專利名稱：一種三等線紋尺測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測試裝置，特別是涉及一種三等線紋尺測試裝置。
背景技術(shù)：
現(xiàn)行的用于檢定水準(zhǔn)標(biāo)尺，鋼直尺及其他線紋尺的裝置為三等線紋尺，三等線紋尺為一剛性直尺，其刻線面在兩個(gè)與水平面成45度角的斜面上，在尺的背部有凸緣形導(dǎo)軌，兩個(gè)七倍放大鏡可在導(dǎo)軌上沿測量軸線移動(dòng)，用來放大三等線紋尺和被測線紋尺的線紋間距，主要由刻線面、導(dǎo)軌、放大鏡以及溫度計(jì)組成，結(jié)構(gòu)比較簡單，但是其測量范圍比較小，不適于測量大量度標(biāo)尺。

實(shí)用新型內(nèi)容為解決上述問題，本實(shí)用新型提供一種檢測精準(zhǔn)度高且檢測范圍大的三等線紋尺 測試裝置。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供以下的技術(shù)方案一種三等線紋尺測試裝置，用于檢測尺子的精準(zhǔn)度，包括機(jī)架、大理石平臺、滑軌、滑塊、移動(dòng)平臺、觀測平臺、調(diào)節(jié)支架以及攝像頭，所述大理石平臺設(shè)于所述機(jī)架上；所述待檢測尺子與所述滑軌平行設(shè)于所述大理石平臺上；所述滑塊滑動(dòng)連接所述滑軌并沿所述滑軌移動(dòng)；所述移動(dòng)平臺連接于所述滑塊；所述觀測平臺設(shè)于所述移動(dòng)平臺上；所述調(diào)節(jié)支架設(shè)于所述觀測平臺上；所述攝像頭設(shè)于所述調(diào)節(jié)支架上并且正對所述待檢測尺子的刻度，所述三等線紋尺測試裝置還設(shè)有激光測距儀，所述激光測距儀包括位于同一水平面的同一直線上的激光源、放大器以及反射器；所述反射器設(shè)于所述移動(dòng)平臺上且與所述攝像頭位于所述待檢測尺子的同一刻度上方的豎直平面內(nèi)；所述激光源設(shè)于所述待檢測尺子零點(diǎn)位置的正上方；所述放大器設(shè)于所述激光源和反射器之間。所述三等線紋尺測試裝置還設(shè)有用于輸入指令和輸出信息的觸摸顯示屏。優(yōu)選的，所述觀測平臺還設(shè)有用于調(diào)節(jié)所述觀測平臺位置的絲桿調(diào)節(jié)裝置。優(yōu)選的，所述調(diào)節(jié)支架為絲桿升降機(jī)構(gòu)。優(yōu)選的，所述大理石平臺上還設(shè)有用于定位所述待檢測尺子的位置的定位長條。采用以上技術(shù)方案的有益效果是由于大理石平臺的基礎(chǔ)面平整級數(shù)為0級，且采用激光測距儀，因此檢測度更加精確；采用觸摸顯示屏，能夠直接輸入指令，且能夠直接顯示檢測結(jié)果；采用絲桿調(diào)節(jié)裝置，能夠適用于各種寬度長度的尺子。

圖I是本實(shí)用新型的立體圖；圖2是本實(shí)用新型的側(cè)視圖。其中，I.機(jī)架2.大理石平臺3.滑軌4.滑塊5.移動(dòng)平臺6.觀測平臺61.絲桿調(diào)節(jié)裝置7.攝像頭71.調(diào)節(jié)支架81.激光源82.放大器83.反射器9.待檢測尺子10.觸摸顯示屏11.定位長條。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖詳細(xì)說明本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式。實(shí)施例I參見圖I和圖2，如其中的圖例所示一種三等線紋尺測試裝置，用于檢測尺子9的精準(zhǔn)度，包括一個(gè)機(jī)架I、一個(gè)大理石平臺2、一條滑軌3、兩個(gè)滑塊4、一個(gè)移動(dòng)平臺5、一個(gè)觀測平臺6、一個(gè)調(diào)節(jié)支架71以及一個(gè)攝像頭7，所述大理石平臺2設(shè)于所述機(jī)架I上；所述待檢測尺子9與所述滑軌3平行設(shè)于所述大理石平臺2上；所述滑塊4滑動(dòng)連接所述滑軌3并沿所述滑軌3移動(dòng)；所述移動(dòng)平臺5連接于所述滑塊4 ;所述觀測平臺6設(shè)于所 述移動(dòng)平臺5上；所述調(diào)節(jié)支架71設(shè)于所述觀測平臺6上；所述攝像頭7設(shè)于所述調(diào)節(jié)支架71上并且正對所述待檢測尺子9的刻度，所述三等線紋尺測試裝置還設(shè)有一個(gè)激光測距儀，所述激光測距儀包括位于同一水平面的同一直線上的一個(gè)激光源81、一個(gè)放大器82以及一個(gè)反射器83 ;所述反射器83設(shè)于所述移動(dòng)平臺5上且與所述攝像頭7位于所述待檢測尺子9的同一刻度上方的豎直平面內(nèi)；所述激光源81設(shè)于所述待檢測尺子9零點(diǎn)位置的正上方；所述放大器82設(shè)于所述激光源I和反射器83之間。所述三等線紋尺測試裝置還設(shè)有用于輸入指令和輸出信息的一個(gè)觸摸顯示屏10。所述觀測平臺6還設(shè)有用于調(diào)節(jié)所述觀測平臺6位置的絲桿調(diào)節(jié)裝置61。所述調(diào)節(jié)支架71為絲桿升降機(jī)構(gòu)。所述大理石平臺2上還設(shè)有用于定位所述待檢測尺子9的位置的定位長條11。所述攝像頭7通過攝像頭支架71設(shè)于所述觀測平臺6上。下面介紹本實(shí)用新型的工作原理。一、零點(diǎn)校正，將待檢測尺子9放置于大理石平臺2上，通過所述觸摸顯示屏10輸入指令，所述絲桿調(diào)節(jié)裝置61調(diào)整觀測平臺6的位置，使攝像頭7正對所述待檢測尺子的刻度，所述定位長條11定位所述待檢測尺子9，并將校正結(jié)果顯示于所述觸摸顯示屏10上；二、清晰度檢測，通過所述觸摸顯示屏10輸入指令，所述調(diào)節(jié)支架71調(diào)整所述攝像頭7的高度，所述移動(dòng)平臺5在滑軌3上移動(dòng)，檢測帶檢測尺子9各個(gè)刻度的清晰度是否一致，從而顯示所述待檢測尺子9的齒面平整度以及刻度清晰度，并將結(jié)果顯示于所述觸摸顯示屏10上；三、示值誤差檢測，通過所述觸摸顯示屏10輸入指令，通過所述攝像頭7讀取待檢測尺子9的刻度示值，并且與激光測距儀的測量結(jié)果進(jìn)行對比，將對比結(jié)果顯示于所述觸摸顯示屏10上，從而檢測帶檢測尺子9的示值精確度。四復(fù)位，取回所述待檢測尺子9，并且使儀器恢復(fù)到檢測前的狀態(tài)。采用以上技術(shù)方案的有益效果是由于大理石平臺的基礎(chǔ)面平整級數(shù)為0級，且采用激光測距儀，因此檢測度更加精確；采用觸摸顯示屏，能夠直接輸入指令，且能夠直接顯示檢測結(jié)果；采用絲桿調(diào)節(jié)裝置，能夠適用于各種寬度長度的尺子。以上所述的僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型創(chuàng)造構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種三等線紋尺測試裝置，用于檢測尺子的精準(zhǔn)度，包括機(jī)架、大理石平臺、滑軌、滑塊、移動(dòng)平臺、觀測平臺、調(diào)節(jié)支架以及攝像頭，所述大理石平臺設(shè)于所述機(jī)架上；所述待檢測尺子與所述滑軌平行設(shè)于所述大理石平臺上；所述滑塊滑動(dòng)連接所述滑軌并沿所述滑軌移動(dòng)；所述移動(dòng)平臺連接于所述滑塊；所述觀測平臺設(shè)于所述移動(dòng)平臺上；所述調(diào)節(jié)支架設(shè)于所述觀測平臺上；所述攝像頭設(shè)于所述調(diào)節(jié)支架上并且正對所述待檢測尺子的刻度，其特征在于，所述三等線紋尺測試裝置還設(shè)有激光測距儀，所述激光測距儀包括位于同一水平面的同一直線上的激光源、放大器以及反射器；所述反射器設(shè)于所述移動(dòng)平臺上且與所述攝像頭位于所述待檢測尺子的同一刻度上方的豎直平面內(nèi)；所述激光源設(shè)于所述待檢測尺子零點(diǎn)位置的正上方；所述放大器設(shè)于所述激光源和反射器之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的三等線紋尺測試裝置，其特征在于，所述三等線紋尺測試裝置還設(shè)有用于輸入指令和輸出信息的觸摸顯示屏。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的三等線紋尺測試裝置，其特征在于，所述觀測平臺還設(shè)有用于調(diào)節(jié)所述觀測平臺位置的絲桿調(diào)節(jié)裝置。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的三等線紋尺測試裝置，其特征在于，所述調(diào)節(jié)支架為絲桿升降機(jī)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的三等線紋尺測試裝置，其特征在于，所述大理石平臺上還設(shè)有用于定位所述待檢測尺子的位置的定位長條。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種三等線紋尺測試裝置，用于檢測尺子的精準(zhǔn)度，包括機(jī)架、大理石平臺、滑軌、滑塊、移動(dòng)平臺、觀測平臺、調(diào)節(jié)支架以及攝像頭，檢測結(jié)果更加精確，且適用的范圍更廣。
文檔編號G01B11/00GK202501825SQ201220136778
公開日2012年10月24日 申請日期2012年4月1日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月1日
發(fā)明者趙建軍, 陶澤成 申請人:昆山市創(chuàng)新科技檢測儀器有限公司