光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測(cè)量方法
【專利摘要】一種同心偏差測(cè)量方法，用來(lái)測(cè)量光纖耦合透鏡中光纖與透鏡之間的同心偏差，所述光纖耦合透鏡包括透鏡和容置槽，所述透鏡所在的表面具有定位結(jié)構(gòu)，所述光纖位于所述容置槽中，所述同心偏差測(cè)量方法包括：將光纖組裝入所述光纖耦合透鏡中的容置槽內(nèi)；將組裝入光纖的光纖耦合透鏡固定；以所述定位結(jié)構(gòu)為基準(zhǔn)，測(cè)量所述透鏡的位置；向所述光纖中輸入光線以點(diǎn)亮所述光纖；以所述定位結(jié)構(gòu)為基準(zhǔn)，測(cè)量所述光纖的位置；比較所述光纖和所述透鏡的位置，得到所述光纖與透鏡的同心偏差。
【專利說(shuō)明】光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測(cè)量方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測(cè)量方法。
【背景技術(shù)】
[0002]光纖耦合透鏡主要的功能在于光纖所發(fā)出的光束能夠透過透鏡聚焦使接收端能夠獲得更加集中的能量，或者，光束經(jīng)過透鏡聚焦后也可以使得光纖能接收到更加集中的能量。如此，光纖與透鏡的同心度非常重要，一般光學(xué)設(shè)計(jì)所允許的偏差量在幾個(gè)微米以內(nèi)，由此，測(cè)量透鏡與光纖的同心度時(shí)光纖耦合透鏡非常重要的課題。光纖耦合透鏡的組裝方式為將光纖插入空洞中，接著蓋體下壓并使蓋體推擠光纖至L型承靠上，之后采用膠水等將蓋體固定即可。
[0003]由于透鏡和光纖是處于相對(duì)的兩側(cè)，透鏡可以藉助同側(cè)的定位結(jié)構(gòu)(例如，定位孔或定位柱)來(lái)測(cè)量，光纖組裝入光纖耦合透鏡后，無(wú)法由光纖側(cè)觀察到定位結(jié)構(gòu)，因此，較難測(cè)量光纖和透鏡之間的同心偏差。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]有鑒于此，有必要提供一種方便測(cè)量光纖與透鏡同心偏差的光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測(cè)量方法。
[0005]—種同心偏差測(cè)量方法,用來(lái)測(cè)量光纖稱合透鏡中光纖與透鏡之間的同心偏差，所述光纖耦合透鏡包括透鏡和容置槽所述透鏡所在的表面具有定位結(jié)構(gòu)，所述光纖位于所述容置槽中，所述同心偏差測(cè)量方法包括:將光纖組裝入所述光纖耦合透鏡中的容置槽內(nèi)；將組裝入光纖的光纖耦合透鏡固定；以所述定位結(jié)構(gòu)為基準(zhǔn)，測(cè)量所述透鏡的位置；向所述光纖中輸入光線以點(diǎn)亮所述光纖；以所述定位結(jié)構(gòu)為基準(zhǔn)，測(cè)量所述光纖的位置；比較所述光纖和所述透鏡的位置，得到所述光纖與透鏡的同心偏差。
[0006]相較于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)施例的光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測(cè)量方法向光纖中輸入光線以點(diǎn)亮光纖，從而可從定位結(jié)構(gòu)同時(shí)測(cè)量光纖和透鏡的位置，從而可方便測(cè)量光纖和透鏡的同心偏差；又光纖和透鏡位置的測(cè)量為同一測(cè)量基準(zhǔn)，從而使得測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0007]圖1是本發(fā)明實(shí)施例光纖耦合透鏡中光纖與透鏡同心偏差測(cè)量方法的示意圖。
[0008]圖2是光纖耦合透鏡的示意圖。
[0009]圖3是光纖耦合透鏡的分解圖。
[0010]圖4是光纖與透鏡之間不存在偏心時(shí)的示意圖。
[0011]圖5是光纖與透鏡之間存在偏心時(shí)的示意圖。
[0012]主要元件符號(hào)說(shuō)明
【權(quán)利要求】
1.一種同心偏差測(cè)量方法，用來(lái)測(cè)量光纖耦合透鏡中光纖與透鏡之間的同心偏差，所述光纖耦合透鏡包括透鏡和容置槽，所述透鏡所在的表面具有定位結(jié)構(gòu)，所述光纖位于所述容置槽中，所述同心偏差測(cè)量方法包括: 將光纖組裝入所述光纖耦合透鏡中的容置槽內(nèi)； 將組裝入光纖的光纖耦合透鏡固定； 以所述定位結(jié)構(gòu)為基準(zhǔn)，測(cè)量所述透鏡的位置； 向所述光纖中輸入光線以點(diǎn)亮所述光纖； 以所述定位結(jié)構(gòu)為基準(zhǔn)，測(cè)量所述光纖的位置； 比較所述光纖和所述透鏡的位置，得到所述光纖與透鏡的同心偏差。
2.如權(quán)利要求1所述的同心偏差測(cè)量方法，其特征在于，所述容置槽具有L型承靠部。
3.如權(quán)利要求1所述的同心偏差測(cè)量方法，其特征在于，所述定位結(jié)構(gòu)為定位孔。
4.如權(quán)利要求1所述的同心偏差測(cè)量方法，其特征在于，所述定位結(jié)構(gòu)為定位柱。
5.如權(quán)利要求1所述的同心偏差測(cè)量方法，其特征在于，所述光耦合透鏡進(jìn)一步包括蓋體，所述蓋體蓋合在所述容置槽上并抵頂所述光纖。
6.如權(quán)利要求1所述的同心偏差測(cè)量方法，其特征在于，所述容置槽具有L形承靠部，所述蓋體將所述光纖抵靠在所述承靠部上。
【文檔編號(hào)】G01B21/00GK103968798SQ201310026732
【公開日】2014年8月6日 申請(qǐng)日期:2013年1月24日 優(yōu)先權(quán)日:2013年1月24日
【發(fā)明者】郭章緯 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司