專利名稱：一種選相開關(guān)校驗(yàn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于電氣設(shè)備自動化技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種電氣開關(guān)自動檢驗(yàn)和校驗(yàn)中使用的選相開關(guān)的校驗(yàn)裝置。
背景技術(shù)：
選相開關(guān)，尤其是高精度的高壓三相交流開關(guān)，如真空斷路器，可根據(jù)每相開關(guān)分合動作的固有延時(shí)和需要分合的相位，事先計(jì)算出提前發(fā)給它們分合信號的時(shí)間，并按這個時(shí)間控制開關(guān)分合，實(shí)現(xiàn)開關(guān)在指定相位的選相分合。這種開關(guān)可用于有選相分合要求的場合，如無功補(bǔ)償電容器投切，電氣化鐵路電源投切，能改善開關(guān)分合過程的瞬態(tài)過程，降低對電網(wǎng)和設(shè)備的沖擊，延長設(shè)備壽命。工頻選相開關(guān)分合時(shí)間精度要求在微秒級，檢驗(yàn)其分合的時(shí)間精度需要的專用設(shè)備，如開關(guān)試驗(yàn)儀，安秒特性測試儀等，加上外圍接口設(shè)備，如經(jīng)分壓的三相電源等，操作和使用不方便；如果用通用的示波器，加上外圍設(shè)備，判讀分合時(shí)間耗費(fèi)人工大，易出錯，操作繁瑣。校準(zhǔn)選相開關(guān)是在檢驗(yàn)各相開關(guān)固有動作延時(shí)的基礎(chǔ)上，根據(jù)需要分合的相位，人工計(jì)算需要提前發(fā)出分合控制信號的時(shí)間，用計(jì)算機(jī)通過通訊接口與開關(guān)控制器連接，人工在計(jì)算機(jī)上輸入計(jì)算好的時(shí)間參數(shù)，同樣存在耗費(fèi)人工大，易出錯，操作繁瑣的問題。目前，沒有專門的設(shè)備能同時(shí)完成選相開關(guān)的檢驗(yàn)和校準(zhǔn)，選相開關(guān)的校驗(yàn)是利用多種設(shè)備，先檢驗(yàn)后校準(zhǔn)的人工過程。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種選相開關(guān)校驗(yàn)裝置，能實(shí)現(xiàn)三相選相開關(guān)分合時(shí)間的自動檢驗(yàn)和校準(zhǔn)，替代人工操作判讀，降低差錯，提高工效，降低成本，保證精度。采用的技術(shù)方案是一種選相開關(guān)校驗(yàn)裝置，包括單片機(jī)MCU、濾波與隔離變換電路BI、隔離電路B2、上位計(jì)算機(jī)PC和三相選相開關(guān)PSS，見附圖I ;單片機(jī)MCU的串行通訊接口 COMl和三相選相開關(guān)PSS的串行通訊接口 COM2與上位機(jī)PC的串行通訊接口 COMO接口連接；單片機(jī)MCU的POl接口與濾波與隔離變換電路BI的SO的信號輸入接口連接，濾波與隔離變換電路BI的IS信號輸出接口與三相選相開關(guān)PSS的IP2接口連接；單片機(jī)MCU的D01、D02、DlU D12和D13接口分別與隔離電路B2的H)信號輸入接口、HO信號輸入接口、Al信號輸出接口、BI信號輸出接口和Cl信號輸出接口對應(yīng)連接；隔離電路B2的IF信號輸出接口、IH信號輸出接口、0A信號輸入接口和OC信號輸入接口分別與三相選相開關(guān)PSS的IF2接口、IH2接口、0B2接口和0C2接口對應(yīng)連接。采用選相開關(guān)校驗(yàn)裝置實(shí)現(xiàn)選相開關(guān)校準(zhǔn)的方法是該裝置中單片機(jī)MCU通過內(nèi)部編程在PWM輸出接口輸出已知相位的模擬正弦波信號，對其它端口做時(shí)序檢測和控制，包括在DOl 口輸出分合閘控制信號，在D11、D12和D13接口輸入相開關(guān)分合狀態(tài)信號，通過串行通訊接口，即COMl 口，與三相選相開關(guān)通訊發(fā)出參數(shù)設(shè)置命令，與上位計(jì)算機(jī)通訊上報(bào)檢驗(yàn)校驗(yàn)結(jié)果信息；三相選相開關(guān)為同步參數(shù)可設(shè)置的開關(guān)，接收正弦同步參考信號，分合閘控制信號，并以干節(jié)點(diǎn)形式輸出各相開關(guān)的狀態(tài)信號，同時(shí)通過三相選相開關(guān)PSS的串行通訊接口，即COM2 口，接收來自單片機(jī)MCU的參數(shù)設(shè)置命令；上位計(jì)算機(jī)PC通過串行通訊口，即COMO 口，接收來自單片機(jī)的檢測校驗(yàn)結(jié)果信息； 濾波隔離電路BI和隔離電路B2的具體時(shí)序檢測和控制信號說明如下單片機(jī)MCU輸出3個信號(I)通過POl 口輸出已知相位的模擬正弦波的PWM輸出信號S0;(2)通過DOl 口輸出分閘控制信號FO ;(3)通過D02 口輸出合閘控制信號HO。單片機(jī)接收3個信號(I)通過DIl 口接收三相選相開關(guān)的A相開關(guān)分合信號Al ；(2)通過DI2 口接收三相選相開關(guān)的B相開關(guān)分合信號BI ；(3)通過DI3 口接收三相選相開關(guān)的C相開關(guān)分合信號Cl。三相選相開關(guān)PSS輸入3個信號(I)正弦同步參考信號IS輸出接口，接選相開關(guān)的同步信號輸入端IP2 ；(2)分閘控制信號IF信號輸出接口，接三相選相開關(guān)的分閘控制輸入端IF2 ；(3)合閘控制信號IH信號輸出接口，接三相選相開關(guān)的合閘控制輸入端IH2。三相選相開關(guān)輸出3個信號(I)通過三相選相開關(guān)的A相開關(guān)接點(diǎn)引出端0A2，輸出A相開關(guān)狀態(tài)信號OA ；(2)通過三相選相開關(guān)的B相開關(guān)接點(diǎn)引出端0B2，輸出B相開關(guān)狀態(tài)信號OB ；(3)通過三相選相開關(guān)的C相輸出接點(diǎn)引出端0C2，輸出C相開關(guān)狀態(tài)信號0C。單片機(jī)MCU輸出的模擬正弦波的PWM輸出信號SO通過濾波與隔離變換電路BI處理后，送出正弦同步參考信號IS，給選相開關(guān)的同步信號輸入端IP2。分閘控制信號F0，合閘控制信號HO，連接三相選相開關(guān)的A，B, C相接點(diǎn)的相開關(guān)狀態(tài)信號0A，OB, 0C，通過隔離電路B2處理后輸出分閘控制信號IF，合閘控制信號IH，A相開關(guān)分合信號Al, B相開關(guān)分合信號BI, C相開關(guān)分合信號Cl。采用本實(shí)用新型實(shí)現(xiàn)選相開關(guān)的校驗(yàn)具體方法是(I)選相開關(guān)的自動檢驗(yàn)方法使用的硬件是選相開關(guān)校驗(yàn)裝置，包括①相互連接的基本單片機(jī)MCU，濾波與隔離變換電路BI、隔離電路B2，上位計(jì)算機(jī)PC和三相選相開關(guān)PSS，見附圖I ;②單片機(jī)通過內(nèi)部編程在PWM輸出接口輸出已知相位的模擬正弦波信號，對其它端口做時(shí)序檢測和控制，包括在D01、D02 口輸出分合閘控制信號，在D11、D12和D13 口輸入各相開關(guān)分合狀態(tài)信號，通過串行通訊接口，即COMl 口，與三相選相開關(guān)通訊發(fā)出參數(shù)設(shè)置命令，與上位計(jì)算機(jī)通訊上報(bào)檢驗(yàn)校驗(yàn)結(jié)果信息；③三相選相開關(guān)為同步參數(shù)可設(shè)置的開關(guān)，接收正弦同步參考信號，分合閘控制信號，并以干節(jié)點(diǎn)形式輸出各相開關(guān)的狀態(tài)信號，同時(shí)通過串行通訊接口，即COM2 口，接收來自單片機(jī)的參數(shù)設(shè)置命令；上位計(jì)算機(jī)通過串行通訊口，即COMO 口，接收來自單片機(jī)的檢測校驗(yàn)結(jié)果信息；[0038]④單片機(jī)輸出的模擬正弦波的PWM輸出信號SO通過濾波與隔離變換電路BI處理后，送出正弦同步參考信號IS，給選相開關(guān)的同步信號輸入端IP2 ；⑤分閘控制信號F0，合閘控制信號HO，連接三相選相開關(guān)的A，B, C相接點(diǎn)的相開關(guān)狀態(tài)信號0A，OB, 0C，通過隔離電路B2處理后輸出分閘控制信號IF，合閘控制信號IH，A相開關(guān)分合信號Al, B相開關(guān)分合信號BI, C相開關(guān)分合信號Cl ；(2)選相開關(guān)自動檢驗(yàn)和校準(zhǔn)方法包括檢驗(yàn)步驟，校準(zhǔn)步驟，上報(bào)結(jié)果3個步驟，通過單片機(jī)編程后自動順序執(zhí)行，見附圖4，下面是本方法的具體實(shí)施步驟，其中各個參數(shù)的是以MS為單位的時(shí)間①檢驗(yàn)步驟A)校驗(yàn)裝置通過串行通訊接口給三相選相開關(guān)的選相參數(shù)置零，使thl, th2,th3, tfl, td2, tf3 均為零；B)分?jǐn)嗳噙x相開關(guān)的各相開關(guān)，啟動PWM輸出，記錄一個PWM模擬正弦信號的過零點(diǎn)時(shí)刻TO ；C)發(fā)出關(guān)合信號，關(guān)合選相開關(guān)的各相，選相開關(guān)按照選相參數(shù)關(guān)合各相開關(guān)，校驗(yàn)裝置檢測返回的開關(guān)狀態(tài)信號，記錄A，B，C相關(guān)合時(shí)刻TH1，TH2, TH3 ；D)發(fā)出分?jǐn)嘈盘?，分?jǐn)噙x相開關(guān)的各相，選相開關(guān)按照選相參數(shù)分?jǐn)喔飨嚅_關(guān)，校驗(yàn)裝置檢測返回的開關(guān)狀態(tài)信號，記錄A，B，C相分?jǐn)鄷r(shí)刻TF1，TF2，TF3 ；②校準(zhǔn)步驟校準(zhǔn)步驟一校驗(yàn)裝置以A，B，C三相開關(guān)在工頻參考信號過零時(shí)刻以后分別經(jīng)過THA，THB，THC時(shí)間后立即關(guān)合為目標(biāo)，按照以下方法計(jì)算各相關(guān)合參數(shù)thl，th2，th3，參見附圖5 ；A)記 Tl=THA, T2=THB, T3=THC ；B)計(jì)算，TXl=THl-TO, TX2=TH2_T0，TX3=TH3-T0 ；C)取 TXl，TX2, TX3 的最小值 t=MIN(TXl, TX2, TX3)；D)計(jì)算 t/20，取整數(shù)部分 N=INT (T/20)；E)取 TX1-N*20， TX2_N*20， TX3_N*20 的最大值 T=MAX(TXl_N*20， TX2_N*20，TX3-N*20)；F)計(jì)算 T/20，取整數(shù)部分 M=INT (T/20)；G)計(jì)算 tl=(M+N+l)*20+TI-TXl，t2=(M+N+l)*20+T2_TX2，t3=(M+N+l)*20+T3-TX3 ；H)取 thl=tl, th2=t2, th3=t3 ；校準(zhǔn)步驟二 校驗(yàn)裝置以A，B，C三相開關(guān)在工頻參考信號過零時(shí)刻以后分別經(jīng)過TFA，TFB，TFC時(shí)間后立即分?jǐn)酁槟繕?biāo)，按照以下方法計(jì)算各相分?jǐn)鄥?shù)tfl，tf2，tf3，參見附圖5 ；A)記 Tl=TFA, T2=TFB，T3=TFC ；B)計(jì)算，TXl=TFl-TO, TX2=TF2_T0，TX3=TF3_T0 ；C)取 TXl，TX2, TX3 的最小值 t=MIN(TXl，TX2, TX3)；D)計(jì)算 t/20，取整數(shù)部分 N=INT (T/20)；[0065]E)取 TX1-N*20，TX2_N*20，TX3_N*20 的最大值 T=MAX (TXl_N*20，TX2_N*20，TX3-N*20)；F)計(jì)算 T/20，取整數(shù)部分 M=INT (T/20)；G)計(jì)算 tl=(M+N+l)*20+TI-TXl，t2=(M+N+l)*20+T2_TX2，t3=(M+N+l)*20+T3_TX3 ;I)取 tfl=tl, tf2=t2, tf3=t3 ；校準(zhǔn)步驟三校驗(yàn)裝置通過串行通訊接口給三相選相開關(guān)發(fā)去新的選相參數(shù)thl，th2，th3，tfl, td2，tf3，然后做如下檢測A)分?jǐn)嗳噙x相開關(guān)的各相開關(guān)，啟動PWM輸出，記錄一個PWM模擬正弦信號的過零點(diǎn)時(shí)刻TO ；B)發(fā)出關(guān)合信號，關(guān)合選相開關(guān)的各相，選相開關(guān)按照選相參數(shù)關(guān)合各相開關(guān)，校驗(yàn)裝置檢測返回的開關(guān)狀態(tài)信號，記錄A，B，C相關(guān)合時(shí)刻TH1，TH2, TH3 ；C)發(fā)出分?jǐn)嘈盘?，分?jǐn)噙x相開關(guān)的各相，選相開關(guān)按照選相參數(shù)分?jǐn)喔飨嚅_關(guān)，校驗(yàn)裝置檢測返回的開關(guān)狀態(tài)信號，記錄A，B，C相分?jǐn)鄷r(shí)刻TF1，TF2，TF3 ；(3)、上報(bào)結(jié)果上報(bào)結(jié)果步驟一校驗(yàn)裝置按照以下方法計(jì)算各相關(guān)合相位誤差A(yù))記 Tl=THA, T2=THB, T3=THC ；B)計(jì)算，TXl=Tl-TO, TX2=T2_T0，ΤΧ3=Τ3_Τ0 ；C)取 TXl，TX2, TX3 的最小值 t=MIN(TXl, TX2, TX3)；D)計(jì)算 t/20，取整數(shù)部分 N=INT (T/20)；E) txl=TXl-N*20,tx2=TX2_N*20, tx3=TX3_N*20 ；F) Ahl= I txl-THA 丨，Ah2= | tx2_THB 丨，Ah3= | tx3_THC |上報(bào)結(jié)果步驟二 校驗(yàn)裝置按照以下方法計(jì)算各相分?jǐn)嘞辔徽`差A(yù))記 Tl=TFA, T2=TFB, T3=TFC ；B)計(jì)算，TXl=Tl-TO, TX2=T2_T0，Τ3=Τ3_Τ0 ；C)取 TXl，TX2, TX3 的最小值 t=MIN(TXl, TX2, TX3)；D)計(jì)算 t/20，取整數(shù)部分 N=INT (T/20)；E) txl=TXl-N*20,tx2=TX2-N*20, tx3=TX3-N*20 ;F) Afl= I txl-TFA | , Δ f2= | tx2_TFB | , Δ f3= | tx3_TFC | ；上報(bào)結(jié)果步驟三校驗(yàn)裝置通過串行通訊接口向上位計(jì)算機(jī)上報(bào)校準(zhǔn)誤差A(yù)hl, Ah2, Ah3和Afl, Af2，Λ f3 ;上位計(jì)算機(jī)記錄各選相誤差A(yù)hl，Ah2, Ah3和Afl，Af2，Af3。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于采用本實(shí)用新型對三相選相開關(guān)進(jìn)行校驗(yàn)過程為自動化過程，利用單片機(jī)能夠發(fā)出已知相位的PWM信號，經(jīng)過濾波隔離后送給選相開關(guān)做同步信號，再由單片機(jī)測控選相開關(guān)的動作時(shí)序，并通過通訊接口發(fā)給選相開關(guān)補(bǔ)償參數(shù)，達(dá)到自動檢驗(yàn)和校驗(yàn)的目的，本方法替代先檢驗(yàn)后校準(zhǔn)的人工過程，簡化了校驗(yàn)工作，利用本方法制造專門的設(shè)備進(jìn)行自動校驗(yàn)，不需人工繁瑣操作，避免了人為出錯，提高了校驗(yàn)效率。

[0097]圖[0098]圖[0099]圖[0100]圖[0101]圖
具體實(shí)施方式
一種選相開關(guān)校驗(yàn)裝置，其特征在于選相開關(guān)校驗(yàn)裝置，包括單片機(jī)MCU、濾波與隔離變換電路BI、隔離電路B2、上位計(jì)算機(jī)PC和三相選相開關(guān)PSS，見附圖I ;單片機(jī)MCU的串行通訊接口 COMl和三相選相開關(guān)PSS的串行通訊接口 COM2與上位機(jī)PC的串行通訊接口 COMO接口連接；單片機(jī)MCU的POl接口與濾波與隔離變換電路BI的SO的信號輸入接口連接，濾波與隔離變換電路BI的IS信號輸出接口與三相選相開關(guān)PSS的IP2接口連接；單片機(jī)MCU的D01、D02、DlU D12和D13接口分別與隔離電路B2的H)信號輸入接口、HO信號輸入接口、Al信號輸出接口、BI信號輸出接口和Cl信號輸出接口對應(yīng)連接；隔離電路B2的IF信號輸出接口、IH信號輸出接口、0A信號輸入接口和OC信號輸入接口分別與三相選相開關(guān)PSS的IF2接口、IH2接口、0B2接口和0C2接口對應(yīng)連接。濾波與隔離變換電路BI見附圖2，該電路由電阻Rl和電阻R2，光電耦合器ELI，鐵芯隔離變壓器B，電容Cl及電容C2組成，外接單片機(jī)供電電源VI+，濾波與隔離變換電路的供電電源V2+和V2-，其中，單片機(jī)輸出的模擬正弦波的PWM輸出信號SO接ELl的2腳，ELl的I腳接Rl的2腳，Rl的I腳接VI+，ELl的3腳接V2-，ELl的4腳接B的2腳，B的I腳接V2+，B的3腳接V2-，B的4腳接電容Cll腳和電阻R2的I腳，電容Cl的2腳接V2-，電阻R2的2腳和電容C2的I腳接正弦同步參考信號輸出端IS，電容C2的2腳接V2-。濾波與隔離變換電路BI中，光電耦合器ELl起隔離和信號放大作用，信號SO經(jīng)ELl后，送給隔離和濾波作用的變壓器B，濾除高頻成分，使工頻通過，然后經(jīng)過由C1，R2，C2組成的π型低通濾波器后，輸出正弦同步信號IS。隔離電路B2，見附圖3，該電路由兩個隔離輸出單元和3個隔離輸入單元組成；第一個隔離輸出單兀由電阻R3，第一光電f禹合器EL1，二極管Dl和第一繼電器Jl組成，負(fù)責(zé)隔離單片機(jī)輸出的分閘控制信號FO和分閘控制信號IF，見附圖3，該電路外接單片機(jī)供電電源VI+，隔離電路的供電電源V2+和V2-，其中，分閘控制信號FO接第一光電耦合器ELl的2腳，第一光電耦合器ELl的I腳接電阻R3的2腳，電阻R3的I腳接VI+，第一光電耦合器ELl的3腳接V2-，第一光電耦合器ELl的4腳接Dl的2腳和第一繼電器Jl的2腳，Dl的I腳和第一繼電器Jl的I腳接V2+，第一繼電器Jl的3腳和4腳接IFl和IF2，IFl和IF2以干節(jié)點(diǎn)輸出形式送出IF信號；第二個隔離輸出單元由電阻R4，第二光電耦合器EL2，二極管D2和第二繼電器J2組成，負(fù)責(zé)隔離單片機(jī)輸出的合閘控制信號HO和分閘控制信號IH，該電路外接單片機(jī)供電電源VI+，隔離電路的供電電源V2+和V2-，其中，合閘控制信號HO接第二光電耦合器EL2的2腳，第二光電耦合器EL2的I腳接電阻R4的2腳，電阻R4的I腳接VI+，第二光電耦合器EL2的3腳接V2-，第二光電耦合器EL2的4腳接D2的2腳和第二繼電器J2的2腳，D2的I腳和第二繼電器J2的I腳接V2+，第二繼電器J2的3腳和4腳接IHl和IH2，IHl和IH2以干節(jié)點(diǎn)輸出形式送出IH信號；3個隔離輸入單元電路形式相同，以第一個隔離輸入單元電路為例，該隔離輸入單元電路由電阻R6，第三光電耦合器EL3和電阻R5組成，負(fù)責(zé)隔離三相選相開關(guān)的A相開關(guān)接點(diǎn)引出的A相開關(guān)狀態(tài)信號OA與給單片機(jī)的選相開關(guān)同步信號IP2，該電路外接單片機(jī)供電電源VI+，隔離電路的供電電源V2+和V2-，其中，由V2+和OA輸入信號，OA接電阻R6的2腳，電阻R6的I腳接第三光電耦合器EL3的I腳，第三光電耦合器EL3的2腳接V2-，第三光電耦合器EL3的3腳接V1-，EL3的4腳接電阻R5的2腳后輸出AI，R5的I腳接VI+，第二個隔離輸入單元電路和第三個隔離輸入單元電路與第一個隔離輸入單元電路形式和功能相同，這里省略說明。
權(quán)利要求1.一種選相開關(guān)校驗(yàn)裝置，包括單片機(jī)MCU、濾波與隔離變換電路BI、隔離電路B2、上位計(jì)算機(jī)PC和三相選相開關(guān)PSS，其特征在于單片機(jī)MCU的串行通訊接口 COMl和三相選相開關(guān)PSS的串行通訊接口 COM2與上位機(jī)PC的串行通訊接口 COMO接口連接；單片機(jī)MCU的POl接口與濾波與隔離變換電路BI的SO的信號輸入接口連接，濾波與隔離變換電路BI的IS信號輸出接口與三相選相開關(guān)PSS的IP2接口連接；單片機(jī)MCU的DOI、D02、D11、D12和D13接口分別與隔離電路B2的H)信號輸入接口、HO信號輸入接口、AI信號輸出接口、BI信號輸出接口和Cl信號輸出接口對應(yīng)連接；隔離電路B2的IF信號輸出接口、IH信號輸出接口、0A信號輸入接口和OC信號輸入接口分別與三相選相開關(guān)PSS的IF2接口、IH2接口、0B2接口和0C2接口對應(yīng)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種選相開關(guān)校驗(yàn)裝置，其特征是濾波與隔離變換電路BI由電阻Rl和電阻R2，光電耦合器EL1，鐵芯隔離變壓器B，電容Cl及電容C2組成，外接單片機(jī)供電電源VI+，濾波與隔離變換電路的供電電源V2+和V2-，其中，單片機(jī)輸出的模擬正弦波的PWM輸出信號SO接ELl的2腳，ELl的I腳接Rl的2腳，Rl的I腳接VI+，ELl的3腳接V2-，ELl的4腳接B的2腳，B的I腳接V2+，B的3腳接V2-，B的4腳接電容Cll腳和電阻R2的I腳，電容Cl的2腳接V2-，電阻R2的2腳和電容C2的I腳接正弦同步參考信號輸出端IS，電容C2的2腳接V2-，濾波與隔離變換電路BI中，光電耦合器ELl起隔離和信號放大作用，信號SO經(jīng)ELl后，送給隔離和濾波作用的變壓器B，濾除高頻成分，使工頻通過，然后經(jīng)過由Cl，R2，C2組成的π型低通濾波器后，輸出正弦同步信號IS;隔離電路B2由兩個隔離輸出單元和3個隔離輸入單元組成；第一個隔離輸出單兀由電阻R3,第一光電I禹合器ELl, 二極管Dl和第一繼電器Jl組成，負(fù)責(zé)隔離單片機(jī)輸出的分閘控制信號FO和分閘控制信號IF，該電路外接單片機(jī)供電電源VI+，隔離電路的供電電源V2+和V2-，其中，分閘控制信號FO接第一光電耦合器ELl的2腳，第一光電稱合器ELl的I腳接電阻R3的2腳，電阻R3的I腳接VI+，第一光電稱合器ELl的3腳接V2-，第一光電耦合器ELl的4腳接Dl的2腳和第一繼電器Jl的2腳，Dl的I腳和第一繼電器Jl的I腳接V2+，第一繼電器Jl的3腳和4腳接IFl和IF2，IFl和IF2以干節(jié)點(diǎn)輸出形式送出IF信號；第二個隔離輸出單元由電阻R4，第二光電耦合器EL2，二極管D2和第二繼電器J2組成，負(fù)責(zé)隔離單片機(jī)輸出的合閘控制信號HO和分閘控制信號IH，該電路外接單片機(jī)供電電源VI+，隔離電路的供電電源V2+和V2-，其中，合閘控制信號HO接第二光電耦合器EL2的2腳，第二光電耦合器EL2的I腳接電阻R4的2腳，電阻R4的I腳接VI+，第二光電耦合器EL2的3腳接V2-，第二光電耦合器EL2的4腳接D2的2腳和第二繼電器J2的2腳，D2的I腳和第二繼電器J2的I腳接V2+，第二繼電器J2的3腳和4腳接IHl和IH2，IHl和IH2以干節(jié)點(diǎn)輸出形式送出IH信號；3個隔離輸入單元電路形式相同，隔離輸入單元電路由電阻R6，第三光電耦合器EL3和電阻R5組成，負(fù)責(zé)隔離三相選相開關(guān)的A相開關(guān)接點(diǎn)引出的A相開關(guān)狀態(tài)信號OA與給單片機(jī)的選相開關(guān)同步信號IP2，該電路外接單片機(jī)供電電源VI+，隔離電路的供電電源V2+和V2-，其中，由V2+和OA輸入信號，OA接電阻R6的2腳，電阻R6的I腳接第三光電耦合器EL3的I腳，第三光電耦合器EL3的2腳接V2-，第三光電耦合器EL3的3腳接VI-，EL3的4腳接電阻R5的2腳后輸出AI，R5的I腳接VI+，第二個隔離輸入單元電路和第三個隔離輸入單元電路與第一個隔離輸入單元電路形式和功能相同。
專利摘要一種選相開關(guān)校驗(yàn)裝置，包括單片機(jī)MCU、濾波與隔離變換電路B1、隔離電路B2、上位計(jì)算機(jī)PC和三相選相開關(guān)PSS，單片機(jī)MCU的串行通訊接口和三相選相開關(guān)PSS的串行通訊接口與上位機(jī)PC的串行通訊接口連接；單片機(jī)MCU的PO1接口與濾波與隔離變換電路B1的SO的信號輸入接口連接，濾波與隔離變換電路B1的IS信號輸出接口與三相選相開關(guān)PSS的IP2接口連接；單片機(jī)MCU的D01、D02、D11、D12和D13接口分別與隔離電路B2的對應(yīng)接口連接。利用本方法制造專門的設(shè)備進(jìn)行自動校驗(yàn)，不需人工繁瑣操作，避免了人為出錯，提高了校驗(yàn)效率。
文檔編號G01R31/327GK202748452SQ20122023550
公開日2013年2月20日 申請日期2012年5月24日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月24日
發(fā)明者張 浩 申請人:沈陽華巖電力技術(shù)有限公司