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具有場均勻性功能的測試架的制作方法

文檔序號:5987020閱讀:286來源:國知局
專利名稱:具有場均勻性功能的測試架的制作方法
技術領域
本實用新型涉及電磁兼容試驗技術領域,具體涉及具有場均勻性功能的測試架。
背景技術
電磁兼容,指設備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對該環(huán)境中其他事物構成不能承受的電磁騷擾的能力。電磁兼容性(EMC)包括兩個方面的要求:一方面指設備在正常運行過程中對所在環(huán)境產(chǎn)生的電磁干擾不能超過一定的限值;另一方面指器具對所在環(huán)境中存在的電磁干擾具有一定程度的抗擾度,即電磁敏感性。國際電工委員會電磁兼容標準IEC61000 — 4 一 3中規(guī)定了 16點場均勻性校驗的要求:在一定功率的電磁波入射條件下,在圖1所示的空間平面內(nèi)均勻分布的16個位置點中的12個位置點上,任意兩位置點采用場強探頭測得的場強差應小于6分貝。如中國專利(申請公布號CN102608558A)所公開的輻射場均勻性校驗定位裝置,其電場探頭可以在水平及垂直二維方向上變換位置,在初次測量時進行輻射場均勻性校驗關鍵位置點的標定后,在后續(xù)的測試中通過對電場探頭在二維方向上進行位置變動,完成輻射場均勻性校驗其他多個位置點的定位操作。而且其說明書第70段和第73段是通過水平連桿的旋轉和水平連桿的軸向滑動完成16個位置點的測試,但是這樣的方式在水平連桿的位置變換過程中可能會出現(xiàn)誤差,造成電場探頭的測試結果不夠精準,而且其測試形成的是一個點或者一條線,既耗時間,同時也不能精確的達到測試中各個點位置之間的距離。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型解決的技術問題是提供具有場均勻性功能的測試架,其測試架拆分成幾個部分,便于攜帶,組裝后形成一個整體,形成是一個面,測試過程中測試架不用再移動,能精確的完成測試要求,同時節(jié)省測試時間。為解決上述技術問題,本實用新型采用的技術方案是:具有場均勻性功能的測試架,其中,包括:多個橫桿、多個連接桿、多個支撐桿、多個豎桿、多個橫向連接結構和多個豎向連接結構,豎直方向上支撐桿與豎桿通過豎向連接結構連接,豎桿與豎桿通過豎向連接結構連接,豎桿與支撐桿位于同一直線上;橫桿與橫桿通過橫向連接結構連接,連接桿一端連接橫向連接結構,另一端連接豎向連接結構,連接桿與橫桿位于同一直線上;所述的連接桿垂直于豎桿,所述的多個橫向連接結構上均設有用于測量的場強探頭。進一步的,所述的橫向連接結構包括橫向連接結構第一端口、橫向連接結構第二端口和橫向連接結構第三端口,所述的橫向連接結構第一端口與橫桿或連接桿連接,橫向連接結構第二端口與橫桿或連接桿連接;橫向連接結構第三端口上設置場強探頭。通過橫向連接結構的3個端口可將連接桿與橫桿穩(wěn)定可靠的連接為一整體。所述的豎向連接結構包括豎向連接結構第一端口、豎向連接結構第二端口和豎向連接結構第三端口,豎向連接結構第一端口連接支撐桿或豎桿,豎向連接結構第二端口連接連接桿,豎向連接結構第三端口連接豎桿或空置。通過豎向連接結構的3個端口可將支撐桿、豎桿和連接桿穩(wěn)定可靠的連接為一整體。豎向連接結構與橫向連接結構配合,使得測試架形成一類似網(wǎng)狀的結構,測試過程中測試架不用再移動,能精確的完成測試要求,同時節(jié)省測試時間。進一步的,所述的場強探頭底部設有底座,底座插入橫向連接結構第三端口中,場強探頭固定于橫向連接結構上。所述的底座為圓柱形,底座直徑< 30mm。現(xiàn)有的場強探頭底部大多有有一個圓柱形的底座或者沒有設置底座,橫向連接結構第三端口位置空心,場強探頭放進去剛好能保持場強探頭處于水平狀態(tài),場強探頭的底座有大有小,但是直徑30mm能放置大部分型號的場強探頭,所以橫向連接結構第三端口位置空心的直徑30mm可以放置不同的場強探頭。進一步的,所述的支撐桿的個數(shù)為2個,且豎直對稱設置于測試架兩端,其長度為800_。支撐桿可使得測試架整體穩(wěn)固的固定于地面上,其長度尺寸適中,安裝拆卸方便。進一步的,所述的豎桿的個數(shù)為6個,豎直對稱設置于測試架兩端,每端3個,其長度為500mm ;所述的豎向連接結構個數(shù)為8個。所述的橫向連接結構每排上設有4個,測試架設有并列平行的4排,共16個橫向連接結構;所述的橫桿長度為500mm。具體的,16個測試點標準規(guī)定的測試點,16個點校準完成后,對這16個點的數(shù)據(jù)進行分析,在這16個點中有75% (即12個點)的讀數(shù)在0dB-+6dB的容差范圍內(nèi),則證明這個場是均勻的,即符合測試要求,在頻率范圍小于IGHZ的情況下,該裝置能滿足16個點或者小于16個點的校準要求,對于頻率范圍大于1GHZ,它采用的是是獨立窗口法校準方式,就是4個點的容差在0dB-+6dB范圍內(nèi),這4個點形成的區(qū)域稱為窗口,16個點形成9個窗口,對產(chǎn)品能覆蓋的窗口都要校準,該裝置也能滿足這個校準要求。進一步的,所述的連接桿長度為100mm。長度為IOOmm方便連接,為了保證所校準的均勻域與測試產(chǎn)品的測試面一致,所以用相同的長度最好,同時在保證能正常完成校準的情況下讓測試架體積最小,所以采用了 100mm。進一步的,所述的橫向連接結構和豎向連接結構的端口均設有內(nèi)螺紋,所述的橫桿、連接桿、支撐桿、豎桿的端部均設有外螺紋,連接結構與桿通過螺紋固定連接。螺紋連接的方式簡單方便,測試架可拆分成幾個部分,便于攜帶,組裝后形成一個整體。安裝好測試架,將場強探頭放在測試架上各個點上逐一測試,直到16個點測試完成,安裝好后的測試架一次性將要測試的16個點都固定,這樣就可以很精確的達到測試的要求,不會因為移動測試架和測量誤差導致實驗誤差偏大。與現(xiàn)有技術相比,有益效果是:本實用新型橫桿與橫桿通過橫向連接結構連接,連接桿一端連接橫向連接結構,另一端連接豎向連接結構,連接桿與橫桿位于同一直線上;所述的連接桿垂直于豎桿,所述的多個橫向連接結構上均設有用于測量的場強探頭。其形成一個整體,形成是一個面,測試過程中測試架不用再移動,能精確的完成測試要求,同時節(jié)省測試時間。

圖1是ICE61000 — 4 一 3定義的場均勻區(qū)域示意圖;圖2是本實用新型的整體結構示意圖;圖3是本實用新型的豎向連接結構示意圖;圖4是本實用新型的橫向連接結構示意圖;[0020]圖5是本實用新型的整體測試區(qū)域示意圖。
具體實施方式
如圖2 — 4所示,具有場均勻性功能的測試架,其中,包括:多個橫桿1、多個連接桿2、多個支撐桿3、多個豎桿4、多個橫向連接結構5和多個豎向連接結構6,豎直方向上支撐桿3與豎桿4通過豎向連接結構6連接,豎桿4與豎桿4通過豎向連接結構6連接,豎桿4與支撐桿3位于同一直線上;橫桿I與橫桿I通過橫向連接結構5連接,連接桿2 —端連接橫向連接結構5,另一端連接豎向連接結構6,連接桿2與橫桿I位于同一直線上;所述的連接桿2垂直于豎桿4,所述的多個橫向連接結構5上均設有用于測量的場強探頭。進一步的,所述的橫向連接結構5包括橫向連接結構第一端口 51、橫向連接結構第二端口 52和橫向連接結構第三端口 53,所述的橫向連接結構第一端口 51與橫桿I或連接桿2連接,橫向連接結構第二端口 52與橫桿I或連接桿2連接;橫向連接結構第三端口53上設置場強探頭。所述的豎向連接結構6包括豎向連接結構第一端口 61、豎向連接結構第二端口 62和豎向連接結構第三端口 63,豎向連接結構第一端口 61連接支撐桿3或豎桿4,豎向連接結構第二端口 62連接連接桿2,豎向連接結構第三端口 63連接豎桿4或空置。豎向連接結構6與橫向連接結構5配合,使得測試架形成一類似網(wǎng)狀的結構,測試過程中測試架不用再移動,能精確的完成測試要求,同時節(jié)省測試時間。進一步的,所述的場強探頭底部設有底座,底座插入橫向連接結構第三端口 53中,場強探頭固定于橫向連接結構5上。所述的底座為圓柱形,底座直徑< 30mm。橫向連接結構第三端口 53位置空心,場強探頭放進去剛好能保持場強探頭處于水平狀態(tài),場強探頭的底座有大有小,但是直徑30mm能放置大部分型號的場強探頭,所以橫向連接結構第三端口位置空心的直徑30_可以放置不同的場強探頭。進一步的,所述的支撐桿3的個數(shù)為2個,且豎直對稱設置于測試架兩端,其長度為800mm。支撐桿3可使得測試架整體穩(wěn)固的固定于地面上,其長度尺寸適中,安裝拆卸方便。進一步的,所述的豎桿4的個數(shù)為6個,豎直對稱設置于測試架兩端,每端3個,其長度為500mm ;所述的豎向連接結構6個數(shù)為8個。所述的橫向連接結構5每排上設有4個,測試架設有并列平行的4排,共16個橫向連接結構5 ;所述的橫桿I長度為500mm。所述的連接桿長度為100mm。長度為IOOmm方便連接,為了保證所校準的均勻域與測試產(chǎn)品的測試面一致,所以用相同的長度最好,同時在保證能正常完成校準的情況下讓測試架體積最小,所以采用了 100mm。所述的橫向連接結構5和豎向連接結構6的端口均設有內(nèi)螺紋,所述的橫桿1、連接桿2、支撐桿3、豎桿4的端部均設有外螺紋,連接結構與桿通過螺紋固定連接。螺紋連接的方式簡單方便,測試架可拆分成幾個部分,便于攜帶,組裝后形成一個整體。如圖5所示,a表示場發(fā)射天線,b表示吸波材料,用于半電波暗室中減少地面反射,c表示光纖或經(jīng)濾波的信號連接線,d表示本具有場均勻性功能的測試架,測試架與光纖或經(jīng)濾波的信號連接線連接,測試架與場發(fā)射天線的距離為3m,測試架形成的均勻域底面距離地面0.8m。安裝好測試架,將場強探頭放在測試架上各個點上逐一測試,直到16個點測試完成,安裝好后的測試架一次性將要測試的16個點都固定,這樣就可以很精確的達到測試的要求,不會因為移動測試架和測量誤差導致實驗誤差偏大。保證了 16個點之間的距離符合標準的要求。以上所述僅是本實用新型的優(yōu)選實施方式,應當指出,對于本技術領域的普通技術人員來說,在不脫離本實用新型原理的前提下,對實用新型的技術方案可以做若干適合實際情況的改進。因此,本實用新型的保護范圍不限于此,本領域中的技術人員任何基于本實用新型技術方案上非實質性變更均包括在本實用新型保護范圍之內(nèi)。
權利要求1.具有場均勻性功能的測試架,其特征在于,包括:多個橫桿(I)、多個連接桿(2)、多個支撐桿(3)、多個豎桿(4)、多個橫向連接結構(5)和多個豎向連接結構(6),豎直方向上支撐桿(3)與豎桿(4)通過豎向連接結構(6)連接,豎桿(4)與豎桿(4)通過豎向連接結構(6)連接,豎桿(4)與支撐桿(3)位于同一直線上;橫桿(I)與橫桿(I)通過橫向連接結構(5 )連接,連接桿(2 ) 一端連接橫向連接結構(5 ),另一端連接豎向連接結構(6 ),連接桿(2 )與橫桿(I)位于同一直線上;所述的連接桿(2)垂直于豎桿(4),所述的多個橫向連接結構(5)上均設有用于測量的場強探頭。
2.根據(jù)權利要求1所述的具有場均勻性功能的測試架,其特征在于:所述的橫向連接結構(5)包括橫向連接結構第一端口(51 )、橫向連接結構第二端口(52)和橫向連接結構第三端口( 53 ),所述的橫向連接結構第一端口( 51)與橫桿(I)或連接桿(2 )連接,橫向連接結構第二端口( 52)與橫桿(I)或連接桿(2)連接;橫向連接結構第三端口( 53)上設置場強探頭。
3.根據(jù)權利要求2所述的具有場均勻性功能的測試架,其特征在于:所述的場強探頭底部設有底座,底座插入橫向連接結構第三端口( 53)中,場強探頭固定于橫向連接結構(5)上。
4.根據(jù)權利要求3所述的具有場均勻性功能的測試架,其特征在于:所述的底座為圓柱形,底座直徑彡30mm。
5.根據(jù)權利要求1所述的具有場均勻性功能的測試架,其特征在于:所述的豎向連接結構(6)包括豎向連接結構第一端口(61)、豎向連接結構第二端口(62)和豎向連接結構第三端口( 63 ),豎向連接結構第一端口( 61)連接支撐桿(3 )或豎桿(4),豎向連接結構第二端口( 62 )連接連接桿(2 ),豎向連接結構第三端口( 63 )連接豎桿(4)或空置。
6.根據(jù)權利要求1所述的具有場均勻性功能的測試架,其特征在于:所述的支撐桿(3)的個數(shù)為2個,且豎直對稱設置于測試架兩端,其長度為800mm。
7.根據(jù)權利要求1所述的具有場均勻性功能的測試架,其特征在于:所述的豎桿(4)的個數(shù)為6個,豎直對稱設置于測試架兩端,每端3個,其長度為500_ ;所述的豎向連接結構(6)個數(shù)為8個。
8.根據(jù)權利要求1所述的具有場均勻性功能的測試架,其特征在于:所述的橫向連接結構(5)每排上設有4個,測試架設有并列平行的4排,共16個橫向連接結構(5);所述的橫桿(I)長度為500mm。
9.根據(jù)權利要求1所述的具有場均勻性功能的測試架,其特征在于:所述的連接桿(2)長度為100mm。
10.根據(jù)權利要求1一 9任一所述的具有場均勻性功能的測試架,其特征在于:所述的橫向連接結構(5)和豎向連接結構(6)的端口均設有內(nèi)螺紋,所述的橫桿(I)、連接桿(2)、支撐桿(3)、豎桿(4)的端部均設有外螺紋,連接結構與桿通過螺紋固定連接。
專利摘要本實用新型涉及電磁兼容試驗技術領域,具體涉及具有場均勻性功能的測試架。具有場均勻性功能的測試架,其中,多個橫向連接結構和多個豎向連接結構,豎直方向上支撐桿與豎桿通過豎向連接結構連接,豎桿與豎桿通過豎向連接結構連接,豎桿與支撐桿位于同一直線上;橫桿與橫桿通過橫向連接結構連接,連接桿一端連接橫向連接結構,另一端連接豎向連接結構,連接桿與橫桿位于同一直線上;所述的連接桿垂直于豎桿,所述的多個橫向連接結構上均設有用于測量的場強探頭。其測試架拆分成幾個部分,便于攜帶,組裝后形成一個整體,形成是一個面,測試過程中測試架不用再移動,能精確的完成測試要求,同時節(jié)省測試時間。
文檔編號G01R1/04GK202956402SQ20122059896
公開日2013年5月29日 申請日期2012年11月14日 優(yōu)先權日2012年11月14日
發(fā)明者練添生, 代勇, 吳煜民 申請人:廣州廣電計量檢測股份有限公司
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