專利名稱：一種檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及顯示部件檢測設(shè)備，特別是指一種用于顯示基板的檢測裝置。
背景技術(shù)：
如圖1所示，為現(xiàn)有技術(shù)中檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；該檢測設(shè)備包括玻璃基臺11，設(shè)置于所述玻璃基臺11底部的反射板12，以及設(shè)備于所述玻璃基臺11中可升降的Pin(支撐桿)13，所述Pin 13的頭部為普通PVC材料制作；玻璃基臺11上方設(shè)有顯示基板，如彩膜基板(CF) 21，Pin支撐所述彩膜基板21，光照設(shè)備22照射的光線通過彩膜基板21以及玻璃基臺11底部的反射板12進(jìn)行反射，通過觀察設(shè)備(如顯微鏡)23進(jìn)行觀察檢測；由于Pin 13的頭部為普通PVC材料制作且為黑色沒有反光的效果，在有Pin支撐的區(qū)域，檢測到的畫面是全黑的，無法進(jìn)行彩膜基板21缺陷的觀察和修補(bǔ)，會(huì)導(dǎo)致許多缺陷的漏修，很可能導(dǎo)致缺陷至下一個(gè)工序無法修補(bǔ)而暫時(shí)中斷，造成液晶面板的制程的中斷，從而導(dǎo)致面板良率的下降。如以32英寸的面板為例分析暗態(tài)的面積每臺檢測設(shè)備有36個(gè)Pin，每個(gè)Pin頭部的表面積約為n X 122=425. 39mm2,每個(gè)液晶面板面積402. 8X708. 4=285343. 52mm2 ；平均每個(gè)液晶面板上有兩個(gè)Pin支撐，所以Pin支撐的面積即暗狀態(tài)的面積占總面板面積的百分比為452. 39*2/285343. 52=0. 32% ;如上所述，有0. 32%部分面板區(qū)域是暗態(tài)無法進(jìn)行檢測。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種檢測裝置，可以解決檢測設(shè)備在支撐Pin位置無法進(jìn)行透射觀察顯示基板缺陷的問題。為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型的實(shí)施例提供一種檢測裝置，用于顯示基板的檢測，包括基臺；設(shè)置于所述基臺內(nèi)的可升降的支撐結(jié)構(gòu)；所述支撐結(jié)構(gòu)的支撐所述顯示基板的部位的表面為反光的表面。其中，所述支撐結(jié)構(gòu)包括支撐體，以及與所述支撐體連接的支撐帽；所述支撐帽的上表面為反光的表面。其中，所述支撐帽的表面涂覆有反光材料。其中，所述支撐帽由反光材料制作。其中，所述反光材料包括全反射率大于一預(yù)定反射率的反光材料。其中，所述反光材料包括微發(fā)泡MCPET材料。其中，所述基臺包括玻璃基臺以及設(shè)置于所述玻璃基臺底面的反射板；或者所述基臺的底面是反射型的底面。其中，上述檢測裝置還包括設(shè)置于所述基臺上方，用于發(fā)出光線的光照設(shè)備。其中，所述光線的波長在40(T700nm之間。[0017]其中，上述檢測裝置還包括設(shè)置于所述基臺上方，用于接收所述基臺反射的反射光線的觀察設(shè)備。本實(shí)用新型的上述技術(shù)方案的有益效果如下上述方案中，通過支撐結(jié)構(gòu)(如支撐桿Pin)的反光設(shè)計(jì)，可以在進(jìn)行透射觀察時(shí)，使支撐結(jié)構(gòu)產(chǎn)生漫反射，可以把從傾斜的光照設(shè)備打出來的光透過基臺后進(jìn)行全反射，再由觀察設(shè)備(如顯微鏡)接收，從而達(dá)到對支撐結(jié)構(gòu)處的顯示基板也能準(zhǔn)確地進(jìn)行缺陷檢測的目的。

圖1為現(xiàn)有技術(shù)的檢測設(shè)備的正視圖；圖2為本實(shí)用新型的檢測裝置的正視圖；圖3為圖2中所示的檢測裝置的支撐結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為圖2所示的檢測裝置的支撐結(jié)構(gòu)采用的反射材料的微發(fā)泡材料MCPET的漫反射效果示意圖。[主要元件符號說明]10 :基臺11 :玻璃基臺12 :反射板13 :支撐結(jié)構(gòu)21 :彩膜基板22 :光照設(shè)備23 :觀察設(shè)備31 :微細(xì)氣泡32 :鏡面反射光33 :漫反射光
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖及具體實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述。如圖2所示，本實(shí)用新型的實(shí)施例提供一種檢測裝置，用于顯示基板(如彩膜基板)的檢測，包括基臺10 ;其中，所述基臺10可以包括玻璃基臺11以及設(shè)置于所述玻璃基臺11底部的反射板12，或者所述基臺10的底面是反射型的底面；所述檢測裝置還包括設(shè)置于所述基臺10內(nèi)的可升降的支撐結(jié)構(gòu)13 (如支撐桿Pin);所述支撐結(jié)構(gòu)13的支撐所述顯示基板(如彩膜基板21)的部位的表面為反光的表面。該實(shí)施例通過將支撐結(jié)構(gòu)13的支撐彩膜基板21的部位的表面設(shè)計(jì)為反光的表面，可以在進(jìn)行透射觀察時(shí)，使支撐結(jié)構(gòu)Pin產(chǎn)生漫反射，可以把從傾斜的光照設(shè)備打出來的光透過基臺后進(jìn)行全反射，再由觀察設(shè)備(如顯微鏡)接收，從而對支撐結(jié)構(gòu)Pin處的顯示基板也能實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確檢測。如圖3所示，所述支撐結(jié)構(gòu)13可以包括支撐體B，以及與所述支撐體B連接的支撐帽A ;所述支撐帽A的上表面為反光的表面。優(yōu)選的，所述支撐帽A的上表面涂覆有反光材料或者所述支撐帽A由反光材料制作；支撐體B優(yōu)選為金屬材料制作的支撐體，以便在支撐結(jié)構(gòu)Pin由基臺中伸出支撐被檢測的顯示基板時(shí)，能夠保證有足夠的支撐力度。其中，所述反光材料包括:全反射率大于一預(yù)定反射率的反光材料，但不限于這些材料；所述反光材料可以包括:微發(fā)泡材料(MCPET材料，Micro Cellular PET)，MCPET材料采用PET (polyethylene Terephthalate)為基材運(yùn)用微發(fā)泡技術(shù),進(jìn)行發(fā)泡制程。如圖4所示，若以波長\ =400^700之間的可見光照射到微細(xì)氣泡31，MCPET的全反射率為99% ;其中，鏡面反射光32為3%，漫反射光33為96%，且該材料具有輕巧、抗落下沖擊、能承受高溫、在攝氏160度下仍能保持形狀，材料結(jié)構(gòu)穩(wěn)定壽命長；且可利用PET資源回收方式廢棄處理、材料未使用有害原料、表面具有高平滑性、價(jià)格低廉，成本低，反光效果好等優(yōu)點(diǎn)。本實(shí)用新型的上述檢測裝置實(shí)施例中，還可以包括:設(shè)置于所述基臺10上方，用于發(fā)出光線的光照設(shè)備22 ;所述光線優(yōu)選為:波長在40(T700nm之間的可見光；本實(shí)用新型的上述檢測裝置實(shí)施例中，還可以包括:設(shè)置于所述基臺10上方，用于接收所述基臺10反射的反射光線的觀察設(shè)備23 (如顯微鏡)。本實(shí)用新型的上述實(shí)施例中，有支撐結(jié)構(gòu)Pin的部位比玻璃基臺11會(huì)低一點(diǎn)(約9mm)，如果直接進(jìn)行反射會(huì)造成會(huì)由于光線的偏移而使觀察設(shè)備無法接收到反射光線，視野仍是暗狀態(tài)。而以40(T700nm之間的可見光對玻璃基臺進(jìn)行照射，支撐結(jié)構(gòu)Pin的頭部由于采用MCPET材料，反射光96%為漫反射，增大了發(fā)射光的范圍，使觀察設(shè)備23更容易接收，從而實(shí)現(xiàn)觀察設(shè)備23成功接收放射光，達(dá)到可以檢測彩膜基板對應(yīng)于支撐結(jié)構(gòu)Pin支撐的部位對應(yīng)的顯示基板的缺陷的目的。本實(shí)用新型的上述實(shí)施例通過光學(xué)原理，運(yùn)用反射，漫反射及全發(fā)射等原理，將支撐結(jié)構(gòu)Pin的頭部運(yùn)用MCPET材料制作或者涂覆MCPET材料，可以把從傾斜的光照設(shè)備22的鏡頭打出來的光透過玻璃基臺11后進(jìn)行全反射，再由觀察設(shè)備23的鏡頭接收，實(shí)現(xiàn)透視觀察，從而達(dá)到通過形成透射光進(jìn)行彩膜基板缺陷的檢測。
以上所述是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型所述原理的前提下，還可以作出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種檢測裝置，用于顯示基板的檢測，包括: 基臺; 設(shè)置于所述基臺內(nèi)的可升降的支撐結(jié)構(gòu)；其特征在于， 所述支撐結(jié)構(gòu)的支撐所述顯示基板的部位的表面為反光的表面。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述支撐結(jié)構(gòu)包括:支撐體，以及與所述支撐體連接的支撐帽；所述支撐帽的上表面為反光的表面。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測裝置，其特征在于，所述支撐帽的表面涂覆有反光材料。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測裝置，其特征在于，所述支撐帽由反光材料制作。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的檢測裝置，其特征在于，所述反光材料包括:全反射率大于一預(yù)定反射率的反光材料。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測裝置，其特征在于，所述反光材料包括:微發(fā)泡MCPET材料。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于， 所述基臺包括:玻璃基臺以及設(shè)置于所述玻璃基臺底面的反射板；或者 所述基臺 的底面是反射型的底面。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，還包括:設(shè)置于所述基臺上方，用于發(fā)出光線的光照設(shè)備。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的檢測裝置，其特征在于，所述光線的波長在400 700nm之間。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，還包括:設(shè)置于所述基臺上方，用于接收所述基臺反射的反射光線的觀察設(shè)備。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種檢測裝置，用于顯示基板的檢測，包括基臺；設(shè)置于所述基臺內(nèi)的可升降的支撐結(jié)構(gòu)；所述支撐結(jié)構(gòu)的支撐所述顯示基板的部位的表面為反光的表面。本實(shí)用新型的實(shí)施例可以解決檢測設(shè)備在支撐結(jié)構(gòu)Pin的位置無法進(jìn)行透射觀察顯示基板缺陷的問題。
文檔編號G01N21/88GK202916546SQ201220577648
公開日2013年5月1日 申請日期2012年11月5日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月5日
發(fā)明者門慶國, 張文富 申請人:京東方科技集團(tuán)股份有限公司, 北京京東方顯示技術(shù)有限公司