好的芯片組裝成最終成品，然后進行測試。
[0003]由于芯片的不一致性，造成芯片編程結(jié)果不一致，但現(xiàn)有技術中并沒有在編程結(jié)束后對芯片進行測試，而是在組裝成成品后統(tǒng)一測試，一旦測試未通過，需要重新編程，如果編程芯片不具有可重復編程功能，將會產(chǎn)生不良品，不能再使用，降低了產(chǎn)品生產(chǎn)良率。如果編程芯片具有重復編程功能，但由于需要返工重新編程，會增加產(chǎn)品生產(chǎn)工時，降低生產(chǎn)效率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的旨在至少解決所述技術缺陷之一。
[0005]為此，本發(fā)明的一個目的在于提出一種在芯片編程中對芯片進行測試，提高芯片的生產(chǎn)良率、降低測試成本的在編程時對芯片進行測試的方法。
[0006]本發(fā)明的另一目的在于提出一種芯片編程及測試系統(tǒng)。
[0007]為達到所述目的，本發(fā)明第一方面的實施例公開了一種在編程時對芯片進行測試的方法，包括以下步驟:將芯片與燒寫器相連；將第一寫入值保存至所述芯片，其中，所述第一寫入值用于控制所述芯片的零點輸出；對所述芯片進行第一檢測，以獲得所述芯片的第一輸出數(shù)據(jù)；向所述芯片施加磁場，并將第二寫入值保存至所述芯片，其中，所述第二寫入值用于控制所述芯片的額定輸出；對所述芯片進行第二檢測，以獲得所述芯片的第二輸出數(shù)據(jù)；以及撤除所述磁場，并根據(jù)所述第一輸出數(shù)據(jù)和所述第二輸出數(shù)據(jù)生成第一檢測值和第二檢測值以便根據(jù)所述第一檢測值和第二檢測值判斷對所述芯片的編程是否合格。
[0008]根據(jù)本發(fā)明實施例的在編程過程中對芯片進行測試的方法，能夠在芯片編程中對芯片進行及時有效的測試，提高芯片的生產(chǎn)良率，并且該測試方法能夠有效地降低測試成本，提聞芯片的生廣效率。
[0009]本發(fā)明第二方面的實施例公開了一種芯片編程及測試系統(tǒng)，包括:燒寫器，所述燒寫器與芯片相連，用于將第一寫入值保存至所述芯片，其中，所述第一寫入值用于控制所述芯片的零點輸出，并在所述芯片被施加磁場時，將第二寫入值保存至所述芯片，其中，所述第二寫入值用于控制所述芯片的額定輸出；磁場控制器，用于控制向所述芯片施加磁場；數(shù)據(jù)采集卡，所述數(shù)據(jù)采集卡與所述芯片相連，用于獲得所述芯片在沒有被施加磁場且進行第一檢測時獲得的第一輸出數(shù)據(jù)，以及獲得所述芯片在被施加磁場且進行第二檢測時獲得的第二輸出數(shù)據(jù)；計算器，所述計算器與所述數(shù)據(jù)采集卡相連，用于分別根據(jù)所述第一輸出數(shù)據(jù)和所述第二輸出數(shù)據(jù)生成第一檢測值和第二檢測值，以及根據(jù)所述第一檢測值和第二檢測值判斷對所述芯片的編程是否合格。
[0010]根據(jù)本發(fā)明實施例的芯片編程及測試系統(tǒng)，能夠在芯片編程中對芯片進行及時有效的測試，提高芯片的生產(chǎn)良率，并且該測試方法能夠有效地降低測試成本，提高芯片的生
產(chǎn)效率。
[0011]本發(fā)明附加的方面和優(yōu)點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實踐了解到。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]本發(fā)明所述的和/或附加的方面和優(yōu)點從下面結(jié)合附圖對實施例的描述中將變得明顯和容易理解，其中:
[0013]圖1是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的在編程時對芯片進行測試的方法的流程圖；
[0014]圖2是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的芯片編程及測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖；以及
[0015]圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的芯片編程及測試系統(tǒng)的操作界面示意圖。
【具體實施方式】
[0016]下面詳細描述本發(fā)明的實施例，所述實施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，僅用于解釋本發(fā)明，而不能解釋為對本發(fā)明的限制。
[0017]在本發(fā)明的描述中，需要理解的是，術語“縱向”、“橫向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底” “內(nèi)”、“外”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便于描述本發(fā)明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對本發(fā)明的限制。
[0018]在本發(fā)明的描述中，需要說明的是，除非另有規(guī)定和限定，術語“安裝”、“相連”、“連接”應做廣義理解，例如，可以是機械連接或電連接，也可以是兩個元件內(nèi)部的連通，可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，對于本領域的普通技術人員而言，可以根據(jù)具體情況理解所述術語的具體含義。
[0019]以下結(jié)合附圖描述根據(jù)本發(fā)明實施例的在編程時對芯片進行測試的方法及芯片編程及測試系統(tǒng)。
[0020]圖1是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的在編程時對芯片進行測試的方法的流程圖。
[0021]如圖1所示，根據(jù)本發(fā)明一個實施例的在編程時對芯片進行測試的方法，包括以下步驟:
[0022]步驟S101，將芯片與燒寫器相連。
[0023]步驟S102，將第一寫入值保存至芯片，其中，第一寫入值用于控制芯片的零點輸出，在具體應用中，第一寫入值由操作人員設定，即第一寫入值根據(jù)產(chǎn)品要求設定。在該步驟中，保存指第一寫入值不會被燒寫至芯片中，而只是保存在芯片的軟件中，即第一寫入值不會被燒寫至芯片中，而只是記錄在編程軟件中。
[0024]步驟S103，對芯片進行第一檢測，以獲得芯片的第一輸出數(shù)據(jù)。具體地，第一檢測是在沒有對芯片施加磁場時進行的，其目的是為了驗證芯片在沒有磁場情況下輸出是否正確，在本發(fā)明的一個實施例中，在未施加均勻磁場時，可以用數(shù)據(jù)米集卡米集芯片的第一輸出數(shù)據(jù)，即無磁場時芯片的輸出值。第一輸出數(shù)據(jù)指芯片的零點輸出。
[0025]步驟S104，向芯片施加磁場，并將第二寫入值保存至芯片，其中，第二寫入值用于控制芯片的額定輸出。在該步驟中，第二寫入值由操作人員設定。進一步地，磁場為均勻磁場，且垂直于芯片的平面方向，具體而言，在垂直于芯片平面方向，施加均勻磁場，該磁場為所加被測量，值的大小由芯片使用環(huán)境中磁場的大小要求決定。
[0026]步驟S105，對芯片進行第二檢測，以獲得芯片的第二輸出數(shù)據(jù)。在施加均勻磁場后進行第二檢測，其目的是為了驗證芯片在有磁場情況下輸出是否正確，同樣地，可用數(shù)據(jù)采集卡采集芯片的第二輸出數(shù)據(jù)，即有磁場時芯片的輸出值。第二輸出數(shù)據(jù)指芯片的額定輸出。
[0027]步驟S106，撤除磁場，并根據(jù)第一輸出數(shù)據(jù)和第二輸出數(shù)據(jù)生成第一檢測值和第二檢測值以便根據(jù)第一檢測值和第二檢測值判斷對芯片的編程是否合格。具體地，在第一檢測和第二檢測中，通過以下公式計算對芯片的測試結(jié)果:
[0028]
【權利要求】
1.一種在編程時對芯片進行測試的方法，其特征在于，包括以下步驟: 將芯片與燒寫器相連； 將第一寫入值保存至所述芯片，其中，所述第一寫入值用于控制所述芯片的零點輸出； 對所述芯片進行第一檢測，以獲得所述芯片的第一輸出數(shù)據(jù)； 向所述芯片施加磁場，并將第二寫入值保存至所述芯片，其中，所述第二寫入值用于控制所述芯片的額定輸出； 對所述芯片進行第二檢測，以獲得所述芯片的第二輸出數(shù)據(jù)； 撤除所述磁場； 以及根據(jù)所述第一輸出數(shù)據(jù)和所述第二輸出數(shù)據(jù)生成第一檢測值和第二檢測值，并根據(jù)所述第一檢測值和第二檢測值判斷對所述芯片的編程是否合格。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在撤除所述磁場之后還包括: 對所述芯片中保存的所述第一寫入值進行校驗； 當校驗正確之后，將所述第一寫入值和第二寫入值燒寫至所述芯片。
3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述磁場為均勻磁場，且垂直于所述芯片的平面方向。
4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述第一檢測和第二檢測中，通過以下公式計算對所述芯片的測試結(jié)果:

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一寫入值和第二寫入值在測試時由操作人員設定。
6.一種芯片編程及測試系統(tǒng)，其特征在于，包括: 燒寫器，所述燒寫器與芯片相連，用于將第一寫入值保存至所述芯片，其中，所述第一寫入值用于控制所述芯片的零點輸出，并在所述芯片被施加磁場時，將第二寫入值保存至所述芯片，其中，所述第二寫入值用于控制所述芯片的額定輸出； 磁場控制器，用于控制向所述芯片施加磁場； 數(shù)據(jù)采集卡，所述數(shù)據(jù)采集卡與所述芯片相連，用于獲得所述芯片在沒有被施加磁場且進行第一檢測時獲得的第一輸出數(shù)據(jù)，以及獲得所述芯片在被施加磁場且進行第二檢測時獲得的第二輸出數(shù)據(jù)； 計算器，所述計算器與所述數(shù)據(jù)采集卡相連，用于分別根據(jù)所述第一輸出數(shù)據(jù)和所述第二輸出數(shù)據(jù)生成第一檢測值和第二檢測值，以及根據(jù)所述第一檢測值和第二檢測值判斷對所述芯片的編程是否合格。
7.如權利要求6所述的芯片編程及測試系統(tǒng)，其特征在于，所述燒寫器還用于在撤除所述磁場之后對所述芯片中保存的所述第一寫入值進行校驗，并在校驗正確之后將所述第一寫入值和第二寫入值燒寫至所述芯片。
8.如權利要求6所述的芯片編程及測試系統(tǒng)，其特征在于，所述磁場為均勻磁場，且垂直于所述芯片的平面方向。
9.如權利要求6所述的芯片編程及測試系統(tǒng)，其特征在于，在所述第一檢測和第二檢測中，通過以下公式計算對所述芯片的測試結(jié)果:
10.如權利要求6所述的芯片編程及測試系統(tǒng)，其特征在于，所述第一寫入值和第二寫入值在測試時由操作人員設定。
【文檔編號】G01R31/28GK103809102SQ201210438601
【公開日】2014年5月21日 申請日期:2012年11月6日 優(yōu)先權日:2012年11月6日
【發(fā)明者】劉雙, 唐新穎 申請人:比亞迪股份有限公司