專利名稱：一種小型開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及電子檢測(cè)領(lǐng)域，特別是涉及一種小型開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
開關(guān)電源市場(chǎng)與我國(guó)各個(gè)行業(yè)的發(fā)展有著密切的關(guān)系，而重點(diǎn)行業(yè)在我國(guó)宏觀經(jīng)濟(jì)的拉動(dòng)下，呈現(xiàn)出平穩(wěn)較快的發(fā)展態(tài)勢(shì)。尤其小型開關(guān)電源市場(chǎng)近年來也出現(xiàn)了平穩(wěn)增長(zhǎng)的狀態(tài)。開關(guān)電源產(chǎn)品由于其行業(yè)的特殊型，用戶對(duì)產(chǎn)品安全性、穩(wěn)定性有很高的要求。所以產(chǎn)品出廠的性能指標(biāo)檢測(cè)必不可少。對(duì)小型開關(guān)電源傳統(tǒng)的測(cè)試方式有操作人員根據(jù)測(cè)試規(guī)范手工測(cè)試，記錄數(shù)據(jù)，判斷好壞，所以隨意性大，效率低，數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)復(fù)雜，也有采用昂貴的開關(guān)電源測(cè)試儀不適合對(duì)簡(jiǎn)單產(chǎn)品的測(cè)試，性價(jià)比很差。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型主要解決的技術(shù)問題是提供一種小型開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)，能夠結(jié)·合計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)管理、共享，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的自動(dòng)化測(cè)試，可靠性好，效率高，數(shù)據(jù)管理方便，制造成本較低，有著良好的應(yīng)用前景。為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型采用的一個(gè)技術(shù)方案是提供一種小型開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)，該小型開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)包括CPU處理芯片、顯示單元、數(shù)據(jù)電腦、測(cè)試系統(tǒng)設(shè)定單元、信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元、測(cè)試系統(tǒng)電源和電子負(fù)載，所述CPU處理芯片上通過數(shù)據(jù)線連接有顯示單元、數(shù)據(jù)電腦、測(cè)試系統(tǒng)設(shè)定單元和信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元；信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元一路輸入點(diǎn)通過連動(dòng)開關(guān)Kl連接到被測(cè)試開關(guān)電源的一個(gè)輸出點(diǎn)和測(cè)試系統(tǒng)電源，信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元另一路輸入點(diǎn)通過連動(dòng)開關(guān)K2連接到電子負(fù)載，被測(cè)試開關(guān)電源的另一個(gè)輸出點(diǎn)通過連動(dòng)開關(guān)K2連接到電子負(fù)載，電子負(fù)載設(shè)有GND接線點(diǎn)連接到GND。優(yōu)選的是，所述數(shù)據(jù)電腦設(shè)有數(shù)據(jù)比對(duì)庫(kù)。本實(shí)用新型的有益效果是本實(shí)用新型一種小型開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)，能夠結(jié)合計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)管理、共享，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的自動(dòng)化測(cè)試，可靠性好，效率高，數(shù)據(jù)管理方便，制造成本較低，有著良好的應(yīng)用前景。

圖1是本實(shí)用新型一種小型開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)的一較佳實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型較佳實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)闡述，以使實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，從而對(duì)本實(shí)用新型的保護(hù)范圍做出更為清楚明確的界定。請(qǐng)參閱圖1，本實(shí)用新型實(shí)施例包括[0010]一種小型開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)，該小型開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)包括CPU處理芯片2、顯示單元3、數(shù)據(jù)電腦5、測(cè)試系統(tǒng)設(shè)定單元4、信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元1、測(cè)試系統(tǒng)電源6和電子負(fù)載7，所述CPU處理芯片2上通過數(shù)據(jù)線連接有顯示單元3、數(shù)據(jù)電腦5、測(cè)試系統(tǒng)設(shè)定單元4和信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元I ;信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元I 一路輸入點(diǎn)通過連動(dòng)開關(guān)Kl 61連接至IJ被測(cè)試開關(guān)電源8的一個(gè)輸出點(diǎn)和測(cè)試系統(tǒng)電源6，信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元I另一路輸入點(diǎn)通過連動(dòng)開關(guān)K2 71連接到電子負(fù)載7，被測(cè)試開關(guān)電源8的另一個(gè)輸出點(diǎn)通過連動(dòng)開關(guān)K271連接到電子負(fù)載7，電子負(fù)載7設(shè)有GND接線點(diǎn)連接到GND ;所述數(shù)據(jù)電腦5設(shè)有數(shù)據(jù)比對(duì)庫(kù)。本實(shí)用新型一種小型開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)的工作方法是實(shí)時(shí)檢測(cè)被測(cè)電源輸出電壓，通過電子開關(guān)將被測(cè)電源的電壓轉(zhuǎn)換到CPU測(cè)試合適的檔位；根據(jù)設(shè)定，通過CPU將電子負(fù)載設(shè)定到合理的范圍，檢測(cè)電源輸出電壓、電流根據(jù)公式計(jì)算出電源的負(fù)載調(diào)整率；通過功率芯片檢測(cè)電源輸入端的電流、電壓，檢測(cè)電源額定輸出時(shí)的功率，結(jié)合輸入輸出功率計(jì)算出被測(cè)電源的效率；通過高速AD轉(zhuǎn)化芯片將電源的輸出紋波電壓、噪音送入CPU進(jìn)行比較，看是否符合標(biāo)準(zhǔn)，不符合顯示不合格報(bào)警；有過壓保護(hù)功能、輸出短路保護(hù)，防止不合格電源輸出過高電壓、大電流將測(cè)試設(shè)備損壞；根據(jù)不同產(chǎn)品可以設(shè)定不同的測(cè)試參數(shù)。主要有輸出電壓范圍參數(shù)、輸出負(fù)載調(diào)整率參數(shù)、效率參數(shù)、輸出紋波電壓參數(shù)；可以將測(cè)試過程的參數(shù)、設(shè)定的參數(shù)、報(bào)警信息等通過顯示部件顯示。本實(shí)用新型一種小型開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)，能夠結(jié)合計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)管理、共享，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的自動(dòng)化測(cè)試，可靠性好，效率高，數(shù)據(jù)管理方便，制造成本較低，有著良好的應(yīng)用前景。以上所述僅為本實(shí)用新型的實(shí)施例，并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍，凡是利用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種小型開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該小型開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)包括 CPU處理芯片、顯示單元、數(shù)據(jù)電腦、測(cè)試系統(tǒng)設(shè)定單元、信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元、測(cè)試系統(tǒng)電源和電子負(fù)載，所述CPU處理芯片上通過數(shù)據(jù)線連接有顯示單元、數(shù)據(jù)電腦、測(cè)試系統(tǒng)設(shè)定單元和信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元；信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元一路輸入點(diǎn)通過連動(dòng)開關(guān)Ki連接到被測(cè)試開關(guān)電源的一個(gè)輸出點(diǎn)和測(cè)試系統(tǒng)電源，信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元另一路輸入點(diǎn)通過連動(dòng)開關(guān)K2 連接到電子負(fù)載，被測(cè)試開關(guān)電源的另一個(gè)輸出點(diǎn)通過連動(dòng)開關(guān)K2連接到電子負(fù)載，電子負(fù)載設(shè)有GND接線點(diǎn)連接到GND。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種小型開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)，該小型開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)的CPU處理芯片上通過數(shù)據(jù)線連接有顯示單元、數(shù)據(jù)電腦、測(cè)試系統(tǒng)設(shè)定單元和信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元；信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元一路輸入點(diǎn)通過連動(dòng)開關(guān)K1連接到被測(cè)試開關(guān)電源的一個(gè)輸出點(diǎn)和測(cè)試系統(tǒng)電源，信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元另一路輸入點(diǎn)通過連動(dòng)開關(guān)K2連接到電子負(fù)載，被測(cè)試開關(guān)電源的另一個(gè)輸出點(diǎn)通過連動(dòng)開關(guān)K2連接到電子負(fù)載，電子負(fù)載設(shè)有GND接線點(diǎn)連接到GND。通過上述方式，本實(shí)用新型能夠結(jié)合計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)管理、共享，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的自動(dòng)化測(cè)試，可靠性好，效率高，數(shù)據(jù)管理方便，制造成本較低，有著良好的應(yīng)用前景。
文檔編號(hào)G01R31/40GK202854306SQ201220232429
公開日2013年4月3日 申請(qǐng)日期2012年5月23日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月23日
發(fā)明者張進(jìn)峰, 顏友鈞 申請(qǐng)人:蘇州市職業(yè)大學(xué)