專利名稱：一種老化測試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及老化測試技術(shù)領(lǐng)域，具體的涉及一種老化測試治具。
背景技術(shù)：
隨著社會的發(fā)展，人們對電子產(chǎn)品的質(zhì)量要求是越來越高，為了提高電子產(chǎn)品的出廠質(zhì)量，在出廠前需要對電子產(chǎn)品進行一系列的老化測試?，F(xiàn)有技術(shù)中，對電子產(chǎn)品進行老化測試時，采用對電子產(chǎn)品進行單個電連接測試，然而這種單個產(chǎn)品測試的方式效率很低；另一方面，電子產(chǎn)品的老化測試時，往往需要進行如光照老化、濕熱老化等多個項目的 老化測試，則電子產(chǎn)品的接口需要與不同的測試設(shè)備進行電連接，在測試項目轉(zhuǎn)換時，電子產(chǎn)品的接口需要多次插拔，導(dǎo)致接口磨損大，從而影響了電子產(chǎn)品的使用壽命。為了解決上述技術(shù)問題，中國實用新型專利(專利號201120161188. X)公開了一種老化測試治具，其技術(shù)方案包括有基座、信號接口裝置、產(chǎn)品固定座和電接觸板，電接觸板設(shè)置有多個AC信號接口組，AC信號接口組與信號接口裝置電連接，當(dāng)電接觸板滑動到與產(chǎn)品固定座的端面貼合時，AC信號接口組與產(chǎn)品固定座上的電子產(chǎn)品安裝孔相對應(yīng)且AC信號接口組位于電子產(chǎn)品安裝孔上方。雖然，該治具可同時進行多個電子產(chǎn)品的老化測試，將信號接口裝置與測試設(shè)備電連接后進行老化測試，可避免由于多次拔插而對電子產(chǎn)品接口的磨損。然而，其缺陷在于一方面，操作時，需要先將電接觸板移動至與產(chǎn)品固定座的端面貼合的位置處，然后將電接觸板固定住，使電接觸板上的電接觸端組與電子產(chǎn)品的接口電連接，然后將信號接口裝置與測試設(shè)備電連接，方能完成電子產(chǎn)品的一項老化測試。該過程操作繁瑣，而且使用過程中，電接觸板反復(fù)前后滑動容易受損，造成接觸不良或定位不準(zhǔn)確，從而降低了老化測試效率；另一方面，對電子產(chǎn)品進行老化測試前，該治具仍需要連接電子負載，而且治具的結(jié)構(gòu)復(fù)雜，不利于生產(chǎn)加工。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的在于避免現(xiàn)有技術(shù)中的不足之處而提供一種結(jié)構(gòu)簡單、老化測試效率高、操作簡單快速、性能穩(wěn)定的老化測試治具。本實用新型的目的通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)提供一種老化測試治具，包括有底座和設(shè)置于底座上方的上蓋，所述底座設(shè)置有底座PCB板，所述底座PCB板設(shè)置有DC信號連接裝置，所述底座與所述上蓋相對的內(nèi)表面開設(shè)有產(chǎn)品放置槽，所述產(chǎn)品放置槽內(nèi)設(shè)置有DC信號接口，所述DC信號接口通過所述底座PCB板與所述DC信號連接裝置電連接；所述上蓋內(nèi)設(shè)置有上蓋PCB板，所述上蓋PCB板設(shè)置有AC信號連接裝置和與所述AC信號連接裝置電連接的AC信號接口。優(yōu)選的，所述底座的一側(cè)開設(shè)有DC安裝槽，所述DC信號接口裝置與所述DC安裝槽相配合且安裝于所述DC安裝槽內(nèi)；所述上蓋的一側(cè)開設(shè)有AC安裝槽，所述AC信號接口裝置與所述AC安裝槽相配合且安裝于所述AC安裝槽內(nèi)。優(yōu)選的，所述上蓋與所述底座相對的內(nèi)表面開設(shè)有插孔，所述AC信號接口設(shè)置于所述插孔內(nèi)。 優(yōu)選的，所述底座與所述上蓋鉸接。進一步的，所述上蓋的內(nèi)表面設(shè)置有第一固定座，所述第一固定座設(shè)置有鉸鏈，所述底座的內(nèi)表面設(shè)置有第二固定座，所述第二固定座開設(shè)有穿孔，所述鉸鏈軸穿設(shè)于所述穿孔。另一優(yōu)選的，所述老化測試治具還包括有鎖扣裝置，所述鎖扣裝置包括有固定于所述底座的第一支座、固定于所述上蓋的第二支座、以及鎖扣臂，所述鎖扣臂的一端卡接于所述第一支座，所述鎖扣臂的另一端鉸接于所述第二支座。 進一步的，所述鎖扣臂呈倒L形，所述鎖扣臂的彎折部設(shè)置有鉸接軸，所述鉸接軸與所述第二支座鉸接，所述鉸接軸套設(shè)有扭簧；所述第一支座開設(shè)有卡槽，所述鎖扣臂的一端設(shè)置有與所述卡槽相匹配的卡凸。另一優(yōu)選的，所述老化測試治具還包括有負載裝置，所述負載裝置包括有殼體、基座、以及設(shè)置于基座的負載DC信號連接裝置和負載AC信號連接裝置，所述基座下方設(shè)置有電源、時序板和電子負載，所述殼體的底部設(shè)置有導(dǎo)電銅板；所述底座設(shè)置于所述負載裝置的基座，所述DC信號連接裝置和所述負載DC信號連接裝置電連接，所述AC信號連接裝置和所述負載AC信號連接裝置電連接。進一步的，所述DC信號連接裝置、所述AC信號連接裝置、所述負載DC信號連接裝置以及所述負載AC信號連接裝置均設(shè)置有兩個。進一步的，所述老化測試治具的底座和上蓋均設(shè)置有定位柱，所述負載裝置設(shè)置有與所述定位柱相配合的定位孔。本實用新型的一種老化測試治具工作時，將電子產(chǎn)品安裝于產(chǎn)品放置槽內(nèi)，電子產(chǎn)品的DC連接端與DC信號接口電連接，并通過底座PCB板與DC信號連接裝置電連接，從而使電子產(chǎn)品的DC連接端與DC信號連接裝置電連接，同時，電子產(chǎn)品的AC連接端與上蓋的AC信號接口電連接，AC信號接口通過上蓋PCB板與AC信號連接裝置電連接，從而使電子產(chǎn)品的AC信號接口與AC信號連接裝置電連接。當(dāng)需要進行老化時，只需要將DC信號連接裝置和AC信號連接裝置依次與老化設(shè)備電連接，即可完成電子產(chǎn)品的老化；當(dāng)需要進行測試時，只需要將DC信號連接裝置和AC信號連接裝置依次與測試設(shè)備電連接，即可完成電子產(chǎn)品的測試。由此，本實用新型的老化測試治具同時實現(xiàn)了老化以及測試的功能，其結(jié)構(gòu)簡單、整個操作簡單快速，大大提高了電子產(chǎn)品的老化以及測試效率，從而提高了生產(chǎn)效率，有利于企業(yè)的規(guī)模化生產(chǎn)，特別適于現(xiàn)代化企業(yè)快速發(fā)展的需要。

圖I為本實用新型的實施例I的老化測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本實用新型的實施例I的老化測試治具的底座的結(jié)構(gòu)示意圖。圖3為本實用新型的實施例I的老化測試治具的上蓋的結(jié)構(gòu)示意圖。圖4為本實用新型的實施例2的老化測試治具的鎖扣裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖5為本實用新型的實施例3的老化測試治具以及負載裝置的使用狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖。圖6為本實用新型的實施例3的負載裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖7為本實用新型的實施例3的負載裝置的另一角度的結(jié)構(gòu)示意圖。圖8為本實用新型的實施例3的負載裝置的分解結(jié)構(gòu)示意圖。圖I至圖8中包括有底座I、DC信號連接裝置11、DC信號接口 12、第二固定座13、穿孔131、產(chǎn)品放置槽14、定位柱15 ；上蓋2、AC信號連接裝置21、第一固定座23、鉸鏈軸231、插孔24 ；鎖扣裝置3、第一支座31、卡槽311、第二支座32、鎖扣臂33、卡凸331、彎折部332、鉸接軸34、扭簧341 ；殼體41、導(dǎo)電銅板411 ;基座42、電源421、時序板422、電子負載423、無線傳感器424 ；負載DC信號連接裝置43、負載AC信號連接裝置44、定位孔45、散熱風(fēng)扇46 ；電子產(chǎn)品5。
具體實施方式
下面結(jié)合實施例及附圖對本實用新型作進一步詳細的描述，但本實用新型的實施方式不限于此。實施例I本實用新型的一種老化測試治具的實施例I如圖I至圖8所示，包括有底座I和設(shè)置于底座I上方的上蓋2，其中底座I設(shè)置有底座PCB板，底座PCB板設(shè)置有DC信號連接裝置11，底座I與上蓋2相對的內(nèi)表面開設(shè)有產(chǎn)品放置槽14，用于放置電子產(chǎn)品5。產(chǎn)品放置槽14內(nèi)設(shè)置有DC信號接口 12，DC信號接口 12通過底座PCB板與DC信號連接裝置11電連接；上蓋2內(nèi)設(shè)置有上蓋PCB板，上蓋PCB板設(shè)置有AC信號連接裝置21和與AC信號連接裝置21電連接的AC信號接口。電子產(chǎn)品5進行老化測試前，將電子產(chǎn)品5安裝于底座I的產(chǎn)品放置槽14內(nèi)，電子產(chǎn)品5的DC連接端與DC信號接口 12電連接，并通過底座PCB板與DC信號連接裝置11電連接，從而使電子產(chǎn)品5的DC連接端與DC信號連接裝置11電連接；電子產(chǎn)品5的AC連接端與上蓋2的AC信號接口電連接，AC信號接口通過上蓋PCB板與AC信號連接裝置21電連接，從而使電子產(chǎn)品5的AC信號接口與AC信號連接裝置21電連接。當(dāng)需要進行老化時，只需要將DC信號連接裝置11和AC信號連接裝置21依次與老化設(shè)備電連接，即可完成電子產(chǎn)品5的老化；當(dāng)需要進行測試時，只需要將DC信號連接裝置11和AC信號連接裝置21依次與測試設(shè)備電連接，即可完成電子產(chǎn)品5的測試。由此，本實用新型的老化測試治具同時實現(xiàn)了老化以及測試的功能，采用該治具整個操作簡單快速，大大提高了電子產(chǎn)品5的老化以及測試效率，從而提高了生產(chǎn)效率，有利于企業(yè)的規(guī)模化生產(chǎn)，特別適于現(xiàn)代化企業(yè)快速發(fā)展的需要。同時，由于電子產(chǎn)品5的接口只需一次插拔即可完成多項老化及測試，從而避免對電子產(chǎn)品5的接口的磨損，有利于提高電子產(chǎn)品5的性能，延長其使用壽命。本實施例中，作為優(yōu)選的實施方案，當(dāng)電子產(chǎn)品5為電源件時，DC信號接口 12可設(shè)置為USB接口，根據(jù)不同的電子產(chǎn)品5的需要，DC信號接口 12還可設(shè)置為其他形式的信
號接口。根據(jù)生產(chǎn)需要，底座I的產(chǎn)品放置槽14可以設(shè)置多個，產(chǎn)品放置槽14可呈兩列設(shè)置，也可以呈一列設(shè)置。具體的，底座I的一側(cè)開設(shè)有DC安裝槽，第一 DC信號接口裝置11與DC安裝槽相配合且安裝于DC安裝槽內(nèi)；具體的，上蓋2的一側(cè) 開設(shè)有AC安裝槽，第一 AC信號接口裝置21與AC安裝槽相配合且安裝于AC安裝槽內(nèi)。進一步的,上蓋2與底座I相對的內(nèi)表面開設(shè)有插孔24, AC信號接口設(shè)置于插孔24內(nèi)。作為優(yōu)選的實施方案，AC信號接口為金屬彈片，當(dāng)電子產(chǎn)品5的AC連接端插入該插孔24時，電子產(chǎn)品5的AC連接端與金屬彈片觸接，金屬彈片通過上蓋PCB板與AC信號連接裝置21電連接，從而使電子產(chǎn)品5的AC連接端與AC信號連接裝置21電連接。當(dāng)然，AC信號接口還可以采用其他具有導(dǎo)電性的接口裝置，以起到將電子產(chǎn)品5與AC信號連接裝置21進行電連接的作用。進一步的，底座I與上蓋2鉸接，以使上蓋2可相對于底座I翻轉(zhuǎn)，便于打開上蓋I，取放電子產(chǎn)品5。上蓋2的內(nèi)表面設(shè)置有第一固定座23，第一固定座23設(shè)置有鉸鏈軸231，底座I的內(nèi)表面設(shè)置有第二固定座13，第二固定座13開設(shè)有穿孔131，鉸鏈軸231穿設(shè)于穿孔131。本實用新型的老化測試治具的工作原理如下使用時，電子產(chǎn)品5安裝于底座I的產(chǎn)品放置槽14內(nèi)，電子產(chǎn)品5的DC連接端與底座I的DC信號接口 12連接，并通過底座PCB板與DC信號連接裝置11電連接，從而使電子產(chǎn)品5的DC連接端與DC信號連接裝置11電連接，然后翻轉(zhuǎn)上蓋2，使上蓋2與底座I合攏，此時，電子產(chǎn)品5的AC連接端與AC信號接口電連接，AC信號接口通過上蓋PCB板與AC信號連接裝置21電連接，從而使電子產(chǎn)品5的AC連接端與AC信號連接裝置21電連接。當(dāng)對電子產(chǎn)品5進行老化時，只需要將DC信號連接裝置11和AC信號連接裝置21依次與老化設(shè)備電連接，即可完成電子產(chǎn)品5的老化；當(dāng)對電子產(chǎn)品5進行測試時，只需要將DC信號連接裝置11和AC信號連接裝置21依次與測試設(shè)備電連接，即可完成電子產(chǎn)品5的測試。實施例2本實施例的一種老化測試治具參見圖I和圖4，在實施例I的基礎(chǔ)上，在本實施例中未解釋的特征，采用實施例I中的解釋，在此不再進行贅述。本實施例與實施例I的區(qū)別在于老化測試治具還包括有鎖扣裝置3，用于當(dāng)上蓋與底座I合攏時，將其鎖住，而不發(fā)生相對移動。鎖扣裝置3包括有固定于底座I的第一支座31、固定于上蓋2的第二支座32、以及鎖扣臂33，鎖扣臂33的一端卡接于第一支座31，鎖扣臂33的另一端鉸接于第二支座32。具體的，鎖扣臂33呈倒L形，鎖扣臂33的彎折部332設(shè)置有鉸接軸34，該鉸接軸34與第二支座32鉸接，鉸接軸34套設(shè)有扭簧341。具體的，第一支座31開設(shè)有卡槽311，鎖扣臂33的一端設(shè)置有與該卡槽311相匹配的卡凸331。使用時，當(dāng)電子產(chǎn)品5安裝至產(chǎn)品放置槽14內(nèi)后，將上蓋2翻轉(zhuǎn)至底座的上方并合攏，將鎖扣臂33 —端的卡凸331卡接于第一支座31的卡槽311中，鎖扣裝置3即可將上蓋2與底座I鎖緊；當(dāng)老化及測試完成后，按壓鎖扣臂33的彎折部332，使卡凸331由卡槽311中脫離，即可打開鎖扣裝置3，然后翻轉(zhuǎn)上蓋2，可將電子產(chǎn)品5取出。實施例3本實施例的一種老化測試治具參見圖I、圖5至圖8，在實施例I的基礎(chǔ)上，在本實施例中未解釋的特征，采用實施例I中的解釋，在此不再進行贅述。本實施例與實施例I的區(qū)別在于 參照圖5，老化測試治具還包括有負載裝置4，用于提供老化時所需的電子負載。參照圖6，負載裝置4包括有殼體41、基座42、以及設(shè)置于基座42的負載DC信號連接裝置43和負載AC信號連接裝置44，其中參照圖8，基座42下方設(shè)置有電源421、時序板422和電子負載423，從而為提供老化時所需的電源和電子負載。參照圖7,殼體41的底部設(shè)置有導(dǎo)電銅板411,通過該導(dǎo)電銅板411可對負載裝置4進行通電老化。當(dāng)對電子產(chǎn)品5進行老化時，可直接將底座I放置于負載裝置4的基座42，將DC 信號連接裝置11和負載DC信號連接裝置43電連接，AC信號連接裝置21和負載AC信號連接裝置44電連接，然后將負載裝置4連接老化設(shè)備，即可完成對電子產(chǎn)品5的老化。工作時，可同時將多個與負載裝置4連接的老化測試治具連接老化設(shè)備，則可批量地完成電子產(chǎn)品5的老化，大大提高了生產(chǎn)效率，而且減少對電子產(chǎn)品5接口的拔插次數(shù)，有利于提高電子產(chǎn)品5的質(zhì)量，延長其使用壽命。具體的，DC信號連接裝置11、AC信號連接裝置21、負載DC信號連接裝置43以及負載AC信號連接裝置44均設(shè)置有兩個，可分別與不同的老化或是測試設(shè)備電連接，有利于進一步提聞老化及測試效率。參照圖I和圖8，老化測試治具的底座I和上蓋2均設(shè)置有定位柱15，負載裝置4設(shè)置有與該定位柱15相配合的定位孔45，將老化測試治具與負載裝置4安裝時，以起到準(zhǔn)確定位的作用。進一步的，殼體41設(shè)置有散熱風(fēng)扇46，便于老化時快速的將熱量散發(fā)出去。實施例4本實施例的一種老化測試治具參見圖8，在實施例3的基礎(chǔ)上，在本實施例中未解釋的特征，采用實施例3中的解釋，在此不再進行贅述。本實施例與實施例3的區(qū)別在于基座42設(shè)置有無線傳感器424，便于對老化測試治具以及負載裝置4的自動化控制?？蓪⑴c負載裝置4連接的老化測試治具用于一條自動化老化生產(chǎn)線，通過輸送裝置將該老化測試治具輸送至老化設(shè)備中，該無線傳感器423可將老化過程的數(shù)據(jù)實時地傳送至控制系統(tǒng)，從而實現(xiàn)對電子產(chǎn)品5的自動化控制，實現(xiàn)無需操作，從而大大提高生產(chǎn)效率,節(jié)約生產(chǎn)成本。[0076]最后應(yīng)當(dāng)說明的是，以上實施例僅用以說明本實用新型的技術(shù)方案，而非對本實用新型保護范圍的限制，盡管參照較佳實施例對本實用新型作了詳細地說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對本實用新型的技術(shù)方案進行修改或者等同替換，而不脫離本實用新型技術(shù) 方案的實質(zhì)和范圍。
權(quán)利要求1.一種老化測試治具，其特征在于包括有底座和設(shè)置于底座上方的上蓋，所述底座設(shè)置有底座PCB板，所述底座PCB板設(shè)置有DC信號連接裝置，所述底座與所述上蓋相對的內(nèi)表面開設(shè)有產(chǎn)品放置槽，所述產(chǎn)品放置槽內(nèi)設(shè)置有DC信號接口，所述DC信號接口通過所述底座PCB板與所述DC信號連接裝置電連接； 所述上蓋內(nèi)設(shè)置有上蓋PCB板，所述上蓋PCB板設(shè)置有AC信號連接裝置和與所述AC信號連接裝置電連接的AC信號接口。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種老化測試治具，其特征在于所述底座的一側(cè)開設(shè)有DC安裝槽，所述DC信號接口裝置與所述DC安裝槽相配合且安裝于所述DC安裝槽內(nèi)； 所述上蓋的一側(cè)開設(shè)有AC安裝槽，所述AC信號接口裝置與所述AC安裝槽相配合且安裝于所述AC安裝槽內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種老化測試治具，其特征在于所述上蓋與所述底座相對的內(nèi)表面開設(shè)有插孔，所述AC信號接口設(shè)置于所述插孔內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種老化測試治具，其特征在于所述底座與所述上蓋鉸接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種老化測試治具，其特征在于所述上蓋的內(nèi)表面設(shè)置有第一固定座，所述第一固定座設(shè)置有鉸鏈，所述底座的內(nèi)表面設(shè)置有第二固定座，所述第二固定座開設(shè)有穿孔，所述鉸鏈軸穿設(shè)于所述穿孔。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種老化測試治具，其特征在于所述老化測試治具還包括有鎖扣裝置，所述鎖扣裝置包括有固定于所述底座的第一支座、固定于所述上蓋的第二支座、以及鎖扣臂，所述鎖扣臂的一端卡接于所述第一支座，所述鎖扣臂的另一端鉸接于所述第二支座。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種老化測試治具，其特征在于所述鎖扣臂呈倒L形，所述鎖扣臂的彎折部設(shè)置有鉸接軸，所述鉸接軸與所述第二支座鉸接，所述鉸接軸套設(shè)有扭黃; 所述第一支座開設(shè)有卡槽，所述鎖扣臂的一端設(shè)置有與所述卡槽相匹配的卡凸。
8.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種老化測試治具，其特征在于所述老化測試治具還包括有負載裝置，所述負載裝置包括有殼體、基座、以及設(shè)置于基座的負載DC信號連接裝置和負載AC信號連接裝置，所述基座下方設(shè)置有電源、時序板和電子負載，所述殼體的底部設(shè)置有導(dǎo)電銅板； 所述底座設(shè)置于所述負載裝置的基座，所述DC信號連接裝置和所述負載DC信號連接裝置電連接，所述AC信號連接裝置和所述負載AC信號連接裝置電連接。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種老化測試治具，其特征在于所述DC信號連接裝置、所述AC信號連接裝置、所述負載DC信號連接裝置以及所述負載AC信號連接裝置均設(shè)置有兩個。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種老化測試治具，其特征在于所述老化測試治具的底座和上蓋均設(shè)置有定位柱，所述負載裝置設(shè)置有與所述定位柱相配合的定位孔。
專利摘要本實用新型涉及老化測試技術(shù)領(lǐng)域，具體的涉及一種老化測試治具，其結(jié)構(gòu)包括有底座和設(shè)置于底座上方的上蓋，底座設(shè)置有底座PCB板，底座PCB板設(shè)置有DC信號連接裝置，底座與上蓋相對的內(nèi)表面開設(shè)有產(chǎn)品放置槽，產(chǎn)品放置槽內(nèi)設(shè)置有DC信號接口，DC信號接口通過底座PCB板與DC信號連接裝置電連接；上蓋內(nèi)設(shè)置有上蓋PCB板，上蓋PCB板設(shè)置有AC信號連接裝置和與AC信號連接裝置電連接的AC信號接口。本實用新型具有結(jié)構(gòu)簡單、操作簡單快速、老化以及測試效率高的優(yōu)點，特別適于現(xiàn)代化企業(yè)快速發(fā)展的需要。
文檔編號G01R31/00GK202443078SQ20122004340
公開日2012年9月19日 申請日期2012年2月10日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月10日
發(fā)明者劉堅輝, 李垂猛, 邵繼銘 申請人:東莞市冠佳電子設(shè)備有限公司