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內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀的制作方法

文檔序號:5996572閱讀:1134來源:國知局
專利名稱:內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀屬于機械加工制造領(lǐng)域,涉及的是一種雙鍵聯(lián)接時的內(nèi)孔雙鍵槽對聯(lián)稱度和深度的測 量儀。
背景技術(shù)
平鍵聯(lián)接是機械裝配過程中常見的聯(lián)接方式,用來實現(xiàn)軸和軸上零件之間的周向固定以傳遞扭矩。雙鍵聯(lián)接是在聯(lián)接內(nèi)孔和軸的中心線相隔180度的兩側(cè)各分布一個鍵聯(lián)接,雙鍵聯(lián)接有效地降低了單個鍵所承受的壓強,能夠傳遞更大的扭矩,提高鍵的使用壽命。內(nèi)孔鍵槽兩側(cè)面是鍵聯(lián)接的主要工作平面,其相對于內(nèi)孔中心線的對稱度是鍵槽的主要技術(shù)參數(shù)之一。若內(nèi)孔鍵槽的對稱度超差和深度不夠,會改變鍵與鍵槽的配合性質(zhì),影響裝配精度從而導(dǎo)致過早失效。因此,對稱度和深度是鍵槽設(shè)計和制造過程中重點標(biāo)注和檢測的內(nèi)容之一。目前,機械制造廠商和量具生產(chǎn)廠商還沒有針對內(nèi)孔鍵槽對稱度的檢測量具,特別是對于大尺寸內(nèi)孔雙鍵槽的對稱度測量儀器。傳統(tǒng)的測量方式是用游標(biāo)卡尺和相應(yīng)鍵槽塞規(guī)配合進(jìn)行測量,測量時,將鍵槽塞規(guī)插入鍵槽,然后用游標(biāo)卡尺分別測量塞規(guī)側(cè)面到孔壁的最大距離,塞規(guī)兩側(cè)面到孔壁的最大距離差的一半即為鍵槽的對稱度。而鍵槽深度主要是用游標(biāo)卡尺直接測量。這要求不同規(guī)格的鍵槽必須有對應(yīng)的塞規(guī),增加了檢測成本,尤其是對于內(nèi)孔雙鍵槽的測量,多次測量,分步操作,使用不便且效率低下。由于雙鍵聯(lián)接的零件一般為大尺寸零件,搬運不便,且難以獲得鍵槽基準(zhǔn)軸線和基面的模擬體,因此,目前尚無針對大尺寸內(nèi)孔雙鍵對稱度的結(jié)構(gòu)簡單、操作簡便的測量方法和基于此方法的測量儀,更沒有雙鍵槽對稱度和濃度復(fù)合的測量儀。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的是針對上述不足之處提供一種內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀,是一種結(jié)構(gòu)簡單、操作簡便、測量可靠,用于大尺寸內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度的測量儀。內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀是采取以下技術(shù)方案實現(xiàn)的內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀包括基體、第一測量副尺、第二測量副尺、數(shù)顯千分表和表座,表座與基體之間通過燕尾導(dǎo)軌相聯(lián)接,表座可在基體上左右往復(fù)移動;數(shù)顯千分表通過間隙配合與表座裝配在一起,并用第三鎖緊螺釘進(jìn)行固定;第一測量副尺和第二測量副尺分別通過燕尾導(dǎo)軌與基體相聯(lián)接,并分別用第一鎖緊螺釘和第二鎖緊螺釘進(jìn)行固定。所述的第一鎖緊螺釘、第二鎖緊螺釘和第三鎖緊螺釘為內(nèi)六角鎖緊螺釘。在第一測量副尺和第二測量副尺上均刻有刻度,根據(jù)刻度標(biāo)識、按鍵槽深度預(yù)調(diào)好后再進(jìn)行固定。所述的第一測量副尺和第二測量副尺是根據(jù)測量的鍵槽深度進(jìn)行選擇相應(yīng)測量范圍的測量副尺。第一測量副尺和第二測量副尺是根據(jù)鍵深度系列化制作的,如鍵槽深度55mnTll0mm—個規(guī)格、110mnTl50mm—個規(guī)格等,以此類推。測量前,先根據(jù)被測鍵槽深度調(diào)整副尺,由于鍵槽深度均為正公差,因此,只要測量儀能夠放得進(jìn)鍵槽,說明鍵槽深度符合尺寸要求。所述的數(shù)顯千分表是根據(jù)被測內(nèi)孔的孔徑來選擇相應(yīng)測量范圍的數(shù)顯千分表,測量范圍有(T25mm,(T50mm等系列規(guī)格。本實用新型內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀在使用時,根據(jù)被測量的鍵槽深度選擇相應(yīng)測量范圍的第一測量副尺、第二測量副尺和數(shù)顯千分表,將第一測量副尺、第二測量副尺和數(shù)顯千分表分別用第一鎖緊螺釘、第二鎖緊螺釘和第三鎖緊螺釘固定好后放入鍵槽中,將第一測量副尺和第二測量副尺分別與雙鍵槽的同一側(cè)面相貼合,再左右移動表座,通過數(shù)顯千分表獲得雙鍵槽同一側(cè)面到孔壁的最大距離。記錄好數(shù)據(jù)后,將內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀翻轉(zhuǎn)180度后,按同樣的方法,測量另一側(cè)鍵槽側(cè)面到孔壁的最大距離,記下讀數(shù)后,將兩次測得的數(shù)據(jù)相減后除以2,即得雙鍵槽對內(nèi)孔中心的對稱度偏差。本實用新型內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀設(shè)計合理,結(jié)構(gòu)簡單,便于制作,移動 副之間采用燕尾導(dǎo)軌聯(lián)接,保證移動穩(wěn)定性。使用數(shù)顯千分表測量鍵槽側(cè)面到孔壁的距離,精度高。表座相對基體能夠左右移動,并可以在鍵槽長度方向上下移動進(jìn)行多點測量,確保方便迅速的找出最大距離。第一測量副尺、第二測量副尺和數(shù)顯千分表可以根據(jù)被測鍵槽深度進(jìn)行系列化制作和選擇,每一個規(guī)格均有一個測量范圍,減少了部件數(shù)量,經(jīng)濟(jì)性好。該測量儀操作簡便、測量精度可靠、結(jié)構(gòu)小巧,方便手持為不便搬運的大尺寸內(nèi)孔雙鍵槽零件的對稱度和深度測量提供檢測手段和裝置。

以下將結(jié)合附圖對本實用新型作進(jìn)一步說明圖I是本實用新型內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是圖I中的A向視圖。圖I中1第一鎖緊螺釘,2、第一測量副尺,3、第三鎖緊螺釘,4、表座,5、基體,6、第二測量副尺,7、第二鎖緊螺釘,8、數(shù)顯千分表。
具體實施方式
參照附圖1,本實用新型內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀包括基體5、第一測量副尺2、第二測量副尺6、數(shù)顯千分表8和表座4,表座4與基體5之間通過燕尾導(dǎo)軌相聯(lián)接,表座4可在基體5上左右往復(fù)移動;數(shù)顯千分表8通過間隙配合與表座4裝配在一起,并用第三鎖緊螺釘3進(jìn)行固定;第一測量副尺2和第二測量副尺6分別通過燕尾導(dǎo)軌與基體5相聯(lián)接,并分別用第一鎖緊螺釘I和第二鎖緊螺釘7進(jìn)行固定。所述的第一鎖緊螺釘I、第二鎖緊螺釘7和第三鎖緊螺釘3為內(nèi)六角鎖緊螺釘。在第一測量副尺2和第二測量副尺6上均刻有刻度,根據(jù)刻度標(biāo)識、按鍵槽深度預(yù)調(diào)好后再進(jìn)行固定。所述的第一測量副尺2和第二測量副尺6是根據(jù)測量的鍵槽深度進(jìn)行選擇相應(yīng)測量范圍的測量副尺。第一測量副尺2和第二測量副尺6根據(jù)鍵槽深度系列化制作,如鍵槽深度55mnTll0mm—個規(guī)格、110mnTl50mm—個規(guī)格等,以此類推。測量前,先根據(jù)被測鍵槽深度調(diào)整第一測量副尺2和第二測量副尺6,由于鍵槽深度均為正公差,因此,只要測量儀能夠放得進(jìn)鍵槽,說明鍵槽深度符合尺寸要求。所述的數(shù)顯千分表8是根據(jù)被測內(nèi)孔的孔徑來選擇相應(yīng)測量范圍的數(shù)顯千分表,測量范圍有(T25mm,(T50mm等系列規(guī)格。本實用新型內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀在使用時,根據(jù)測量的鍵槽深度選擇相應(yīng)測量范圍的第一測量副尺2、第二測量副尺6和數(shù)顯千分表8,將第一測量副尺2、第二測量副尺6和數(shù)顯千分表8分別用第一鎖緊螺釘I、第二鎖緊螺釘7和第三鎖緊螺釘3固定好后放入鍵槽中,將第一測量副尺2和第二測量副尺6分別與雙鍵槽的同一側(cè)面相貼合,再左右移動表座4,通過數(shù)顯千分表8獲得雙鍵槽同一側(cè)面到孔壁的最大距離。記錄好數(shù)據(jù)后,將內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀翻轉(zhuǎn)180度后,按同樣的方法,測量另一側(cè)鍵槽側(cè)面 到孔壁的最大距離,記下讀數(shù)后,將兩次測得的數(shù)據(jù)相減后除以2,即得雙鍵槽對內(nèi)孔中心的對稱度偏差。
權(quán)利要求1.一種內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀,其特征在于包括基體、第一測量副尺、第二測量副尺、數(shù)顯千分表和表座,表座與基體之間通過燕尾導(dǎo)軌相聯(lián)接,表座在基體上左右往復(fù)移動;數(shù)顯千分表通過間隙配合與表座裝配在一起,并用第三鎖緊螺釘進(jìn)行固定;第一測量副尺和第二測量副尺分別通過燕尾導(dǎo)軌與基體相聯(lián)接,并分別用第一鎖緊螺釘和第二鎖緊螺釘進(jìn)行固定。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀,其特征在于所述的第一鎖緊螺釘、第二鎖緊螺釘和第三鎖緊螺釘為內(nèi)六角鎖緊螺釘。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀,其特征在于在所述的第一測量副尺和第二測量副尺上均刻有刻度。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀,其特征在于所述的第一測量副尺和第二測量副尺是根據(jù)測量的鍵槽深度進(jìn)行選擇相應(yīng)測量范圍的測量副尺。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀,其特征在于所述的數(shù)顯千分表是根據(jù)被測內(nèi)孔的孔徑來選擇相應(yīng)測量范圍的數(shù)顯千分表。
專利摘要本實用新型內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀屬于機械加工制造領(lǐng)域,涉及的是一種雙鍵聯(lián)接時的內(nèi)孔雙鍵槽對聯(lián)稱度和深度的測量儀。包括基體、第一測量副尺、第二測量副尺、數(shù)顯千分表和表座,表座與基體之間通過燕尾導(dǎo)軌相聯(lián)接,表座在基體上左右往復(fù)移動;數(shù)顯千分表通過間隙配合與表座裝配在一起,并用第三鎖緊螺釘進(jìn)行固定;第一測量副尺和第二測量副尺分別通過燕尾導(dǎo)軌與基體相聯(lián)接,并分別用第一鎖緊螺釘和第二鎖緊螺釘進(jìn)行固定。本實用新型內(nèi)孔雙鍵槽對稱度和深度測量儀設(shè)計合理,結(jié)構(gòu)簡單,便于制作,移動副之間采用燕尾導(dǎo)軌聯(lián)接,保證移動穩(wěn)定性。使用數(shù)顯千分表測量鍵槽側(cè)面到孔壁的距離,精度高。
文檔編號G01B5/25GK202793292SQ201220515938
公開日2013年3月13日 申請日期2012年10月10日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月10日
發(fā)明者顧琳炎, 曹冬美, 王駿, 周小模 申請人:無錫職業(yè)技術(shù)學(xué)院
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