專利名稱：一種微細探針測試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型設(shè)計ー種微細探針測試治具。
背景技術(shù)：
近年來，隨著PCB印刷電路板、半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的線路愈益細微化其產(chǎn)品亦是小而薄，以現(xiàn)有的測試方式無法有效達到測試目的，由于使用的探針無法極微細化，導(dǎo)致目前市場現(xiàn)有測試治具對于細微線路板的測試誤測率高達40%，以至于形成中國相關(guān)產(chǎn)業(yè)被外界給予低質(zhì)量、低單價粗制濫造的評價。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供ー種結(jié)構(gòu)簡單、裝配快捷且測試精準度高的微細探針 測試治具。為實現(xiàn)上述實用新型目的，本實用新型采用了如下技術(shù)方案一種微細探針測試治具，包括測試針、針盤面和底座，它還包括至少ニ塊移動板，所述移動板中心、所述針盤面中心和所述底座中心均設(shè)有復(fù)數(shù)個測試針孔，所述測試針ー端與針盤面中心測試針孔連接，另一端穿過移動板中心測試針孔后與底座中心測試針孔連接。優(yōu)選的，所述移動板中心上設(shè)置的復(fù)數(shù)個測試針孔與所述針盤面中心設(shè)置的復(fù)數(shù)個測試針孔和所述底座中心設(shè)置的復(fù)數(shù)個測試針孔均一一對應(yīng)。優(yōu)選的，所述治具還包括至少四根鉄柱，且針盤面上、底座上和移動板上均設(shè)有至少四個鐵柱孔與所述鐵柱配合。優(yōu)選的，所述治具還包括至少六根支柱，且針盤面上和底座上均設(shè)有至少六個支柱孔與所述支柱配合。優(yōu)選的，所述移動板四周設(shè)有至少六個凹ロ與所述支柱配合。尤為優(yōu)選的，所述凹ロ具有弧形截面。移動板中心復(fù)數(shù)個測試針孔，是讓測試針穿過其中，對測試針起到絕緣的效果，同時也對測試針起到保護的作用，使其不會出現(xiàn)因為擠壓扭曲過度而斷開的現(xiàn)象；其中鉄柱是起支撐針盤面和底座的作用，讓治具不會變形；而其中的支柱是限制移動板扭曲的范圍，讓移動板在擺動后能及時的復(fù)位，同時也給移動板有固定的著力點。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果在于結(jié)構(gòu)簡單，裝配快捷，測試過程中不再出現(xiàn)測試針斷路現(xiàn)象，且可使整體相互協(xié)カ運作，從而大大提高了測試精準度。

圖I是本實用新型一較佳實施例中微細探針測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
[0014]參閱圖1，該微細探針測試治具包括針盤面1，測試針2，移動板3，底座4，鐵柱5和支柱6 ;針盤面I中心、移動板3中心和底座4中心均設(shè)有復(fù)數(shù)個測試針孔，且移動板3中心設(shè)置的復(fù)數(shù)個測試針孔與針盤面I中心設(shè)置的復(fù)數(shù)個測試針孔和底座4中心設(shè)置的復(fù)數(shù)個測試針孔均一一對應(yīng)，其中移動板3有三塊，測試針2有復(fù)數(shù)個，且每個測試針2 —端與針盤面I中心測試針孔連接，另一端穿過三塊移動板3中心測試針孔后與底座4中心測試針孔連接；移動板3中心設(shè)置的復(fù)數(shù)個測試針孔對測試針2起到絕緣的效果，同時也對測試針2起到保護的作用，使其不會出現(xiàn)因為擠壓扭曲過度而斷開的現(xiàn)象。其中鉄柱5有四根，且針盤面I上、底座4上和三個移動板3上均設(shè)有四個鐵柱孔與四根鉄柱5配合，用來支撐針盤面和底座使治具不會變形；其中支柱6有六根，且針盤面I上和底座4上均設(shè)有六個支柱孔與六根支柱6配合，而三塊移動板3周圍均設(shè)有六個具有弧形截面的凹ロ與六個支柱6配合，來限制移動板3扭曲的范圍，讓移動板3在擺動后能及時的復(fù)位，同時也給移動板3有固定的著力點。以上僅是本實用新型的具體應(yīng)用范例，對本實用新型的保護范圍不構(gòu)成任何限 制。凡采用等同變換或者等效替換而形成的技術(shù)方案，均落在本實用新型權(quán)利保護范圍之內(nèi)
權(quán)利要求1.一種微細探針測試治具，包括測試針、針盤面和底座，其特征在于，它還包括至少二塊移動板，所述移動板中心、所述針盤面中心和所述底座中心均設(shè)有復(fù)數(shù)個測試針孔，所述測試針一端與針盤面中心測試針孔連接，另一端穿過移動板中心測試針孔后與底座中心測試針孔連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的微細探針測試治具，其特征在于所述移動板中心上設(shè)置的復(fù)數(shù)個測試針孔與所述針盤面中心設(shè)置的復(fù)數(shù)個測試針孔和所述底座中心設(shè)置的復(fù)數(shù)個測試 針孔均——對應(yīng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的微細探針測試治具，其特征在于所述治具還包括至少四根鐵柱，且針盤面上、底座上和移動板上均設(shè)有至少四個鐵柱孔與所述鐵柱配合。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的微細探針測試治具，其特征在于所述治具還包括至少六根支柱，且針盤面上和底座上均設(shè)有至少六個支柱孔與所述支柱配合。
5.根據(jù)權(quán)利要求I或4所述的微細探針測試治具，其特征在于所述移動板四周設(shè)有至少六個凹口與所述支柱配合。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的微細探針測試治具，其特征在于所述凹口具有弧形截面。
專利摘要本實用新型公開了一種微細探針測試治具，包括測試針、針盤面、底座以及至少二塊移動板，所述移動板中心、所述針盤面中心和所述底座中心均設(shè)有復(fù)數(shù)個測試針孔，所述測試針一端與針盤面中心測試針孔連接，另一端穿過移動板中心測試針孔后與底座中心測試針孔連接。本實用新型結(jié)構(gòu)簡單、裝配快捷且測試精準度高。
文檔編號G01R1/04GK202649242SQ20122014710
公開日2013年1月2日 申請日期2012年4月10日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月10日
發(fā)明者吳兆正 申請人:昆山鴻裕電子有限公司