用于在構(gòu)造車輪輪胎的處理中控制初級半成品鋪設(shè)的方法
【專利摘要】一種用于在構(gòu)造車輪輪胎的處理中控制初級半成品的鋪設(shè)的方法，所述方法包括：驅(qū)動正在處理的輪胎(10)圍繞旋轉(zhuǎn)軸線(X)以介于大約π/8rad/s和大約6πrad/s之間的轉(zhuǎn)速(ω)旋轉(zhuǎn)，所述輪胎具有包括一個或多個初級半成品(30)的徑向外表面(20)；將第一電磁射線(R1a)發(fā)送至所述徑向外表面(20)，所述徑向外表面產(chǎn)生對應(yīng)的第一反射射線(R1b)；通過第一檢測裝置(10)檢測反映所述第一反射射線(R1b)的至少一個第一圖像(A1)；控制所述第一檢測裝置(110)，使得用于檢測所述至少一個第一圖像(A1)的第一曝光時間(T1)介于大約0.1s和大于10s之間；實施所述至少一個第一圖像(A1)和一個或多個參考數(shù)據(jù)(Ref)之間的第一比較；根據(jù)所述第一比較產(chǎn)生第一通知信號(NS1)。還描述了一種用于在構(gòu)造車輪輪胎的處理中控制初級半成品的鋪設(shè)的設(shè)備。
【專利說明】用于在構(gòu)造車輪輪胎的處理中控制初級半成品鋪設(shè)的方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種用于在構(gòu)造車輪輪胎的處理中控制初級半成品鋪設(shè)的方法。本發(fā)明還涉及一種用于控制在構(gòu)造車輪輪胎的處理中控制初級半成品鋪設(shè)的設(shè)備。

【背景技術(shù)】
[0002]車輪輪胎通常包括胎體結(jié)構(gòu)，所述胎體結(jié)構(gòu)包括至少一個胎體簾布層，所述至少一個胎體簾布層分別具有相對的端部折片，所述相對的端部折片分別接合到環(huán)形錨固結(jié)構(gòu)，所述環(huán)形錨固結(jié)構(gòu)結(jié)合在通常稱作“胎圈”的區(qū)域中，所述胎圈區(qū)域限定了輪胎的徑向內(nèi)圓周邊緣。
[0003]帶束結(jié)構(gòu)關(guān)聯(lián)到胎體結(jié)構(gòu)，所述帶束結(jié)構(gòu)包括一個或者多個帶束層，所述帶束層徑向定位并且相對于胎體簾布層彼此疊置，所述帶束層具有交叉定向和/或基本平行于輪胎的延伸部的圓周方向定向的織物或者金屬增強(qiáng)簾線。與構(gòu)成輪胎的其它半成品一樣，同樣由彈性體材料制成的胎面帶施加在徑向外部位置中。
[0004]另外，彈性體材料的相應(yīng)側(cè)壁施加在胎體結(jié)構(gòu)的側(cè)表面上的軸向外部位置，每個偵_均從胎面帶的側(cè)邊緣中的一個延伸直到靠近胎圈的相應(yīng)環(huán)形錨固結(jié)構(gòu)。在“無內(nèi)胎”類型的輪胎中，通常稱作“襯里”的氣密覆蓋層覆蓋輪胎的內(nèi)表面。
[0005]本發(fā)明具體地用于以下處理，在所述處理中，通過將初級半成品關(guān)聯(lián)在一起并且將初級半成品鋪設(shè)在適當(dāng)?shù)某尚沃渭蟻順?gòu)造輪胎。
[0006]根據(jù)所使用的處理類型，成形支撐件可以基本是環(huán)面狀或者基本圓柱狀的構(gòu)造鼓。
[0007]術(shù)語“初級半成品”用于表示連續(xù)細(xì)長元件，所述連續(xù)細(xì)長元件優(yōu)選地具有平坦的橫截面并且由彈性體材料制成。優(yōu)選地，所述“初級半成品”是切割成適當(dāng)尺寸的所述細(xì)長元件的分段。更為優(yōu)選地，所述“初級半成品”嵌入有一個或多個增強(qiáng)織物或者金屬簾線，所述增強(qiáng)織物或者金屬簾線沿著同一細(xì)長元件的縱向方向布置成相對彼此平行。
[0008]當(dāng)這種初級半成品包括上述增強(qiáng)簾線時，如果這種初級半成品具有主要縱向尺寸，則在下文中這種初級半成品也稱作“條狀元件”。適于彼此接近或者部分疊置的條狀元件配合以形成輪胎的不同部件。具體地，條狀元件可以用于制造輪胎的胎體結(jié)構(gòu)的一個或多個胎體簾布層和/或帶束結(jié)構(gòu)的一個或多個帶束條或者帶束層。
[0009]在一些情況中，半成品元件還可以具有彼此相當(dāng)?shù)目v向尺寸和橫向尺寸，所述縱向尺寸和所述橫向尺寸優(yōu)選地彼此基本相等。在這種情況中，它們是板狀元件，所述板狀元件在平面圖中基本成四邊形。這種類型的初級半成品可以用在輪胎構(gòu)造中，并且在下文中它們稱作“增強(qiáng)元件”。術(shù)語“初級半成品”還用于表示由彈性體材料制成的沒有被簾線增強(qiáng)的輪胎部件。
[0010]術(shù)語“正在處理的輪胎”用于表示輪胎的成形支撐件，其中，輪胎的至少一個部件部分鋪設(shè)在支撐件自身上。
[0011]術(shù)語輪胎的“部件”用于表示適于在輪胎中或者其部分中行使功能的任何部件，例如選自:襯里、下層襯里、胎體簾布層/多個胎體簾布層、下層帶束插入件、相對于彼此交叉以及零度類型的帶束條、用于胎面帶的粘合片、胎面帶、側(cè)壁、胎圈芯、胎圈填料、織物、金屬增強(qiáng)插入件或者僅僅由彈性體材料制成的插入件、防磨插入件、側(cè)壁插入件。
[0012]術(shù)語“檢測圖像”用于表示以給定的時間間隔通過檢測裝置輸出并且由該裝置的檢測窗口上的入射射線限定的模擬或者數(shù)字格式的點矩陣或者幀，所述時間間隔也稱作“曝光時間”或者“快門速度”。在該時間間隔期間，裝置保持不間斷地有效，使得在單張圖像(即，檢測到的圖像)中反映在該時間間隔中入射在檢測窗口上的所有可檢測的射線。配合形成圖像的射線(或多條射線)是檢測裝置敏感的射線，并且所述射線例如包括在給定間隔的波長中。
[0013]本 申請人:發(fā)現(xiàn)，參照上述初級半成品，可能降低輪胎質(zhì)量的一個極其重要的因素是錯誤地定位初級半成品。實際上可能發(fā)生的是，沒有相對于構(gòu)造鼓的中心線平面準(zhǔn)確地定位條狀元件，或者沒有以周向均勻并且相對于所述構(gòu)造鼓的對稱面對稱的方式定位先前在翻起步驟期間鋪設(shè)的增強(qiáng)元件。類似地，由彈性體材料制成且沒有用簾線增強(qiáng)的輪胎部件(例如通過鋪設(shè)布置成軸向毗鄰并且至少部分徑向疊置的匝獲得所述輪胎部件)可能沒有利用相對于構(gòu)造鼓的對稱面正確地定位來構(gòu)造。
[0014]本 申請人:發(fā)現(xiàn)，可能對輪胎質(zhì)量造成不利影響的另一個因素是在鋪設(shè)初級半成品時可能存在的錯誤，這可以導(dǎo)致初級半成品之間縱向未對準(zhǔn)，或者因沒有實施鋪設(shè)而缺乏初級半成品。
[0015]本 申請人:發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有技術(shù)解決方案不能以簡單、廉價且可靠的方式檢測鋪設(shè)初級半成品過程中可能存在的錯誤或者誤差。具體地，在不縮短制造和/或鋪設(shè)初級半成品的時間的前提下有效應(yīng)用已知類型的控制系統(tǒng)需要使用高性能的檢測結(jié)構(gòu)、以及擁有極其復(fù)雜的硬件/軟件的設(shè)備。
[0016]本 申請人:發(fā)現(xiàn)，能夠通過在驅(qū)動成形鼓期間相對于傳統(tǒng)“瞬時”圖像以更長的曝光時間檢測圖像和照片，來大幅減少系統(tǒng)所需的硬件以及所使用的軟件的計算復(fù)雜性。因此，這種檢測的圖像或者照片反映在成形鼓旋轉(zhuǎn)期間在成形鼓上正在處理的輪胎的瞬時圖像在曝光時間期間的集合或者疊加。換言之，鼓在檢測裝置之前以給定速度旋轉(zhuǎn)；檢測裝置設(shè)定成使得檢測圖像的曝光時間允許在單幅圖像中反映正在處理的輪胎的、尺寸遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于能夠由單幅“瞬時”圖像反映的部分的尺寸的部分。然而，如果檢測的圖像的尺寸基本與假定瞬時圖像的尺寸相等，通過疊加(或者，如上更加精確所述，通過集合)在整個曝光時間期間檢測到的假定瞬時圖像來表示正在處理的輪胎的較大部分。
[0017]最后，本 申請人:發(fā)現(xiàn)，可以通過如上所述檢測一個或多個圖像并且將所述圖像與參考參數(shù)比較以驗證是否如規(guī)定的那樣鋪設(shè)了所述初級半成品或者是否根據(jù)設(shè)計規(guī)定定位初級半成品，來控制初級半成品的鋪設(shè)。這種參考參數(shù)可以包括反映優(yōu)化鋪設(shè)的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)和源自先前檢測操作的數(shù)據(jù)。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0018]根據(jù)第一方面，本發(fā)明涉及一種用于在構(gòu)造車輪輪胎的處理中控制初級半成品的鋪設(shè)的方法。
[0019]上述方法包括以下行為中的至少一個:
[0020]-驅(qū)動正在處理的輪胎以介于大約π/8rad/s和大約6 rad/s之間的轉(zhuǎn)速圍繞旋轉(zhuǎn)軸線旋轉(zhuǎn)，所述輪胎具有包括一個或多個初級半成品的徑向外表面；
[0021]-將第一電磁射線發(fā)送至所述徑向外表面，所述徑向外表面產(chǎn)生了對應(yīng)的第一反射射線；
[0022]-通過第一檢測裝置檢測反映所述第一反射射線的至少一個第一圖像；
[0023]-控制所述第一檢測裝置，使得用于檢測所述至少一個第一圖像的曝光時間介于大約0.1s和大約1s之間；
[0024]-實施所述至少一個第一圖像和一個或多個參考數(shù)據(jù)之間的第一比較；
[0025]-根據(jù)所述第一比較產(chǎn)生第一通知信號。
[0026]本 申請人:認(rèn)為，上述方法通過應(yīng)用相對簡單廉價的硬件和軟件系統(tǒng)，允許有效地控制將初級半成品正確鋪設(shè)在成形鼓上，并且因此可隨著時間流逝重復(fù)地獲得根據(jù)設(shè)計規(guī)范構(gòu)造的輪胎。
[0027]根據(jù)第二方面，本發(fā)明涉及一種用于在構(gòu)造車輪輪胎的處理中控制初級半成品的鋪設(shè)的設(shè)備。
[0028]上述設(shè)備可以包括:
[0029]-致動構(gòu)件，所述致動構(gòu)件用于驅(qū)動正在處理的輪胎以介于大約π/8rad/s和大約6 π rad/S之間的轉(zhuǎn)速圍繞旋轉(zhuǎn)軸線旋轉(zhuǎn)，所述輪胎具有包括一個或多個初級半成品的徑向外表面；
[0030]-第一發(fā)射器裝置，所述第一發(fā)射器裝置適于將第一電磁射線發(fā)送到所述徑向外表面，所述徑向外表面產(chǎn)生對應(yīng)的第一反射射線；
[0031]-第一檢測裝置，所述第一檢測裝置適于檢測反映所述第一反射射線的至少一個第一圖像；
[0032]-控制單元。
[0033]上述控制單元優(yōu)選地構(gòu)造成用于:
[0034]a)控制所述第一檢測裝置，使得用于檢測所述至少一個第一圖像的第一曝光時間介于大約0.1s和大約1s之間；
[0035]b)實施所述至少一個第一圖像和一個或多個參考數(shù)據(jù)之間的第一比較；
[0036]c)根據(jù)所述第一比較產(chǎn)生第一通知信號。
[0037]根據(jù)第三方面，本發(fā)明涉及一種用于在構(gòu)造車輪輪胎的處理中控制初級半成品的鋪設(shè)的方法。
[0038]上述方法包括所述行為中的至少一個:
[0039]-驅(qū)動正在處理的輪胎圍繞旋轉(zhuǎn)軸線旋轉(zhuǎn),所述輪胎具有包括一個或多個初級半成品的徑向外表面；
[0040]-將第一電磁射線發(fā)送至所述徑向外表面，所述徑向外表面產(chǎn)生對應(yīng)的第一反射射線；
[0041]-通過第一檢測裝置檢測反映所述第一反射射線的至少一個第一圖像；
[0042]-控制所述第一檢測裝置，使得用于檢測所述至少一個第一圖像的第一曝光時間至少等于所述正在處理的輪胎圍繞所述旋轉(zhuǎn)軸線旋轉(zhuǎn)一整圈所用的時間；
[0043]-實施所述至少一個第一圖像和一個或多個參考數(shù)據(jù)之間的第一比較；
[0044]-根據(jù)所述第一比較產(chǎn)生第一通知信號。
[0045]根據(jù)第四方面，本發(fā)明涉及一種用于在構(gòu)造車輪輪胎的處理中控制初級半成品的鋪設(shè)的設(shè)備。
[0046]上述設(shè)備可以包括:
[0047]-致動構(gòu)件,所述致動構(gòu)件用于驅(qū)動正在處理的輪胎圍繞旋轉(zhuǎn)軸線旋轉(zhuǎn),所述輪胎具有包括一個或多個初級半成品的徑向表面；
[0048]-第一發(fā)射器裝置，所述第一發(fā)射器裝置適于將第一電磁射線發(fā)送至所述徑向外表面，所述徑向外表面產(chǎn)生對應(yīng)的第一反射射線；
[0049]-第一檢測裝置，所述第一檢測裝置適于檢測反映所述第一反射射線的至少一個第一圖像；
[0050]-控制單元。
[0051]上述控制單元優(yōu)選地構(gòu)造成用于:
[0052]a)控制所述第一檢測裝置，使得用于檢測所述至少一個第一圖像的第一曝光時間至少等于所述正在處理的輪胎圍繞所述旋轉(zhuǎn)軸線旋轉(zhuǎn)一整圈所用的時間；
[0053]b)實施所述至少一個第一圖像和一個或多個參考數(shù)據(jù)之間的第一比較；
[0054]c)根據(jù)所述第一比較產(chǎn)生第一通知信號。
[0055]根據(jù)上述方面中的一個或多個，本發(fā)明可以具有下述優(yōu)選特征中的一個或多個。
[0056]優(yōu)選地，所述正在處理的輪胎的轉(zhuǎn)速介于大約π /8rad/s和大約6 π rad/s之間。
[0057]特別地，所述正在處理的輪胎的轉(zhuǎn)速介于大約π /2rad/s和大約2 π rad/s之間。
[0058]優(yōu)選地，用于檢測所述至少一個第一圖像的第一曝光時間介于大約0.1s和大約1s之間。
[0059]特別地，所述第一曝光時間介于大約Is和大約4s之間。
[0060]優(yōu)選地，所述第一曝光時間至少等于所述正在處理的輪胎圍繞所述旋轉(zhuǎn)軸線旋轉(zhuǎn)一整圈所用的時間。
[0061]因此，單幅圖像可以在占據(jù)小得多的存儲空間的情況下以簡單的方式完全反映正在處理的輪胎的外表面。
[0062]優(yōu)選地，所述控制單元可以構(gòu)造成還用于控制上述致動構(gòu)件，特別地用于調(diào)節(jié)正在處理的輪胎的轉(zhuǎn)速。
[0063]優(yōu)選地，所述第一檢測裝置設(shè)置有檢測窗口，所述檢測窗口具有基本平行于所述正在處理的輪胎的旋轉(zhuǎn)軸線的主延伸方向。
[0064]優(yōu)選地，所述第一檢測裝置定位在第一檢測平面上，所述第一檢測平面將所述第一檢測裝置連結(jié)到所述徑向外表面的被所述第一電磁射線照射的第一入射區(qū)域。
[0065]優(yōu)選地，設(shè)置有用于將所述第一電磁射線向所述徑向外表面發(fā)射的至少一個第一發(fā)射器裝置。
[0066]優(yōu)選地，所述第一發(fā)射器裝置定位在第一發(fā)射平面上，所述第一發(fā)射平面將所述第一發(fā)射器裝置連結(jié)到徑向外表面的由所述第一電磁射線照射的第一入射區(qū)域。
[0067]優(yōu)選地，所述第一檢測平面與所述第一發(fā)射平面限定了介于大約30°和大約60°之間的角度。特別地，所述角度可以基本等于大約45°。
[0068]這允許獲得在由正在處理的輪胎的徑向外表面反射的光量和可以確定輻射輪廓的精度之間的理想折中。
[0069]優(yōu)選地，所述一個或多個參考數(shù)據(jù)包括根據(jù)由所述第一檢測裝置實施的先前檢測操作限定的數(shù)據(jù)。
[0070]這允許驗證隨著時間流逝所實施的操作(諸如，半成品鋪設(shè)操作)的可重復(fù)性。
[0071]優(yōu)選地，所述一個或多個參考數(shù)據(jù)包括根據(jù)先前檢測操作在統(tǒng)計基礎(chǔ)上限定的數(shù)據(jù)。
[0072]因此，這允許以簡單且快速的方式計算可以提供關(guān)于輪胎整體質(zhì)量的指示的匯總參數(shù)。
[0073]優(yōu)選地，所述第一通知信號反映所述初級半成品中的一個或多個的定位。
[0074]優(yōu)選地，所述第一通知信號反映沒有鋪設(shè)至少一個初級半成品。
[0075]優(yōu)選地，第二電磁射線由第二發(fā)射器裝置發(fā)射到所述徑向外表面，所述徑向外表面產(chǎn)生對應(yīng)的第二反射射線。然后通過第二檢測裝置檢測反映所述第二反射射線的至少一個第二圖像?？刂扑龅诙z測裝置，使得用于檢測反映所述第二反射射線的所述至少一個第二圖像的第二曝光時間介于大約0.1s和大約1s之間。然后，實施所述至少一個第二圖像和一個或多個參考數(shù)據(jù)之間的第二比較，根據(jù)所述第二比較產(chǎn)生第二通知信號。
[0076]優(yōu)選地，所述第二曝光時間介于大約Is和大約4s之間。
[0077]優(yōu)選地，所述第二曝光時間至少等于所述正在處理的輪胎圍繞所述旋轉(zhuǎn)軸線旋轉(zhuǎn)一整圈所用的時間
[0078]優(yōu)選地，所述第一和第二曝光時間基本彼此相等。
[0079]優(yōu)選地，所述第一電磁射線照射在所述徑向外表面的第一區(qū)域上，所述第二電磁射線照射在所述徑向外表面的第二區(qū)域上。
[0080]特別地，所述第一和第二區(qū)域由所述正在處理的輪胎的相應(yīng)軸向端部區(qū)域來限定。
[0081]因此，第一和第二圖像可以反映正在處理的輪胎的不同部分(諸如正在處理的輪胎的軸向端部)，以便證實正確鋪設(shè)了增強(qiáng)元件和/或單個條狀元件的相反兩端。
[0082]優(yōu)選地，所述第一電磁射線的波長介于500nm和700nm之間
[0083]特別地,所述第一電磁射線的波長介于600nm和650nm之間。
[0084]優(yōu)選地，所述第二電磁射線的波長介于500nm和700nm之間。
[0085]特別地，所述第二電磁射線的波長介于600nm和650nm之間。
[0086]優(yōu)選地，所述第一和第二電磁射線基本具有相同的波長。
[0087]優(yōu)選地，所述第一檢測裝置包括CXD傳感器，所述CXD傳感器以8位或者16位操作。
[0088]優(yōu)選地，所述第二檢測裝置包括CXD傳感器，所述CXD傳感器以8位或者16位操作。
[0089]優(yōu)選地，所述控制單元還構(gòu)造成用于:
[0090]a’ )控制所述第二檢測裝置，使得用于檢測所述至少一個第二圖像的第二曝光時間介于大約0.1s和大約1s之間；
[0091]b’ )實施所述至少一個第二圖像和一個或多個參考數(shù)據(jù)之間的所述第二比較；
[0092]c’ )根據(jù)所述第二比較產(chǎn)生所述第二通知信號。
[0093]優(yōu)選地，所述第二檢測裝置設(shè)置有第二檢測窗口，所述第二檢測窗口具有基本平行于所述正在處理的輪胎的旋轉(zhuǎn)軸線的主延伸方向。
[0094]優(yōu)選地，所述第二檢測裝置定位在第二檢測平面上，所述第二檢測平面將所述第二檢測裝置連結(jié)到所述徑向外表面的由所述第二電磁射線照射的第二入射區(qū)域。
[0095]優(yōu)選地，所述第二發(fā)射器裝置定位在第二發(fā)射平面上，所述第二發(fā)射平面將所述第二發(fā)射器裝置連結(jié)到徑向外表面的由所述第二電磁射線照射的第二入射區(qū)域。
[0096]優(yōu)選地，所述第二檢測平面與所述第二發(fā)射平面限定了介于大約30°和大約60°之間的角度。
[0097]優(yōu)選地，所述正在處理的輪胎的成形支撐件具有直徑介于18”和24”之間的圓柱形狀或者環(huán)面形狀。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0098]從非限制的優(yōu)選實施例的詳細(xì)描述中，其它特征和優(yōu)勢將更加顯而易見。
[0099]在下文中參照附圖且僅僅以非限制性示例的方式進(jìn)行描述，附圖中:
[0100]圖1示意性示出了根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備的側(cè)視圖；
[0101]圖2示意性示出了圖1的設(shè)備的平面圖；
[0102]圖3a、3d、4a、4d示意性示出了正在處理的輪胎的一些初級半成品零件；
[0103]圖3b、3e、4b、4e示出了圖3a、3d、4a、4d的半成品的切向輪廓；
[0104]圖3c、3f、4c、4f示出了通過應(yīng)用于圖3a、3d、4a、4d的半成品的根據(jù)本發(fā)明的方法和設(shè)備獲得的圖像；
[0105]圖5示意性示出了圖1的設(shè)備的元件零件的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。

【具體實施方式】
[0106]參照附圖，用10表示正在處理的輪胎，所述輪胎包括初級半成品，通過根據(jù)本發(fā)明的方法和/或設(shè)備控制所述初級半成品的鋪設(shè)。
[0107]正在處理的輪胎10包括例如圓柱狀或者環(huán)面狀的成形支撐件50。
[0108]在圖1中示意性示出了成形支撐件50。
[0109]優(yōu)選地，成形支撐件50的直徑介于18”和24”之間，并且特別地介于18”和22”之間。
[0110]正在處理的輪胎10具有徑向外表面20，所述徑向外表面20包括一個或多個初級半成品30。
[0111]優(yōu)選地，初級半成品30可以是條狀元件(圖3a)和/或增強(qiáng)元件(圖4a)。
[0112]初級半成品30鋪設(shè)在成形支撐件50上的徑向外部位置，以便提供正在處理的輪胎10的一個或多個部件。
[0113]本發(fā)明特別地應(yīng)用于已經(jīng)鋪設(shè)初級半成品30的情況。特別地，根據(jù)本發(fā)明的方法和設(shè)備允許證實是否根據(jù)工程規(guī)范鋪設(shè)初級半成品30并且因此證實所獲得的輪胎是否滿足所要求的結(jié)構(gòu)和質(zhì)量特征。
[0114]正在處理的輪胎10圍繞其旋轉(zhuǎn)軸線X旋轉(zhuǎn)(圖1、2)。
[0115]優(yōu)選地,通過在圖2中示意性示出的適當(dāng)?shù)闹聞訕?gòu)件40實施這種運動。
[0116]致動構(gòu)件40可以包括機(jī)電致動器和/或適當(dāng)?shù)倪\動控制裝置，其目的是使得正在處理的輪胎10旋轉(zhuǎn)運動。
[0117]優(yōu)選地，正在處理的輪胎10的轉(zhuǎn)速ω介于大約31/8^(1/8和大約6 311^(1/8之間。
[0118]更加特別地,正在處理的輪胎10的轉(zhuǎn)速ω介于大約π /2rad/s和大約2 Ti rad/s之間。
[0119]根據(jù)本發(fā)明的方法包括將第一電磁射線Rla發(fā)送到正在處理的輪胎10的徑向外表面20。
[0120]優(yōu)選地，通過第一發(fā)射器裝置100產(chǎn)生第一電磁射線Rla。
[0121]特別地，第一發(fā)射器裝置100可以是激光發(fā)射器。
[0122]第一電磁射線Rla的波長可以介于500nm和700nm之間。
[0123]更加特別地，該波長可以介于600nm和650nm之間。
[0124]優(yōu)選地，第一電磁射線Rla是所謂的“激光片”，即這樣的射線，當(dāng)其入射在基本正交于其傳播方向的表面上時產(chǎn)生大體直線、實際上為矩形的光形式，所述光形式相對于其它光形式具有更大的尺寸。
[0125]實際發(fā)生的是由第一發(fā)射器裝置100發(fā)射的激光束在其通過時因徑向外表面20的輪廓而發(fā)生變形；將在下文更加詳細(xì)描述的第一檢測裝置110由此通過被反射的射線產(chǎn)生反映該現(xiàn)象的第一圖像Al。
[0126]優(yōu)選地，第一發(fā)射器裝置100定位在第一發(fā)射平面EAl中，所述第一發(fā)射平面EAl將第一發(fā)射器裝置100自身連結(jié)到徑向外表面20的第一電磁射線Rla入射的部分上。
[0127]實踐中，第一發(fā)射平面EAl描述了第一電磁射線Rla在其傳播過程遵循的從第一發(fā)射器裝置100至正在處理的輪胎10的徑向外表面20的路徑。
[0128]實際上，如上所述，第一電磁射線Rla基本上是“激光片”，并且可以將所述第一電磁射線Rla傳播所沿的空間區(qū)域比作平面表面。
[0129]在優(yōu)選實施例中，第一發(fā)射平面EAl與通過正在處理的輪胎的旋轉(zhuǎn)軸線X和第一電磁射線Rla的第一入射區(qū)域Zl的通過平面形成的角度介于30°和60°之間，并且特別地基本等于大約45°。
[0130]圖1示意性示出了第一發(fā)射平面EAl的位于正交于正在處理的輪胎10的旋轉(zhuǎn)軸線X且通過第一入射區(qū)域Zl的平面上的線。
[0131]徑向外表面20至少部分反射第一電磁射線Rla ;由此，這允許獲得對應(yīng)的第一反射射線Rib。
[0132]通過第一檢測裝置110檢測反映所述第一反射射線Rlb的至少一個第一圖像Al。
[0133]換言之，第一檢測裝置110定位成由第一反射射線Rlb照射，并且由于其感測能力，能夠至少產(chǎn)生反映由此接收的射線的上述第一圖像Al。
[0134]優(yōu)選地，第一檢測裝置110包括數(shù)字?jǐn)z像機(jī)，適當(dāng)?shù)乜刂扑鰯?shù)字?jǐn)z像機(jī)以便提供靜態(tài)圖像作為輸出，就好像其是照相機(jī)一樣。替代地，第一檢測裝置110可以包括照相機(jī)。
[0135]優(yōu)選地，第一檢測裝置110可以包括一個或多個例如單色型的CXD傳感器；所述CXD傳感器可以以8位或者16位操作。
[0136]優(yōu)選地，第一檢測裝置110可以包括透鏡(未示出)。
[0137]優(yōu)選地，第一檢測裝置110設(shè)置有檢測窗口 IlOa(在圖5中示意性示出)，所述檢測窗口具有基本平行于正在處理的輪胎10的旋轉(zhuǎn)軸線X的主延伸方向Dl (圖2、5)。
[0138]就幾何位置而言，第一檢測裝置110定位在第一檢測平面DAl上，所述第一檢測平面DAl將第一檢測裝置110自身連結(jié)到所述徑向外表面20的由第一電磁射線Rla照射的部分(即，上述第一入射區(qū)域Zl)。
[0139]在圖1和圖2中示意性示出了該第一檢測平面DAl。
[0140]優(yōu)選地，第一檢測平面DAl是正在處理的輪胎10的旋轉(zhuǎn)軸線X以及第一電磁射線Rla的第一入射區(qū)域Zl的通過平面。
[0141]優(yōu)選地，第一檢測平面DAl與第一發(fā)射平面EAl限定了介于大約30°和大約60°之間，并且特別地基本等于大約45°的角α?。
[0142]圖1示意性示出了第一檢測平面DAl的在正交于正在處理的輪胎10的旋轉(zhuǎn)軸線X并且通過第一入射區(qū)域Zl的平面上的線。
[0143]優(yōu)選地，控制第一檢測裝置110，使得用于檢測第一圖像Al的第一曝光時間Tl介于大約0.1s和大約1s之間。
[0144]特別地，第一曝光時間Tl可以介于大約Is和大約4s之間。
[0145]在優(yōu)選實施例中，第一曝光時間Tl至少等于正在處理的輪胎10圍繞其旋轉(zhuǎn)軸線X旋轉(zhuǎn)一整圈所用的時間。
[0146]因此，通過優(yōu)選地與正在處理的輪胎10的轉(zhuǎn)速ω相結(jié)合適當(dāng)?shù)卣{(diào)整第一曝光時間Tl，允許獲得第一圖像Al。第一圖像Al總結(jié)了與在第一曝光時間Tl期間徑向外表面20的被第一電磁射線Rla照射并且由第一檢測裝置110檢測的圓周部分相關(guān)的信息。
[0147]換言之，由于正在處理的輪胎10的旋轉(zhuǎn)運動，在每個瞬間均照射并且檢測徑向外表面20的不同圓周部分(實際上，應(yīng)當(dāng)記住的是，第一發(fā)射器裝置100和第一檢測裝置110基本相對于參考系固定，正在處理的輪胎10相對于所述參考系旋轉(zhuǎn)運動)。
[0148]因此將通過虛擬瞬時圖像的一類疊加形成第一圖像Al，所述虛擬瞬時圖像均反映徑向外表面20的具有極小圓周尺寸的相應(yīng)部分。
[0149]在檢測第一圖像Al之后，實施第一圖像Al和一個或多個參考數(shù)據(jù)Ref之間的第一比較。根據(jù)第一比較產(chǎn)生第一通知信號NS1。
[0150]參考數(shù)據(jù)Ref可以包括根據(jù)由第一檢測裝置110實施的先前檢測操作限定的數(shù)據(jù)。
[0151]實踐中，將第一圖像Al與由第一檢測裝置110檢測的先前類似圖像比較，以便證實隨著時間流逝是否以均勻一致的方式實施各種鋪設(shè)操作。
[0152]作為附加方案或者替代方案，參考數(shù)據(jù)Ref可以包括根據(jù)先前檢測操作在統(tǒng)計基礎(chǔ)上限定的數(shù)據(jù)。因此，使用統(tǒng)計標(biāo)準(zhǔn)，能夠限定例如反映輪胎的整體質(zhì)量的匯總值，這可以允許確定輪胎自身是否可以用于其它處理和/或商業(yè)化，或者確定所述輪胎是否因為缺乏所需的特征而應(yīng)被丟棄。
[0153]在一個實施例中，第一通知信號NSl可以反映徑向外表面20的一部分的一個或多個初級半成品30的定位。
[0154]作為附加方案或者替代方案，第一通知信號NSl可以反映沒有鋪設(shè)一個或多個初級半成品30。
[0155]以示例的方式，可以考慮圖3a-3c、3d-3f和4a-4c、4d_4f。
[0156]圖3a示意性示出了由布置成相互毗鄰的多個條狀元件30形成的徑向外表面20。
[0157]如可觀察的那樣，條狀元件精確且沒有錯誤地鋪設(shè)。
[0158]圖3a仍然示意性示出了入射到徑向外表面20的第一電磁射線Rla、R2a( S卩，上述“激光片”)。
[0159]圖3b示意性示出了在這種情況中正在處理的輪胎10的切向輪廓，而圖3c示意性示出了檢測到的第一圖像Al。
[0160]第一圖像Al大體由兩個基礎(chǔ)光段BI和鋪設(shè)光段B2形成，所述兩個基礎(chǔ)光段BI反映鋪設(shè)有條狀元件30的表面，所述鋪設(shè)光段B2反映鋪設(shè)的條狀元件。
[0161]如上所述，鋪設(shè)精確并且正確地實施。因此，光段BI和B2均勻、清晰且相對彼此各易區(qū)別。
[0162]圖3d替代性地示出了當(dāng)鋪設(shè)條狀元件時發(fā)生定位錯誤的情況。
[0163]圖3e以低密度圖形示出了右側(cè)上的多余輪廓部分。
[0164]圖3f示出了在以下情況中檢測到的第一圖像Al ;除了兩個基礎(chǔ)光段BI和鋪設(shè)光段B2之外，還發(fā)現(xiàn)了明顯比其它光段強(qiáng)度低的另一側(cè)向光段B3。這是由于單個錯誤定位的條狀元件，所述單個錯誤定位的條狀元件在被照亮并且檢測的一段時間內(nèi)導(dǎo)致由側(cè)向光段B3表示的光束的短暫變形。
[0165]實踐中，在第一曝光時間Tl期間，通過將被鋪設(shè)表面和條狀元件反射的射線疊加而給出光段BI和B2。假設(shè)鋪設(shè)表面總是與自身相同并且假設(shè)鋪設(shè)的條狀元件的大部分提供相同的輪廓，則光段BI和B2強(qiáng)度特別高并且被很好地描繪出輪廓。
[0166]反之亦然，光段B3源自在明顯短于第一總曝光時間Tl的時間段期間被照射并且檢測到的僅僅一個條狀元件。因此，光段B3的強(qiáng)度明顯較低。
[0167]因此，通過分析第一圖像Al導(dǎo)出的第一通知信號NSl可以反映一個或多個初級半成品30的定位。
[0168]圖4a_4c和4d_4f指的是增強(qiáng)元件的鋪設(shè)。
[0169]圖4a不意性不出了徑向外表面20的一部分的一系列增強(qiáng)兀件30。
[0170]圖4b示出了外表面20的切向輪廓，圖4c示出了第一圖像Al。
[0171]各種增強(qiáng)元件沒有以完全周向的方式定位。這在第一圖像Al中的光段C中可發(fā)現(xiàn)，所述光段C因其強(qiáng)度較低而與光段B1、B2明顯區(qū)分開。
[0172]針對這種類型的第一圖像Al可以實施的分析在于評估光段C是長于還是短于給定閾值，以便確定鋪設(shè)中的誤差是否可視為接受，或者確定是否應(yīng)該丟棄正在處理的輪胎。
[0173]圖4d示出發(fā)生了導(dǎo)致沒有鋪設(shè)增強(qiáng)元件中的一個的錯誤的情況。
[0174]由于在給定時間段期間，不存在第一電磁射線Rla能夠照射的初級半成品，并且由此由鋪設(shè)表面(即，鋪設(shè)有初級半成品30的表面，由成形支撐件的外表面或者已經(jīng)位于成形支撐件自身上的輪胎部件構(gòu)成)全部反射，所以第一圖像Al除了基本光段BI和鋪設(shè)光段B2之外還具有輔助光段B4。
[0175]由此在這種情況中，第一通知信號NSl可以提供關(guān)于沒有鋪設(shè)初級半成品的事實的指示。
[0176]在一個優(yōu)選實施例中，除了第一圖像Al之外檢測第二圖像A2。
[0177]優(yōu)選地，相對于第一圖像Al使用相同的操作模式檢測第二圖像A2。
[0178]由此根據(jù)本發(fā)明的方法可以包括將第二電磁射線R2a發(fā)送到正在處理的輪胎10的徑向外表面20。
[0179]優(yōu)選地，通過第二發(fā)射器裝置200產(chǎn)生第二電磁射線R2a。
[0180]特別地，第二發(fā)射器裝置200可以是激光發(fā)射器。
[0181]第二電磁射線R2a的波長可以介于大約500nm和大約700nm之間。
[0182]更加特別地,該波長可以介于大約600nm和大約650nm之間。
[0183]優(yōu)選地，第一和第二電磁射線Rla、R2a的波長基本相等。
[0184]優(yōu)選地，第二電磁射線R2a是所謂的“激光片”，即這樣的射線，在照射到基本正交于其傳播方向的表面上時，產(chǎn)生大體直線、實際上為矩形的光形式，所述光形式相對于其它光形式具有更大的尺寸。
[0185]因此，產(chǎn)生了與以上參照第一電磁射線Rla所述現(xiàn)象相同的現(xiàn)象。
[0186]優(yōu)選地，第二發(fā)射器裝置200定位在第二發(fā)射平面EA2上，所述第二發(fā)射平面EA2將第二發(fā)射器裝置200自身與徑向外表面20的由第二電磁射線R2a照射的部分相連。
[0187]實踐中，第二發(fā)射平面EA2描述了由第二電磁射線R2a在其傳播過程中遵循的從第二發(fā)射器裝置200至正在處理的輪胎10的徑向外表面20的路徑。
[0188]實際上，如上所述，第二電磁射線R2a基本是“激光片”，并且第二電磁射線R2a傳播所沿的空間區(qū)域可以與平面表面類似。
[0189]在一個優(yōu)選實施例中，第二發(fā)射平面EA2與通過正在處理的輪胎10的旋轉(zhuǎn)軸線X并通過第二電磁射線R2a的第二入射區(qū)域Z2的平面形成的角度介于30°和60°之間，并且更加特別地基本等于大約45°。
[0190]圖1示意性示出了第二發(fā)射平面EA2的位于正交于正在處理的輪胎10的旋轉(zhuǎn)軸線X且通過第一入射區(qū)域Zl的平面上的線。
[0191]第二電磁射線R2a至少部分地由徑向外表面20反射；這允許獲得對應(yīng)的第二反射射線R2b。
[0192]換言之，第二檢測裝置210定位成由第二反射射線R2b照射，并且由于其傳感器能力，其能夠至少產(chǎn)生反映這樣接收的射線的上述第二圖像A2。
[0193]優(yōu)選地，第二檢測裝置210包括數(shù)字?jǐn)z像機(jī)，適當(dāng)?shù)乜刂茢?shù)字?jǐn)z像機(jī)以便提供靜態(tài)圖像作為輸出，就好像其是照相機(jī)一樣。替代地，第二檢測裝置210可以包括照相機(jī)。
[0194]優(yōu)選地，第二檢測裝置210可以包括一個或多個例如單色型的CXD傳感器；所述CXD傳感器可以以8位或者16位操作。
[0195]優(yōu)選地，第二檢測裝置210可以包括透鏡(未示出)。
[0196]優(yōu)選地，第二檢測裝置210設(shè)置有檢測窗口 210a(在圖5中示意性示出)，所述檢測窗口具有基本平行于正在處理的輪胎10的旋轉(zhuǎn)軸線X的主延伸方向D2(圖2、5)。
[0197]就幾何定位而言，第二檢測裝置210定位在第二檢測平面DA2上，所述第二檢測平面DA2將第二檢測裝置210自身連結(jié)到所述徑向外表面20的由第二電磁射線R2a照射的部分(即，所述第二入射區(qū)域Z2)。
[0198]在圖1和圖2中示意性示出了該第二檢測平面DA2。
[0199]優(yōu)選地，第二檢測平面DA2是通過正在處理的輪胎10的旋轉(zhuǎn)軸線X以及第二電磁射線R2a的第二入射區(qū)域Z2的平面。
[0200]優(yōu)選地，第二檢測平面DA2與第二發(fā)射平面EA2限定了介于大約30°和大約60°之間，并且特別地基本等于大約45°的角α2。
[0201]圖1示意性示出了第二檢測平面DA2的在正交于正在處理的輪胎10的旋轉(zhuǎn)軸線X并且通過第一入射區(qū)域Zl的平面上的線。
[0202]優(yōu)選地，控制第二檢測裝置210，使得用于檢測第二圖像Α2的第二曝光時間Τ2介于大約0.1s和大約1s之間。
[0203]特別地，第二曝光時間Τ2可以介于大約Is和大約4s之間。
[0204]優(yōu)選地，第一曝光時間Tl和第二曝光時間T2基本相同。
[0205]在一個優(yōu)選實施例中，第二曝光時間T2至少等于正在處理的輪胎10圍繞其旋轉(zhuǎn)軸線X旋轉(zhuǎn)一整圈所用的時間。
[0206]因此，通過優(yōu)選地與正在處理的輪胎10的轉(zhuǎn)速ω相結(jié)合地適當(dāng)調(diào)整第二曝光時間Τ2，允許獲得第二圖像Α2。第二圖像Α2總結(jié)了與在第二曝光時間Τ2期間徑向外表面20的由第二電磁射線R2a照射并且由第二檢測裝置210檢測的圓周部分相關(guān)的信息。
[0207]因此，通過虛擬瞬時圖像的一類疊加形成第二圖像A2，所述虛擬瞬時圖像均反映徑向外表面20的具有極小圓周尺寸的相應(yīng)部分。
[0208]在檢測第二圖像A2之后，實施該第二圖像A2和一個或多個參考數(shù)據(jù)Ref之間的第二比較。根據(jù)第二比較產(chǎn)生第二通知信號NS2。
[0209]參考數(shù)據(jù)Ref可以包括根據(jù)由第二檢測裝置210實施的先前檢測操作限定的數(shù)據(jù)。實踐中，將第二圖像A2與由第二檢測裝置210檢測的先前類似圖像進(jìn)行比較，以便證實隨著時間流逝是否以均勻一致的方式實施各種鋪設(shè)操作。
[0210]作為附加方案或者替代方案，參考數(shù)據(jù)Ref可以包括根據(jù)先前檢測操作在統(tǒng)計基礎(chǔ)上限定的數(shù)據(jù)。因此，使用統(tǒng)計標(biāo)準(zhǔn)，能夠限定例如反映輪胎的整體質(zhì)量的匯總值，這可以允許確定輪胎自身是否可以用于其它處理和/或商業(yè)化，或者確定所述輪胎是否因為缺乏所需的特征而應(yīng)被丟棄。
[0211 ] 在一個實施例中，第二通知信號NS2可以反映徑向外表面20的一部分的一個或多個初級半成品30的定位。
[0212]第一和第二電磁射線Rla、R2a可以有利地用于監(jiān)測正在處理的輪胎10的軸向不同部分。
[0213]優(yōu)選地，第一電磁射線Rla照射在徑向外表面20的第一區(qū)域Zl上，并且第二電磁射線R2a照射在徑向外表面20的第二區(qū)域Z2上。
[0214]特別地，第一和第二區(qū)域Zl、Z2可以由正在處理的輪胎10的相應(yīng)軸向端部區(qū)域E1、E2限定。
[0215]通常，在無損于第一和第二圖像A1、A2反映正在處理的輪胎10的不同部分的事實的情況下，第一和第二圖像A1、A2可以看作彼此非常相似。因此，圖3(3、314(:、4€也可以認(rèn)為反映第二圖像A2。
[0216]還可以根據(jù)第一圖像Al和第二圖像A2之間的比較產(chǎn)生第一和/或第二通知信號NSU NS2,以便提供與正在處理的輪胎10的對應(yīng)部分的對稱性/不對稱性相關(guān)的信息。換言之，關(guān)于性能的第一和/或第二比較的參考數(shù)據(jù)Ref可以分別包括反映第二和/或第一圖像A2、A1的數(shù)據(jù)。
[0217]在一個實施例中，在所謂的“滾動”期間可以檢測第一和/或第二圖像A1、A2，以便不會以任何方式影響時間周期(即，總輪胎構(gòu)造時間或者其一部分)。
[0218]如提及的那樣，本發(fā)明還涉及一種用于在構(gòu)造車輪輪胎的處理中控制初級半成品的鋪設(shè)的設(shè)備。
[0219]在圖2中示意性示出的該設(shè)備整體用附圖標(biāo)記90表示。
[0220]設(shè)備90包括致動構(gòu)件40，所述致動構(gòu)件40作用在正在處理的輪胎10上。
[0221]設(shè)備90還包括第一發(fā)射器裝置100和第一檢測裝置110。
[0222]設(shè)備90還包括控制單元300，所述控制單元300構(gòu)造成用于控制第一檢測裝置110，使得用于檢測第一圖像Al的第一曝光時間Tl是上述的一個。
[0223]優(yōu)選地，控制單元300可以構(gòu)造成還用于控制上述致動構(gòu)件40，特別地用于調(diào)節(jié)正在處理的輪胎10的轉(zhuǎn)速ω。
[0224]控制單元300還構(gòu)造成用于實施第一圖像Al和參考數(shù)據(jù)Ref之間的上述第一比較并且用于產(chǎn)生隨后的第一通知信號NS1。
[0225]優(yōu)選地，設(shè)備90還包括第二發(fā)射器裝置200和第二檢測裝置210。
[0226]優(yōu)選地，控制單元300還構(gòu)造成用于控制第二檢測裝置210的第二曝光時間Τ2。
[0227]優(yōu)選地，控制單元300還構(gòu)造成用于實施第二圖像Α2和參考數(shù)據(jù)Ref之間的上述第二比較，并且用于產(chǎn)生隨后的第二通知信號NS2。
[0228]優(yōu)選地，控制單元300還可以構(gòu)造成用于實施第一和第二圖像Al、Α2之間的上述比較。
[0229]如上所述，成形支撐件50可以具有可變的尺寸。有利地，根據(jù)本發(fā)明的方法和設(shè)備能夠利用具有不同直徑的成形支撐件在給定限制內(nèi)正確操作:除了應(yīng)當(dāng)具有足夠的場深度之外，要求滿足的條件是:第一和/或第二檢測裝置110、120的視野覆蓋最大直徑和最小直徑的兩個極端條件，在所述兩個極端條件下，由第一 /第二圖像Α1、Α2再現(xiàn)的光線處于第一 /第二圖像Α1、Α2自身的上端或者下端處。
[0230]就小于最小尺寸或者大于最大尺寸的尺寸而言，由“激光片”產(chǎn)生的光線處于第一/第二檢測裝置110、120的視野之外并且由此不能在第一 /第二圖像Al、Α2中再現(xiàn)。
[0231]根據(jù)以上能夠發(fā)現(xiàn)，第一 /第二圖像Al、Α2內(nèi)的光線的位置可以允許確定所應(yīng)用的成形支撐件的直徑。
[0232]應(yīng)當(dāng)發(fā)現(xiàn)，控制單元300被描述為唯一的邏輯裝置，所述唯一邏輯裝置能夠?qū)嵤┥鲜霾僮骱驮谙挛穆暶鳈?quán)利的操作。實際上，控制單元300可以獲得為單個物理裝置，或者還可作為若干電子裝置的組合，所述若干電子裝置被適當(dāng)?shù)鼐幊滩⑶覙?gòu)造成用于實施指定功能。
[0233]有利地，控制單元300構(gòu)造成用于管理包裝處理或者連接到操作模塊，所述操作模塊構(gòu)造成用于管理包裝處理。因此，例如控制單元300可以具有確定可用的第一和/或第二曝光時間Tl、Τ2所需的數(shù)據(jù)。
[0234]就第一和第二通知信號NS1、NS2而言，它們還能夠獲得為用于指定操作者的例如聲學(xué)和/或視覺類型的警告信號，尤其是在需要快速通知要求立即干預(yù)或者短期干預(yù)的情況的時候。
[0235]該通知信號NS1、NS2還可以由反映檢測操作和實施的比較的數(shù)據(jù)和參數(shù)傳輸構(gòu)成，并且所述通知信號NS1、NS2用于處理器，所述處理器構(gòu)造成存儲這種信息并且/或者實施控制和驗證功能或者根據(jù)預(yù)設(shè)邏輯的任何其它通知。
【權(quán)利要求】
1.一種用于在構(gòu)造車輪輪胎的處理中控制初級半成品的鋪設(shè)的方法，所述方法包括: -驅(qū)動正在處理的輪胎(10)圍繞旋轉(zhuǎn)軸線(X)以介于大約/8rad/s和大約6 π rad/s之間的轉(zhuǎn)速(ω)旋轉(zhuǎn)，所述輪胎具有包括一個或多個初級半成品(30)的徑向外表面(20)； -將第一電磁射線(Rla)發(fā)送至所述徑向外表面(20)，所述徑向外表面產(chǎn)生對應(yīng)的第一反射射線(Rlb)； -通過第一檢測裝置(110)檢測反映所述第一反射射線(Rlb)的至少一個第一圖像(Al)； -控制所述第一檢測裝置(110)，使得用于檢測所述至少一個第一圖像(Al)的第一曝光時間(Tl)介于大約0.1s和大于1s之間； -實施所述至少一個第一圖像(Al)和一個或多個參考數(shù)據(jù)(Ref)之間的第一比較； -根據(jù)所述第一比較產(chǎn)生第一通知信號(NSl)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述第一曝光時間(Tl)介于大約Is和大約4s之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，所述正在處理的輪胎(10)的所述轉(zhuǎn)速(ω)介于大約π/2rad/s和大約2 π rad/s之間。
4.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任意一項所述的方法，其中，所述第一曝光時間(Tl)至少等于所述正在處理的輪胎(10)圍繞所述旋轉(zhuǎn)軸線(X)旋轉(zhuǎn)一整圈所用的時間。
5.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任意一項所述的方法，其中，所述第一檢測裝置(110)設(shè)置有檢測窗口(110a)，所述檢測窗口具有基本平行于所述正在處理的輪胎(10)的旋轉(zhuǎn)軸線(X)的主延伸方向(Dl)。
6.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任意一項所述的方法，其中，所述第一檢測裝置(110)定位在第一檢測平面(DAl)上，所述第一檢測平面將所述第一檢測裝置(110)連結(jié)到所述徑向外表面(20)的由所述第一電磁射線(Rla)照射的第一入射區(qū)域(Zl)。
7.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任意一項所述的方法，所述方法還包括設(shè)置至少一個第一發(fā)射器裝置(100)，所述第一發(fā)射器裝置用于將所述第一電磁射線(Rla)發(fā)送到所述徑向外表面(20)上。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中，所述第一發(fā)射器裝置(100)沿著第一發(fā)射平面(EAl)定位，所述第一發(fā)射平面將所述第一發(fā)射器裝置(100)連結(jié)到所述徑向外表面(20)的由所述第一電磁射線(Rla)照射的第一入射區(qū)域(Zl)。
9.根據(jù)權(quán)利要求6和8所述的方法，其中，所述第一檢測平面(DAl)與所述第一發(fā)射平面(EAl)限定了介于大約30°和大約60°之間的角度(α?)。
10.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任意一項所述的方法，其中，所述一個或多個參考數(shù)據(jù)(Ref)包括根據(jù)由所述第一檢測裝置(110)實施的先前檢測操作限定的數(shù)據(jù)。
11.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任意一項所述的方法，其中，所述一個或多個參考數(shù)據(jù)(Ref)包括根據(jù)先前檢測操作在統(tǒng)計基礎(chǔ)上限定的數(shù)據(jù)。
12.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任意一項所述的方法，其中，所述第一通知信號(NSl)反映所述初級半成品(30)中的一個或多個的定位。
13.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任意一項所述的方法，其中，所述第一通知信號(NSl)反映沒有鋪設(shè)至少一個初級半成品(30)。
14.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任意一項所述的方法，所述方法包括: -將第二電磁射線(R2a)發(fā)送至所述徑向外表面(20)上，所述徑向外表面產(chǎn)生對應(yīng)的第二反射射線(R2b)； -通過第二檢測裝置(210)檢測反映所述第二反射射線(R2b)的至少一個第二圖像(A2)； -控制所述第二檢測裝置(210)，使得用于檢測所述至少一個第二圖像(A2)的第二曝光時間(T2)介于大約0.1s和大約1s之間； -實施所述至少一個第二圖像(A2)和一個或多個參考數(shù)據(jù)(Ref)之間的第二比較； -根據(jù)所述第二比較產(chǎn)生第二通知信號(NS2)。
15.根據(jù)前一權(quán)利要求所述的方法，其中，所述第二曝光時間(T2)介于大約Is和大于4s之間。
16.根據(jù)權(quán)利要求14或者15所述的方法，其中，所述第二曝光時間(T2)至少等于由所述正在處理的輪胎(10)圍繞所述旋轉(zhuǎn)軸線(X)旋轉(zhuǎn)一整圈所用的時間。
17.根據(jù)權(quán)利要求14至16中的任意一項所述的方法，其中，所述第一電磁射線(Rla)照射所述徑向外表面的第一區(qū)域(Zl)，并且所述第二電磁射線(R2a)照射所述徑向外表面(20)的第二區(qū)域(Z2)。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中，所述第一和第二區(qū)域(Zl，Z2)由所述正在處理的輪胎(10)的相應(yīng)軸向端部區(qū)域(E1，E2)限定。
19.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任意一項所述的方法，其中，所述第一和/或第二電磁射線(Rla, R2a)的波長介于大約500nm和大約700nm之間。
20.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任意一項所述的方法，其中，所述第一和/或第二檢測裝置(110,210)包括以8位或者16位操作的CXD傳感器。
21.一種用于在構(gòu)造車輪輪胎的處理中控制初級半成品的鋪設(shè)的設(shè)備，所述設(shè)備包括: -致動構(gòu)件(40)，所述致動構(gòu)件用于驅(qū)動正在處理的輪胎(10)以介于大約π/Srad/s和大約6 π rad/S之間的轉(zhuǎn)速(ω)圍繞旋轉(zhuǎn)軸線(X)旋轉(zhuǎn)，所述輪胎具有包括一個或多個初級半成品(30)的徑向外表面(20)； -第一發(fā)射器裝置(100)，所述第一發(fā)射器裝置適于將第一電磁射線(Rla)發(fā)送到所述徑向外表面(20)上,所述徑向外表面產(chǎn)生對應(yīng)的第一反射射線(Rlb)； -第一檢測裝置(110)，所述第一檢測裝置適于檢測反映所述第一反射射線(Rlb)的至少一個第一圖像(Al)； -控制單元(300)，所述控制單元構(gòu)造成用于: a)控制所述第一檢測裝置(110)，使得用于檢測所述至少一個第一圖像(Al)的第一曝光時間(Tl)介于大約0.1s和大約1s之間； b)實施所述至少一個第一圖像(Al)和一個或多個參考數(shù)據(jù)(Ref)之間的第一比較； c)根據(jù)所述第一比較產(chǎn)生第一通知信號(NSl)。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的設(shè)備，其中，所述第一曝光時間(Tl)介于大約Is和大約4s之間。
23.根據(jù)權(quán)利要求21或者22所述的設(shè)備，其中，所述正在處理的輪胎(10)的所述轉(zhuǎn)速(ω)介于大約π /2rad/s和大約2 n rad/s之間。
24.根據(jù)權(quán)利要求21至23中的任意一項所述的設(shè)備，其中，所述第一曝光時間(Tl)至少等于所述正在處理的輪胎(10)圍繞所述旋轉(zhuǎn)軸線(X)旋轉(zhuǎn)一整圈所用的時間。
25.根據(jù)權(quán)利要求21至24中的任意一項所述的設(shè)備，其中，所述第一檢測裝置(110)設(shè)置有檢測窗口(110a)，所述檢測窗口具有基本平行于所述正在處理的輪胎(10)的旋轉(zhuǎn)軸線(X)的主延伸方向(Dl)。
26.根據(jù)權(quán)利要求21至25中的任意一項所述的設(shè)備，其中，所述第一檢測裝置(110)定位在第一檢測平面(DAl)中，所述第一檢測平面將所述第一檢測裝置(110)連結(jié)到所述徑向外表面(20)的由所述第一電磁射線(Rla)照射的第一入射區(qū)域(Zl)。
27.根據(jù)權(quán)利要求21至26中的任意一項所述的設(shè)備，其中，所述第一發(fā)射器裝置(100)定位在第一發(fā)射平面(EAl)中，所述第一發(fā)射平面將所述第一發(fā)射器裝置(100)連結(jié)到所述徑向外表面(20)的由所述第一電磁射線(Rla)照射的第一入射區(qū)域(Zl)。
28.根據(jù)權(quán)利要求26和27所述的設(shè)備，其中，所述第一檢測平面(DAl)與所述第一發(fā)射平面(EAl)限定了介于大約30°和大約60°之間的角度U2)。
29.根據(jù)權(quán)利要求21至28中的任意一項所述的設(shè)備，所述設(shè)備包括: -第二發(fā)射器裝置(200)，所述第二發(fā)射器裝置適于將第二電磁射線(R2a)發(fā)送到所述徑向外表面(20)上，所述徑向外表面產(chǎn)生對應(yīng)的第二反射射線(R2b)； -第二檢測裝置(210)，所述第二檢測裝置適于檢測反映所述第二反射射線(R2b)的至少一個第二圖像(A2)； 其中，所述控制單元(300)還構(gòu)造成用于: a’ )控制所述第二檢測裝置(210)，使得用于檢測所述至少一個第二圖像(A2)的第二曝光時間(T2)介于大約0.1s和大約1s之間； b’)實施所述至少一個第二圖像(A2)和一個或多個參考數(shù)據(jù)(Ref)之間的第二比較； c’ )根據(jù)所述第二比較產(chǎn)生第二通知信號(NS2)。
30.根據(jù)前一權(quán)利要求所述的設(shè)備，其中，所述第二曝光時間(T2)介于大約Is和大約4s之間。
31.根據(jù)權(quán)利要求21至30中的任意一項所述的設(shè)備，其中，所述第一電磁射線(Rla)照射所述徑向外表面(20)的第一區(qū)域(Zl)，所述第二電磁射線(R2a)照射所述徑向外表面(20)的第二區(qū)域(Z2)。
32.根據(jù)權(quán)利要求31所述的設(shè)備，其中，所述第一和第二區(qū)域(Zl，Z2)由所述正在處理的輪胎(10)的相應(yīng)軸向端部區(qū)域(E1，E2)限定。
33.根據(jù)權(quán)利要求21至32中的任意一項所述的設(shè)備，其中，所述第一和/或第二電磁射線(Rla，R2a)的波長介于大約500nm和大約700nm之間。
34.根據(jù)權(quán)利要求21至33中的任意一項所述的設(shè)備，其中，所述第一和/或第二檢測裝置(110，210)包括以8位或者16位操作的CXD傳感器。
35.根據(jù)權(quán)利要求21至34中的任意一項所述的設(shè)備，其中，所述正在處理的輪胎(10)的成形支撐件(50)具有直徑介于18”和24”之間的圓柱形狀或者環(huán)面形狀。
36.一種用于在構(gòu)造車輪輪胎的處理中控制初級半成品的鋪設(shè)的方法，所述方法包括: -驅(qū)動正在處理的輪胎圍繞旋轉(zhuǎn)軸線(X)旋轉(zhuǎn)，所述正在處理的輪胎具有包括一個或多個初級半成品(30)的徑向外表面(20)； -將第一電磁射線(Rla)發(fā)送至所述徑向外表面(20)上，所述徑向外表面產(chǎn)生對應(yīng)的第一反射射線(Rlb)； -通過第一檢測裝置(10)檢測反映所述第一反射射線(Rlb)的至少一個第一圖像(Al)； -控制所述第一檢測裝置(110)，使得用于檢測所述至少一個第一圖像(Al)的第一曝光時間(Tl)至少等于所述正在處理的輪胎(10)圍繞所述旋轉(zhuǎn)軸線(X)旋轉(zhuǎn)一整圈所用的時間； -實施所述至少一個第一圖像(Al)和一個或多個參考數(shù)據(jù)(Ref)之間的第一比較； -根據(jù)所述第一比較產(chǎn)生第一通知信號(NSl)。
37.根據(jù)權(quán)利要求36所述的方法，其中，所述正在處理的輪胎(10)的所述轉(zhuǎn)速(ω)介于大約π/8rad/s和大約6 π rad/s之間。
38.根據(jù)權(quán)利要求36至37所述的方法，其中，所述正在處理的輪胎(20)的轉(zhuǎn)速介于大約π /2rad/s和大約2 n rad/s之間。
39.根據(jù)權(quán)利要求36至38中的任意一項所述的方法，其中，檢測所述至少一個第一圖像(Al)的第一曝光時間(Tl)介于大約0.1s和大約1s之間。
40.根據(jù)權(quán)利要求39所述的方法，其中，所述第一曝光時間(Tl)介于大約Is和大約4s之間。
41.一種用于在構(gòu)造車輪輪胎的處理中控制初級半成品的鋪設(shè)的設(shè)備，所述設(shè)備包括: -致動構(gòu)件(40)，所述致動構(gòu)件用于驅(qū)動正在處理的輪胎(10)圍繞旋轉(zhuǎn)軸線(X)旋轉(zhuǎn)，所述正在處理的輪胎具有包括一個或多個初級半成品(30)的徑向外表面(20)； -第一發(fā)射器裝置(100)，所述第一發(fā)射器裝置適于將第一電磁射線(Rla)發(fā)送到所述徑向外表面(20)上,所述徑向外表面產(chǎn)生對應(yīng)的第一反射射線(Rlb)； -第一檢測裝置(110)，所述第一檢測裝置適于檢測反映所述第一反射射線(Rlb)的至少一個第一圖像(Al)； -控制單元(300)，所述控制單元構(gòu)造成用于: a)控制所述第一檢測裝置(110)，使得用于檢測所述至少一個第一圖像(Al)的第一曝光時間(Tl)至少等于所述正在處理的輪胎(10)圍繞所述旋轉(zhuǎn)軸線(X)旋轉(zhuǎn)一整圈所用的時間； b)實施所述至少一個第一圖像(Al)和一個或多個參考數(shù)據(jù)(Ref)之間的第一比較； c)根據(jù)所述第一比較產(chǎn)生第一通知信號(NSl)。
42.根據(jù)權(quán)利要求41所述的設(shè)備，其中，所述正在處理的輪胎(10)的轉(zhuǎn)速(ω)介于大約π /8rad/s和大約6 n rad/s之間。
43.根據(jù)權(quán)利要求41或者42所述的設(shè)備，其中，所述正在處理的輪胎的轉(zhuǎn)速(ω)介于大約π/2rad/s和大約2 π rad/s之間。
44.根據(jù)權(quán)利要求41至43中的任意一項所述的設(shè)備，其中，用于檢測所述至少一個第一圖像(Al)的第一曝光時間(Tl)介于大約0.1s和大約1s之間。
45.根據(jù)權(quán)利要求44所述的設(shè)備，其中，所述第一曝光時間(Tl)介于大約Is和大約4s之間 。
【文檔編號】G01M17/02GK104204762SQ201280060781
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2012年12月11日 優(yōu)先權(quán)日:2011年12月13日
【發(fā)明者】M·巴拉比奧, G·洛普雷斯蒂, B·蒙特魯基奧, V·奧蘭多 申請人:倍耐力輪胎股份公司