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測量裝置及其測量方法

文檔序號:6164343閱讀:196來源:國知局
測量裝置及其測量方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種測量裝置,該測量裝置包括主控單元、測量桿以及安裝于測量桿上的測量單元,測量單元包括測距模塊、第一電機和第二電機,第一電機驅(qū)動測距模塊轉(zhuǎn)動,第二電機驅(qū)動第一電機轉(zhuǎn)動,主控單元控制第一電機和第二電機的轉(zhuǎn)動、收集并處理測距模塊測得的數(shù)據(jù),還提供了一種測量方法。本發(fā)明測量裝置能夠方便的測知預(yù)測物的三維輪廓,受預(yù)測物的分布情況、體積大小以及形狀影響小,并且本測量裝置結(jié)構(gòu)簡單,拆裝方便,很適合用于大型堆積物的三維輪廓的獲知,特別適用于臨時放置的堆積物。
【專利說明】測量裝置及其測量方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于測量設(shè)備領(lǐng)域,特別是用于測量較大范圍的物品的是三維輪廓,具體涉及一種測量裝置及采用該測量裝置的測量方法。
【背景技術(shù)】
[0002]三維測量可以生成物品的三維輪廓,進而可以獲知其整體的外形,可以方便的獲知物品的體積,進而獲知重量等數(shù)據(jù)。有些堆積物都是隨意的堆放,具有極不規(guī)則的形狀,比如堆放在糧倉里的糧食,放置在地面上的沙土等等,想獲得這些物品的體積或者重量時,往往是通過最初的記錄得知,如果記錄的數(shù)據(jù)存在問題,很難得到真實的情況。
[0003]現(xiàn)有的測量方式多是在堆積物的上空放置垂直的桁架導軌,在導軌上安裝測量儀器,通過測量儀器在導軌上的移動獲得物品的三維輪廓,進而得到體積、重量等數(shù)據(jù)。但這種測量方法中,需要在待測物品上方搭建桁架導軌,這無疑會極大地增加獲得預(yù)測物體積、質(zhì)量等數(shù)據(jù)的成本,并且有時在得知數(shù)據(jù)后,還要拆除桁架導軌,造成測量的極大不方便。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的主要目的是提供一種測量裝置以及相應(yīng)的測量方法,該測量裝置能夠很方便的測出預(yù)測物的三維輪廓,獲取預(yù)測物的體積、重量等信息。
[0005]一種測量裝置,包括主控單元、測量桿以及安裝于所述測量桿上的測量單元,所述測量單元包括測距模塊、第一電機和第二電機,所述第一電機驅(qū)動所述測距模塊轉(zhuǎn)動,所述第二電機驅(qū)動所述第一電機轉(zhuǎn)動,所述主控單元控制所述第一電機和所述第二電機的轉(zhuǎn)動、收集并處理所述測距模塊測得的數(shù)據(jù)。
`[0006]優(yōu)選地,所述第一電機驅(qū)動所述測距模塊等角速度轉(zhuǎn)動。
[0007]優(yōu)選地,所述第一電機驅(qū)動所述測距模塊轉(zhuǎn)動的角速度Co = CociCose/cos Qtl,其中,Θ為所述測距模塊與所述測量桿的夾角,Qtl為所述測距模塊與所述測量桿的最小夾角,Qci為G = Qtl時所述第一電機驅(qū)動所述測距模塊轉(zhuǎn)動的角速度。
[0008]優(yōu)選地,所述測距模塊與所述測量桿處于最小夾角時,所述第二電機驅(qū)動所述測距模塊轉(zhuǎn)動的角度Δ ψη=ψη — Ψη—丨,其中,Ψη、Ψη —丨滿足tan¥n=2tan¥n —丨一tan Ψη_2,η^2;Ψ為所述測距模塊與所述測量桿的夾角,Ψ0為初始所述測距模塊與所述測量桿的夾角,L為所述第二電機首次驅(qū)動所述第一電機轉(zhuǎn)動后所述測距模塊與所述測量桿的夾角。
[0009]優(yōu)選地,所述測距模塊為激光測距模塊、超聲波測距模塊或紅外測距模塊。
[0010]優(yōu)選地,所述測量桿和所述測量單元均為兩個,所述測量單元分別安裝在所述測量桿上,兩所述測量單元在各自的第一電機驅(qū)動相應(yīng)測量模塊時,兩所述測量單元形成的測量軌跡相交。
[0011]優(yōu)選地,兩所述測量單元在各自的第一電機驅(qū)動相應(yīng)測量模塊時,兩所述測量單元形成的測量軌跡相交垂直。[0012]優(yōu)選地,還包括兩個所述測量單元,四個所述測量單元呈矩形狀分布。
[0013]一種測量方法,包括以下步驟:a、放置測量裝置;b、調(diào)整測量單元在測量桿上的高度;c、主控單元控制第二電機驅(qū)動第一電機轉(zhuǎn)動,以調(diào)整測距模塊與測量桿之間的夾角;d、主控單元控制第一電機驅(qū)動測距模塊轉(zhuǎn)動,并收集測距模塊測量的數(shù)據(jù);e、重復步驟C、d,直至完全測量預(yù)測物;f、主控單元處理收集的數(shù)據(jù),生成預(yù)測物的三維模型。
[0014]優(yōu)選地,所述步驟a中所述測量裝置包括四個測量單元,所述測量單元分別放置在所述預(yù)測物的四周。
[0015]本發(fā)明測量裝置能夠方便的測知預(yù)測物的三維輪廓,受預(yù)測物的分布情況、體積大小以及形狀影響小,并且本測量裝置結(jié)構(gòu)簡單,拆裝方便,很適合用于大型堆積物的三維輪廓的獲知,特別適用于臨時放置的堆積物。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1是本發(fā)明測量裝置一種實施方式的示意圖;
[0017]圖2是圖1所示實施方式測量單元的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0018]圖3本發(fā)明測量裝置另一種實施方式的應(yīng)用圖;
[0019]圖4是圖3所不應(yīng)用圖的截面圖;
[0020]圖5是本發(fā)明測量裝置橫向測量時的示意圖;
[0021]圖6是本發(fā)明測量裝置縱向移動時的示意圖。
[0022]本發(fā)明目的的實現(xiàn)、功能特點及優(yōu)點將結(jié)合實施例,參照附圖做進一步說明?!揪唧w實施方式】
[0023]應(yīng)當理解,此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。
[0024]參照圖1和圖2,所示為本發(fā)明測量裝置一種實施方式的示意圖,該測量裝置包括測量桿1、主控單元2和測量單元3,其中測量單元3安裝在測量桿I上,可以根據(jù)預(yù)測物的高度和測量需要進行調(diào)整。測量單元3包括測距模塊31、第一電機32和第二電機33,測距模塊31是激光測距模塊、超聲波測距模塊或者紅外測距模塊等;第一電機32的驅(qū)動軸與測距模塊31發(fā)出的探測信號方向的夾角不為零,第二電機33的驅(qū)動軸與第一電機32的驅(qū)動軸垂直,第一電機32驅(qū)動測距模塊31,第二電機33驅(qū)動第一電機32轉(zhuǎn)動,主控單元2可以是電腦,控制第一電機32和第二電機33的轉(zhuǎn)動、主控單元2還用于收集測距模塊32測得的數(shù)據(jù),并進行相應(yīng)處理。
[0025]參見圖3和圖4,所示為本發(fā)明測量裝置應(yīng)用時的示意圖,該測量裝置包括四個測量桿la、Ic (另兩個未示出),四個測量單元3a、3b、3c、3d,和主控單元(圖中未示出),四個測量桿分別放置在預(yù)測物7的四周,呈矩形狀分布,四個測量單元對應(yīng)安裝在測量桿上,在工作時分別形成掃描軌跡線51、52、53、54,圖中象征性的各畫出了三條軌跡線,在實際應(yīng)用時,軌跡線的間距可根據(jù)預(yù)測物的大小形狀以及對獲得的三維輪廓的精確度要求進行設(shè)置,軌跡線間距越密集,生成的三維輪廓像素越高;相鄰的軌跡線垂直相交,也可以根據(jù)預(yù)測物的形狀選擇軌跡線是否垂直。在本實施方式中,主控單元連接4個測量單元,以控制4個測量單元的獲知預(yù)測物7的信息。
[0026]在測量預(yù)測物7,首先放置測量裝置,將四個測量單元分別放置在預(yù)測物的四周,然后調(diào)整測量單元在測量桿上高度高于預(yù)測物,主控單元控制第二電機驅(qū)動第一電機轉(zhuǎn)動,得到測距模塊與測量桿之間合適的夾角,主控單元控制第一電機驅(qū)動測距模塊轉(zhuǎn)動,形成橫向的軌跡線,主控單元收集測距模塊測量的數(shù)據(jù),在完成一條橫向的軌跡線后,主控單元控制第二電機驅(qū)動第一電機轉(zhuǎn)動,得到測距模塊與測量桿之間新的夾角,主控單元控制第一電機驅(qū)動測距模塊轉(zhuǎn)動,形成新的橫向的軌跡線,主控單元收集測距模塊測量的數(shù)據(jù),重復直至完全測量預(yù)測物,最后,主控單元處理收集的數(shù)據(jù),生成預(yù)測物的三維模型。
[0027]在操作時,測量單元的選擇不限于四個,也可以是一個、兩個、三個甚至是更多個,在選擇多個測量單元時,至少相鄰的測量單元形成的掃描軌跡線是相交的。例如測量單元是兩個時,兩測量單元的掃描軌跡線夾角可以是60° -120°,優(yōu)選為90°。再如測量單元是三個時,可呈品字形分布,各測量單元形成的掃描軌跡線兩兩之間夾角為0° -90°,優(yōu)選為60°。測量單元的個數(shù)能夠滿足測量要求即可。
[0028]參見圖5,所示為測量裝置橫向測量時的示意圖,其中,測距模塊發(fā)出的探測信號6與測量桿I之間的夾角即為測距模塊與測量桿I之間的夾角。測量桿I放置在地面4上,測距模塊發(fā)出的探測信號6與測量桿I之間的最小夾角為Θ ^,在主控單元控制下,第一電機驅(qū)動測距模塊轉(zhuǎn)動時形成測距模塊與測量桿I之間夾角的變化,記為θ,第一電機可以等角速度的驅(qū)動測距模塊轉(zhuǎn)動,形成軌跡線,也可以按照角速度為Co = CociCose/cos Qtl來驅(qū)動測距模塊轉(zhuǎn)動,形成軌跡線,其中,Qci為G = Qtl時所述第一電機驅(qū)動所述測距模塊轉(zhuǎn)動的角速度。
[0029]參見圖6,所示為測量裝置縱向移動時的示意圖,其中,測距模塊發(fā)出的探測信號6與測量桿I之間的夾角即為測距模塊與測量桿I之間的夾角。測量桿I放置在地面4上,測距模塊發(fā)出的探測信號6與所述測量桿處于最小夾角時記為Ψ,當主控單元控制第二電機驅(qū)動第一電機轉(zhuǎn)動時,Ψ增大或者減小。以初始測距模塊發(fā)出的探測信號6與所述測量桿處于最小夾角時記為Vtl,且在第二電機驅(qū)動下Ψ逐漸增大,相鄰變化的角度記為Λ ψη,η變化的次數(shù),第二電機可以等角度的變化驅(qū)動第一電機轉(zhuǎn)動,以形成不同的軌跡線,第二電機也可以Δ Ψη=Ψη — 驅(qū)動第一電機轉(zhuǎn)動,其中,Ψη、滿足tan¥n=2tan¥n_1 - tanΨn —2,且η≥2,V1為所述第二電機首次驅(qū)動第一電機轉(zhuǎn)動后測距模塊發(fā)出的探測信號6與測量桿I的夾角。
[0030]主控單元控制第一電機以不同的角速度驅(qū)動測距模塊轉(zhuǎn)動,形成不同的數(shù)據(jù)采集點,角速度越小,形成的軌跡點越密集;主控單元控制第二電機以不同的角度變化驅(qū)動第一電機轉(zhuǎn)動,形成不同間距的軌跡線,變化的角度越小,形成的軌跡線越密集;經(jīng)以上變化,測量得出的預(yù)測物的三維輪廓與預(yù)測物越接近。
[0031]本發(fā)明測量裝置形成的軌跡線可以是圖3中所示的形態(tài),也可以是與圖3所示軌跡線垂直的形態(tài),這只是主控單元驅(qū)動第一電機或者第二電機運行的方式引起的,也是可以通過本發(fā)明測量裝置實現(xiàn)的,同樣該種方法也理應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護范圍。
[0032]以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例,并非因此限制本發(fā)明的專利范圍,凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換,或直接或間接運用在其他相關(guān)的【技術(shù)領(lǐng)域】,均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種測量裝置,其特征下在于,包括主控單元、測量桿以及安裝于所述測量桿上的測量單元,所述測量單元包括測距模塊、第一電機和第二電機,所述第一電機驅(qū)動所述測距模塊轉(zhuǎn)動,所述第二電機驅(qū)動所述第一電機轉(zhuǎn)動,所述主控單元控制所述第一電機和所述第二電機的轉(zhuǎn)動、收集并處理所述測距模塊測得的數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量裝置,其特征在于,所述第一電機驅(qū)動所述測距模塊等角速度轉(zhuǎn)動。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量裝置,其特征在于,所述第一電機驅(qū)動所述測距模塊轉(zhuǎn)動的角速度O = COciCose/cos Qtl,其中,Θ為所述測距模塊與所述測量桿的夾角,Qtl為所述測距模塊與所述測量桿的最小夾角,Qci為G = Qtl時所述第一電機驅(qū)動所述測距模塊轉(zhuǎn)動的角速度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量裝置,其特征在于,所述測距模塊與所述測量桿處于最小夾角時,所述第二電機驅(qū)動所述測距模塊轉(zhuǎn)動的角度Λ Ψη=Ψη - ,其中,Ψη、Ψη —i滿足tanvn=2tan¥n —丨一 tan¥n_2,n ^ 2 ; Ψ為所述測距模塊與所述測量桿的夾角,為初始所述測距模塊與所述測量桿的夾角,L為所述第二電機首次驅(qū)動所述第一電機轉(zhuǎn)動后所述測距模塊與所述測量桿的夾角。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項所述的測量裝置,其特征在于,所述測距模塊為激光測距模塊、超聲波測距模塊或紅外測距模塊。
6.根據(jù)權(quán)利要 求1-4任一項所述的測量裝置,其特征在于,所述測量桿和所述測量單元均為兩個,所述測量單元分別安裝在所述測量桿上,兩所述測量單元在各自的第一電機驅(qū)動相應(yīng)測量模塊時,兩所述測量單元形成的測量軌跡相交。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測量裝置,其特征在于,兩所述測量單元在各自的第一電機驅(qū)動相應(yīng)測量模塊時,兩所述測量單元形成的測量軌跡相交垂直。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測量裝置,其特征在于,還包括兩個所述測量單元,四個所述測量單元呈矩形狀分布。
9.一種基于權(quán)利要求1-8任一項所述測量裝置的測量方法,其特征在于,包括以下步驟: a、放置測量裝置; b、調(diào)整測量單元在測量桿上的高度; C、主控單元控制第二電機驅(qū)動第一電機轉(zhuǎn)動,以調(diào)整測距模塊與測量桿之間的夾角; d、主控單元控制第一電機驅(qū)動測距模塊轉(zhuǎn)動,并收集測距模塊測量的數(shù)據(jù); e、重復步驟C、d,直至完全測量預(yù)測物; f、主控單元處理收集的數(shù)據(jù),生成預(yù)測物的三維模型。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測量方法,其特征在于,所述步驟a中所述測量裝置包括四個測量單元,所述測量單元分別放置在所述預(yù)測物的四周。
【文檔編號】G01B17/06GK103808275SQ201210572552
【公開日】2014年5月21日 申請日期:2012年12月25日 優(yōu)先權(quán)日:2012年12月25日
【發(fā)明者】公丕亮 申請人:哈爾濱工業(yè)大學深圳研究生院
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