專利名稱：Pcb板推塊兩段式測試結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種PCB板測試裝置，具體是涉及一種PCB板推塊兩段式測試結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
PCB板在生產(chǎn)過程中需要經(jīng)歷很多環(huán)節(jié)，其中每個(gè)環(huán)節(jié)都需要進(jìn)行相應(yīng)的測試來檢測產(chǎn)品的好壞，PCB板測試治具為PCB板的測試提供一個(gè)良好的平臺(tái)，基本工作原理是利用將PCB板上的待測點(diǎn)與測試機(jī)中的對(duì)應(yīng)點(diǎn)相連接，通過相應(yīng)的程序來實(shí)現(xiàn)最終的測試。真空治具是PCB板測試常用的治具，主要包括上、下模和底框三部分，上、下模主要包括上、下針板、上、下載板、探針組件及密封組件，底框內(nèi)含界面版，上、下載板用于保護(hù)待測PCB板和導(dǎo)正測試針點(diǎn)，上、下針板用于固定加長探針和普通探針等探針組件，密封組件用于上下模結(jié)合時(shí)確保治具內(nèi)部處于密封狀態(tài)，上、下模的測試針點(diǎn)與界面板上的針點(diǎn)用導(dǎo)線連接，界面板上的針點(diǎn)再與測試機(jī)上的針點(diǎn)一一對(duì)應(yīng)，但是，隨著PCB板功能越來越強(qiáng)，線路結(jié)構(gòu)也越復(fù)雜，需要測試的點(diǎn)也越來越多，而相應(yīng)的真空治具的測試探針也越來越多，因此，經(jīng)常會(huì)遇到一些測試過程中存在一些會(huì)干擾和不需測試的探針接觸PCB板的情況，進(jìn)而影響其他探針的測試結(jié)果，現(xiàn)有技術(shù)解決上述問題的方法是使用人工一一拔除這些干擾和不需測試的探針，再進(jìn)行測試，需要時(shí)再重新插回去，這種方式會(huì)造成對(duì)產(chǎn)品測試的測試零件的含蓋率不足，且在插拔探針過程中，容易使針套偏移，造成探針無法準(zhǔn)備接觸測試點(diǎn)，影響測試結(jié)果。也有采用兩段式的測試治具，設(shè)置固定針板和活動(dòng)針板，多次測試時(shí)始終接觸到測試針點(diǎn)的探針設(shè)為固定探針，固定在固定針板上，在一些測試過程中會(huì)干擾的或不需測試探針設(shè)為活動(dòng)探針，固定在活動(dòng)針板上，通過調(diào)整活動(dòng)針板相對(duì)測試點(diǎn)的距離來調(diào)整探針是否與測試點(diǎn)接觸，從而一定程度上解決了測試過程中所有探針同時(shí)接觸PCB板影響測試結(jié)果的問題，但是這種方式需要設(shè)置固定針板和活動(dòng)針板，活動(dòng)針板通過一定的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)，這種結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜，實(shí)施起來帶來很多不便。
發(fā)明內(nèi)容為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提出一種PCB板推塊兩段式測試結(jié)構(gòu)，具有結(jié)構(gòu)簡單，便于操作實(shí)施的優(yōu)點(diǎn)，且通過設(shè)置長、短探針結(jié)合限位板的限位作用，可以精確控制真空吸合時(shí)針板和載板間距離，從而能夠確保在一次測試之后，按照測量要求很方便的將會(huì)干擾或不需測試的探針脫離，方便二次測試的進(jìn)行，確保二次測試的結(jié)果。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:一種PCB板推塊兩段式測試結(jié)構(gòu)，包括沿厚度方向上順序設(shè)置的載板、限位板和針板，所述載板和所述限位板之間具有供真空吸合的間隙，所述載板背向所述限位板的一側(cè)用于放置待測PCB板，對(duì)應(yīng)待測PCB板上多次測試時(shí)始終需要探針接觸的待測試針點(diǎn)，所述針板厚度方向上穿設(shè)有長探針，對(duì)應(yīng)待測PCB板上多次測試時(shí)不需要探針始終接觸的待測試針點(diǎn)，所述針板厚度方向上設(shè)有短探針，對(duì)應(yīng)每一個(gè)探針，所述載板和所述限位板上設(shè)有相匹配的探針通孔，真空吸合時(shí)，所述限位板能夠使所述長探針和所述短探針同時(shí)穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)和僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)。作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，真空吸合時(shí)，所述限位板能夠使所述長探針和所述短探針同時(shí)穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)和僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)的結(jié)構(gòu)是:所述載板朝向所述限位板的一側(cè)固設(shè)有若干個(gè)限位柱，對(duì)應(yīng)每一個(gè)限位柱，所述限位板上設(shè)有與所述限位柱匹配的限位通孔，所述針板上設(shè)有與所述限位柱匹配的限位槽，另設(shè)有若干個(gè)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)能夠擇一驅(qū)動(dòng)所述限位板沿所述針板長度和寬度方向上運(yùn)動(dòng)，使所述限位柱、限位通孔和限位槽位于同一線上和不在同一線上。作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，設(shè)有兩個(gè)所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)為氣缸。本實(shí)用新型的有益效果是:本實(shí)用新型提供一種PCB板推塊兩段式測試結(jié)構(gòu)，包括沿厚度方向上順序設(shè)置的載板、限位板和針板，所述載板和所述限位板之間具有供真空吸合的間隙，所述載板背向所述限位板的一側(cè)用于放置待測PCB板，對(duì)應(yīng)待測PCB板上多次測試時(shí)始終需要探針接觸的待測試針點(diǎn)，所述針板厚度方向上穿設(shè)有長探針，對(duì)應(yīng)待測PCB板上多次測試時(shí)不需要探針始終接觸的待測試針點(diǎn)，所述針板厚度方向上設(shè)有短探針，對(duì)應(yīng)每一個(gè)探針，所述載板和所述限位板上設(shè)有相匹配的探針通孔，真空吸合時(shí)，所述限位板能夠使所述長探針和所述短探針同時(shí)穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)和僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)，這樣，通過長探針和短探針的設(shè)置結(jié)合限位板的限位作用，可以將多次測試時(shí)始終需要接觸的待測試針點(diǎn)與多次測試時(shí)不需要始終接觸的待測試針分為兩段進(jìn)行測試，從而能夠確保在一次測試之后，按照測量要求很方便的將會(huì)干擾或不需測試的探針脫離，方便二次測試的進(jìn)行，確保二次測試的結(jié)果，特別的，限位板的運(yùn)動(dòng)通過氣缸驅(qū)動(dòng)，能夠自動(dòng)化精確控制探針的行程，且本實(shí)用新型具有結(jié)構(gòu)簡單，便于操作實(shí)施的優(yōu)點(diǎn)。

圖1為本實(shí)用新型 結(jié)構(gòu)示意圖(真空吸合前，長探針和短探針均未觸及待測PCB板的待測試針點(diǎn))；圖2為本實(shí)用新型第一次測試時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖(真空吸合后，長探針和短探針同時(shí)觸及待測PCB板的待測試針點(diǎn))。圖3為本實(shí)用新型第二次測試時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖(真空吸合后，僅長探針觸及待測PCB板的待測試針點(diǎn))。結(jié)合附圖，作以下說明:1-載板2-限位板3——針板4——間隙5——待測PCB板6——長探針7——短探針11——限位柱21—限位通孔31—限位槽具體實(shí)施方式
如圖1、圖2和圖3所示，一種PCB板推塊兩段式測試結(jié)構(gòu)，包括沿厚度方向上順序設(shè)置的載板1、限位板2和針板3，所述載板和所述限位板之間具有供真空吸合的間隙4，所述載板背向所述限位板的一側(cè)用于放置待測PCB板5，對(duì)應(yīng)待測PCB板上多次測試時(shí)始終需要探針接觸的待測試針點(diǎn)，所述針板厚度方向上穿設(shè)有長探針6，對(duì)應(yīng)待測PCB板上多次測試時(shí)不需要探針始終接觸的待測試針點(diǎn)，所述針板厚度方向上設(shè)有短探針7，對(duì)應(yīng)每一個(gè)探針，所述載板和所述限位板上設(shè)有相匹配的探針通孔，真空吸合時(shí)，所述限位板能夠使所述長探針和所述短探針同時(shí)穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)和僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)，這樣，通過長探針和短探針的設(shè)置結(jié)合限位板的限位作用，可以將多次測試時(shí)始終需要接觸的待測試針點(diǎn)與多次測試時(shí)不需要始終接觸的待測試針分為兩段進(jìn)行測試，從而能夠確保在一次測試之后，按照測量要求很方便的將會(huì)干擾或不需測試的探針脫離，方便二次測試的進(jìn)行，確保二次測試的結(jié)果。優(yōu)選的，真空吸合時(shí)，所述限位板能夠使所述長探針和所述短探針同時(shí)穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)和僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)的結(jié)構(gòu)是:所述載板朝向所述限位板的一側(cè)固設(shè)有若干個(gè)限位柱11，對(duì)應(yīng)每一個(gè)限位柱，所述限位板上設(shè)有與所述限位柱匹配的限位通孔21，所述針板上設(shè)有與所述限位柱匹配的限位槽31，另設(shè)有若干個(gè)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)能夠擇一驅(qū)動(dòng)所述限位板沿所述針板長度和寬度方向上運(yùn)動(dòng)，使所述限位柱、限位通孔和限位槽位于同一線上和不在同一線上。優(yōu)選的，設(shè)有兩個(gè)所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)為氣缸。本實(shí)用新型PCB板推塊兩段式測試結(jié)構(gòu)適用于PCB板真空治具，具體工作原理如下:PCB板測試前，載板、限位板和針板順序設(shè)置，將PCB板置于載板背向限位板的一側(cè)上，處于初始靜止?fàn)顟B(tài)，此時(shí)，載板與針板之間具有供真空吸合的間隙，載板的限位柱、限位板的限位通孔和針板的限位槽位于同一線上，長探針和短探針均未觸及待測PCB的待測點(diǎn)，驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)氣缸與限位板連接；第一次測試時(shí)，進(jìn)行真空吸合，在真空吸合的作用下，載板和限位板之間的間隙縮小，限位柱朝向限位板和針板運(yùn)動(dòng)，并穿過限位板上的限位通孔，進(jìn)入針板上的限位槽內(nèi)，在限位柱運(yùn)動(dòng)的同時(shí)，置于載板上的待測PCB板隨同載板朝向長探針和短探針運(yùn)動(dòng)，長探針和短探針穿過限位板和載板上探針通孔同時(shí)觸及待測PCB板的待測點(diǎn)，進(jìn)行第一次測試；第一次測試完成后，放掉真空，各機(jī)構(gòu)回到初始靜止?fàn)顟B(tài)，進(jìn)行第二次測試時(shí)，啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)氣缸，氣缸作動(dòng)，驅(qū)動(dòng)限位板沿針板長度或者寬度方向上運(yùn)動(dòng)一定距離，使限位柱、限位通孔和限位槽不在同一線上，即限位板上的限位通孔與限位柱和定位槽錯(cuò)開，限位板蓋住載板上的限位槽,使限位柱的行程將縮短，同時(shí),也就縮短了載板和置于其上的待測PCB板的行程，由于限位板的厚度與長探針和短探針的落差是預(yù)先匹配好的，因此，可以確保只有長探針能夠觸及待測PCB板的待測試針點(diǎn)，而短探針無法觸及，再次真空吸合，從而完成第二次測試。以上實(shí)施例是參照附圖，對(duì)本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的技術(shù)人員通過對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行各種形式上的修改或變更，但不背離本實(shí)用新型的實(shí)質(zhì)的情況下，都落在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種PCB板推塊兩段式測試結(jié)構(gòu)，其特征在于:包括沿厚度方向上順序設(shè)置的載板(I)、限位板(2)和針板(3)，所述載板和所述限位板之間具有供真空吸合的間隙(4)，所述載板背向所述限位板的一側(cè)用于放置待測PCB板(5 )，對(duì)應(yīng)待測PCB板上多次測試時(shí)始終需要探針接觸的待測試針點(diǎn)，所述針板厚度方向上穿設(shè)有長探針(6)，對(duì)應(yīng)待測PCB板上多次測試時(shí)不需要探針始終接觸的待測試針點(diǎn)，所述針板厚度方向上設(shè)有短探針(7)，對(duì)應(yīng)每一個(gè)探針，所述載板和所述限位板上設(shè)有相匹配的探針通孔，真空吸合時(shí)，所述限位板能夠使所述長探針和所述短探針同時(shí)穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)和僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的PCB板推塊兩段式測試結(jié)構(gòu)，其特征在于:真空吸合時(shí)，所述限位板能夠使所述長探針和所述短探針同時(shí)穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)和僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點(diǎn)的結(jié)構(gòu)是:所述載板朝向所述限位板的一側(cè)固設(shè)有若干個(gè)限位柱(11)，對(duì)應(yīng)每一個(gè)限位柱，所述限位板上設(shè)有與所述限位柱匹配的限位通孔(21)，所述針板上設(shè)有與所述限位柱匹配的限位槽(31)，另設(shè)有若干個(gè)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)能夠擇一驅(qū)動(dòng)所述限位板沿所述針板長度和寬度方向上運(yùn)動(dòng)，使所述限位柱、限位通孔和限位槽位于同一線上和不在同一線上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的PCB板推塊兩段式測試結(jié)構(gòu)，其特征在于:設(shè)有兩個(gè)所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)為氣缸。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種PCB板推塊兩段式測試結(jié)構(gòu)，包括沿厚度方向上順序設(shè)置的載板、限位板和針板，載板和限位板之間具有供真空吸合的間隙，載板背向限位板的一側(cè)用于放置待測PCB板，對(duì)應(yīng)待測PCB板上多次測試時(shí)始終需要探針接觸的待測試針點(diǎn)，針板厚度方向上穿設(shè)有長探針，對(duì)應(yīng)待測PCB板上多次測試時(shí)不需要探針始終接觸的待測試針點(diǎn)，針板厚度方向上設(shè)有短探針，真空吸合時(shí)，限位板能夠使長探針和短探針同時(shí)穿過探針通孔觸及待測試針點(diǎn)和僅使長探針穿過探針通孔觸及待測試針點(diǎn)，具有結(jié)構(gòu)簡單，便于操作實(shí)施的優(yōu)點(diǎn)，能夠確保在一次測試之后，按照測量要求很方便的將會(huì)干擾或不需測試的探針脫離，方便二次測試的進(jìn)行，確保二次測試的結(jié)果。
文檔編號(hào)G01R31/28GK202994972SQ201220633370
公開日2013年6月12日 申請(qǐng)日期2012年11月26日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月26日
發(fā)明者肖秋生, 鄭建生 申請(qǐng)人:昆山威典電子有限公司