專利名稱：遠(yuǎn)距離材料成分分析裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及ー種遠(yuǎn)距離材料成分分析裝置，屬材料分析設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
當(dāng)X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測(cè)樣品，受激發(fā)的樣品中的每ー種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。近年來(lái)，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為ー種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。 現(xiàn)在市場(chǎng)上的大部分光譜分析儀器只能對(duì)近距離材料進(jìn)行分析，對(duì)設(shè)備狹小空間內(nèi)不能近距離接觸的構(gòu)件及ー些有毒有害不能近距離接觸的粉末、液體等材料物質(zhì)不能準(zhǔn)確有效的進(jìn)行確定，主要原因是激發(fā)出材料元素的特征X射線，正常工作吋，X射線管所消耗功率的O. 2%左右轉(zhuǎn)變?yōu)閄射線輻射，其余均變?yōu)闊崮?，距離越大X射線衰減的越厲害，使半導(dǎo)體探測(cè)器接受到的二次X射線能量不足以進(jìn)行分析。本裝置利用エ業(yè)X射線發(fā)射器能發(fā)射能量持續(xù)較強(qiáng)X射線，經(jīng)探測(cè)器、放大器、多道脈沖分析器、計(jì)算機(jī)分析，實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離材料成分檢測(cè)。發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是，根據(jù)現(xiàn)有的光譜分析儀器只能對(duì)近距離材料進(jìn)行分析，而對(duì)設(shè)備狹小空間內(nèi)不能近距離接觸的構(gòu)件及ー些有毒有害不能近距離接觸的粉末、液體等材料物質(zhì)不能準(zhǔn)確有效的進(jìn)行確定的問(wèn)題，本實(shí)用新型公開ー種遠(yuǎn)距離材料成分分析儀裝置，能對(duì)設(shè)備狹小空間內(nèi)不能近距離接觸的構(gòu)件進(jìn)行準(zhǔn)確分析其材料成分；同吋，對(duì)ー些有毒有害不能近距離接觸的粉末、液體等物質(zhì)也能對(duì)其成分做出準(zhǔn)確判定。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是，本實(shí)用新型裝置由エ業(yè)X射線發(fā)射器I、半導(dǎo)體探測(cè)器
2、放大器3、多道脈沖分析器4、計(jì)算機(jī)5組成；半導(dǎo)體探測(cè)器2通過(guò)放大器3連接多道脈沖分析器4 ;多道脈沖分析器4連接計(jì)算機(jī)5 ;エ業(yè)X射線發(fā)射器發(fā)射X射線至被檢試樣，被檢試樣反射的二次X射線由半導(dǎo)體探測(cè)器2接收。エ業(yè)X射線發(fā)射器I用于發(fā)射X射線，由于其能量大，其發(fā)射的X射線能激發(fā)被檢測(cè)試樣中元素產(chǎn)生二次X射線，而每ー種元素對(duì)X射線反射形成的二次X射線的能量和脈沖不同；半導(dǎo)體探測(cè)器用于接收二次X射線；放大器用于對(duì)半導(dǎo)體探測(cè)器接收得到的信號(hào)進(jìn)行放大；多道脈沖分析器對(duì)放大后的脈沖信號(hào)，按脈沖幅度的大小統(tǒng)計(jì)脈沖數(shù)得到計(jì)數(shù)率隨光子能量變化的分布曲線一能譜圖；計(jì)算機(jī)用于對(duì)能譜圖進(jìn)行校正。由于エ業(yè)X射線發(fā)射器具有足夠大的能量，エ業(yè)X射線發(fā)射器向被檢試樣發(fā)射X射線后，激發(fā)被檢測(cè)試樣中元素產(chǎn)生二次X射線，半導(dǎo)體探測(cè)器接收到二次X射線，得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖，經(jīng)放大器放大后送到多道脈沖分析器，按脈沖幅度的大小分別統(tǒng)計(jì)脈沖數(shù)，脈沖幅度可以用X光子的能量標(biāo)度，從而得到計(jì)數(shù)率隨光子能量變化的分布曲線，即X光能譜圖。能譜圖經(jīng)計(jì)算機(jī)進(jìn)行校正，然后顯示出來(lái)。從而實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離對(duì)被檢試樣材料進(jìn)行成分分析。本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)比較的有益效果是，通過(guò)本裝置可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離材料成分分析，能對(duì)設(shè)備狹小空間內(nèi)而不能近距離接觸的構(gòu)件進(jìn)行準(zhǔn)確分析其材料成分；同時(shí)，對(duì)ー些有毒有害不能近距離接觸的粉末、液體等物質(zhì)也能對(duì)其成分做出準(zhǔn)確判定。本實(shí)用新型適用于遠(yuǎn)距離材料成分分析。
圖I是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)布置示意圖；圖中，I是エ業(yè)X射線源；2是半導(dǎo)體探測(cè)器；3是放大器；4是多道脈沖分析器；5是計(jì)算機(jī)；6是被檢試樣。
具體實(shí)施方式

·[0016]本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
如圖I所示。本實(shí)施例遠(yuǎn)距離材料成分分析裝置，由エ業(yè)X射線發(fā)射器I、半導(dǎo)體探測(cè)器2、放大器3、多道脈沖分析器4、計(jì)算機(jī)5組成。本實(shí)施例遠(yuǎn)距離材料成分分析裝置的エ業(yè)X射線發(fā)射器發(fā)射X射線至被檢試樣，被檢試樣反射的二次X射線由半導(dǎo)體探測(cè)器2接收。エ業(yè)X射線發(fā)射器產(chǎn)生足夠大的能量，激發(fā)被檢測(cè)試樣中元素產(chǎn)生二次X射線，通過(guò)半導(dǎo)體探測(cè)器，得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖，經(jīng)放大器放大后送到多道脈沖分析器，按脈沖幅度的大小分別統(tǒng)計(jì)脈沖數(shù)，脈沖幅度用X光子的能量標(biāo)度，從而得到計(jì)數(shù)率隨光子能量變化的分布曲線，即X光能譜圖。能譜圖經(jīng)計(jì)算機(jī)進(jìn)行校正，然后顯示出來(lái)。
權(quán)利要求1.ー種遠(yuǎn)距離材料成分分析裝置，其特征在于，所述裝置由由エ業(yè)X射線發(fā)射器(I)、半導(dǎo)體探測(cè)器(2)、放大器(3)、多道脈沖分析器(4)、計(jì)算機(jī)(5)組成；半導(dǎo)體探測(cè)器(2)通過(guò)放大器(3)連接多道脈沖分析器(4);多道脈沖分析器(4)連接計(jì)算機(jī)(5);エ業(yè)X射線發(fā)射器發(fā)射X射線至被檢試樣，被檢試樣反射的二次X射線由半導(dǎo)體探測(cè)器(2)接收。
專利摘要一種遠(yuǎn)距離材料成分分析裝置，該裝置由工業(yè)X射線發(fā)射器(1)、半導(dǎo)體探測(cè)器(2)、放大器(3)、多道脈沖分析器(4)、計(jì)算機(jī)(5)組成。工業(yè)X射線發(fā)射器發(fā)射X射線至被檢試樣，被檢試樣反射的二次X射線由半導(dǎo)體探測(cè)器(2)接收，得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖，從而得到計(jì)數(shù)率隨光子能量變化的分布曲線，即X光能譜圖，經(jīng)計(jì)算機(jī)進(jìn)行校正，然后顯示出來(lái)。從而實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離對(duì)被檢試樣材料進(jìn)行成分分析。通過(guò)本裝置可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離材料成分分析，能對(duì)設(shè)備狹小空間內(nèi)而不能近距離接觸的構(gòu)件準(zhǔn)確分析其材料成分；同時(shí)，對(duì)一些有毒有害不能近距離接觸的粉末、液體等物質(zhì)也能對(duì)其成分做出準(zhǔn)確判定。本實(shí)用新型適用于遠(yuǎn)距離材料成分分析。
文檔編號(hào)G01N23/223GK202442978SQ20122004880
公開日2012年9月19日 申請(qǐng)日期2012年2月16日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月16日
發(fā)明者張洲全, 涂湛, 熊文, 趙康文 申請(qǐng)人:江西省電力科學(xué)研究院