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一種計(jì)量型高精度x射線顯微鏡掃描樣品臺(tái)的制作方法

文檔序號(hào):5984123閱讀:287來源:國(guó)知局
專利名稱:一種計(jì)量型高精度x射線顯微鏡掃描樣品臺(tái)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于顯微CT掃描成像技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種計(jì)量型高精度X射線顯微鏡掃描樣品臺(tái)。
背景技術(shù)
近年來顯微CT技術(shù)在科研和工業(yè)領(lǐng)域日益受到重視,其應(yīng)用領(lǐng)域涵蓋了新型材料、半導(dǎo)體/微電子、石油/采礦/地質(zhì)、考古/文物、生物/醫(yī)療、生命科學(xué)、食品檢測(cè)、空間技術(shù)、軍工/國(guó)防等多個(gè)領(lǐng)域。因此,產(chǎn)品有著巨大的潛在市場(chǎng)規(guī)模。 由于X射線的穿透特點(diǎn),使得復(fù)雜零件內(nèi)部結(jié)構(gòu)的測(cè)量成為可能。恰好彌補(bǔ)了三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)等傳統(tǒng)精密測(cè)量?jī)x器只能對(duì)外部尺寸進(jìn)行測(cè)量的先天不足。圖I為X射線掃描成像原理圖。X射線源發(fā)出的X射線穿透樣品后進(jìn)入成像系統(tǒng),通過成像系統(tǒng)處理后即可獲得掃描圖像。掃描樣品臺(tái)在掃描過程中,理論上必須保持X射線光束中軸、樣品觀測(cè)中心點(diǎn)及成像系統(tǒng)中心相對(duì)位置保持不變。實(shí)際中,由于掃描樣品臺(tái)的精度所限,在掃描過程中往往由于轉(zhuǎn)軸的跳動(dòng)和擺動(dòng),使得上述要求難以滿足,導(dǎo)致圖像的重構(gòu)出現(xiàn)誤差或失真。因而,樣品臺(tái)的轉(zhuǎn)軸的位置精度對(duì)掃描后的成像是否存在失真起到至關(guān)重要的作用。CT掃描樣品臺(tái)的精度誤差主要由關(guān)鍵零部件在其加工與裝配過程中產(chǎn)生,導(dǎo)致樣品在掃描過程中觀測(cè)中心出現(xiàn)徑向跳動(dòng)、軸向跳動(dòng)以及軸線擺動(dòng),轉(zhuǎn)臺(tái)旋轉(zhuǎn)過程中轉(zhuǎn)軸的位置誤差將導(dǎo)致樣品位置的偏移,進(jìn)而導(dǎo)致成像誤差。通用掃描樣品臺(tái)的精度一般難以滿足高分辨率成像的需求,使得掃描結(jié)果與被掃描物體實(shí)際結(jié)構(gòu)之間存在一定的失真,因此需要對(duì)掃描臺(tái)轉(zhuǎn)軸的跳動(dòng)與擺動(dòng)誤差進(jìn)行測(cè)量和修正。樣品臺(tái)轉(zhuǎn)軸位置誤差可分為五個(gè)分量,即沿X、I、Z三個(gè)方向的跳動(dòng)及繞X軸與Z軸的擺動(dòng)。由于X射線顯微系統(tǒng)的成像特點(diǎn),沿X方向的轉(zhuǎn)軸跳動(dòng)誤差與沿z軸的軸線擺動(dòng)誤差對(duì)成像精度影響不大,一般可以忽略不計(jì),本實(shí)用新型中配置的傳感器系統(tǒng)只測(cè)量I與z方向的跳動(dòng)與沿X軸的軸線擺動(dòng)誤差,并對(duì)樣品臺(tái)在這三個(gè)方向的誤差進(jìn)行修正。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的主要目的是提供一種能減小或消除由轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)軸的位置精度誤差而導(dǎo)致掃描圖像失真的計(jì)量型高精度X射線顯微鏡掃描樣品臺(tái)。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是一種計(jì)量型高精度X射線顯微鏡掃描樣品臺(tái),掃描轉(zhuǎn)臺(tái)(2)安裝在固定底座(I)上,掃描轉(zhuǎn)臺(tái)(2)提供被掃描樣品所需的旋轉(zhuǎn)掃描運(yùn)動(dòng),掃描轉(zhuǎn)臺(tái)(2)上部固定安裝三維定位平臺(tái)(6),固定底座(I)外側(cè)安裝傳感器安裝座(3),傳感器安裝座(3)上分別安裝徑向跳動(dòng)誤差測(cè)量傳感器(4)與軸向跳動(dòng)誤差和擺動(dòng)誤差測(cè)量傳感器組(5),樣品架(8)固定于y方向平臺(tái)之上;軸向跳動(dòng)誤差和擺動(dòng)誤差測(cè)量傳感器組(5)包括兩個(gè)傳感器,所述兩個(gè)傳感器沿固定底座(I)的對(duì)稱中心對(duì)稱分布;所述兩個(gè)傳感器輸出值的平均值即為測(cè)得的掃描轉(zhuǎn)臺(tái)(2)的軸向跳動(dòng)誤差;所述兩個(gè)傳感器輸出值的差值即為掃描轉(zhuǎn)臺(tái)(2)的擺動(dòng)誤差;徑向跳動(dòng)誤差測(cè)量傳感器(4)用于測(cè)量出掃描過程中掃描轉(zhuǎn)臺(tái)(2)轉(zhuǎn)軸發(fā)生徑向跳動(dòng)引起的徑向跳動(dòng)誤差;根據(jù)所述軸向跳動(dòng)誤差、所述擺動(dòng)誤差、所述徑向跳動(dòng)誤差,消除由誤差導(dǎo)致的圖像失真。所述的掃描樣品臺(tái),所述三維定位平臺(tái)(6)包括三個(gè)可分別沿x、y、z方向自由移動(dòng)的平臺(tái)方向平臺(tái)可沿固定安裝在掃描轉(zhuǎn)臺(tái)(2)上的導(dǎo)軌移動(dòng),X方向平臺(tái)可沿固定安裝在z向平臺(tái)上的導(dǎo)軌移動(dòng),y方向平臺(tái)可沿固定安裝在X向平臺(tái)上的導(dǎo)軌移動(dòng);通過調(diào)整三個(gè)平臺(tái)的位置,即可實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品掃描位置三個(gè)方向的精確定位。所述的掃描樣品臺(tái),所述三維定位平臺(tái)(6)采用橋式結(jié)構(gòu),y方向移動(dòng)主要在掃描轉(zhuǎn)臺(tái)(2)的中空內(nèi)移動(dòng),降低了掃描樣品臺(tái)的高度。根據(jù)徑向誤差測(cè)量傳感器與軸向誤差和擺動(dòng)誤差測(cè)量傳感器的測(cè)量數(shù)據(jù),可采用主動(dòng)修正控制方法對(duì)掃描轉(zhuǎn)臺(tái)進(jìn)行誤差修正,也可采用數(shù)學(xué)算法在三維圖像重構(gòu)過程中對(duì)跳動(dòng)誤差進(jìn)行修正?!?br> 圖I為X射線顯微鏡掃描成像原理圖;圖2為本實(shí)用新型計(jì)量型高精度X射線顯微鏡掃描樣品臺(tái)結(jié)構(gòu)主視圖;圖3為本實(shí)用新型計(jì)量型高精度X射線顯微鏡掃描樣品臺(tái)結(jié)構(gòu)俯視圖;圖4為本實(shí)用新型計(jì)量型高精度X射線顯微鏡掃描樣品結(jié)構(gòu)臺(tái)立體圖;圖5為本實(shí)用新型誤差計(jì)算原理圖。I底座;2掃描轉(zhuǎn)臺(tái);3傳感器安裝座;4徑向跳動(dòng)誤差測(cè)量傳感器;5軸向跳動(dòng)誤差和擺動(dòng)誤差測(cè)量傳感器組;6三維定位平臺(tái);7標(biāo)定球;8樣品架。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合具體實(shí)施例,對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。參閱圖2 圖4,掃描轉(zhuǎn)臺(tái)2安裝在固定底座I上,掃描轉(zhuǎn)臺(tái)2上部固定安裝三維定位平臺(tái)6,三維定位平臺(tái)包括三個(gè)可分別沿x、y、z方向自由移動(dòng)的平臺(tái)。工作時(shí)z方向平臺(tái)可沿固定安裝在掃描轉(zhuǎn)臺(tái)2上的導(dǎo)軌移動(dòng),X方向平臺(tái)可沿固定安裝在z向平臺(tái)上的導(dǎo)軌移動(dòng),y方向平臺(tái)可沿固定安裝在X向平臺(tái)上的導(dǎo)軌移動(dòng)。通過調(diào)整三個(gè)平臺(tái)的位置,即可實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品掃描位置三個(gè)方向的精確定位。固定底座I外側(cè)安裝傳感器安裝座3,傳感器安裝座3上分別安裝徑向跳動(dòng)誤差測(cè)量傳感器4與軸向跳動(dòng)誤差和擺動(dòng)誤差測(cè)量傳感器組5,樣品架8固定于y方向平臺(tái)之上。掃描前,樣品可通過三維定位平臺(tái)6在x、y、z三個(gè)自由度方向進(jìn)行調(diào)整,實(shí)現(xiàn)樣品的精確定位。掃描樣品時(shí),可通過控制安裝在固定底座I上的掃描轉(zhuǎn)臺(tái)2實(shí)現(xiàn)樣品的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)。標(biāo)定時(shí),將標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)定球7放在樣品架8上方,對(duì)標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)定球7進(jìn)行掃描,通過投影圖像測(cè)量標(biāo)定球7在掃描過程中的位置誤差,推出各傳感器輸出與掃描轉(zhuǎn)臺(tái)2誤差之間的函數(shù)關(guān)系。在實(shí)測(cè)樣品時(shí)利用此函數(shù)關(guān)系式,根據(jù)各傳感器的讀出,獲得實(shí)際樣品的位
置誤差。參閱圖5,軸向跳動(dòng)誤差和擺動(dòng)誤差測(cè)量傳感器組5包括兩個(gè)傳感器,這兩個(gè)傳感器沿固定底座I的對(duì)稱中心對(duì)稱分布。兩個(gè)傳感器輸出值的平均值即為測(cè)得的掃描轉(zhuǎn)臺(tái)2的軸向(圖中y軸方向)跳動(dòng)誤差;兩個(gè)傳感器輸出值的差值即為掃描轉(zhuǎn)臺(tái)2的擺動(dòng)誤差。工作過程中,徑向跳動(dòng)誤差測(cè)量傳感器4通過測(cè)量z方向平臺(tái)的跳動(dòng)大小獲取掃描轉(zhuǎn)臺(tái)2的徑向跳動(dòng)誤差。軸向跳動(dòng)誤差和擺動(dòng)誤差測(cè)量傳感器組5沿z方向分別安放在掃描樣品臺(tái)兩端,掃描過程中若掃描轉(zhuǎn)臺(tái)2發(fā)生y方向的移動(dòng)或擺動(dòng),設(shè)發(fā)生移動(dòng)或擺動(dòng)時(shí)樣品臺(tái)位置由基準(zhǔn)面Al-Bl移動(dòng)至A2-B2平面,則A2點(diǎn)與B2點(diǎn)沿z方向的坐標(biāo)變化即為轉(zhuǎn)軸的z方向跳動(dòng)誤差,y方向坐標(biāo)的均值即為樣品臺(tái)轉(zhuǎn)軸y方向的軸向跳動(dòng)誤差,I方向坐標(biāo)的差值即為轉(zhuǎn)軸的擺動(dòng)誤差9。若掃描過程中掃描轉(zhuǎn)臺(tái)2的轉(zhuǎn)軸發(fā)生徑向跳動(dòng)、軸向跳動(dòng)與擺動(dòng),則掃描成像后獲得的二維成像圖像與掃描樣品內(nèi)部實(shí)際結(jié)構(gòu)之 間存在一定的偏移或擺動(dòng),若采用這些帶有偏移或擺動(dòng)的二維圖像進(jìn)行三維重構(gòu),則生成的三維圖像必定存在失真。本實(shí)用新型根據(jù)徑向跳動(dòng)誤差測(cè)量傳感器與軸向跳動(dòng)誤差和擺動(dòng)誤差測(cè)量傳感器組5的測(cè)量誤差,可采用主動(dòng)修正控制方法對(duì)掃描轉(zhuǎn)臺(tái)2進(jìn)行誤差修正,也可采用數(shù)學(xué)算法在三維圖像重構(gòu)過程中對(duì)跳動(dòng)誤差進(jìn)行修正,即可減小或消除由轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)軸的位置誤差精度而導(dǎo)致掃描圖像失真問題。若掃描過程中掃描轉(zhuǎn)臺(tái)2轉(zhuǎn)軸發(fā)生徑向跳動(dòng),則徑向跳動(dòng)誤差測(cè)量傳感器4可測(cè)量出該誤差的大小,將該誤差值反饋至控制器中,控制器控制三維定位平臺(tái)6向跳動(dòng)誤差相反方向移動(dòng),移動(dòng)位移的大小與跳動(dòng)誤差相等,即可消除誤差對(duì)圖像的影響;若掃描過程中樣品臺(tái)轉(zhuǎn)軸發(fā)生徑向跳動(dòng)、軸向跳動(dòng)與擺動(dòng),則徑向跳動(dòng)誤差測(cè)量傳感器4與軸向跳動(dòng)誤差和擺動(dòng)誤差測(cè)量傳感器組5可實(shí)時(shí)測(cè)量出誤差的大小。若掃描過程中有誤差存在,則掃描過程完成后,獲得的圖像是具有圖像偏移或擺動(dòng)的失真二維圖像,在進(jìn)行三維重構(gòu)時(shí),首先對(duì)對(duì)掃描獲得的二維失真圖像進(jìn)行數(shù)學(xué)算法處理,將傳感器測(cè)量的誤差值帶入將二維圖像算法修正公式中,消除二維圖像的偏移與擺動(dòng),再進(jìn)行圖像的三維重構(gòu),即可消除由誤差導(dǎo)致的圖像失真問題。應(yīng)當(dāng)理解的是,對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說,可以根據(jù)上述說明加以改進(jìn)或變換,而所有這些改進(jìn)和變換都應(yīng)屬于本實(shí)用新型所附權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種計(jì)量型高精度X射線顯微鏡掃描樣品臺(tái),其特征在于,掃描轉(zhuǎn)臺(tái)(2)安裝在固定底座(I)上,掃描轉(zhuǎn)臺(tái)(2)提供被掃描樣品所需的旋轉(zhuǎn)掃描運(yùn)動(dòng),掃描轉(zhuǎn)臺(tái)(2)上部固定安裝三維定位平臺(tái)(6),固定底座(I)外側(cè)安裝傳感器安裝座(3),傳感器安裝座(3)上分別安裝徑向跳動(dòng)誤差測(cè)量傳感器(4)與軸向跳動(dòng)誤差和擺動(dòng)誤差測(cè)量傳感器組(5),樣品架(8)固定于y方向平臺(tái)之上;軸向跳動(dòng)誤差和擺動(dòng)誤差測(cè)量傳感器組(5)包括兩個(gè)傳感器,所述兩個(gè)傳感器沿固定底座(I)的對(duì)稱中心對(duì)稱分布。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的掃描樣品臺(tái),其特征在于,所述三維定位平臺(tái)(6)包括三個(gè)可分別沿X、I、Z方向自由移動(dòng)的平臺(tái)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的掃描樣品臺(tái),其特征在于,三維定位平臺(tái)(6)采用橋式結(jié)構(gòu)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種計(jì)量型高精度X射線顯微鏡掃描樣品臺(tái),掃描轉(zhuǎn)臺(tái)(2)安裝在固定底座(1)上,掃描轉(zhuǎn)臺(tái)(2)提供被掃描樣品所需的旋轉(zhuǎn)掃描運(yùn)動(dòng),掃描轉(zhuǎn)臺(tái)(2)上部固定安裝三維定位平臺(tái)(6),固定底座(1)外側(cè)安裝傳感器安裝座(3),傳感器安裝座(3)上分別安裝徑向跳動(dòng)誤差測(cè)量傳感器(4)與軸向跳動(dòng)誤差和擺動(dòng)誤差測(cè)量傳感器組(5),樣品架(8)固定于y方向平臺(tái)之上;可實(shí)現(xiàn)樣品掃描臺(tái)旋轉(zhuǎn)過程中轉(zhuǎn)軸的徑向誤差、軸向誤差與轉(zhuǎn)軸擺動(dòng)誤差的實(shí)時(shí)測(cè)量,所測(cè)量的誤差結(jié)果可以用來對(duì)樣品運(yùn)動(dòng)進(jìn)行誤差修正,解決了掃描樣品臺(tái)由于精度誤差導(dǎo)致三維圖像重構(gòu)失真的難題。
文檔編號(hào)G01N23/04GK202631458SQ20122028718
公開日2012年12月26日 申請(qǐng)日期2012年6月18日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月18日
發(fā)明者須穎, 董友 申請(qǐng)人:東營(yíng)市三英精密工程研究中心
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