專利名稱：一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，屬于材料測試設(shè)備領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
隨著玻璃熔制技術(shù)的迅速發(fā)展，電助熔技術(shù)在玻璃熔窯中被廣泛采用，以其獨(dú)特的優(yōu)勢得到了大家的認(rèn)可:1、大幅度提高熔化率；2、提高熔化質(zhì)量；3、減弱上部火焰空間的燃燒強(qiáng)度、延長窯爐壽命；4、減少因結(jié)石缺陷造成的產(chǎn)品損失；5、提高熱效率，減少環(huán)境污染。特別是在TFT - LCD用玻璃基板的熔窯中被廣泛使用。從高溫玻璃熔體電阻率測試的意義來分析，不同溫度下，分析玻璃熔體的電阻率參數(shù)變化能為料方的調(diào)整提供很好的參考作用；在電助熔窯爐中，高溫玻璃熔體的電阻率變化是直接關(guān)系熔融玻璃液是否能有效促進(jìn)玻璃熔化，減少結(jié)石，促進(jìn)均化和澄清，減少玻璃缺陷的關(guān)鍵指標(biāo)；在窯爐設(shè)計(jì)的前期，了解高溫電阻率變化也為電助熔系統(tǒng)的設(shè)計(jì)提供重要的參考，是直接關(guān)系到熔化池和輸配電設(shè)計(jì)的關(guān)鍵指標(biāo)，所以充分認(rèn)識高溫玻璃熔體的電阻率變化是完善電助熔技術(shù)、提高玻璃熔制質(zhì)量的必要保證。高溫玻璃熔體的電阻率測試儀中缺少對玻璃熔體由于加熱揮發(fā)出來的雜質(zhì)氣體的處理，導(dǎo)致電加熱元件受到被氧化的傷害，并且影響了玻璃熔體電阻率的測試效果，因此有必要對玻璃熔體電阻率測試儀的結(jié)構(gòu)進(jìn)行改進(jìn)。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型為解決玻璃熔體揮發(fā)出來的雜質(zhì)氣體對電加熱元件造成被氧化的傷害、并且影響了玻璃熔體電阻率的測試效果的技術(shù)問題，設(shè)計(jì)了一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，在控溫爐中增設(shè)保護(hù)氣機(jī)構(gòu)，及防止了玻璃熔體揮發(fā)的雜質(zhì)影響測試效果，由保證了電加熱元件免受雜質(zhì)氣體的氧化傷害，延長了使用壽命。本實(shí)用新型為實(shí)現(xiàn)發(fā)明目的采用的技術(shù)方案是，一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，所述裝置的結(jié)構(gòu)中包括工作臺、設(shè)置在工作臺上且盛放待測玻璃熔體的坩堝、爐腔內(nèi)設(shè)有電加熱元件的控溫爐、及帶有測溫模塊及電信號采集模塊的控制單元，工作臺及坩堝定位在控溫爐內(nèi)，在控溫爐中增設(shè)保護(hù)氣機(jī)構(gòu)，以上保護(hù)氣機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)中包括:貫穿設(shè)置在控溫爐底部爐壁上的、與保護(hù)氣體的氣源連通的通氣管，通氣管的出氣口與控溫爐的爐腔連通，并配套設(shè)置排氣孔。本實(shí)用新型的有益效果是:本實(shí)用新型為電助熔技術(shù)中玻璃液電阻率與溫度的對應(yīng)關(guān)系提供了可靠依據(jù)，為電助熔系統(tǒng)的設(shè)計(jì)提供重要參考，保證來了熔化池和輸配電設(shè)計(jì)關(guān)鍵指標(biāo)的精準(zhǔn)性，是提高玻璃熔制質(zhì)量的必要保證；同時在控溫爐中增設(shè)保護(hù)氣機(jī)構(gòu)，及防止了玻璃熔體揮發(fā)的雜質(zhì)影響測試效果，由保證了電加熱元件免受雜質(zhì)氣體的氧化傷害，延長了使用壽命。
以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。
圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。附圖中，I代表工作臺，2代表坩堝，3代表電極對，4代表熱電偶溫度傳感器，5-1代表上蓋，5-2代表爐膛,5-3代表電加熱兀件，5A代表保溫層,5B代表隔熱層,5C代表電信號屏蔽層，代表爐體殼層,6代表升降傳動機(jī)構(gòu)，7代表驅(qū)動電機(jī),8代表管式保護(hù)套,9代表通氣管，9-1代表第一流量閥，9-2代表第二流量閥。
具體實(shí)施方式
一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，所述裝置的結(jié)構(gòu)中包括工作臺1、設(shè)置在工作臺I上且盛放待測玻璃熔體的坩堝2、爐腔內(nèi)設(shè)有電加熱元件5-3的控溫爐、及帶有測溫模塊及電信號采集模塊的控制單元，工作臺I及坩堝2定位在控溫爐內(nèi)，在控溫爐中增設(shè)保護(hù)氣機(jī)構(gòu)，以上保護(hù)氣機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)中包括:貫穿設(shè)置在控溫爐底部爐壁上的、與保護(hù)氣體的氣源連通的通氣管9，通氣管9的出氣口與控溫爐的爐腔連通，并配套設(shè)置排氣孔。上述的保護(hù)氣機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)中還包括沿控溫爐軸向設(shè)置的管式保護(hù)套8，管式保護(hù)套8罩在坩堝2上并借助上管口處的定位組件與控溫爐的上端口定位連接，所述通氣管9的結(jié)構(gòu)是三通管，三通管的進(jìn)氣口與保護(hù)氣體的氣源連通、第一支管與管式保護(hù)套8連通，第二支管與管式保護(hù)套8外的爐腔連通，電加熱元件5-3設(shè)置在管式保護(hù)套8外的爐腔內(nèi)。在三通管的第一支管上設(shè)置第一流量閥9-1，在第二支管上設(shè)置第二流量閥9-2。上述的測溫模塊中包括設(shè)置在坩堝2底部的熱電偶溫度傳感器4。上述的電信號采集模塊中包括設(shè)置在工作臺I上的電極對3及信號處理電路模塊。上述的控溫爐的結(jié)構(gòu)中包括:立式保溫爐體、設(shè)置在立式保溫爐體上端口的上蓋5-1以及開放式下端口、均布在立式保溫爐體圍成的爐膛5-2內(nèi)的電加熱元件5-3，電加熱元件5-3的電力端與控制單元連接，坩堝2設(shè)置在電加熱元件5-3之間。上述的立式保溫爐體的結(jié)構(gòu)層由里至外依次包括:保溫層5A、隔熱層5B、電信號屏蔽層5C及爐體殼層上述的控溫爐上還定位有升降傳動機(jī)構(gòu)6及配套的驅(qū)動電機(jī)7，控溫爐借助升降傳動機(jī)構(gòu)6與工作臺I形成豎直向滑動配合。上述的電極對3中的電極是鉬金電極片，借助鉬金導(dǎo)線與信號處理電路模塊連接，以上鉬金電極片的尺寸與坩堝的橫截面尺寸配套。本實(shí)用新型的測試原理是:根據(jù)歐姆足侓和電阻率公式
權(quán)利要求1.一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，所述裝置的結(jié)構(gòu)中包括工作臺(I)、設(shè)置在工作臺(I)上且盛放待測玻璃熔體的坩堝(2)、爐腔內(nèi)設(shè)有電加熱元件(5-3)的控溫爐、及帶有測溫模塊及電信號采集模塊的控制單元，工作臺(I)及坩堝(2 )定位在控溫爐內(nèi)，其特征在于:在控溫爐中增設(shè)保護(hù)氣機(jī)構(gòu)，以上保護(hù)氣機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)中包括:貫穿設(shè)置在控溫爐底部爐壁上的、與保護(hù)氣體的氣源連通的通氣管(9)，通氣管(9)的出氣口與控溫爐的爐腔連通，并配套設(shè)置排氣孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特征在于:所述的保護(hù)氣機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)中還包括沿控溫爐軸向設(shè)置的管式保護(hù)套(8)，管式保護(hù)套(8)罩在坩堝(2)上并借助上管口處的定位組件與控溫爐的上端口定位連接，所述通氣管(9)的結(jié)構(gòu)是三通管，三通管的進(jìn)氣口與保護(hù)氣體的氣源連通、第一支管與管式保護(hù)套(8)連通，第二支管與管式保護(hù)套(8)外的爐腔連通，電加熱元件(5-3)設(shè)置在管式保護(hù)套(8)外的爐腔內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特征在于:在三通管的第一支管上設(shè)置第一流量閥(9-1)，在第二支管上設(shè)置第二流量閥(9-2)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特征在于:所述的測溫模塊中包括設(shè)置在坩堝(2)底部的熱電偶溫度傳感器(4)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特征在于:所述的電信號采集模塊中包括設(shè)置在工作臺(I)上的電極對(3)及信號處理電路模塊。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特征在于:所述的控溫爐的結(jié)構(gòu)中包括:立式保溫爐體、設(shè)置在立式保溫爐體上端口的上蓋(5-1)以及開放式下端口、均布在立式保溫爐體圍成的爐膛(5-2)內(nèi)的電加熱元件(5-3)，電加熱元件(5-3)的電力端與控制單元連接，坩堝(2)設(shè)置在電加熱元件(5-3)之間。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特征在于:所述的立式保溫爐體的結(jié)構(gòu)層由里至外依次包括:保溫層(5A)、隔熱層(5B)、電信號屏蔽層(5C)及爐體殼層(5D)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特征在于:所述的控溫爐上還定位有升降傳動機(jī)構(gòu)(6)及配套的驅(qū)動電機(jī)(7)，控溫爐借助升降傳動機(jī)構(gòu)(6)與工作臺(I)形成豎直向滑動配合。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，其特征在于:所述的電極對(3)中的電極是鉬金電極片，借助鉬金導(dǎo)線與信號處理電路模塊連接，以上鉬金電極片的尺寸與坩堝的橫截面尺寸配套。
專利摘要一種高溫玻璃熔體電阻率測試裝置，解決了玻璃熔體揮發(fā)出來的雜質(zhì)氣體對電加熱元件造成被氧化的傷害、并且影響了玻璃熔體電阻率的測試效果的技術(shù)問題，采用的技術(shù)方案是，所述裝置的結(jié)構(gòu)中包括工作臺、設(shè)置在工作臺上且盛放待測玻璃熔體的坩堝、爐腔內(nèi)設(shè)有電加熱元件的控溫爐、及帶有測溫模塊及電信號采集模塊的控制單元，工作臺及坩堝定位在控溫爐內(nèi)，在控溫爐中增設(shè)保護(hù)氣機(jī)構(gòu)，以上保護(hù)氣機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)中包括貫穿設(shè)置在控溫爐底部爐壁上的、與保護(hù)氣體的氣源連通的通氣管，通氣管的出氣口與控溫爐的爐腔連通，并配套設(shè)置排氣孔。通過在控溫爐中增設(shè)保護(hù)氣機(jī)構(gòu)，及防止了玻璃熔體揮發(fā)的雜質(zhì)影響測試效果，由保證了電加熱元件免受雜質(zhì)氣體的氧化傷害，延長了使用壽命。
文檔編號G01R27/08GK203025251SQ201220645770
公開日2013年6月26日 申請日期2012年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月30日
發(fā)明者劉文泰, 閆冬成, 張廣濤, 沈玉國, 田穎, 田鵬 申請人:東旭集團(tuán)有限公司