專利名稱：射頻模塊、采樣裝置、天線測試系統(tǒng)及天線測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及無線通訊設(shè)備生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種射頻模塊、采樣裝置、天線測試系統(tǒng)及天線測試方法。
背景技術(shù)：
對(duì)于一款移動(dòng)通信事業(yè)使用的基站射頻天線，在投入到基站使用前，要對(duì)基站射頻天線的各項(xiàng)指標(biāo)進(jìn)行測試，其中，該各項(xiàng)指標(biāo)包括駐波、相位以及隔離等，當(dāng)這些指標(biāo)全部確認(rèn)合格之后，該基站射頻天線才可以出貨到應(yīng)用客戶端?，F(xiàn)有的測試裝置基本以研發(fā)型為主，其能夠提供基本指標(biāo)的基本測量，但是在整個(gè)基站射頻天線的測試驗(yàn)證過程中，很多環(huán)節(jié)需要依靠人工進(jìn)行操作、控制以及觀察等，不但測試效率較低，而且容易因?yàn)槿藶榈恼`判斷從而導(dǎo)致不合格的基站射頻天線流轉(zhuǎn)至應(yīng)用客戶端。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種射頻模塊、采樣裝置、天線測試系統(tǒng)及天線測試方法，在用于測試天線相位時(shí)，能夠提高測試效率和測試質(zhì)量。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是提供一種用于天線測試用的射頻模塊，包括射頻本體和設(shè)置于射頻本體上的驅(qū)動(dòng)電路，驅(qū)動(dòng)電路設(shè)置有信號(hào)輸入端、信號(hào)輸出端以及至少一個(gè)參數(shù)接收端；其中，信號(hào)輸入端作為旁通端用以連接另一射頻模塊中驅(qū)動(dòng)電路的信號(hào)輸入端，參數(shù)接收端連接有探頭，探頭用以采集待測天線的測量參數(shù)；外部控制信號(hào)自信號(hào)輸入端輸入到驅(qū)動(dòng)電路，驅(qū)動(dòng)電路根據(jù)外部控制信號(hào)選擇性使能信號(hào)輸出端、或者選擇性使能至少一個(gè)參數(shù)接收端中的其中一個(gè)。其中，射頻本體一端設(shè)置有連接口、另一端設(shè)置有連接件，連接件用于連接另一射頻模塊的連接口進(jìn)而將射頻模塊和另一射頻模塊連接固定。其中，射頻本體內(nèi)部設(shè)置有容置空間，容置空間用于收容連接件。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的另一個(gè)技術(shù)方案是提供一種用于天線測試用的采樣裝置，至少包括第一射頻模塊和第二射頻模塊；第一射頻模塊包括第一射頻本體和設(shè)置于第一射頻本體上的第一驅(qū)動(dòng)電路，第一驅(qū)動(dòng)電路設(shè)置有第一信號(hào)輸入端、第一信號(hào)輸出端以及至少一個(gè)第一參數(shù)接收端；外部控制信號(hào)自第一信號(hào)輸入端輸入到第一驅(qū)動(dòng)電路，第一驅(qū)動(dòng)電路根據(jù)外部控制信號(hào)選擇性使能第一信號(hào)輸出端、或者選擇性使能至少一個(gè)第一參數(shù)接收端中的其中一個(gè)；第二射頻模塊包括第二射頻本體和設(shè)置于第二射頻本體上的第二驅(qū)動(dòng)電路，第二驅(qū)動(dòng)電路設(shè)置有第二信號(hào)輸入端、第二信號(hào)輸出端以及至少一個(gè)第二參數(shù)接收端，第一參數(shù)接收端和第二參數(shù)接收端連接有探頭，探頭用以采集待測天線的測量參數(shù)，并且，第一驅(qū)動(dòng)電路的第一信號(hào)輸出端連接第二驅(qū)動(dòng)電路的第二信號(hào)輸入端；在第一驅(qū)動(dòng)電路使能第一信號(hào)輸出端時(shí)，第一信號(hào)輸出端將外部控制信號(hào)自第二信號(hào)輸入端輸入到第二驅(qū)動(dòng)電路，第二驅(qū)動(dòng)電路根據(jù)外部控制信號(hào)選擇性使能第二信號(hào)輸出端、或者選擇性使能至少一個(gè)第二參數(shù)接收端中的其中一個(gè)。其中，第一射頻模塊的第一射頻本體和第二射頻模塊的第二射頻本體一端均設(shè)置有連接口、另一端均設(shè)置有連接件，第一射頻本體的連接件連接第二射頻本體的連接口進(jìn)而將第一射頻模塊和第二射頻模塊連接固定。其中，第一射頻本體和第二射頻本體內(nèi)部均設(shè)置有容置空間，第一射頻本體的容置空間用于收容第一射頻本體的連接件，第二射頻本體的容置空間用于收容第二射頻本體的連接件。其中，采樣裝置包括殼體，第一射頻模塊和第二射頻模塊均設(shè)置于殼體內(nèi)部，其中，殼體上設(shè)置有第一端口和第二端口，第一驅(qū)動(dòng)電路的第一信號(hào)輸入端口連接第一端口，第一射頻模塊和第二射頻模塊的各自的每個(gè)探頭均連接第二端口。其中，殼體為可穿透電磁的殼體。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的另一個(gè)技術(shù)方案是提供一種天線測試系統(tǒng)，包括如上述任一項(xiàng)實(shí)施方式所描述的采樣裝置。其中，天線測試系統(tǒng)包括控制終端、網(wǎng)絡(luò)分析儀、矩陣開關(guān)模塊以及轉(zhuǎn)接器，其中，轉(zhuǎn)接器用于將USB信號(hào)轉(zhuǎn)換成TTL信號(hào)；其中，控制終端通過轉(zhuǎn)接器與采樣裝置連接，并且控制終端分別連接網(wǎng)絡(luò)分析儀的控制端和矩陣開關(guān)模塊的控制端；并且，網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸出端、輸入端分別對(duì)應(yīng)連接矩陣開關(guān)模塊的輸入端、輸出端，其中，矩陣開關(guān)模塊還包括多個(gè)測試端口，多個(gè)測試端口均選擇性連接矩陣開關(guān)模塊的輸入端和輸出端，其中，矩陣開關(guān)模塊的輸入端與多個(gè)測試端口中的一個(gè)測試端口連接構(gòu)成第一測試通道，而矩陣開關(guān)模塊的輸出端與多個(gè)測試端口中另一個(gè)測試端口連接構(gòu)成第二測試通道，并且，第二測試通道連接采樣裝置的第一端口；矩陣開關(guān)模塊根據(jù)控制終端發(fā)送過來的第一控制信號(hào)選通第一測試通道和第二測試通道，第一測試通道用以接收自網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸出端發(fā)出的測試信號(hào)，待測天線各發(fā)射單元自第一測試通道獲取測試信號(hào)并將測試信號(hào)發(fā)射出去，采樣裝置根據(jù)控制終端經(jīng)轉(zhuǎn)接器發(fā)送過來的第二控制信號(hào)選擇相應(yīng)的探頭以單獨(dú)、依次采集待測天線各發(fā)射單元的相位參數(shù)，網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸入端自第二測試通道獲取相位參數(shù)。其中，天線測試系統(tǒng)包括吸波墻；吸波墻用于吸收待測天線自采樣裝置中泄漏出的電磁波，其中，吸波墻吸收700MHz-3GHz的電磁波。其中，吸波墻吸收電磁波的部分采用高磁導(dǎo)率鐵氧體材料。其中，轉(zhuǎn)接器是USB-TTL控制器。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的另一個(gè)技術(shù)方案是提供一種天線測試方法，包括如上述任一實(shí)施方式所描述的天線測試系統(tǒng)，包括如下步驟矩陣開關(guān)模塊根據(jù)第一控制信號(hào)選通第一測試通道和第二測試通道，第一測試通道用以接收網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸出端發(fā)送過來的測試信號(hào)；待測天線各發(fā)射單元自第一測試通道獲取測試信號(hào)并發(fā)射出去；采樣裝置根據(jù)第二控制信號(hào)使能其相應(yīng)位置的探頭以單獨(dú)、依次采集待測天線各發(fā)射單元的相位參數(shù)、并將相位參數(shù)從第二測試通道發(fā)送至網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸入端；其中，矩陣開關(guān)模塊包括多個(gè)測試端口，多個(gè)測試端口均選擇性連接矩陣開關(guān)模塊的輸入端和輸出端，其中，矩陣開關(guān)模塊的輸入端與多個(gè)測試端口中的一個(gè)測試端口連接構(gòu)成第一測試通道，而矩陣開關(guān)模塊的輸出端與多個(gè)測試端口中另一個(gè)測試端口連接構(gòu)成第二測試通道，并且，第二測試通道連接采樣裝置的第一端口。
本發(fā)明的有益效果是區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的情況，本發(fā)明射頻模塊通過在同一個(gè)射頻模塊的驅(qū)動(dòng)電路上設(shè)置信號(hào)輸入端、信號(hào)輸出端以及至少一個(gè)參數(shù)接收端，其中，每個(gè)參數(shù)接收端相應(yīng)連接采樣用的探頭，并且射頻模塊可以串聯(lián)更多相同結(jié)構(gòu)的射頻模塊，通過外部控制信號(hào)選擇性使能相應(yīng)射頻模塊驅(qū)動(dòng)電路中的任一參數(shù)接收端、或者選擇性使能信號(hào)輸出端，不需要人工逐步移動(dòng)探頭進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對(duì)待測天線各發(fā)射單元的測試參數(shù)的采集，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)待測天線各發(fā)射單元的測試參數(shù)的自動(dòng)化采集且精度可調(diào)，能夠降低人力成本、時(shí)間成本和測試設(shè)備成本，進(jìn)而能夠提高測試效率和測試質(zhì)量。


圖1是本發(fā)明射頻模塊實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是圖1所示射頻模塊實(shí)施方式中驅(qū)動(dòng)電路的電路圖；圖3是圖1所示射頻模塊與另一射頻模塊的連接示意圖；圖4是本發(fā)明采樣裝置實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖；圖5是圖4所示采樣裝置實(shí)施方式中驅(qū)動(dòng)電路的電路圖；圖6是本發(fā)明采樣裝置另一實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖；圖7是本發(fā)明天線測試系統(tǒng)實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖；圖8是圖7所示天線測試系統(tǒng)實(shí)施方式中USB-TTL控制器的電路圖；圖9是本發(fā)明天線測試系統(tǒng)實(shí)施方式中吸波墻的結(jié)構(gòu)示意圖；圖10是本發(fā)明天線測試方法實(shí)施方式的流程圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。結(jié)合圖1至圖3，圖1是本發(fā)明射頻模塊實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖，圖2是圖1所示射頻模塊實(shí)施方式中驅(qū)動(dòng)電路的電路圖，圖3是圖1所示射頻模塊與另一射頻模塊的連接示意圖。本發(fā)明射頻模塊實(shí)施方式包括射頻本體11和驅(qū)動(dòng)電路12。驅(qū)動(dòng)電路12設(shè)置于射頻本體11上，驅(qū)動(dòng)電路12設(shè)置有信號(hào)輸入端121、信號(hào)輸出端122以及三個(gè)參數(shù)接收端123、124、125，參數(shù)接收端123連接探頭131，參數(shù)接收端124連接探頭132，參數(shù)接收端125連接探頭133，探頭131、132、133用以采集待測天線的測量參數(shù)，其中，測量參數(shù)至少包括相位參數(shù)。通常，探頭131、探頭132以及探頭133可以等間距或者不等間距設(shè)置。其中，結(jié)合圖3，信號(hào)輸入端121作為旁通端用以連接另一射頻模塊I’中驅(qū)動(dòng)電路(圖未示)的信號(hào)輸入端(圖未示)，舉例而言，驅(qū)動(dòng)電路12可選擇單刀四擲射頻開關(guān)(SP4T射頻開關(guān))。探頭的數(shù)量取決于參數(shù)接收端的數(shù)量，全文中每個(gè)射頻模塊中參數(shù)接收端的數(shù)量至少設(shè)置為一個(gè)，全文以一個(gè)射頻模塊中參數(shù)接收端數(shù)量為三個(gè)進(jìn)行舉例說明。外部控制信號(hào)自信號(hào)輸入端121輸入到驅(qū)動(dòng)電路12，驅(qū)動(dòng)電路12根據(jù)外部控制信號(hào)選擇性使能信號(hào)輸出端122、或者選擇性使能參數(shù)接收端123、124、125中的其中一個(gè)。即，要么信號(hào)輸出端122被使能，要么參數(shù)接收端123、124、125中任意一個(gè)被使能，參數(shù)接收端123、124、125任意一個(gè)被使能時(shí)，其對(duì)應(yīng)連接的探頭進(jìn)行采樣。本發(fā)明實(shí)施方式，通過在同一個(gè)射頻模塊I的驅(qū)動(dòng)電路12上設(shè)置信號(hào)輸入端121、信號(hào)輸出端122以及參數(shù)接收端123、124、125，其中，參數(shù)接收端123、124、125相應(yīng)連接用于采樣的探頭131、132、133，并且射頻模塊I可以串聯(lián)更多相同結(jié)構(gòu)的射頻模塊，通過外部控制信號(hào)選擇性使能相應(yīng)射頻模塊驅(qū)動(dòng)電路中的任一參數(shù)接收端、或者選擇性使能信號(hào)輸出端，不需要人工逐步移動(dòng)探頭進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對(duì)待測天線各發(fā)射單元的測試參數(shù)的采集，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)待測天線各發(fā)射單元的測試參數(shù)的自動(dòng)化采集且精度可調(diào)，能夠降低人力成本、時(shí)間成本和測試設(shè)備成本，進(jìn)而能夠提高測試效率和測試質(zhì)量。繼續(xù)參閱圖1和圖3，在一應(yīng)用實(shí)施方式中，射頻本體11 一端設(shè)置有連接口 111、另一端設(shè)置有連接件112，連接件112用于連接另一射頻模塊I’的連接口(圖未示)進(jìn)而將射頻模塊I和另一射頻模塊I’連接固定?？梢栽谏漕l本體11內(nèi)部設(shè)置有容置空間113，在不需要使用連接件112或者不需要使用連接件112的全部長度時(shí)，容置空間113可收容連接件112全部或者部分。設(shè)置連接口 111與連接件112能夠方便射頻模塊I的連接，提高組裝效率；而在射頻本體11內(nèi)部設(shè)置容置空間113以收容連接件112，可使得射頻本體11的長度可調(diào)，不僅方便調(diào)整每個(gè)射頻模塊I之間的間距以適于不同測試環(huán)境，還可方便包裝、運(yùn)輸。結(jié)合圖4和圖5，圖4是本發(fā)明采樣裝置實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖，圖5是圖4所示采樣裝置實(shí)施方式中驅(qū)動(dòng)電路的示意圖。本發(fā)明實(shí)施方式的采樣裝置至少包括第一射頻模塊2和第二射頻模塊3。第一射頻模塊2包括第一射頻本體21和設(shè)置于第一射頻本體21上的第一驅(qū)動(dòng)電路22,第一驅(qū)動(dòng)電路22設(shè)置有第一信號(hào)輸入端221、第一信號(hào)輸出端222以及第一參數(shù)接收端223、224、225，并且，第一參數(shù)接收端223、224、225分別相應(yīng)連接探頭231、232、233。外部控制信號(hào)自第一信號(hào)輸入端221輸入到第一驅(qū)動(dòng)電路22,第一驅(qū)動(dòng)電路22根據(jù)外部控制信號(hào)選擇性使能第一信號(hào)輸出端222、或者選擇性使能第一參數(shù)接收端223、224,225中的其中一個(gè)。第二射頻模塊3包括第二射頻本體31和設(shè)置于第二射頻本體31上的第二驅(qū)動(dòng)電路32，第二驅(qū)動(dòng)電路32設(shè)置有第二信號(hào)輸入端321、第二信號(hào)輸出端322以及第二參數(shù)接收端323、324、325，第二參數(shù)接收端323、324、325分別相應(yīng)連接探頭331、332、333。并且，第一驅(qū)動(dòng)電路22的第一信號(hào)輸出端222連接第二驅(qū)動(dòng)電路32的第二信號(hào)輸入端321。要使能第二驅(qū)動(dòng)電路32中的第二信號(hào)輸出端322或者第二參數(shù)接收端323、324、325中的其中一個(gè)時(shí),需要第一驅(qū)動(dòng)電路22使能第一信號(hào)輸出端222,第一信號(hào)輸出端222將外部控制信號(hào)自第二信號(hào)輸入端321輸入到第二驅(qū)動(dòng)電路32，第二驅(qū)動(dòng)電路32根據(jù)外部控制信號(hào)選擇性使能第二信號(hào)輸出端322、或者選擇性使能第二參數(shù)接收端323、324、325中的其中一個(gè)。當(dāng)然，采樣裝置可以包括三個(gè)或三個(gè)以上的射頻模塊，要選擇性使能后一個(gè)射頻模塊中驅(qū)動(dòng)電路的信號(hào)輸出端、或者要選擇性使能至少一個(gè)參數(shù)接收端中的其中一個(gè)時(shí)，需要先使能該后一個(gè)射頻模塊前面所有射頻模塊的信號(hào)輸出端，這樣該后一個(gè)射頻模塊的驅(qū)動(dòng)電路才能獲取到外部控制信號(hào)，具體過程可參考前文。串聯(lián)更多射頻模塊可以覆蓋不同的待測天線。本發(fā)明實(shí)施方式，通過外部控制信號(hào)選擇性使能相應(yīng)射頻模塊驅(qū)動(dòng)電路中的任一參數(shù)接收端、或者選擇性使能信號(hào)輸出端，不需要人工逐步移動(dòng)探頭進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對(duì)待測天線各發(fā)射單元的測試參數(shù)的采集，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)待測天線各發(fā)射單元的測試參數(shù)的自動(dòng)化采集且精度可調(diào)，能夠降低人力成本、時(shí)間成本和測試設(shè)備成本，進(jìn)而能夠提高測試效率和測試質(zhì)量。當(dāng)然，在具體應(yīng)用實(shí)施方式中，如圖5所不，第一射頻模塊2的第一射頻本體21—端設(shè)置有連接口 211、另一端設(shè)置有連接件212和第二射頻模塊3的第二射頻本體31 —端設(shè)置有連接口 311、另一端設(shè)置有連接件312，第一射頻本體21的連接件212連接第二射頻本體31的連接口 311進(jìn)而將第一射頻模塊2和第二射頻模塊3連接固定。并且，可在第一射頻本體21內(nèi)部設(shè)置容置空間213，在第二射頻本體31內(nèi)部設(shè)置容置空間313，第一射頻本體21的容置空間213用于收容第一射頻本體21的連接件212，第二射頻本體31的容置空間313用于收容第二射頻本體31的連接件312。進(jìn)一步地，如圖6所示，圖6是本發(fā)明采樣裝置另一實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖，并請結(jié)合圖4。采樣裝置還包括殼體100。第一射頻模塊2和第二射頻模塊3均設(shè)置于殼體100內(nèi)部，其中，殼體100上設(shè)置有第一端口(圖未不)和第二端口(圖未不)，第一驅(qū)動(dòng)電路22的第一信號(hào)輸入端221連接第一端口，第一射頻模塊2和第二射頻模塊3的各自的每個(gè)探頭均連接第二端口，如圖6所示，第一射頻模塊2的探頭231、232、233以及第二射頻模塊3的探頭331、332、333等。當(dāng)射頻模塊的數(shù)量為更多個(gè)時(shí)，其參照第一射頻模塊2和第二射頻模塊3設(shè)置于殼體100內(nèi)部，此處不作一一贅述。殼體100為可穿透電磁的殼體,殼體100不會(huì)對(duì)待測天線發(fā)射出的信號(hào)產(chǎn)生反射，能夠有效降低由于信號(hào)反射對(duì)測量參數(shù)的影響，提高測試準(zhǔn)確性。參閱圖7，圖7是本發(fā)明天線測試系統(tǒng)實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖。并請結(jié)合圖5和圖6，本發(fā)明天線測試系統(tǒng)實(shí)施方式不僅包括如上述實(shí)施方式所描述的采樣裝置10，還包括網(wǎng)絡(luò)分析儀20、矩陣開關(guān)模塊30、轉(zhuǎn)接器40、GPIB模塊50以及控制終端60。其中，控制終端60通過轉(zhuǎn)接器40與采樣裝置10連接，轉(zhuǎn)接器40用于將USB信號(hào)轉(zhuǎn)換成TTL信號(hào)，其通常采用USB-TTL控制器。具體地，如圖8所示，USB-TTL控制器40包括依次連接的USB輸入端口 401、USB輸出端口 402、TTL輸入端口 403以及TTL輸出端口404，USB輸入端口 401連接控制終端60的USB接口 601，TTL輸出端口 404連接采樣裝置10的第二端口 102 ;并且控制終端60通過GPIB模塊50分別連接網(wǎng)絡(luò)分析儀20和矩陣開關(guān)模塊30。通常，控制終端60為計(jì)算機(jī)終端。并且，網(wǎng)絡(luò)分析儀20的輸出端201、輸入端202分別對(duì)應(yīng)連接矩陣開關(guān)模塊30的輸入端301、輸出端302，其中，矩陣開關(guān)模塊30還包括多個(gè)測試端口(如圖7示出的測試端口 303、304、305)，多個(gè)測試端口均可選擇性連接矩陣開關(guān)模塊30的輸入端301和輸出端302，即矩陣開關(guān)模塊30的輸入端301連接其所有測試端口、矩陣開關(guān)模塊30的輸出端302亦連接其所有測試端口，在用于待測天線70的相位測試時(shí)，矩陣開關(guān)模塊30根據(jù)控制終端60發(fā)送過來的控制信號(hào)使能相應(yīng)端口，即選擇相應(yīng)測試通道發(fā)送或接收參數(shù)，具體地，矩陣開關(guān)模塊30的輸入端301與多個(gè)測試端口(303、304、305)中的一個(gè)測試端口(如304)連接構(gòu)成第一測試通道，而矩陣開關(guān)模塊30的輸出端302與多個(gè)測試端口(303、304、305)中另一個(gè)測試端口(303)連接構(gòu)成第二測試通道。其中，矩陣開關(guān)模塊30的測試端口 303與采樣裝置10的第一端口 101相連，即第二測試通道連接采樣裝置10的第一端口 101。
矩陣開關(guān)模塊30根據(jù)控制終端60經(jīng)GPIB模塊50發(fā)送過來的第一控制信號(hào)選通第一測試通道和第二測試通道，以接收網(wǎng)絡(luò)分析儀20的輸出端201發(fā)出的測試信號(hào)，待測天線70各發(fā)射單元701自第一測試通道獲取該測試信號(hào)并將測試信號(hào)發(fā)射出去，采樣裝置10根據(jù)控制終端60經(jīng)USB-TTL控制器40發(fā)送過來的第二控制信號(hào)選擇相應(yīng)的探頭(可參閱圖4-圖6)以單獨(dú)、依次采集待測天線70各發(fā)射單元701的相位參數(shù)，網(wǎng)絡(luò)分析儀20的輸入端202自第二測試通道獲取相位參數(shù)，即矩陣開關(guān)模塊30的測試端口 303經(jīng)采樣裝置10的第一端口 101獲取相位參數(shù)并通過第二測試通道將相位參數(shù)發(fā)送至網(wǎng)絡(luò)分析儀20的輸入端202。如圖9所示，天線測試系統(tǒng)還包括吸波墻80。吸波墻80用于吸收待測天線70自采樣裝置10中泄漏出的電磁波，其中，吸波墻80吸收700MHZ-3GHZ的電磁波。吸波墻80吸收電磁波的部分采用高磁導(dǎo)率鐵氧體材料，吸波墻80通過共振的方式吸收電磁波大部分的輻射能量，再通過耦合把電磁波的能量轉(zhuǎn)變成熱能。增設(shè)吸波墻80可吸收泄露的電磁波，能極大程度地消除電磁干擾對(duì)探頭采樣數(shù)據(jù)精確性的影響。上述實(shí)施方式中，需要對(duì)待測天線70進(jìn)行位置設(shè)置和連接，具體地，需要將待測天線70各發(fā)射單元701的的發(fā)射面對(duì)應(yīng)采樣裝置10的各探頭進(jìn)行設(shè)置，即需要將采樣裝置覆蓋待測天線70，然后在采樣裝置10的外側(cè)設(shè)置吸波墻80以吸收探頭完成采樣后自采樣裝置10泄漏的電磁波。并且，待測天線70至少包括第一端口 702，對(duì)待測天線70進(jìn)行相位測試時(shí)，該待測天線70的第一端口 702連接矩陣開關(guān)模塊30中測試端口 304 (或測試端口 305)?？刂平K端60通過GPIB模塊50發(fā)送第一控制信號(hào)給矩陣開關(guān)模塊30以選擇相應(yīng)測試通道，該測試通道接收用以接收自網(wǎng)絡(luò)分析儀20的輸出端201發(fā)出的測試信號(hào)，待測天線70的第一端口 702獲取該測試信號(hào)并將該信號(hào)發(fā)射出去。并且，在進(jìn)行相位測試時(shí)，還需要選擇采樣裝置10中相應(yīng)的探頭以采集待測天線70各發(fā)射單元701的相位參數(shù)，具體地，控制終端60通過USB-TTL控制器40發(fā)送第二控制信號(hào)(第二控制信號(hào)為TTL信號(hào))選擇采樣裝置10中相應(yīng)的探頭，最終能夠使得待測天線70各發(fā)射單元701能夠與探頭進(jìn)行一一對(duì)應(yīng)，值得注意的是，為確保測試精度，同一時(shí)刻只能對(duì)一個(gè)發(fā)射單元701的相位參數(shù)進(jìn)行采樣，即控制終端60在同一時(shí)刻只能使能采樣裝置10中某一射頻模塊的某一個(gè)探頭進(jìn)行采樣。當(dāng)然，實(shí)際操作中，對(duì)于第二控制信號(hào)的選擇需要綜合考慮各探頭的間距以及待測天線70的尺寸等參數(shù)。最終，矩陣開關(guān)模塊30的測試端口 303經(jīng)采樣裝置10的第一端口 101獲取相位參數(shù)并通過測試通道將相位參數(shù)自矩陣開關(guān)模塊30的輸出端302發(fā)送至網(wǎng)絡(luò)分析儀20的輸入端202，以供網(wǎng)絡(luò)分析儀20進(jìn)行相位分析。當(dāng)然，本發(fā)明天線測試系統(tǒng)還可以用于對(duì)待測天線70的隔離度和駐波比等性能進(jìn)行測試。簡要而言通常，待測天線70包括多個(gè)發(fā)射單元701，各發(fā)射單元701進(jìn)一步包括一個(gè)高頻部分7011和一個(gè)低頻部分7012，各發(fā)射單元701的高頻部分7011均連接至待測天線70的第一端口 702，各發(fā)射單元701的低頻部分7012均連接至待測天線70的第二端口 703。(I)測試隔離度時(shí)，先將待測天線70與矩陣開關(guān)模塊30進(jìn)行線路連接，具體地，矩陣開關(guān)模塊30的測試端口 304 (或測試端口 305)連接至待測天線70的第一端口 702，矩陣開關(guān)模塊30的測試端口 305 (或測試端口 304)連接至待測天線70的第二端口 703。比如，網(wǎng)絡(luò)分析儀20自其輸出端201發(fā)送高頻信號(hào)、并依次經(jīng)過矩陣開關(guān)模塊30的輸入端301、矩陣開關(guān)模塊30的測試端口 304輸入至待測天線70的第一端口 702，待測天線70的第二端口 703獲取該高頻信號(hào)并依次經(jīng)過矩陣開關(guān)模塊30的測試端口 304、矩陣開關(guān)模塊30的輸出端302輸入至網(wǎng)絡(luò)分析儀20的輸入端202，以供網(wǎng)絡(luò)分析儀20進(jìn)行分析。相應(yīng)地，網(wǎng)絡(luò)分析儀20自其輸出端201發(fā)送低頻信號(hào)、并依次經(jīng)過矩陣開關(guān)模塊30的輸入端301、矩陣開關(guān)模塊30的測試端口 305輸入至待測天線70的第二端口 703，待測天線70的第一端口 702獲取該低頻信號(hào)并依次經(jīng)過矩陣開關(guān)模塊30的測試端口 305、矩陣開關(guān)模塊30的輸出端302輸入至網(wǎng)絡(luò)分析儀20的輸入端202，以供網(wǎng)絡(luò)分析儀20進(jìn)行分析。在具體判斷待測天線70是否滿足隔離度要求時(shí)，如果分析得到待測天線70的第二端口 703獲取到的高頻信號(hào)強(qiáng)度小于一定值時(shí)，且如果分析得到矩陣開關(guān)模塊30的第一端口 702獲取到的低頻信號(hào)強(qiáng)度小于一定值時(shí)，即可判斷得到待測天線70的隔離度滿足要求。當(dāng)然，網(wǎng)絡(luò)分析儀20可以同時(shí)發(fā)送包括高頻信號(hào)和低頻信號(hào)的混合信號(hào)，其工作原理可參閱前文。(2)測試駐波比時(shí)，也需要先將待測天線70與矩陣開關(guān)模塊30進(jìn)行線路連接。具體地，矩陣開關(guān)模塊30的測試端口 304、305中任意一個(gè)測試端口連接至待測天線70的第一端口 702 (或第二端口 703)，網(wǎng)絡(luò)分析儀20自其輸出端201發(fā)送測試信號(hào)(該測試信號(hào)可以是高頻信號(hào)、低頻信號(hào)或者包括高頻信號(hào)和低頻信號(hào)的混合信號(hào))、并依次經(jīng)過矩陣開關(guān)模塊30的輸入端301、矩陣開關(guān)模塊30的測試端口 304 (或測試端口 305)輸入至待測天線70的第一端口 702 (或第二端口 703)，待測天線70的第一端口 702 (或第二端口 703)獲取該低頻信號(hào)相應(yīng)的反射信號(hào)并依次經(jīng)過矩陣開關(guān)模塊30的測試端口 304(或測試端口305)、矩陣開關(guān)模塊30的輸出端302輸入至網(wǎng)絡(luò)分析儀20的輸入端202，以供網(wǎng)絡(luò)分析儀20進(jìn)行分析。在具體判斷待測天線70是否滿足駐波比要求時(shí)，只需判斷輸入信號(hào)與反射信號(hào)的比值是否小于端口反射系數(shù)即可。即如果輸入信號(hào)與反射信號(hào)的比值小于端口反射系數(shù)，即可判斷待測天線70滿足駐波比要求。本發(fā)明實(shí)施方式，不需要人工逐步移動(dòng)探頭進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對(duì)待測天線70各發(fā)射單元701的測試參數(shù)的采集，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)待測天線70各發(fā)射單元701的測試參數(shù)的自動(dòng)化采集且精度可調(diào)，能夠降低人力成本、時(shí)間成本和測試設(shè)備成本，進(jìn)而能夠提高測試效率和測試質(zhì)量。另外，本發(fā)明實(shí)施方式不僅能實(shí)現(xiàn)對(duì)待測天線70的相位測試，還能實(shí)現(xiàn)對(duì)待測天線70隔離度和駐波比等測試。本發(fā)明還提供一種天線測試方法。參閱圖10，圖10是本發(fā)明天線測試方法實(shí)施方式的流程圖?；谏鲜鰧?shí)施方式的天線測試系統(tǒng)，本發(fā)明天線測試方法實(shí)施方式包括如下步驟步驟S101，矩陣開關(guān)模塊根據(jù)第一控制信號(hào)選通第一測試通道和第二測試通道，第一測試通道用以接收網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸出端發(fā)送過來的測試信號(hào)。
步驟S102，待測天線各發(fā)射單元自第一測試通道獲取測試信號(hào)并發(fā)射出去。步驟S103，采樣裝置根據(jù)第二控制信號(hào)使能其相應(yīng)位置的探頭以單獨(dú)、依次采集待測天線各發(fā)射單元的相位參數(shù)、并將相位參數(shù)從第二測試通道發(fā)送至網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸入端。其中，矩陣開關(guān)模塊包括多個(gè)測試端口，多個(gè)測試端口均選擇性連接矩陣開關(guān)模塊的輸入端和輸出端，其中，矩陣開關(guān)模塊的輸入端與多個(gè)測試端口中的一個(gè)測試端口連接構(gòu)成第一測試通道，而矩陣開關(guān)模塊的輸出端與多個(gè)測試端口中另一個(gè)測試端口連接構(gòu)成第二測試通道，并且，第二測試通道連接采樣裝置的第一端口。本發(fā)明實(shí)施方式，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)待測天線各發(fā)射單元的測試參數(shù)的自動(dòng)化采集且精度可調(diào)，能夠降低人力成本、時(shí)間成本和測試設(shè)備成本，進(jìn)而能夠提高測試效率和測試質(zhì)量。另外，本發(fā)明實(shí)施方式不僅能實(shí)現(xiàn)對(duì)待測天線的相位測試，還能實(shí)現(xiàn)對(duì)待測天線隔離度和駐波比等測試。以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施方式，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種用于天線測試用的射頻模塊，其特征在于: 所述射頻模塊包括射頻本體和設(shè)置于所述射頻本體上的驅(qū)動(dòng)電路，所述驅(qū)動(dòng)電路設(shè)置有信號(hào)輸入端、信號(hào)輸出端以及至少一個(gè)參數(shù)接收端； 其中，所述信號(hào)輸入端作為旁通端用以連接另一射頻模塊中驅(qū)動(dòng)電路的信號(hào)輸入端，所述參數(shù)接收端連接有探頭，所述探頭用以采集待測天線的測量參數(shù)； 外部控制信號(hào)自所述信號(hào)輸入端輸入到所述驅(qū)動(dòng)電路，所述驅(qū)動(dòng)電路根據(jù)所述外部控制信號(hào)選擇性使能所述信號(hào)輸出端、或者選擇性使能至少一個(gè)所述參數(shù)接收端中的其中一個(gè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻模塊，其特征在于， 所述射頻本體一端設(shè)置有連接口、另一端設(shè)置有連接件，所述連接件用于連接所述另一射頻模塊的連接口進(jìn)而將所述射頻模塊和所述另一射頻模塊連接固定。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的射頻模塊，其特征在于， 所述射頻本體內(nèi)部設(shè)置有容置空間，所述容置空間用于收容所述連接件。
4.一種用于天線測試用的采樣裝置，其特征在于， 至少包括第一射頻模塊和第二射頻模塊； 所述第一射頻模塊包括第一射頻本體和設(shè)置于所述第一射頻本體上的第一驅(qū)動(dòng)電路，所述第一驅(qū)動(dòng)電路設(shè)置有第一信號(hào)輸入端、第一信號(hào)輸出端以及至少一個(gè)第一參數(shù)接收端; 外部控制信號(hào)自所述第一信號(hào)輸入端輸入到所述第一驅(qū)動(dòng)電路，所述第一驅(qū)動(dòng)電路根據(jù)所述外部控制信號(hào)選擇性使能所述第一信號(hào)輸出端、或者選擇性使能至少一個(gè)所述第一參數(shù)接收端中的其中一個(gè)； 所述第二射頻模塊包括第二射頻本體和設(shè)置于所述第二射頻本體上的第二驅(qū)動(dòng)電路，所述第二驅(qū)動(dòng)電路設(shè)置有第二信號(hào)輸入端、第二信號(hào)輸出端以及至少一個(gè)第二參數(shù)接收端，所述第一參數(shù)接收端和所述第二參數(shù)接收端連接有探頭，所述探頭用以采集待測天線的測量參數(shù)，并且，所述第一驅(qū)動(dòng)電路的所述第一信號(hào)輸出端連接所述第二驅(qū)動(dòng)電路的所述第二信號(hào)輸入端； 在所述第一驅(qū)動(dòng)電路使能所述第一信號(hào)輸出端時(shí)，所述第一信號(hào)輸出端將所述外部控制信號(hào)自所述第二信號(hào)輸入端輸入到所述第二驅(qū)動(dòng)電路，所述第二驅(qū)動(dòng)電路根據(jù)所述外部控制信號(hào)選擇性使能所述第二信號(hào)輸出端、或者選擇性使能至少一個(gè)所述第二參數(shù)接收端中的其中一個(gè)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的采樣裝置，其特征在于， 所述第一射頻模塊的所述第一射頻本體和所述第二射頻模塊的所述第二射頻本體一端均設(shè)置有連接口、另一端均設(shè)置有連接件，所述第一射頻本體的所述連接件連接所述第二射頻本體的連接口進(jìn)而將所述第一射頻模塊和所述第二射頻模塊連接固定。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的采樣裝置，其特征在于， 所述第一射頻本體和所述第二射頻本體內(nèi)部均設(shè)置有容置空間，所述第一射頻本體的所述容置空間用于收容所述第 一射頻本體的連接件，所述第二射頻本體的所述容置空間用于收容所述第二射頻本體的 連接件。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的采樣裝置，其特征在于，所述采樣裝置包括殼體，所述第一射頻模塊和所述第二射頻模塊均設(shè)置于所述殼體內(nèi)部，其中，所述殼體上設(shè)置有第一端口和第二端口，所述第一驅(qū)動(dòng)電路的所述第一信號(hào)輸入端口連接所述第一端口，所述第一射頻模塊和所述第二射頻模塊的各自的每個(gè)所述探頭均連接所述第二端口。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的采樣裝置，其特征在于， 所述殼體為可穿透電磁的殼體。
9.一種天線測試系統(tǒng)，其特征在于，包括如權(quán)利要求4-8任一項(xiàng)所述的采樣裝置。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于， 所述天線測試系統(tǒng)包括控制終端、網(wǎng)絡(luò)分析儀、矩陣開關(guān)模塊以及轉(zhuǎn)接器，其中，所述轉(zhuǎn)接器用于將USB信號(hào)轉(zhuǎn)換成TTL信號(hào)； 其中，所述控制終端通過所述轉(zhuǎn)接器與所述采樣裝置連接，并且所述控制終端分別連接所述網(wǎng)絡(luò)分析儀的控制端和所述矩陣開關(guān)模塊的控制端； 并且，所述網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸出端、輸入端分別對(duì)應(yīng)連接所述矩陣開關(guān)模塊的輸入端、輸出端，其中，所述矩陣開關(guān)模塊還包括多個(gè)測試端口，多個(gè)所述測試端口均選擇性連接所述矩陣開關(guān)模塊的輸入端和輸出端，其中，所述矩陣開關(guān)模塊的輸入端與多個(gè)所述測試端口中的一個(gè)測試端口連接構(gòu)成第一測試通道，而所述矩陣開關(guān)模塊的輸出端與多個(gè)所述測試端口中另一個(gè)測試端口連接構(gòu)成第二測試通道，并且，所述第二測試通道連接所述采樣裝置的第一端口； 所述矩陣開關(guān)模塊根據(jù)所述控制終端發(fā)送過來的第一控制信號(hào)選通所述第一測試通道和第二測試通道，所述第一測試通道用以接收自所述網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸出端發(fā)出的測試信號(hào)，待測天線各發(fā)射單元自所述第一測試通道獲取所述測試信號(hào)并將所述測試信號(hào)發(fā)射出去，所述采樣裝置根據(jù)所述 控制終端經(jīng)所述轉(zhuǎn)接器發(fā)送過來的第二控制信號(hào)選擇相應(yīng)的探頭以單獨(dú)、依次采集所述待測天線各發(fā)射單元的相位參數(shù)，所述網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸入端自所述第二測試通道獲取所述相位參數(shù)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于， 所述天線測試系統(tǒng)包括吸波墻； 所述吸波墻用于吸收所述待測天線自所述采樣裝置中泄漏出的電磁波，其中，所述吸波墻吸收700MHz-3GHz的電磁波。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于， 所述吸波墻吸收電磁波的部分采用高磁導(dǎo)率鐵氧體材料。
13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于， 所述轉(zhuǎn)接器是USB-TTL控制器。
14.一種天線測試方法，包括如權(quán)利要求10-13任一項(xiàng)所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于，包括如下步驟: 矩陣開關(guān)模塊根據(jù)第一控制信號(hào)選通第一測試通道和第二測試通道，所述第一測試通道用以接收網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸出端發(fā)送過來的測試信號(hào)； 待測天線各發(fā)射單元自所述第一測試通道獲取所述測試信號(hào)并發(fā)射出去； 采樣裝置根據(jù)第二控制信號(hào)使能其相應(yīng)位置的探頭以單獨(dú)、依次采集所述待測天線各發(fā)射單元的相位參數(shù)、并將所述相位參數(shù)從第二測試通道發(fā)送至所述網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸入端; 其中，所述矩陣開關(guān)模塊包括多個(gè)測試端口，多個(gè)所述測試端口均選擇性連接所述矩陣開關(guān)模塊的輸入端和輸出端，其中，所述矩陣開關(guān)模塊的輸入端與多個(gè)所述測試端口中的一個(gè)測試端口連接構(gòu)成第一測試通道，而所述矩陣開關(guān)模塊的輸出端與多個(gè)所述測試端口中另一個(gè)測試端口連接 構(gòu)成第二測試通道，并且，所述第二測試通道連接所述采樣裝置的第一端口。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種射頻模塊。該射頻模塊包括包括射頻本體和設(shè)置于射頻本體上的驅(qū)動(dòng)電路，驅(qū)動(dòng)電路設(shè)置有信號(hào)輸入端、信號(hào)輸出端以及至少一個(gè)參數(shù)接收端，其中，信號(hào)輸入端作為旁通端用以連接另一射頻模塊中驅(qū)動(dòng)電路的信號(hào)輸入端，參數(shù)接收端連接有探頭，探頭用以采集待測天線的測量參數(shù)；外部控制信號(hào)自信號(hào)輸入端輸入到驅(qū)動(dòng)電路，驅(qū)動(dòng)電路根據(jù)外部控制信號(hào)選擇性使能信號(hào)輸出端、或者選擇性使能至少一個(gè)參數(shù)接收端中的其中一個(gè)。本發(fā)明還公開了一種采樣裝置、天線測試系統(tǒng)及天線測試方法。通過上述方式，本發(fā)明能夠在測試天線相位時(shí)，提高測試效率和測試質(zhì)量。
文檔編號(hào)G01R29/08GK103076507SQ20121058522
公開日2013年5月1日 申請日期2012年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月28日
發(fā)明者劉湘萍 申請人:蘇州市大富通信技術(shù)有限公司