專利名稱:一種研磨過篩樣品前處理單元的制作方法
技術領域:
本實用新型涉及一種研磨過篩樣品前處理單元,屬于研磨加工技術領域。
背景技術:
實驗室常用缽杵和研缽配合來研碎實驗樣品,經過粉碎的實驗樣品粉末粗細不均勻,這樣不利于樣品快速研磨均勻達到快速溶解的目的,同時為獲得一定粒徑范圍的顆粒,還得配合過篩器械獲得均一樣品,該過程繁瑣,粉碎效率低且容易污染樣品,不利于獲得重現性好的分析結果。
發(fā)明內容為了克服上述的不足,本實用新型的目的在于提供一種研磨過篩樣品前處理單·J Li ο本實用新型包括研缽,研磨棒,單元盛樣系統,單元過篩系統所述研磨棒是實心結構,單元盛樣系統是中空結構,單元盛樣系統由盛樣室I和盛樣室II構成,盛樣室I的內徑比盛樣室II的內徑略大,盛樣室I的內徑與盛樣室II的內徑連接處形成凸起,凸起上設置目篩II ;盛樣室II的內壁設置螺紋,研磨棒一端的表面設置螺紋,盛樣室II的內壁與研磨棒的外表面通過螺紋相互配合;盛樣室I的內壁設置螺紋,單元過篩系統的外表面設置螺紋,盛樣室I的內壁與單元過篩系統的外表面通過螺紋相互配合;所述單元過篩系統是中空結構并且兩端設置開口,單元過篩系統的一端呈圓柱型,單元過篩系統的另一端呈圓錐型,在單元過篩系統的內部設置目篩I,所述目篩I在圓柱型與圓錐型的連接處;所述研缽與研磨棒相互摩擦配合。本實用新型原理使用本實用新型時,將樣品置于研缽中研磨,經過一定程度研磨的樣品倒入單元過篩系統里,樣品經過實驗要求篩號的目篩I,通過漏斗進入單元盛樣系統的盛樣室I,再經過目篩II進入盛樣系統的盛樣室II,未通過目篩I的樣品倒出繼續(xù)研磨,等所有樣品全都通過目篩進入單元盛樣系統后,再將單元盛樣系統中的樣品分別全部倒出。本實用新型優(yōu)點結構簡單、體積小、使用方便。研磨棒、單元盛樣系統、單元過篩系統三大部分通過螺紋線連接,樣品易倒出,重現性好,減少實驗誤差,而且可拆卸清理。漏斗起到開關的作用,進入單元盛樣系統的樣品由于漏斗的阻礙,一定程度的傾斜或樣品不是特滿的情況下,樣品還是出不來的??筛鶕嶒灳唧w需要使用不同篩號的目篩,彈性大。單元過篩系統能將粉碎好的顆?;蚍勰┌戳椒秶殖蓛蓚€等級,以供不同的需要,保證了后處理樣品性狀的一致性;同時還起到混合作用,從而保證組成的均一性;而且能及時將合格粉末篩出,以提高粉碎效率。結合本實用新型的優(yōu)點,在片劑樣品溶解時,可將樣品快速粉碎研細;在實驗室自制填充柱固定相時,能快速獲得粒徑均一的固定相。
[0007]圖I是本實用新型的結構簡圖。圖2是本實用新型的單元盛樣系統結構簡圖。圖3是本實用新型的單元過篩系統結構簡圖。圖中1.研缽,2.研磨棒,3.單元盛樣系統,4.目篩II,5.單元過篩系統,6.盛樣室I,7.盛樣室II,8.目篩I,9.凸起。
具體實施方式
本實用新型包括研缽I,研磨棒2,單元盛樣系統3,單元過篩系統5,其特征在于所述研磨棒2是實心結構,單元盛樣系統3是中空結構,單元盛樣系統3由盛樣室I 6和盛樣室II 7構成,盛樣室I 6的內徑比盛樣室II 7的內徑略大,盛樣室I 6的內徑與盛樣室II 7的內徑連接處形成凸起9,凸起9上設置目篩II 4;盛樣室II 7的內壁設置螺紋,研磨棒2 一端的表面設置螺紋,盛樣室II 7的內壁與研磨棒2的外表面通過螺紋相互配合;盛樣室I 6的內壁設置螺紋,單元過篩系統5的外表面設置螺紋,盛樣室I 6的內壁與單元過篩系統5的外表面通過螺紋相互配合;所述單元過篩系統5是中空結構并且兩端設置開口,單元過篩系統5的一端呈圓柱型,單元過篩系統5的另一端呈圓錐型,在單元過篩系統5的內部設置目篩I 8,所述目篩I 8在圓柱型與圓錐型的連接處;所述研缽I與研磨棒2相互摩擦配合。研磨棒2上端帶有螺紋線;單元盛樣系統3是個變徑管,兩端內壁上均有螺紋線,單元盛樣系統3內放進目篩II 4后被隔成盛樣室I 6和盛樣室II 7,盛樣室II 7裝的是粒徑小于目篩II 4篩號的樣品顆粒,盛樣室I 6裝的是粒徑在目篩I 8、目篩II 4之間的樣品;目篩I 8篩號比目篩114的大。研磨棒2、單元盛樣系統3、單元過篩系統5通過螺紋線配合連接與研缽I組成研磨過篩樣品前處理單元。使用本實用新型時,將樣品置于研缽I中研磨,經過一定程度研磨的樣品倒入單元過篩系統5里,樣品經過實驗要求篩號的目篩I 8,通過漏斗進入單元盛樣系統3的盛樣室I 6,再經過目篩II 4進入單元盛樣系統3的盛樣室II 7,未通過目篩I 8的樣品倒出繼續(xù)研磨,等所有樣品全都通過目篩進入單元盛樣系統3后,再將單元盛樣系統3中的樣品分別全部倒出。以上所述,僅為本實用新型較佳的具體實施方式
,但本實用新型的保護范圍并不局限于此,任何熟悉本技術領域的技術人員在本實用新型揭露的技術范圍內,根據本實用新型的技術方案及其發(fā)明構思加以等同替換或改變,都應涵蓋在本實用新型的保護范圍之內。
權利要求1.一種研磨過篩樣品前處理單元,包括研缽(1),研磨棒(2),單元盛樣系統(3),單元過篩系統(5),其特征在于所述研磨棒(2)是實心結構,單元盛樣系統(3)是中空結構,單元盛樣系統(3)由盛樣室1 (6)和盛樣室II (7)構成,盛樣室I (6)的內徑比盛樣室II (7)的內徑略大,盛樣室I (6)的內徑與盛樣室II (7)的內徑連接處形成凸起(9),凸起(9)上設置目篩II (4);盛樣室II (7)的內壁設置螺紋,研磨棒(2) —端的表面設置螺紋,盛樣室II(7)的內壁與研磨棒(2)的外表面通過螺紋相互配合;盛樣室I(6)的內壁設置螺紋,單元過篩系統(5)的外表面設置螺紋,盛樣室I (6)的內壁與單元過篩系統(5)的外表面通過螺紋相互配合;所述單元過篩系統(5)是中空結構并且兩端設置開口,單元過篩系統(5)的一端呈圓柱型,單元過篩系統(5)的另一端呈圓錐型,在單元過篩系統(5)的內部設置目篩I(8),所述目篩1(8)在圓柱型與圓錐型的連接處;所述研缽(1)與研磨棒(2)相互摩擦配入 口 ο
專利摘要本實用新型公開了一種研磨過篩樣品前處理單元,屬于研磨加工技術領域。使用本實用新型時,將樣品置于研缽中研磨,經過一定程度研磨的樣品倒入單元過篩系統里,樣品經過實驗要求篩號的目篩Ⅰ,通過漏斗進入單元盛樣系統的盛樣室Ⅰ,再經過目篩Ⅱ進入盛樣系統的盛樣室Ⅱ,未通過目篩Ⅰ的樣品倒出繼續(xù)研磨,等所有樣品全都通過目篩進入單元盛樣系統后,再將單元盛樣系統中的樣品分別全部倒出。
文檔編號G01N1/32GK202793888SQ201220466498
公開日2013年3月13日 申請日期2012年9月12日 優(yōu)先權日2012年9月12日
發(fā)明者朱行翠, 董玉瑛, 劉長宏, 郭軍 申請人:大連民族學院