專利名稱：多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試系統(tǒng)。本發(fā)明可以準(zhǔn)確地測(cè)試出 多通道電控雙折液晶的衰減波紋數(shù)值,進(jìn)而判定液晶rubbing mark的工藝水平,能夠廣泛 適用于要求檢測(cè)多通道電控雙折射液晶的各個(gè)領(lǐng)域，尤其是適用于大型企業(yè)和科研機(jī)構(gòu)對(duì) 多通道電控雙折射液晶衰減波紋進(jìn)行測(cè)試，成本低、速度快。
背景技術(shù)：
近些年來，多通道電控雙折射液晶的出現(xiàn)對(duì)科學(xué)技術(shù)的發(fā)展和工業(yè)生產(chǎn)技術(shù)的革 新影響日趨明顯。電控雙折射液晶不但可以應(yīng)用到液晶顯示LCD領(lǐng)域，尤其投影放大的大 畫面多色顯示領(lǐng)域；同時(shí)，在DWDM光纖通信領(lǐng)域的功率均衡中也具有較好的市場(chǎng)應(yīng)用價(jià)值。
傳統(tǒng)的多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試方法因?yàn)槠渫ǖ垒^多，復(fù)雜度較高， 逐個(gè)通道測(cè)試需要時(shí)間較長，同時(shí)，由于電控雙折射液晶在光纖通信領(lǐng)域需要測(cè)試特定衰 減下的每個(gè)通道損耗波紋數(shù)值，由于不同通道特定衰減下的電壓有差別，因此傳統(tǒng)的方法 測(cè)試較為復(fù)雜、測(cè)試精度低、測(cè)試速度慢。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明公開了一種可以準(zhǔn)確地測(cè)試出多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試系統(tǒng)， 通過每個(gè)通道的電壓-插損曲線擬合得出每個(gè)通道的固定衰減下的準(zhǔn)確電壓，具有成本 低、測(cè)試方法簡單，適用于大型企業(yè)對(duì)多通道電控雙折射液晶衰減波紋的測(cè)試。本發(fā)明的使 用能夠克服傳統(tǒng)方法測(cè)試多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試速度慢、測(cè)試精度低和無法 實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化等缺點(diǎn)，具備測(cè)試速度較快以及測(cè)試精度高等優(yōu)點(diǎn)。
本發(fā)明所采用的技術(shù)方案為
多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于包括光源模塊、光學(xué)平 臺(tái)、待測(cè)多通道電控雙折射液晶及其夾、治具、45度偏振片、平面反射鏡、環(huán)形器、光譜分析 儀及測(cè)試程序，其中光源模塊作為寬帶光源，寬帶光源經(jīng)過光學(xué)平臺(tái)入射到帶有夾、治具的 待測(cè)多通道電控雙折射液晶上，45度偏振片用于從多通道電控雙折射液晶產(chǎn)生不同偏振光 的衰減改變，平面反射鏡用于反射不同偏振態(tài)的寬帶光，該光再經(jīng)過光學(xué)平臺(tái)，經(jīng)由環(huán)形器 接收到光譜分析儀，光譜分析儀用于測(cè)量多通道電控雙折射液晶的插入衰減損耗，整個(gè)測(cè) 試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)分析是通過Labview平臺(tái)獨(dú)立開發(fā)的測(cè)試程序進(jìn)行自動(dòng)控制。
進(jìn)一步地，前述的多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于通過夾、 治具調(diào)整多通道電控雙折射液晶的位置，使得所有通道入射的線偏光在同一水平線，并通 過其治具給多通道電控雙折射液晶以全高電壓，使得線偏光以最小損耗入射。
進(jìn)一步地,前述的多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試系統(tǒng),其特征在于Labview 編寫的測(cè)試程序能夠分別設(shè)定電控雙折射液晶所有通道幾組電壓數(shù)值，光譜分析儀測(cè)試不 同電壓下的損耗，實(shí)時(shí)地保存多通道電控雙折射液晶的電壓-插損數(shù)值，然后通過曲線擬合計(jì)算出預(yù)想衰減下的準(zhǔn)確電壓。
本發(fā)明的使用能夠克服傳統(tǒng)方法測(cè)試多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試不準(zhǔn) 確、測(cè)試范圍小、測(cè)試速度慢和無法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化等缺點(diǎn)，具有測(cè)試精度高、速度快，適用于大 型企業(yè)和科研機(jī)構(gòu)對(duì)多通道電控雙折射液晶的rubbing mark狀況進(jìn)行檢測(cè)。


圖1為多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試系統(tǒng)示意圖。
圖中各附圖標(biāo)記的含義為1、光源模塊；2、環(huán)形器；3、光學(xué)平臺(tái)；4、待測(cè)多通道電 控雙折射液晶及其夾、治具；5、45度偏振片；6、平面反射鏡；7、光譜分析儀；8、測(cè)試程序。
圖2為多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試程序界面圖。
圖3為多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試結(jié)果示意圖。
具體實(shí)施方式
為了實(shí)現(xiàn)多通道電控雙折射液晶衰減波紋的低成本、寬范圍、高速度和自動(dòng)化測(cè) 試，本發(fā)明提出了多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試系統(tǒng)。該測(cè)試系統(tǒng)可以準(zhǔn)確地測(cè)試 出多通道電控雙折射液晶的衰減波紋，能夠廣泛適用于大型企業(yè)和科研機(jī)構(gòu)對(duì)多通道電控 雙折射液晶rubbing mark工藝水平的檢測(cè)。該測(cè)試系統(tǒng)包括光源模塊1、環(huán)形器2、光學(xué)平 臺(tái)3、待測(cè)多通道電控雙折射液晶及其夾、治具4、45度偏振片5、平面反射鏡6、光譜分析儀7、測(cè)試程序8。其結(jié)構(gòu)如圖1所示。
該多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試系統(tǒng)的具體實(shí)施方式
包含兩個(gè)部分
(一)系統(tǒng)的組裝
(I)待測(cè)多通道電控雙折射液晶的安裝及調(diào)整。首先將多通道電控雙折射液晶放 置在其夾具上，并通過其治具給其供電，然后通過其夾具調(diào)整多通道電控雙折射液晶的位 置，使其與光學(xué)平臺(tái)上的45度偏振片貼合，45度偏振片與平面反射鏡貼合，并使得入射的 線偏光平行入射到多通道電控雙折射液晶上，中心位置可以通過多通道電控雙折射液晶固 定通道ITU與光譜分析儀測(cè)試的ITU偏差進(jìn)行調(diào)整。
(2)環(huán)形器的安裝將環(huán)形器的I與光源模塊連接；其2與光學(xué)平臺(tái)上準(zhǔn)直器連 接；其3與光譜分析儀連接。
( 二)多通道電控雙折射液晶衰減波紋的測(cè)試
打開測(cè)試程序，按照如下進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試的操作
(I)選擇控制多通道電控雙折射液晶治具的com 口。
(2)選擇測(cè)試模板，用于實(shí)時(shí)保存從光譜分析儀采集處理后的電壓-損耗數(shù)據(jù)。
(3)輸入待測(cè)多通道電控雙折射液晶的序列號(hào)，并運(yùn)行測(cè)試程序。
(4)結(jié)束后，觀察測(cè)試程序界面的測(cè)試結(jié)果和自動(dòng)保存在電腦硬盤(默認(rèn)D:\ LCripple result)上的測(cè)試結(jié)果。
通過以上結(jié)構(gòu)及檢測(cè)方法的描述，本發(fā)明的實(shí)質(zhì)性特征已明確，其效果主要?dú)w結(jié) 為以下幾點(diǎn)
1、本發(fā)明可以準(zhǔn)確的測(cè)試出多通道電控雙折射液晶每個(gè)通道的衰減波紋數(shù)值，直 接反映出LC rubbing mark的工藝水平。
2、本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法可以實(shí)現(xiàn)低成本、寬范圍、高速度和自動(dòng)化測(cè)試。
3、本發(fā)明適用于大型企業(yè)和科研機(jī)構(gòu)對(duì)多通道電控雙折射液晶衰減波紋進(jìn)行測(cè)試。
綜上所述，本發(fā)明可以準(zhǔn)確的測(cè)試出多通道電控雙折射液晶每個(gè)通道的衰減波紋 數(shù)值，直接反映出LC rubbing mark的工藝水平,其結(jié)構(gòu)特征及測(cè)試方法已被詳細(xì)地公示, 但凡基于上述實(shí)施例及其測(cè)試方法所作的等效替換或簡單修改，均應(yīng)該被包含于本發(fā)明專 利請(qǐng)求的專利保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于包括光源模塊、光學(xué)平臺(tái)、 待測(cè)多通道電控雙折射液晶及其夾、治具、45度偏振片、平面反射鏡、環(huán)形器、光譜分析儀及測(cè)試程序，其中光源模塊作為寬帶光源，寬帶光源經(jīng)過光學(xué)平臺(tái)入射到帶有夾、治具的待測(cè)多通道電控雙折射液晶上，45度偏振片用于從多通道電控雙折射液晶產(chǎn)生不同偏振光的衰減改變，平面反射鏡用于反射不同偏振態(tài)的寬帶光，該光再經(jīng)過光學(xué)平臺(tái)，經(jīng)由環(huán)形器接收到光譜分析儀，光譜分析儀用于測(cè)量多通道電控雙折射液晶的插入衰減損耗，整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)分析是通過Labview平臺(tái)獨(dú)立開發(fā)的測(cè)試程序進(jìn)行自動(dòng)控制。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種可以準(zhǔn)確地測(cè)試出多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試系統(tǒng)，通過每個(gè)通道的電壓-插損曲線擬合得出每個(gè)通道的固定衰減下的準(zhǔn)確電壓，具有成本低、測(cè)試方法簡單，適用于大型企業(yè)對(duì)多通道電控雙折射液晶衰減波紋的測(cè)試。本發(fā)明的使用能夠克服傳統(tǒng)方法測(cè)試多通道電控雙折射液晶衰減波紋測(cè)試速度慢、測(cè)試精度低和無法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化等缺點(diǎn)，具備測(cè)試速度較快、測(cè)試精度高和測(cè)試范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01M11/00GK103063407SQ20121056982
公開日2013年4月24日 申請(qǐng)日期2012年12月25日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月25日
發(fā)明者趙利剛, 劉華, 袁海驥 申請(qǐng)人:科納技術(shù)(蘇州)有限公司