專利名稱：基于labview的ic測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本新型涉及電子電路領(lǐng)域，尤指一種基于軟件控制的IC測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
隨著高頻芯片的應(yīng)用越來越廣泛，如GPS、手機(jī)、WIFI等，對高頻的測試需求也越來越多。其必須通過專門的測試機(jī)來整合相關(guān)測試資源，但是專業(yè)的高頻測試機(jī)臺(RFTester)相當(dāng)昂貴。以市場上常見的專業(yè)RF測試機(jī)臺以Terayne的UltraFLEX為例，機(jī)臺的價錢在150萬美元左右，每小時的租金在120美元，其需要專業(yè)的芯片測試開發(fā)人員開發(fā)測試程序，專業(yè)的PCB布線人員畫原理圖、布線，專業(yè)的PCB板廠制作DIB板，其開發(fā)周期長、門檻高。對于不適于特定專業(yè)測試的芯片，如果使用專業(yè)的測試機(jī)臺，公司在購入或租借測試系統(tǒng)需要因此投入相當(dāng)大量的資金。·
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型目的在于摒棄現(xiàn)有技術(shù)，提供一種有效整合分選機(jī)及其它測試相關(guān)設(shè)備的IC測試系統(tǒng)，其不必通過專門的測試機(jī)來整合相關(guān)測試資源。為解決上述技術(shù)問題，本新型采用的技術(shù)方案如下構(gòu)造一種基于LABVIEW的IC測試系統(tǒng)，其包括數(shù)字電源、信號發(fā)生器、頻譜儀及機(jī)械手臂，所述的數(shù)字電源連接被測IC芯片的電源輸入端提供電源，所述的信號發(fā)生器連接被測IC芯片的信號輸入端，所述的頻譜儀連接被測芯片的信號輸出端，所述的機(jī)械手臂移動或緊壓所述的被測IC芯片。進(jìn)一步地，所述的信號發(fā)生器、頻譜儀及機(jī)械手臂分別通過GPIB接口與LABVIEW測試平臺主機(jī)連接。本新型的有益效果是使用Labview開發(fā)軟件整合市面上常用測試儀表信號發(fā)生器、頻譜分析儀、示波器等，芯片設(shè)計(jì)公司可以直接使用他們的研發(fā)工板，配合工程調(diào)試用的測量儀器，可以大大縮短測試方案開發(fā)時間、降低測試方案開發(fā)難度、節(jié)約測試成本。而開發(fā)一些低成本的RF測試方案，可以有效滿足芯片設(shè)計(jì)公司的需求，也可提升測試廠的技術(shù)能力。

圖I是本新型的測試系統(tǒng)連接圖示。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本新型作進(jìn)一步詳述。如圖I所示，其揭示了本實(shí)施例中的較佳具體結(jié)構(gòu)，一種基于LABVIEW的IC測試系統(tǒng)，其包括數(shù)字電源、信號發(fā)生器、頻譜儀及機(jī)械手臂，所述的數(shù)字電源連接被測IC芯片的電源輸入端提供電源，所述的信號發(fā)生器連接被測IC芯片的信號輸入端，所述的頻譜儀連接被測芯片的信號輸出端，所述的機(jī)械手臂移動或緊壓所述的被測IC芯片。進(jìn)一步地，所述的信號發(fā)生器、頻譜儀及機(jī)械手臂分別通過GPIB接口與LABVIEW測試平臺主機(jī)連接。所述的LABVIEW測試平臺主機(jī)控制著整個測試流程的執(zhí)行，其整合常用的測試儀表，包括信號發(fā)生器、頻譜分析儀和示波器，本實(shí)施例中的信號發(fā)生器、頻譜儀、機(jī)械手臂通過利用GPIB接口與被測IC芯片連接進(jìn)行通訊。 本新型所應(yīng)用的系統(tǒng)基于LABVIEW平臺結(jié)構(gòu)，其使用的儀器連接結(jié)構(gòu)簡單，而且成本低的同時可實(shí)現(xiàn)與專業(yè)儀器相同功能的檢測，決定了芯片設(shè)計(jì)公司可以直接使用他們的研發(fā)工板，配合工程調(diào)試用的測量儀器，其可以大大縮短測試方案開發(fā)時間、降低測試方案開發(fā)難度、節(jié)約測試成本。以上所述，僅是本新型的較佳實(shí)施例而已，并非對新型的技術(shù)范圍作任何限制，故凡是依據(jù)本新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所作的任何細(xì)微修改、等同變化與修飾，均仍屬于本等同實(shí)用新型技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.基于LABVIEW的IC測試系統(tǒng)，其特征在于包括數(shù)字電源、信號發(fā)生器、頻譜儀及機(jī)械手臂，所述的數(shù)字電源連接被測IC芯片的電源輸入端提供電源，所述的信號發(fā)生器連接被測IC芯片的信號輸入端，所述的頻譜儀連接被測芯片的信號輸出端，所述的機(jī)械手臂移動或緊壓所述的被測IC芯片。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的基于LABVIEW的IC測試系統(tǒng)，其特征在于所述的信號發(fā)生器、頻譜儀及機(jī)械手臂分別通過GPIB接口與LABVIEW測試平臺主機(jī)連接。
專利摘要本新型提供了一種基于LABVIEW的IC測試系統(tǒng)，其包括數(shù)字電源、信號發(fā)生器、頻譜儀及機(jī)械手臂，所述的數(shù)字電源連接被測IC芯片的電源輸入端提供電源，所述的信號發(fā)生器連接被測IC芯片的信號輸入端，所述的頻譜儀連接被測芯片的信號輸出端，所述的機(jī)械手臂移動或緊壓所述的被測IC芯片；所述的信號發(fā)生器、頻譜儀及機(jī)械手臂分別通過GPIB接口與LABVIEW測試平臺主機(jī)連接。本實(shí)用新型使用Labview開發(fā)軟件整合市面上常用測試儀表信號發(fā)生器、頻譜分析儀、示波器等，芯片設(shè)計(jì)公司可以直接使用他們的研發(fā)工板，配合工程調(diào)試用的測量儀器，可以大大縮短測試方案開發(fā)時間、降低測試方案開發(fā)難度、節(jié)約測試成本。
文檔編號G01R31/28GK202693750SQ20122038015
公開日2013年1月23日 申請日期2012年8月2日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月2日
發(fā)明者袁俊 申請人:東莞利揚(yáng)微電子有限公司