專利名稱：利用透鏡組聚焦的用于寶石透射光譜測量的樣品臺裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及ー種用于寶石測量的樣品臺裝置，特別是ー種利用透鏡組聚焦的用于寶石透射光譜測量的樣品臺裝置。
背景技術(shù)：
鉆石、珍珠和其它珍貴的寶石的貨幣價值根據(jù)每個寶石的美學(xué)特征可以有很大差另IJ。這種特征例如包括顔色、透明度、切割、形狀、亮度等等是決定其價值的重要的主觀因素。例如，常常發(fā)現(xiàn)相同尺寸和重量的寶石由于這些主觀因素的影響而價值十分不同。因而，這些特性的統(tǒng)ー測量是得到寶石的貨幣價值可靠的估計的第一歩。隨著珠寶人造技術(shù)的飛速發(fā)展，對當前對珠寶鑒定工作的要求越來越高，珠寶鑒定工作的難度也越來越大。 傳統(tǒng)的晶體結(jié)構(gòu)分析儀器中，普遍使用的是透射光譜測量儀器，通過使用透鏡組合進行光路調(diào)整，使之透射通過需要測量的寶石或晶體，適應(yīng)小尺寸的寶石晶體，并有效聚集光路能量，從而獲得更高測量靈敏度，廣泛應(yīng)用于、晶體等樣品的鑒定、檢測過程。但由于寶石尺寸小，價格高，形狀多祥(通常稱為隨形)，所以常規(guī)透射光譜使用的樣品臺不適合寶石透射光譜測量。常規(guī)透射光譜測量普遍采用吸收池吸收裝置，光路水平放置，寶石無法夾持在樣品臺中，使用不方便。
發(fā)明內(nèi)容為了克服現(xiàn)有技術(shù)存在的上述技術(shù)缺陷，本實用新型公開了ー種利用透鏡組聚焦的用于寶石透射光譜測量的樣品臺裝置。本實用新型為解決其技術(shù)問題采用的技術(shù)方案是ー種利用透鏡組進行聚焦的用于寶石透射光譜測量的樣品臺裝置，該裝置整體具有遮光罩、具有水平的基座和垂直安裝在水平基座上可以調(diào)節(jié)的設(shè)備支架，該裝置還包括從上至下依次安裝在設(shè)備支架上的入射光纖接ロ I、第一凸透鏡2、石英玻璃板3(放置寶石)、第二凸透鏡4和透射光譜信號接收光纖接ロ 5。其中入射光纖接ロ I輸出光束，經(jīng)過第一凸透鏡2對光束進行聚焦，光束聚焦照射到放置在石英玻璃板3上的寶石，透過寶石樣品后，光線再次被第二凸透鏡4聚焦，照射到透射光譜信號接收光纖接ロ 5上，井隨后被光譜測量儀器接收分析。本實用新型所具有以下的優(yōu)點和有益效果I、用縱向光路方式，寶石水平放置在透明石英玻璃板上，可以放置小尺寸寶石，同時不易移動或丟失。2、用透鏡組聚焦，使光線聚焦通過寶石樣品，有效聚集光線能量，達到更高的透射光譜靈敏度。3、整體儀器可以調(diào)節(jié)，適應(yīng)不同厚度的寶石樣品，方便聚焦，且儀器裝置通過連接光纖傳導(dǎo)照明光源和透射光信號，整體具有遮光罩，防止雜散光，樣品臺裝置具有體積小，價格低廉等特點。

圖I :寶石透射光譜測量的樣品臺裝置結(jié)構(gòu)示意圖圖中1·入射光纖接ロ 2.第一凸透鏡 3.石英玻璃板(放置寶石)
4.第二凸透鏡 5.透射光譜信號接收光纖接ロ
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本實用新型的具體實施方式
作進ー步說明ー種利用透鏡組聚焦的用于寶石透射光譜測量的樣品臺裝置整體具有遮光罩、水平的基座和垂直安裝在水平基座上可以調(diào)節(jié)的設(shè)備支架，該裝置還包括從上至下依次安裝 在設(shè)備支架上的入射光纖接ロ I入射光纖接ロ I輸出光束，經(jīng)過第一凸透鏡2對光束進行聚焦，光束聚焦照射到放置在石英玻璃板3上的寶石，透過寶石樣品后，光線再次被第二凸透鏡4聚焦，照射到透射光譜信號接收光纖接ロ 5上，井隨后被光譜測量儀器接收分析。在本示例中，入射光纖接ロ I規(guī)格為SMA905光纖接ロ，距離第一凸透鏡2距離為30mm,第一凸透鏡2和第二凸透鏡4的焦距均為15mm,直徑均為10mm。石英玻璃板3距離第一凸透鏡2和第二凸透鏡4的距離均為30mm。入射光纖出射的光線被第一凸透鏡2聚焦到石英玻璃板3上，石英玻璃板3上放置寶石樣品，通過調(diào)整第一凸透鏡2與石英玻璃板3的距離，使光線聚焦到寶石樣品上，透射寶石樣品后的透射光，被第二凸透鏡4再次聚焦到透射光譜信號接收光纖接ロ 5上，由接收光纖接收透射光譜信號，進入隨后的光譜儀器進行光譜分析，其接收光纖接ロ 5的規(guī)格是SMA905光纖接ロ。為了保證透射后的光線能夠正確聚焦到接收光纖上，可以適當微小調(diào)整第二凸透鏡4與透射光譜信號接收光纖接ロ 5之間的距離，以適應(yīng)不同高度的寶石樣品。該裝置具有適用不同尺寸寶石的檢測，更高的透射光譜靈敏度，方便聚焦，整體具有遮光罩，防止雜散光，樣品臺裝置具有體積小，價格低廉等特點。盡管上述通過舉例說明，已經(jīng)描述了本實用新型最佳的具體實施方式
，本實用新型的保護范圍并不僅限于上述說明，本領(lǐng)域一般技術(shù)人員可以理解的是，在不背離本實用新型所教導(dǎo)的實質(zhì)和精髄的前提下，任何修改和變化都落入本實用新型的保護范圍中。
權(quán)利要求1.ー種利用透鏡組聚焦的用于寶石透射光譜測量的樣品臺裝置，該裝置整體具有遮光罩、水平的基座和垂直安裝在水平基座上可以調(diào)節(jié)的設(shè)備支架，其特征在干該裝置還包括從上至下依次安裝在設(shè)備支架上的入射光纖接ロ(I)、第一凸透鏡(2)、石英玻璃板(3)、第ニ凸透鏡(4)和透射光譜信號接收光纖接ロ(5)，所述入射光纖接ロ(I)輸出光束，經(jīng)過所述第一凸透鏡(2)對光束進行聚焦，光束聚焦照射到放置在所述石英玻璃板(3)上的寶石，透過寶石樣品后，光線再次被所述第二凸透鏡(4)聚焦，照射到所述透射光譜信號接收光纖接ロ(5)上，井隨后被光譜測量儀器接收分析。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的利用透鏡組聚焦的用于寶石透射光譜測量的樣品臺裝置，其特征在干所述入射光纖接ロ(I)和所述透射光譜信號接收光纖接ロ(5)的規(guī)格均為SMA905光纖接ロ，所述入射光纖接ロ(I)距離所述凸透鏡(2)距離為30mm，所述第一凸透鏡(2)和所述第二凸透鏡(4)的焦距均為15mm、直徑均為IOmm ;所述石英玻璃板(3)距離所述第一凸透鏡(2)和所述第二凸透鏡(4)的距離均為30mm，所述第二凸透鏡(4)距離所述透射光譜信號接收光纖接ロ(5)為30_。
專利摘要一種利用透鏡組進行聚焦的用于寶石透射光譜測量的樣品臺裝置，該裝置整體具有遮光罩、水平的基座和垂直安裝在水平基座上可調(diào)節(jié)的設(shè)備支架，該裝置還包括從上至下依次安裝在設(shè)備支架上的入射光纖接口(1)、第一凸透鏡(2)、石英玻璃板(3)、第二凸透鏡(4)和透射光譜信號接收光纖接口(5)，入射光纖接口(1)輸出光束，經(jīng)過第一凸透鏡(2)對光束進行聚焦，光束聚焦照射到寶石放置石英玻璃板(3)上的寶石，透過寶石樣品后，光線再次被第二凸透鏡(4)聚焦，照射到透射光譜信號接收光纖接口(5)上，并隨后被光譜測量儀器接收分析。具有適用不同尺寸寶石的檢測，更高的透射光譜靈敏度，樣品臺裝置具有體積小，價格低廉等特點。
文檔編號G01N21/01GK202599812SQ20122021904
公開日2012年12月12日 申請日期2012年5月16日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月16日
發(fā)明者鄭天樺 申請人:天津浩強光電工業(yè)有限公司