專利名稱：芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種芯片模組測試裝置，尤其涉及一種芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
CMOS光學芯片是隨著電路集成和光學集成而應(yīng)運而生的一種光感芯片，其目前被廣泛應(yīng)用于手機、電腦、照相機和攝像機等設(shè)備中。CMOS光學芯片采用硅作為主要材料，電路導出采用錫球或鍍金貼片，且錫球之間步距已經(jīng)達到了 O. 2mm左右，電路集成化較高。對CMOS光學芯片測試而言，由于它具有成像性的測試要求，就必須要求在測試插座上有一款燈箱以及燈箱壓板。燈箱壓板和芯片測試底座的高頻度接觸，必會將會產(chǎn)生靜電，同時，高精度的壓板和潔凈的芯片壓力接觸，必會產(chǎn)生負壓，將芯片吸附在鏡頭壓板上?！ざ谧詣訙y試機臺上，由于其是高速運轉(zhuǎn)，一旦發(fā)生芯片吸附等故障，設(shè)備將自動停機，等待人工處理。這樣機臺的UPH值將大大降低，影響測試效率。因此，如何徹底消除芯片被鏡頭壓板靜電等原因的吸附，是各個芯片測試插座生產(chǎn)商亟待解決的問題。目前大多數(shù)的測試廠家大多是采用在設(shè)備上安裝等離子風或者潔凈環(huán)境或者將壓板做的不規(guī)則等方法，消除負壓吸附。但是，這些處理方法都不能從根本上解決芯片吸附的問題。另外，還有一些測試企業(yè)是采用人工作業(yè)的方法，安排人員在機器旁為機器服務(wù)，一旦發(fā)生芯片被吸附的現(xiàn)象，就采用手動方法消除故障，使機器開始運轉(zhuǎn)，但這種方法效率極為低下，且存在很大安全隱患。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提出一種芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)，其結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，能使芯片在測試完成后被動遠離壓板面，徹底解決了芯片靜電吸附的現(xiàn)象，大幅提升了測試效率，從而克服了現(xiàn)有技術(shù)中的不足。為實現(xiàn)上述實用新型目的，本實用新型采用了如下技術(shù)方案—種芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)，包括固定連接的鏡頭壓板和燈箱，所述鏡頭壓板上端面與燈箱下端面固定貼合，所述鏡頭壓板上分布有至少一第一通孔，所述燈箱上分布有復數(shù)第二通孔，且每個第一通孔和對應(yīng)的第二通孔配合形成沿豎直方向貫穿鏡頭壓板和燈箱的氣流通道，所述氣流通道上端與壓縮氣流供給裝置連通，下端形成氣流噴射口。優(yōu)選的，所述燈箱上部具有槽型結(jié)構(gòu)，一上蓋壓板框架下部插設(shè)于該槽型結(jié)構(gòu)中，并與燈箱固定連接。優(yōu)選的，所述第一通孔的孔徑從上向下逐漸減小。所述氣流噴射口設(shè)于測試鏡頭的成像空處。優(yōu)選的，它包括均勻分布于燈箱下方的復數(shù)個鏡頭壓板。優(yōu)選的，所述氣流裝置采用測試機臺上的壓縮氣流系統(tǒng)，所述壓縮氣流系統(tǒng)經(jīng)帶有氣壓調(diào)節(jié)閥的氣流輸送管路與氣流通道連通。[0013]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的優(yōu)點在于該芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)能有效消除自動測試中芯片被吸附的現(xiàn)象，且使測試過程簡單易行，測試效果準確可靠，單機的測試效率大大提升，設(shè)備的UPH值大大提升。

圖I是本實用新型一較佳實施例中芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)的立體圖(俯視)；圖2是本實用新型一較佳實施例中芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)的立體圖(仰視)；圖3是本實用新型一較佳實施例中芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)的分解結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是本實用新型一較佳實施例中芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)的俯視圖；圖5是本實用新型一較佳實施例中芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)的仰視圖；圖6是圖4所示芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)的A-A向剖面結(jié)構(gòu)示意圖；圖7是圖5所示芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)的局部放大結(jié)構(gòu)示意圖；圖8是本實用新型一較佳實施例中芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)的主視圖；圖中各組件及其附圖標記分別為上蓋壓板框架I、燈箱2、鏡頭壓板3、導正銷4、導正銷5、螺絲6、螺絲7、緊固螺絲8。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖及一較佳實施例對本實用新型的技術(shù)方案作進一步的說明。該芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)，包括上蓋壓板框架I、燈箱2和復數(shù)鏡頭壓板3，該燈箱2上部具有槽型結(jié)構(gòu)，上蓋壓板框架I下部插設(shè)于該槽型結(jié)構(gòu)中，并通過導正銷5、螺絲7和緊固螺絲8等緊固件與燈箱2固定連接，而每一鏡頭壓板3上端面則通過導正銷4和螺絲6等與燈箱2下端面固定貼合。進一步的，每一鏡頭壓板3上分布有一第一通孔,燈箱2上分布有若干第二通孔，且每個第一通孔和與之對應(yīng)的第二通孔配合形成沿豎直方向貫穿鏡頭壓板3和燈箱2的氣流通道，所述氣流通道上端與壓縮氣流供給裝置連通，下端形成氣流噴射口。優(yōu)選的，所述第一通孔的孔徑從上向下逐漸減小。優(yōu)選的，所述氣流噴射口設(shè)于測試鏡頭的成像空處，能確保氣體按照設(shè)計射出，且射出的氣體直接作用于芯片表面，使之處于受壓狀態(tài)。優(yōu)選的，所述氣流裝置采用測試機臺上的壓縮氣流系統(tǒng)，所述壓縮氣流系統(tǒng)經(jīng)機臺自帶的氣壓調(diào)節(jié)閥的氣流輸送管路與氣流通道連通，從而能很方便的控制從壓板吹出的氣壓，使芯片在測試完成后將被動遠離壓板面，即使有靜電，也不會被吸附，且使鏡頭壓板不易被損壞，徹底解決了芯片靜電吸附的現(xiàn)象，大幅提升了測試效率。以上較佳實施例僅供說明本實用新型之用，而非對本實用新型的限制，有關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本實用新型的精神和范圍的情況下，所作出各種變換或變型，均屬于本實用新型的范疇。
權(quán)利要求1.一種芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)，包括固定連接的鏡頭壓板(3)和燈箱(2)，其特征在于，所述鏡頭壓板(3)上端面與燈箱(2)下端面固定貼合，所述鏡頭壓板(3)上分布有至少一第一通孔，所述燈箱(2)上分布有復數(shù)第二通孔，且每個第一通孔和對應(yīng)的第二通孔配合形成沿豎直方向貫穿鏡頭壓板(3)和燈箱(2)的氣流通道，所述氣流通道上端與壓縮氣流供給裝置連通，下端形成氣流噴射口。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)，其特征在于，所述燈箱(2)上部具有槽型結(jié)構(gòu)，一上蓋壓板框架(I)下部插設(shè)于該槽型結(jié)構(gòu)中，并與燈箱(2)固定連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)，其特征在于，所述第一通孔的孔徑從上向下逐漸減小。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)，其特征在于，所述氣流噴射口設(shè)于測試鏡頭的成像空處。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)，其特征在于，它包括均勻分布于燈箱(2)下方的復數(shù)個鏡頭壓板(3)。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)，其特征在于，所述氣流裝置采用測試機臺上的壓縮氣流系統(tǒng)，所述壓縮氣流系統(tǒng)經(jīng)帶有氣壓調(diào)節(jié)閥的氣流輸送管路與氣流通道連通。
專利摘要本實用新型公開了一種芯片測試插座上蓋吹氣系統(tǒng)，包括固定連接的鏡頭壓板(3)和燈箱(2)，所述鏡頭壓板(3)上端面與燈箱(2)下端面固定貼合，所述鏡頭壓板(3)上分布有至少一第一通孔，所述燈箱(2)上分布有復數(shù)第二通孔，且每個第一通孔和對應(yīng)的第二通孔配合形成沿豎直方向貫穿鏡頭壓板(3)和燈箱(2)的氣流通道，所述氣流通道上端與壓縮氣流供給裝置連通，下端形成氣流噴射口。本實用新型能有效消除自動測試中芯片被吸附的現(xiàn)象，且使測試過程簡單易行，測試效果準確可靠，單機的測試效率大大提升，設(shè)備的UPH值大大提升。
文檔編號G01R1/04GK202614796SQ20122019223
公開日2012年12月19日 申請日期2012年5月2日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月2日
發(fā)明者朱小剛 申請人:蘇州創(chuàng)瑞機電科技有限公司