專利名稱：校驗高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種校驗高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀的裝置。
背景技術(shù)：
在工業(yè)控制及輸變電領(lǐng)域中，各種高壓開關(guān)、接觸器、繼電器等通斷電器件被廣泛應(yīng)用。高壓開關(guān)的合閘時間、分閘時間、合閘同期性、分閘同期性及彈跳時間等時間參數(shù)對整個系統(tǒng)的穩(wěn)定工作至關(guān)重要，如果高壓開關(guān)出現(xiàn)故障輕者可導(dǎo)致電網(wǎng)波動，重者導(dǎo)致重大停電事故。實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是提供一種對高壓開關(guān)特性測試儀主要技術(shù)參數(shù)進(jìn)行校驗和調(diào)整，具有智能化設(shè)計，體積小，功能強(qiáng)，操作簡單，自動化程度高的校驗高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀的裝置。上述的目的通過以下的技術(shù)方案實現(xiàn)一種校驗高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀的裝置，其組成包括校驗裝置殼體，所述的校驗裝置殼體中裝有電路主控器，所述的電路主控器同時連接輸入電路、輸出電路和電源電路；所述的校驗裝置殼體包括殼體顯示面板，所述的殼體顯示面板具有殼體LCD圖形液晶顯示屏、鍵盤、殼體合閘接線端鈕、殼體分閘接線端鈕、殼體公共接線端鈕、電壓測量操控開關(guān)。所述的校驗高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀的裝置，所述的電路主控器包括微處理器，所述的微處理器連接A/D轉(zhuǎn)換電路、識別電路、時基電路、鍵盤電路、狀態(tài)輸出電路和圖形液晶顯示屏，所述的A/D轉(zhuǎn)換電路連接AC/DC轉(zhuǎn)換電路，所述的AC/DC轉(zhuǎn)換電路連接分壓電路，所述的分壓電路連接電壓測量開關(guān)；所述的識別電路連接所述的分壓電路，所述的識別電路連接所述的衰減電路，所述的分壓電路連接整流電路。有益效果1.本實用新型借助微處理器強(qiáng)大的實時控制功能和數(shù)據(jù)處理功能，可以對交流電壓或直流電壓輸出幅值的可調(diào)范圍、可調(diào)細(xì)度、準(zhǔn)確度，進(jìn)行校驗和調(diào)整。2.本實用新型的微處理器是校驗高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀的裝置的核心部件，采用ATMEL的8位單片機(jī)AT89C52，為系統(tǒng)提供了硬件載體，且使穩(wěn)定性得以提高；在單片機(jī)中嵌入控制、管理及數(shù)據(jù)處理軟件，更有利于智能控制的實現(xiàn)和應(yīng)用功能的擴(kuò)展。3.本實用新型采用了 0C2012C - D17型恒溫晶體振蕩器保證了時間量測量的長期穩(wěn)定性。4.本實用新型采用的LCD圖形液晶顯示屏，具有字跡清晰、信息量大的漢字化人機(jī)界面。


附圖1是本產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)示意圖。附圖2是附圖1中的電路框圖。附圖3是附圖1中的微處理器及顯示電路原理圖。[0019]附圖4是附圖1中的輸出電路原理圖。附圖5是附圖1中的電源電路原理圖。附圖6是附圖1中的模擬電路供電原理圖。根據(jù)電子線路制圖規(guī)范，上述電路原理圖中相同的引腳標(biāo)號具有連接關(guān)系。
具體實施方式
實施例1 :一種校驗高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀的裝置，其組成包括校驗裝置殼體2，所述的校驗裝置殼體中裝有電路主控器3，所述的電路主控器同時連接輸入電路4、輸出電路5和電源電路6 ;所述的校驗裝置殼體包括殼體顯示面板，所述的殼體顯示面板具有殼體LCD圖形液晶顯示屏7、鍵盤8、殼體合閘接線端鈕9、殼體分閘接線端鈕10、殼體公共接線端鈕11、電壓測量操控開關(guān)12。實施例2 實施例1所述的校驗高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀的裝置，所述的電路主控器包括微處理器13，所述的微處理器連接A/D轉(zhuǎn)換電路14、識別電路15、時基電路16、鍵盤電路17、狀態(tài)輸出電路18和圖形液晶顯示屏19，所述的A/D轉(zhuǎn)換電路連接AC/DC轉(zhuǎn)換電路20，所述的AC/DC轉(zhuǎn)換電路連接分壓電路21，所述的分壓電路連接電壓測量開關(guān)；所述的識別電路連接所述的分壓電路，所述的識別電路連接所述的衰減電路1，所述的分壓電路連接整流電路22。實施例3 上述所述的校驗高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀的裝置，所述的A/D轉(zhuǎn)換電路采用ICL7135單片模數(shù)轉(zhuǎn)換器，所述的微處理器也可為ATmegal28單片機(jī)或嵌入式系統(tǒng)，所述的時基電路使用恒溫晶體振蕩器0C2012C - D17，所述的顯示電路選用IXD圖形液晶顯示屏
或LED高亮度數(shù)碼管。
權(quán)利要求1.一種校驗高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀的裝置，其組成包括校驗裝置殼體，其特征是 所述的校驗裝置殼體中裝有電路主控器，所述的電路主控器同時連接輸入電路、輸出電路和電源電路；所述的校驗裝置殼體包括殼體顯示面板，所述的殼體顯示面板具有殼體LCD 圖形液晶顯示屏、鍵盤、殼體合閘接線端鈕、殼體分閘接線端鈕、殼體公共接線端鈕、電壓測量操控開關(guān)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校驗高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀的裝置，其特征是所述的電路主控器包括微處理器，所述的微處理器連接A/D轉(zhuǎn)換電路、識別電路、時基電路、鍵盤電路、狀態(tài)輸出電路和圖形液晶顯示屏，所述的A/D轉(zhuǎn)換電路連接AC/DC轉(zhuǎn)換電路，所述的 AC/DC轉(zhuǎn)換電路連接分壓電路，所述的分壓電路連接電壓測量開關(guān)；所述的識別電路連接所述的分壓電路，所述的識別電路連接所述的衰減電路，所述的分壓電路連接整流電路。
專利摘要校驗高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀的裝置。工業(yè)控制及輸變電領(lǐng)域中高壓開關(guān)的合閘時間、分閘時間、合閘同期性、分閘同期性及彈跳時間等時間參數(shù)對整個系統(tǒng)的穩(wěn)定工作至關(guān)重要。本實用新型組成包括校驗裝置殼體(2)，所述的校驗裝置殼體中裝有電路主控器(3)，所述的電路主控器同時連接輸入電路(4)、輸出電路(5)和電源電路(6)所述的校驗裝置殼體包括殼體顯示面板，所述的殼體顯示面板具有殼體LCD圖形液晶顯示屏、鍵盤、殼體合閘接線端鈕、殼體分閘接線端鈕、殼體公共接線端鈕、電壓測量操控開關(guān)。本實用新型用于計量、檢定部門、工礦企業(yè)及科研院所對各種高壓開關(guān)特性測試儀的主要技術(shù)參數(shù)進(jìn)行校驗和調(diào)整。
文檔編號G01R35/00GK202886583SQ20122062438
公開日2013年4月17日 申請日期2012年11月23日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月23日
發(fā)明者黃吉勝 申請人:哈爾濱理工大學(xué)