專利名稱：一種基于輻射源特征的gtem小室輻射emi測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及的是一種基于輻射源特征的GTEM小室輻射EMI測(cè)試方法，具體說(shuō)就是 針對(duì)目前利用GTEM小室進(jìn)行EMI測(cè)試時(shí)精度較差現(xiàn)象，提出針對(duì)不同輻射源類型的不同 GTEM測(cè)試方法。為利用GTEM進(jìn)行輻射EMI測(cè)試提供了有效借鑒，屬于電磁兼容技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
現(xiàn)代電子產(chǎn)品正向小型化、智能化發(fā)展，開關(guān)器件頻率越來(lái)越高，設(shè)計(jì)更加復(fù)雜， 使設(shè)備遭受輻射電磁干擾問(wèn)題日益加重，并且對(duì)系統(tǒng)的抗干擾能力的要求越來(lái)越高。因而， 為了節(jié)省產(chǎn)品開發(fā)費(fèi)用與時(shí)間，進(jìn)行輻射電磁干擾噪聲測(cè)試研究是必不可少的。
電磁兼容測(cè)試(EMC)包括測(cè)試方法、測(cè)試儀器和試驗(yàn)場(chǎng)所。目前，國(guó)內(nèi)外常用的試 驗(yàn)場(chǎng)地有開闊場(chǎng)、半電波暗室、屏蔽室、混響室及橫電磁波小室等。EMC測(cè)試必須依據(jù)EMC 標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范給出的測(cè)試方法進(jìn)行，并以標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的極限值作為判據(jù)。對(duì)于預(yù)兼容測(cè)試，盡管 不能保證產(chǎn)品通過(guò)所有項(xiàng)目的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試，但至少可以消除絕大部分的電磁干擾，從而提高 產(chǎn)品的可靠性。而且能夠指出該如何改進(jìn)設(shè)計(jì)、抑制電磁干擾(EMI)發(fā)射。電磁兼容測(cè)試 標(biāo)準(zhǔn)主要有民品GB17626系列；軍品GJB151A/GJB152A。民品測(cè)試項(xiàng)目有電快速瞬變脈沖 群抗擾度試驗(yàn)、浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)、電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)、靜 電放電抗擾度試驗(yàn)、射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)、傳導(dǎo)發(fā)射試驗(yàn)和輻射發(fā)射試驗(yàn)。軍品測(cè)試 有CElOU CE102、CS106、CS114、CS116、RE102等。測(cè)試內(nèi)容包括電磁干擾和電磁敏感度兩 部分，電磁干擾測(cè)試是測(cè)量被測(cè)設(shè)備在正常工作狀態(tài)下產(chǎn)生并向外發(fā)射的電磁波信號(hào)的大 小來(lái)反應(yīng)其對(duì)周圍電子設(shè)備干擾的強(qiáng)弱。電磁敏感度測(cè)試是用來(lái)衡量被測(cè)設(shè)備對(duì)電磁騷擾 的抗干擾能力的強(qiáng)弱。目前針對(duì)電子產(chǎn)品輻射電磁干擾噪聲測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法主要是指 開闊場(chǎng)測(cè)試以及3m, 5m, IOm電波暗室測(cè)試。但是開闊場(chǎng)測(cè)試以及3m, 5m, IOm電波暗室對(duì)場(chǎng) 地要求較高且造價(jià)昂貴，一般企業(yè)無(wú)法承受。利用GTEM小室進(jìn)行輻射EMI測(cè)試既能減少測(cè) 試費(fèi)用，又能很好地預(yù)估輻射電磁干擾噪聲，引起了廣泛的關(guān)注。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題針對(duì)目前利用GTEM小室進(jìn)行輻射EMI測(cè)試時(shí)精度較 低且沒(méi)有進(jìn)行噪聲源分類的問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種以共模輻射模型為主的極差-均值測(cè) 量法以及以差模輻射模型為主的方差測(cè)量法。該方法通過(guò)修正現(xiàn)有Wilson方法，進(jìn)一步提 高了 GTEM小室測(cè)量輻射EMI噪聲精度。
為了解決以上問(wèn)題，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案
一種基于共模阻抗修正模型的輻射目標(biāo)重構(gòu)方法，包括如下步驟
第一步根據(jù)近場(chǎng)波阻抗理論判定被測(cè)設(shè)備輻射源類型，即判定輻射源是以共模 輻射為主還是以差模輻射為主；
第二步若判定被測(cè)設(shè)備輻射源類型以共模輻射特性為主，則采用極差-均值法 處理GTEM結(jié)果；若判定被測(cè)設(shè)備輻射源類型以差模輻射特性為主，則采用方差法處理GTEM結(jié)果。
所述方差法處理是將差模輻射特性為主的被測(cè)設(shè)備GTEM小室測(cè)量結(jié)果與電波暗室測(cè)量結(jié)果誤差補(bǔ)償?shù)紾TEM小室測(cè)量結(jié)果上；所述極差-均值法處理是指將GTEM小室測(cè)量結(jié)果與電波暗室測(cè)量結(jié)果對(duì)應(yīng)頻點(diǎn)數(shù)據(jù)極差求和取平均后補(bǔ)償?shù)紾TEM小室測(cè)量結(jié)果上。
針對(duì)GTEM小室用于輻射發(fā)射的測(cè)試實(shí)驗(yàn)，本發(fā)明提出了基于電磁干擾源特征的 GTEM輻射干擾測(cè)量方法針對(duì)以共模輻射源特征為主的被測(cè)設(shè)備提出了極差-均值法處理 GTEM數(shù)據(jù)；針對(duì)以差模輻射源特征為主的被測(cè)設(shè)備提出方差法處理GTEM數(shù)據(jù)。從而大大提高了 GTEM小室用于輻射EMI測(cè)試時(shí)的測(cè)試結(jié)果精度，為基于GTEM輻射EMI測(cè)量提供了有效參考。


圖1是本發(fā)明的共模輻射結(jié)果，Ca)共模輻射干擾產(chǎn)生電路，(b)電波暗室測(cè)試結(jié)果，(c) GTEM測(cè)試結(jié)果。
圖2是差模輻射結(jié)果，Ca)差模輻射干擾產(chǎn)生電路，(b)電波暗室測(cè)試結(jié)果，(c) GTEM測(cè)試結(jié)果。
圖3是實(shí)施例的測(cè)試結(jié)果，Ca)具有差模特征的電子助視器的近場(chǎng)波阻抗特性， (b)測(cè)量結(jié)果。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)地說(shuō)明。
在GTEM小室測(cè)量電磁干擾噪聲應(yīng)用中，需要將GTEM小室所測(cè)得的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為等效的開闊場(chǎng)或電波暗室測(cè)試場(chǎng)強(qiáng)值。有關(guān)GTEM小室作為一種輻射EMI測(cè)試裝置的研究主要有總功率法、Wilson和Lee這3種關(guān)聯(lián)算法。其中Wilson算法是在總功率算法的基礎(chǔ)上發(fā)展的，其中對(duì)于電小尺寸輻射體而言，輻射場(chǎng)強(qiáng)在X、1、z 3個(gè)方向上的分量可以用電偶極矩和磁偶極矩進(jìn)行描述。以X方向?yàn)槔?，被測(cè)物體在遠(yuǎn)場(chǎng)中的輻射電場(chǎng)分量可表示為
權(quán)利要求
1.一種基于輻射源特征的GTEM小室輻射EMI測(cè)試方法，包括如下步驟 第一歩根據(jù)近場(chǎng)波阻抗理論判定被測(cè)設(shè)備輻射源類型，即判定輻射源是以共模輻射為主還是以差模輻射為主； 第二歩若判定被測(cè)設(shè)備輻射源類型以共模輻射特性為主，則采用極差-均值法處理GTEM小室測(cè)量結(jié)果；若判定被測(cè)設(shè)備輻射源類型以差模輻射特性為主，則采用方差法處理GTEM小室測(cè)量結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的ー種基于輻射源特征的GTCM小室輻射HMI測(cè)試方法，其特征在于，所述方差法處理是將差模輻射特性為主的被測(cè)設(shè)備GTEM小室測(cè)量結(jié)果與電波暗室測(cè)量結(jié)果誤差補(bǔ)償?shù)紾TEM小室測(cè)量結(jié)果上；所述極差-均值法處理是指將GTEM小室測(cè)量結(jié)果與電波暗室測(cè)量結(jié)果對(duì)應(yīng)頻點(diǎn)數(shù)據(jù)極差求和取平均后補(bǔ)償?shù)紾TEM小室測(cè)量結(jié)果上，公式為
全文摘要
本發(fā)明公開了一種基于輻射源特征的GTEM小室輻射EMI測(cè)試方法，該方法包括如下步驟第一步，根據(jù)近場(chǎng)波阻抗理論判定被測(cè)設(shè)備輻射源類型，即判定輻射源是以共模輻射為主還是以差模輻射為主；第二步，若判定被測(cè)設(shè)備輻射源類型以共模輻射特性為主，則采用極差-均值法處理GTEM結(jié)果；若判定被測(cè)設(shè)備輻射源類型以差模輻射特性為主，則采用方差法處理GTEM結(jié)果。針對(duì)GTEM小室用于輻射發(fā)射的測(cè)試實(shí)驗(yàn)，本發(fā)明提出的基于電磁干擾源特征的GTEM輻射干擾測(cè)量方法，能大大提高GTEM小室用于輻射EMI測(cè)試時(shí)的測(cè)試結(jié)果精度，為基于GTEM輻射EMI測(cè)量提供了有效參考。
文檔編號(hào)G01R31/00GK103048574SQ201310002400
公開日2013年4月17日 申請(qǐng)日期2013年1月4日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月4日
發(fā)明者趙陽(yáng), 張宇環(huán), 劉勇, 竇愛玉, 夏歡, 陳旸, 顏偉, 周榮錦 申請(qǐng)人:南京師范大學(xué)